SU1392603A1 - Band-rejection filter - Google Patents

Band-rejection filter Download PDF

Info

Publication number
SU1392603A1
SU1392603A1 SU823513310A SU3513310A SU1392603A1 SU 1392603 A1 SU1392603 A1 SU 1392603A1 SU 823513310 A SU823513310 A SU 823513310A SU 3513310 A SU3513310 A SU 3513310A SU 1392603 A1 SU1392603 A1 SU 1392603A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
rectangular
transitions
wave
waveguide
filter
Prior art date
Application number
SU823513310A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Николай Николаевич Пренцлау
Виталий Михайлович Дмитриев
Владимир Дмитриевич Бобрышев
Original Assignee
Физико-технический институт низких температур АН УССР
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Физико-технический институт низких температур АН УССР filed Critical Физико-технический институт низких температур АН УССР
Priority to SU823513310A priority Critical patent/SU1392603A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1392603A1 publication Critical patent/SU1392603A1/en

Links

Landscapes

  • Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к технике сверхвысоких частот и может быть использовано в качестве узкополосного заграждающего фильтра, в системах автоматической подстройки частоты, в измерительной технике. Целью  вл етс  упрощение настройки фильтра на максимум крутизны АЧХ и ФЧХ. Устройство содержит круглый водновод 9 регулируемой длины, входной 1 и выходной 2 рупорные переходы с пр моугольного на круглый волновод 9, установленные с возможностью вращени , и отрезки пр моугольных волноводов 3, 4, соединенные с концами переходов I, 2, причем отношение длины выходного перехода 2 к входному 1 выбрано в пределах 0,4-0,8, и в каждый отрезок пр моугольного волновода 3, 4 введены регулируемые неоднородности . 1 з.п. ф-лы, 1 ил. The invention relates to microwave technology and can be used as a narrowband rejection filter, in automatic frequency control systems, in measurement technology. The goal is to simplify the adjustment of the filter to the maximum frequency response and frequency response. The device comprises a circular aqueduct 9 of adjustable length, an input 1 and an output 2 horn transitions from rectangular to circular waveguide 9 mounted for rotation, and segments of rectangular waveguides 3, 4 connected to the ends of the transitions I, 2, and the ratio of the length of the output transition 2 to input 1 is selected in the range of 0.4-0.8, and adjustable discontinuities are introduced in each segment of the rectangular waveguide 3, 4. 1 hp f-ly, 1 ill.

Description

0000

соwith

ГСHS

О5O5

о соabout with

Изобретение относитс  к технике сверхвысоких частот и может быть использовано в качестве уэкополос- ного заграждающего фильтра, в сие- темах автоматической подстройки частоты , в измерительной технике.The invention relates to a microwave technique and can be used as a pre-bandpass band filter, in automatic frequency control systems, in a measurement technique.

Целью изобретени   вл етс  упрощение настройки фильтра на максимум крутизны амплитудно-частотной и фа- зочастотной характеристик.The aim of the invention is to simplify the adjustment of the filter to the maximum amplitude-frequency and phase-frequency slope.

На чертеже схематически изображен проходной режекторный фильтр.The drawing shows schematically a rejection filter.

Фильтр содержит входной 1 и выходной 2 рупорные переходы от пр мо- угольного волновода к круглому. К пр моугольным входам переходов и 2 подсоединены отрезки пр моугольных волноводов 3 и 4, в которых расположены неоднородности 5 и 6 соот- ветственно, в качестве которых используютс  четвертьволновые диэлектрические вкладьши, диафрагмы, штыри ит.д. Между неоднородност ми в отрезках волноводов 3 и 4 размещены регулируемые неоднородности 7 8, регулирующие электрическую или механическую длину как между неоднородност ми 5 и 6, так и между неоднородностью 5 и переходом 1 и между неод- нородностью 6 и переходом 2. Регулируемые неоднородности 7 и 8 могут представл ть собой механические или электрические фазовращатели. Отношение длины выходного рупорного пере- хода 2 к входному 1 находитс  в пределах 0,4-0,8. Выходы переходов на круглый волновод соединены между собой с возможностью осевого поворота переходов друг относительно друга, причем при необходимости перестройки рабочей частоты фильтра переходы могут соедин тьс  между собой отрезком круглого волновода 9 регулируемой длины.The filter contains input 1 and output 2 horn transitions from a rectangular waveguide to a circular one. The rectangular inputs of the transitions and 2 are connected to the segments of the rectangular waveguides 3 and 4, in which inhomogeneities 5 and 6 are located, respectively, which are used as quarter-wave dielectric pads, diaphragms, pins, etc. Adjustable inhomogeneities 7-8 are located between inhomogeneities in the waveguide sections 3 and 4, regulating the electrical or mechanical length both between inhomogeneities 5 and 6, and between inhomogeneity 5 and transition 1 and between inhomogeneity 6 and transition 2. 8 may be mechanical or electrical phase shifters. The ratio of the length of the output horn junction 2 to the input 1 is in the range of 0.4-0.8. The outputs of the transitions to the circular waveguide are interconnected with the possibility of axial rotation of the transitions relative to each other, and, if necessary, adjusting the operating frequency of the filter, the transitions can be interconnected by a segment of a circular waveguide 9 of adjustable length.

Проходной режекторный фильтр работает следующим образом.Pass-through rejection filter works as follows.

Волна uff, входного отрезка пр моугольного волновода 3 во входном рупорном переходе 1 преобразуетс  в волну Hjj (знак Q соответствует пр моугольному,о - круглому волноводам ) . Если tfo - угол поворота одного рупорного перехода относительно другого вокруг их продольной оси ра- вен нулю, то волна Нц, проход  выходной рупорный переход 2, вновь пре образуетс  в волну Н . При ср О происходит частичное преобразованиеWave uff of the input segment of a rectangular waveguide 3 in the input horn junction 1 is converted into wave Hjj (the sign of Q corresponds to a rectangular, o is a circular waveguide). If tfo - the angle of rotation of one horn transition relative to another around their longitudinal axis is zero, then the wave Hz, the passage output horn transition 2, is again transformed into wave H. When cf o there is a partial conversion

волны HJJ в волну H°j (знак„1 соответствует волне, плоскость пол ризации которой перпендикул рна плоскости пол ризации рабочей волны), при этом коэффициент преобразовани  волны Н„ в волну НHJJ waves into H ° j wave (the sign "1 corresponds to the wave, the polarization plane of which is perpendicular to the polarization plane of the working wave), and the coefficient for converting the H wave to the H wave

п нием q by q

0101

II Волна E°II Wave E °

выходном рупорном переходеoutput horn junction

HOJ . Если высота пр моугольногоHOJ. If the height of the rectangle

растет с увеличе- преобразуетс  вgrows with increasing- converted to

2 в волну вол0 2 into wave 0

5 0 0 5 0 55 0 0 5 0 5

5 five

00

новода  вл етс  закритичной дл  волны Hgj, последн   оказьшаетс  запертой между критическими сечени ми и комбинаци  рупорных переходов представл ет дл  волны HOI предельный резонатор . На резонансной частоте св зь рабочей волны Н,, с преобразованнойThe Novod is supercritical for the Hgj wave, the latter turns out to be locked between critical sections, and the combination of horn transitions represents the HOI wavelength resonator for the HOI wave. At the resonant frequency, the coupling of the working wave H, with the transformed

НH

аbut

резонансноresonantly

.(jj ........ увеличиваетс , такой резонатор  вл етс  аналогией резонатора, включенного на отсос.(jj ........ increases, such a resonator is an analogy of a resonator connected to a suction.

волной иwave and

включенного на Ширина и глубина резонансного провала зависит от угла if , Глубина провала увеличиваетс  при введении в отрезки волноводов 3 и 4 неоднород- ностей 5 и 6 на рассто ни , обеспечивающие резонанс рабочей волны между неоднородност ми-5 и 6.included in the width and depth of the resonant dip depends on the angle if, the depth of the dip increases with the introduction of inhomogeneities 5 and 6 in the waveguide sections 3 and 4 over the distance, providing the working wave resonance between the inhomogeneities-5 and 6.

Таким образом, резонатор, образованный критическими сечени ми, имеет св зь с проходным резонатором, длина которого ограничена неоднородност ми 5 и 6. Вдоль оси проходного резонатора существует сто ча  волна с величиной КСВ, определ емой выходной неоднородностью . Отношение активной проводимости выходной нагрузки, трансформированной в сечение св зи обоих резонаторов, к эквивалентной активной проводимости отсасьшаю- его резонатора определ ет глубину клиновидного провала. Величина трансформированной проводимости зависит также от фазы сто чей волны в сечении св зи, т.е. от рассто ни  между выходной неоднородностью и выбранным местом включени  элемента св зи с отсасывающим резонатором. Поэтому, мен   длину рупорного перехода 2, можно в широких пределах варьировать глубину и ширину провала.Thus, a resonator formed by critical sections has a connection with a pass-through resonator, the length of which is limited by inhomogeneities 5 and 6. Along the axis of the pass-through resonator, there is a standing wave with a CWS value determined by the output inhomogeneity. The ratio of the active conductivity of the output load, transformed into the cross section of the coupling of both resonators, to the equivalent active conductivity of the last cavity, determines the depth of the wedge-shaped dip. The magnitude of the transformed conductivity also depends on the phase of the standing wave in the cross section of the bond, i.e. from the distance between the output non-uniformity and the chosen switching point of the communication element with the suction resonator. Therefore, the length of the horn junction 2 varies, it is possible to widely vary the depth and width of the dip.

Дл  облегчени  настройки фильтра служат регулируемые неоднородности 7 и 8. Они позвол ют настроить фильтр на частоту резонанса и создать необходимый дп  создани  заграждающего эффекта баланс амплитуд резонирующей рабочей и преобразованной волны. Это достигаетс  синхронным изменением рассто ний между неоднородност миTo facilitate the adjustment of the filter, adjustable inhomogeneities 7 and 8 serve. They allow you to tune the filter to the resonance frequency and create the necessary dp to create a blocking effect balance of amplitudes of the resonating working and transformed wave. This is achieved by a simultaneous change in the distance between the inhomogeneities

5 и 6 и рупорными переходами I и 2 соответственно. При этом рассто ние между неоднородноет ми и рупорными переходами измен ют таким образом, что одно из них увеличиваетс , а другое уменьшаетс . Это равносильно изменению расположени  резонансной полости , образованной рупорными переходами 1 и 2 дл  преобразованной вол- ны, внутри резонансной полости дл  рабочей волны, образованной неодно- род нос т ми 5 и 6.5 and 6 and horn transitions I and 2, respectively. In so doing, the distance between the non-uniform and horn transitions is changed in such a way that one of them increases and the other decreases. This is equivalent to a change in the location of the resonant cavity formed by horn transitions 1 and 2 for the transformed wave, inside the resonant cavity for the working wave formed by irregular 5 and 6.

Claims (1)

Формула изобретени Invention Formula Проходной режекторный фильтр, содержащий круглый волновод регулируег Notch filter with a round waveguide regulator SS мой длины, входной и выходной рупорные переходы с пр моугольного на круглый волновод, установленные с возможностью вращени , и отрезки пр моугольных волноводов, соединенные с концами переходов, отличающийс  тем, что, с целью упрощени  настройки на максимум крутизны амплитудно-частотной и фазо- частотной характеристик, отношение выходного перехода к входному выбрано в пределах 0,4-0,8,my length, input and output horn transitions from rectangular to circular waveguide, installed rotatably, and segments of rectangular waveguides connected to the ends of the transitions, characterized in that, in order to simplify the tuning to the maximum amplitude-frequency and phase-frequency slope characteristics, the ratio of the output transition to the input selected in the range of 0.4-0.8, 2-. Фильтр поп.1,отличаю- щ и и с   тем, что в каждый отрезок пр моугольного волновода введены регулируемые неоднородности.2-. The filter is pop. 1, which differs from the fact that adjustable discontinuities are introduced into each segment of the rectangular waveguide.
SU823513310A 1982-11-19 1982-11-19 Band-rejection filter SU1392603A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823513310A SU1392603A1 (en) 1982-11-19 1982-11-19 Band-rejection filter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823513310A SU1392603A1 (en) 1982-11-19 1982-11-19 Band-rejection filter

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1392603A1 true SU1392603A1 (en) 1988-04-30

Family

ID=21036298

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823513310A SU1392603A1 (en) 1982-11-19 1982-11-19 Band-rejection filter

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1392603A1 (en)

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7355420B2 (en) 2001-08-21 2008-04-08 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing system
US7420381B2 (en) 2004-09-13 2008-09-02 Cascade Microtech, Inc. Double sided probing structures
US7492172B2 (en) 2003-05-23 2009-02-17 Cascade Microtech, Inc. Chuck for holding a device under test
US7656172B2 (en) 2005-01-31 2010-02-02 Cascade Microtech, Inc. System for testing semiconductors
US7681312B2 (en) 1998-07-14 2010-03-23 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing system
US7688097B2 (en) 2000-12-04 2010-03-30 Cascade Microtech, Inc. Wafer probe
US7688062B2 (en) 2000-09-05 2010-03-30 Cascade Microtech, Inc. Probe station
US7688091B2 (en) 2003-12-24 2010-03-30 Cascade Microtech, Inc. Chuck with integrated wafer support
US7723999B2 (en) 2006-06-12 2010-05-25 Cascade Microtech, Inc. Calibration structures for differential signal probing
US7750652B2 (en) 2006-06-12 2010-07-06 Cascade Microtech, Inc. Test structure and probe for differential signals
US7759953B2 (en) 2003-12-24 2010-07-20 Cascade Microtech, Inc. Active wafer probe
US7764072B2 (en) 2006-06-12 2010-07-27 Cascade Microtech, Inc. Differential signal probing system
US7876114B2 (en) 2007-08-08 2011-01-25 Cascade Microtech, Inc. Differential waveguide probe
US7888957B2 (en) 2008-10-06 2011-02-15 Cascade Microtech, Inc. Probing apparatus with impedance optimized interface
US7893704B2 (en) 1996-08-08 2011-02-22 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing structure with laterally scrubbing contacts
US7898281B2 (en) 2005-01-31 2011-03-01 Cascade Mircotech, Inc. Interface for testing semiconductors
US7898273B2 (en) 2003-05-23 2011-03-01 Cascade Microtech, Inc. Probe for testing a device under test
US7969173B2 (en) 2000-09-05 2011-06-28 Cascade Microtech, Inc. Chuck for holding a device under test
US8069491B2 (en) 2003-10-22 2011-11-29 Cascade Microtech, Inc. Probe testing structure
US8319503B2 (en) 2008-11-24 2012-11-27 Cascade Microtech, Inc. Test apparatus for measuring a characteristic of a device under test
US8410806B2 (en) 2008-11-21 2013-04-02 Cascade Microtech, Inc. Replaceable coupon for a probing apparatus

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР Я 696562, кл. Н 01 Р 7/06, 1978. *

Cited By (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7893704B2 (en) 1996-08-08 2011-02-22 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing structure with laterally scrubbing contacts
US7681312B2 (en) 1998-07-14 2010-03-23 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing system
US7761986B2 (en) 1998-07-14 2010-07-27 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing method using improved contact
US7688062B2 (en) 2000-09-05 2010-03-30 Cascade Microtech, Inc. Probe station
US7969173B2 (en) 2000-09-05 2011-06-28 Cascade Microtech, Inc. Chuck for holding a device under test
US7761983B2 (en) 2000-12-04 2010-07-27 Cascade Microtech, Inc. Method of assembling a wafer probe
US7688097B2 (en) 2000-12-04 2010-03-30 Cascade Microtech, Inc. Wafer probe
US7492175B2 (en) 2001-08-21 2009-02-17 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing system
US7355420B2 (en) 2001-08-21 2008-04-08 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing system
US7898273B2 (en) 2003-05-23 2011-03-01 Cascade Microtech, Inc. Probe for testing a device under test
US7876115B2 (en) 2003-05-23 2011-01-25 Cascade Microtech, Inc. Chuck for holding a device under test
US7492172B2 (en) 2003-05-23 2009-02-17 Cascade Microtech, Inc. Chuck for holding a device under test
US8069491B2 (en) 2003-10-22 2011-11-29 Cascade Microtech, Inc. Probe testing structure
US7688091B2 (en) 2003-12-24 2010-03-30 Cascade Microtech, Inc. Chuck with integrated wafer support
US7759953B2 (en) 2003-12-24 2010-07-20 Cascade Microtech, Inc. Active wafer probe
US8013623B2 (en) 2004-09-13 2011-09-06 Cascade Microtech, Inc. Double sided probing structures
US7420381B2 (en) 2004-09-13 2008-09-02 Cascade Microtech, Inc. Double sided probing structures
US7656172B2 (en) 2005-01-31 2010-02-02 Cascade Microtech, Inc. System for testing semiconductors
US7940069B2 (en) 2005-01-31 2011-05-10 Cascade Microtech, Inc. System for testing semiconductors
US7898281B2 (en) 2005-01-31 2011-03-01 Cascade Mircotech, Inc. Interface for testing semiconductors
US7750652B2 (en) 2006-06-12 2010-07-06 Cascade Microtech, Inc. Test structure and probe for differential signals
US7764072B2 (en) 2006-06-12 2010-07-27 Cascade Microtech, Inc. Differential signal probing system
US7723999B2 (en) 2006-06-12 2010-05-25 Cascade Microtech, Inc. Calibration structures for differential signal probing
US7876114B2 (en) 2007-08-08 2011-01-25 Cascade Microtech, Inc. Differential waveguide probe
US7888957B2 (en) 2008-10-06 2011-02-15 Cascade Microtech, Inc. Probing apparatus with impedance optimized interface
US8410806B2 (en) 2008-11-21 2013-04-02 Cascade Microtech, Inc. Replaceable coupon for a probing apparatus
US9429638B2 (en) 2008-11-21 2016-08-30 Cascade Microtech, Inc. Method of replacing an existing contact of a wafer probing assembly
US10267848B2 (en) 2008-11-21 2019-04-23 Formfactor Beaverton, Inc. Method of electrically contacting a bond pad of a device under test with a probe
US8319503B2 (en) 2008-11-24 2012-11-27 Cascade Microtech, Inc. Test apparatus for measuring a characteristic of a device under test

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU1392603A1 (en) Band-rejection filter
US5021757A (en) Band pass filter
US4675631A (en) Waveguide bandpass filter
WO2005083831A1 (en) Waveguide band-stop filter
US7068129B2 (en) Tunable waveguide filter
US4028639A (en) Oscillator using magnetostatic surface wave delay line
RU2707391C1 (en) Reconfigurable input/output multiplexer based on ring resonator
US5406234A (en) Tunable microwave filter apparatus having a notch resonator
KR100703719B1 (en) Filter coupled by the conductive plates with a curved surface
JPS6141441B2 (en)
US4231001A (en) Constant resistance coupling network
US5214338A (en) Energy coupler for a surface acoustic wave (SAW) resonator
KR100204439B1 (en) Dielectric resonant filter
JPS6219081B2 (en)
RU2321107C1 (en) Microwave filter
SU1140192A1 (en) Microwave filter
US4041416A (en) Method and apparatus for frequency stabilizing oscillators
US3287667A (en) Low attenuation very high frequency time delay vs. frequency variation correcting network
SU1125676A1 (en) Microwave filter
RU2111583C1 (en) Shf filter
SU1626274A1 (en) Tunable bandpass filter with magnetostatic waves
SU843039A1 (en) Band-pass filter on overthreshold waveguide
KR100304357B1 (en) Cylindrical cavity microwave filter
US4305049A (en) Waveguide Gunn diode oscillator with harmonic tuning
SU1259370A1 (en) Tuneable microwave filter