SU1392519A1 - Device for measuring distribution of a charge over dielectric surface - Google Patents
Device for measuring distribution of a charge over dielectric surface Download PDFInfo
- Publication number
- SU1392519A1 SU1392519A1 SU864087090A SU4087090A SU1392519A1 SU 1392519 A1 SU1392519 A1 SU 1392519A1 SU 864087090 A SU864087090 A SU 864087090A SU 4087090 A SU4087090 A SU 4087090A SU 1392519 A1 SU1392519 A1 SU 1392519A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- probe
- grounded metal
- dielectric
- measuring
- measuring probe
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к эл.измерени м . Цель изобретени - повышение точности измерени . Устройство содержит измерительный зонд 1, установленный в сквозном отверстии 2 заземленной металлич. пластины (ЗМП) 3, расположенной параллельно поверхности зондируемого диэлектрика (д-ка) 4, расположенного на плоской заземленной металлич. подложке 5, механизм вибрировани (МБ) 6, механизм 7 перемещени подложки 5, блок 8 регистрации эл. сигнала с зонда 1. ЗМП 3 закреплена на MB 6, причем торец зонда 1 расположен на одном уровне с обращенной к д-ку 4 плоскостью ЗМП 3, Синхронное вибрирование с одной частотой и амплитудой зонда 1 и ЗМП 3 позвол ет резко ограничить площадь зондируемой поверхности д-ка 4 и уменьшить искажение истинного значени зар да в зондируемой области. Это способствует повышен1по точности измерени распределени зар да по поверхности д-ка. 1 ил. слThis invention relates to el. Measurements. The purpose of the invention is to improve the measurement accuracy. The device contains a measuring probe 1 mounted in a through-hole 2 of a grounded metal. plate (ZMP) 3, located parallel to the surface of the probed dielectric (q-ka) 4, located on a flat grounded metallic. the substrate 5, the vibration mechanism (MB) 6, the mechanism 7 of the movement of the substrate 5, the block 8 registration of email. signal from probe 1. The ZMP 3 is fixed to MB 6, and the probe 1 ends on the same level as the ZMP 3 plane facing d-4. Synchronous vibration with one frequency and amplitude of probe 1 and ZMP 3 makes it possible to sharply limit the area of the probe surface qa 4 and reduce the distortion of the true value of the charge in the probed region. This contributes to an increase in the accuracy of measuring the distribution of the charge over the surface of the cell. 1 il. cl
Description
соwith
JJ
соwith
Изобретение относитс к технике электрических измерений и может быть использовано дл измерени распределени зар да по поверхности диэлектрика при определении опасных и вредных про влений статического электричества .The invention relates to an electrical measurement technique and can be used to measure the charge distribution over a dielectric surface in determining hazardous and harmful manifestations of static electricity.
Цель изобретени - повьппение точности измерени .The purpose of the invention is to increase measurement accuracy.
На чертеже приведена конструкци устройства дл измерени распределени зар да по поверхности диэлектрика .The drawing shows the structure of a device for measuring the distribution of the charge on the surface of a dielectric.
Устройство дп измерени распределени зар да по поверхности диэлектрика содержит измерительный зонд 1, установленный в сквозном отверстии 2 заземленной металлической пластины 3, расположенной параллельно пов.ерх- ности зондируемого диэлектрика 4, помещенного на плоской заземленной металлической подложке 5, механизм 6 вибрировани измерительного зонда 1 и металлической пластины 3, механизм 7 перемещени заземленной металлической подложки 5 и блок 8 регистрации электрического сигнала G измерительного зонда 1.The device dp of measuring the distribution of the charge over the dielectric surface contains a measuring probe 1 installed in a through-hole 2 of a grounded metal plate 3 located parallel to the surface of the probe dielectric 4 placed on a flat grounded metal substrate 5, the mechanism 6 of vibrating the measuring probe 1 and the metal plate 3, the movement mechanism 7 of the grounded metal substrate 5 and the electrical signal detection unit 8 of the measuring probe 1.
Устройство дл измерени распределени зар да по поверхности диэлектрика работает следующим образом.A device for measuring the distribution of charge over the surface of a dielectric works as follows.
Над поверхностью расположенного на заземленной металлической подложк 5 испытываемого диэлектрика 4 устанавливают измерительный зонд 1, помещенный в сквозном отверстии 2 заземленной металлической пластины 3. Заземленна металлическа пластина 3 параллельна поверхности диэлектрика 4 и не соприкасаетс ни с зондом 1, ни с диэлектриком 4. С помощью механизма 6 вибрировани измерительный зонд 1 и заземленна металлическа пластина 3 вибрируют синхронно с одной частотой и амплитудой в направлении , перпендикул рном поверхности диэлектрика 4. На измерительном зонде 1 при этом индуцируетс электрический сигнал, пропорциональный по величине зар ду в зондируемой точкеA measuring probe 1 placed in a through-hole 2 of a grounded metal plate 3 is installed above the surface of a test dielectric 4 located on a grounded metal substrate. The grounded metal plate 3 is parallel to the surface of dielectric 4 and does not contact either the probe 1 or the dielectric 4. By means of a mechanism 6, the vibration probe 1 and the grounded metal plate 3 vibrate synchronously with one frequency and amplitude in the direction perpendicular to the surface of the dielectric 4. In this case, an electric signal is induced on the measuring probe 1, which is proportional to the charge in the probe point
5five
поверхности диэлектрика 4, который регистрируетс блоком 8 регистрации. С помощью механизма 7 перемещени заземленной металлической подложки 5 осуществл етс перемещение диэлектрика 4 вместе с заземленной подложкой 5 над измерительным зондом 1, что позвол ет измерить распределениеthe surface of the dielectric 4, which is registered by the registration unit 8. Using the movement mechanism 7 of the grounded metal substrate 5, the dielectric 4 is moved along with the grounded substrate 5 above the measuring probe 1, which makes it possible to measure the distribution
O зар да по поверхности диэлектрика 4.O charge on the surface of the dielectric 4.
Синхронное вибрирование с одной частотой и амплитудой измерительного зонда 1 и заземленной металлической пластины 3, в сквозном отверстии 2Synchronous vibration with a single frequency and amplitude of the measuring probe 1 and the grounded metal plate 3, in the through hole 2
5 которой установлен измерительный зонд 1, позвол ет резко ограничить площадь зондируемой поверхности диэлектрика 4 и уменьшить искажение истинного значени зар да в зондируе0 мой области зар дом с соседних участков поверхности. Все это и способствует повьпаению точности измерени распределени зар да по поверхности диэлектрика.5 of which a measuring probe 1 is installed, allows to sharply limit the area of the surface of the dielectric 4 being probed and to reduce the distortion of the true value of the charge in the probed area from the neighboring surface areas. All this contributes to the accuracy of the measurement of the distribution of the charge over the surface of the dielectric.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU864087090A SU1392519A1 (en) | 1986-05-20 | 1986-05-20 | Device for measuring distribution of a charge over dielectric surface |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU864087090A SU1392519A1 (en) | 1986-05-20 | 1986-05-20 | Device for measuring distribution of a charge over dielectric surface |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1392519A1 true SU1392519A1 (en) | 1988-04-30 |
Family
ID=21245035
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU864087090A SU1392519A1 (en) | 1986-05-20 | 1986-05-20 | Device for measuring distribution of a charge over dielectric surface |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1392519A1 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5241276A (en) * | 1989-04-28 | 1993-08-31 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Surface potential measuring system |
-
1986
- 1986-05-20 SU SU864087090A patent/SU1392519A1/en active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Авторское свидетельство СССР 781717, кл. С 01 R 29/12, 1975. Боев С.Г., Галанов А.И. Зар жение монокристалла фтористого лити при раскалывании. - Физика твердого тела, 1980, т. 22, № 10, с. 3065- 3075. * |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5241276A (en) * | 1989-04-28 | 1993-08-31 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Surface potential measuring system |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| SU1392519A1 (en) | Device for measuring distribution of a charge over dielectric surface | |
| US3354388A (en) | Method for measuring the moisture content of wood | |
| US4072896A (en) | Apparatus for measuring the electron escape potential of metal surfaces | |
| Hamstad et al. | Development of practical wideband high-fidelity acoustic emission sensors | |
| US3714561A (en) | A transducer for measuring the displacement of an electrically conductive objective | |
| SU1260753A1 (en) | Device for determining surface tension and viscous-elastic parameters of liquid | |
| JPS5936202B2 (en) | Board warpage measuring device | |
| SU728017A1 (en) | Stand for testing antivibration cables for vibration-proofness | |
| SU1132261A1 (en) | Method of volume charge measuring | |
| SU1157022A1 (en) | Condenser method of measuring contact difference of potentials and device for effecting same | |
| RU1794187C (en) | Device for examining sections of rocks | |
| Shull et al. | Applications of capacitive array sensors to nondestructive evaluation | |
| DE59104753D1 (en) | Measuring device for checking the mass of a workpiece. | |
| SU1283672A1 (en) | Transducer of surface charges and potentials | |
| SU1456792A1 (en) | Method of measuring sound velocity of solids | |
| SU1224858A1 (en) | Sounding head | |
| SU1744420A1 (en) | Device for liquid film thickness measuring | |
| SU1390578A1 (en) | Method of determining potential of a charged dielectric surface | |
| SU879300A1 (en) | Device for measuring forces affecting tested structure | |
| RU93018057A (en) | METHOD FOR DETERMINING NOISE CHARACTERISTICS n - POLAR AND DEVICE TO DETERMINE ITS NOISE CHARACTERISTICS | |
| SU930017A1 (en) | Device for measuring vibration amplitude | |
| RU2054623C1 (en) | Device for metering dimensions and linear motion | |
| SU1553909A1 (en) | Graduating device for acceleration piezoelectric transducer | |
| SU513276A1 (en) | Piezoelectric static force measuring device | |
| SU1585658A1 (en) | Transducer for measuring rounding-off radius of turbine vanes |