SU1283672A1 - Transducer of surface charges and potentials - Google Patents
Transducer of surface charges and potentials Download PDFInfo
- Publication number
- SU1283672A1 SU1283672A1 SU853931846A SU3931846A SU1283672A1 SU 1283672 A1 SU1283672 A1 SU 1283672A1 SU 853931846 A SU853931846 A SU 853931846A SU 3931846 A SU3931846 A SU 3931846A SU 1283672 A1 SU1283672 A1 SU 1283672A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- metal electrode
- cone
- screen
- insert
- sensitivity
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть исполь- з.овано в репрографии, дефектоскопии. электротехнике. Целью изобретени вл етс повышение чувствительности измерений при одновременном расширении полосы пропускани . Дл достижени дели в устройстве, содержащем металлический электрод 1, электростатический экран 2 и диэлектрическую вставку 3, металлический электрод 1 с рабочей стороны выполнен в форме конуг- са с вершиной в плоскости торца экрана 2, а диэлектрическа вставка 3 ; расположена между образующей конуса и боковой поверхностью экрана. При этом отношение высоты конуса к радиусу металлического электрода 1 выбираетс в диапазоне от 0,5 до 2. Диэлектрическа проницаемость вставки выбираетс равной 3. Выбор данных параметров был осуществлен экспери ментально. 2 ил. (Л с:The invention relates to a measurement technique and can be used in reprography, flaw detection. electrical engineering. The aim of the invention is to increase the sensitivity of measurements while expanding the passband. To achieve a divi- sion in a device containing a metal electrode 1, an electrostatic screen 2 and a dielectric insert 3, the metal electrode 1 on the working side is made in the form of a corner with apex in the plane of the screen 2 face, and the dielectric insert 3; located between the generatrix of the cone and the side surface of the screen. The ratio of the height of the cone to the radius of the metal electrode 1 is selected in the range from 0.5 to 2. The dielectric constant of the insert is chosen equal to 3. The choice of these parameters was carried out experimentally. 2 Il. (L with:
Description
юYu
00 05 О)00 05 O)
sjsj
IS5IS5
1one
1one
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано в репрографии, дефектоскопии, электротехнике.The invention relates to a measuring technique and can be used in reprography, flaw detection, electrical engineering.
Целью изобретени вл етс повышение чувствительности измерений при одновременном расширении полосы пропускани за счет выполнени металлического электрода Б виде конуса с вершиной в плоскости торца экрана и размеш;ени диэлектрической вставки между образующей конуса и боковой поверхностью экрана, а также выбора отношени высоты конуса Н к радиусу R основани The aim of the invention is to increase the sensitivity of measurements while simultaneously expanding the passband by making a metal electrode B in the form of a cone with a top in the plane of the screen butt and stirring a dielectric insert between the cone generator and the side surface of the screen and selecting the ratio of the height of the cone H to radius R the grounds
0.5 | 20.5 | 2
На фиг. 1 представдена конструкци зондовой системЬц на фиг, 2 - график контрастно-частотной характеристики устройства (КЧХ).FIG. 1 shows the construction of the probe system in FIG. 2, a graph of the contrast-frequency characteristic of the device (CFC).
Датчик поверхностных зар дов и потенциалов содержит измерительный металлический электрод 1, расположенный в заземленном электростатическом экране 2. Торец металлического электрода выполнен в виде конуса с вершиной в плоскости торца экрана . Диэлектрическа вставка 3 расположена между образующей электрода и боковой поверхностью экрана, причем отношение высоты конуса к полуширине его основани лежит в интерва Н RThe sensor of surface charges and potentials contains a measuring metal electrode 1 located in a grounded electrostatic screen 2. The end of the metal electrode is made in the form of a cone with a top in the plane of the end of the screen. The dielectric insert 3 is located between the generator of the electrode and the side surface of the screen, and the ratio of the height of the cone to the half width of its base lies in the interval H R
ле 0,5 5le 0,5 5
2. Диэлектрическа про2. Dielectric pro
6, 6,
ниц дймость вставки должна быть 1-3.Nick insertion should be 1-3.
Пределы изменени - и значение КThe limits of change - and the value of K
. выбраны экспериментально. При определении метрологических характерис- тик бесконтактных электростатических индукционных систем обычно пользуютс представлени ми о зондирующем поле. Потенциал Зондирующего пол определ етс как лапласовское поле, возникающее в зондовой системе, если на измерительном электроде задан единичный потенциал, а остальные провод- ники и экраны заземлены. При. selected experimentally. When determining the metrological characteristics of non-contact electrostatic induction systems, the probing field is usually used. The potential of the probing field is defined as the Laplace field arising in the probe system if a single potential is specified on the measuring electrode and the remaining conductors and shields are grounded. With
- 0,5 коэффициент передачи посто н- к- 0.5 constant transfer ratio to
ной составл ющей, определ ющий чувствительность системы, равенcomponent, determining the sensitivity of the system, is
5five
00
5five
Полоса пропускани -системы на уровне 0,5, определ ема из КЧХ, равна О; 0,851| 1 (фиг. 2-, крива а). Таким образом, полоса пропускани О; 0,85 П определ ет нижнюю границу интервала .The bandwidth of the system at 0.5, determined from the QFH, is equal to O; 0.851 | 1 (Fig. 2, curve a). Thus, the bandwidth is O; 0.85 P defines the lower limit of the interval.
При - 2, т.е. при тонких зондах, кAt - 2, i.e. with thin probes, to
полоса пропускани расшир етс на 0,3571, однако чувствительность измерений в этом случае падает в 3 раза по сравнению со случаем, когдаthe bandwidth expands to 0.3571, however, the sensitivity of the measurements in this case decreases by a factor of 3 compared with
,5.,five.
Кроме того, с приближением тонких зондов к поверхности носител резко возрастает средн мощность шума, i обусловленного поверхностными неров- ност ми носител . Полезный сигнал нарастает медленней, чем шум, что приводит в итоге к ухудшению разрешающей способности. .In addition, as thin probes approach the carrier surface, the average noise power, i, caused by the surface irregularities of the carrier, sharply increases. The useful signal increases more slowly than noise, which eventually leads to a deterioration in resolution. .
Изготовление и эксплуатаци тонких заостренных зондов сопр жены также с техническими трудност ми. Поэтому целесообразен выбор промежуточного варианта геометрической формы зонда - в виде конуса, дл которогоThe manufacture and operation of thin, pointed probes are also associated with technical difficulties. Therefore, it is advisable to choose an intermediate variant of the geometric shape of the probe - in the form of a cone, for which
30thirty
0,50.5
Н RH R
2, Дл зовдовой системы с 2, For the call system with
- 3/2 КЧХ на фиг, 2 представлена- 3/2 QFC in FIG. 2 is represented by
Н R кривойH R curve
Устройство работает следующим образом .The device works as follows.
Б цепи измерительного электрода, установленного над контролируемой поверхностью, индуцируетс сигнал Q. При этом коэффициент передачи записываетс следующим образом:A circuit of a measuring electrode mounted above a test surface is induced by a signal Q. In this case, the transmission coefficient is recorded as follows:
K,o, КЧХ устройстваK, o, QFC of the device
imi - 3 г 2 f-А2й±1 ,imi - 3 g 2 f-A2 ± 1,
2 L2T V (2п+1) 2 2 L2T V (2p + 1) 2
К(о)K (o)
Л,L,
Ih(i)Ri oR.hIh (i) Ri oR.h
4 где Т. (OR) - функци Бессел п-го пор дка;4 where T. (OR) is the Bessel function of the nth order;
К,TO,
j Н RS 21 j H RS 21
h - рассто ние до контролируемойh - distance to controlled
поверхности; 1 - рассто ние до заземленнойsurface; 1 - distance to grounded
подложки.substrate.
Как видно из фиг. 2, полоса пропускани на уровне 0,5 составл ет 0; 1; lATTJ, чувствительность К(о) As can be seen from FIG. 2, the passband level of 0.5 is 0; one; lATTJ, K (o) sensitivity
15 h 3 1 15 h 3 1
3128331283
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853931846A SU1283672A1 (en) | 1985-07-17 | 1985-07-17 | Transducer of surface charges and potentials |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853931846A SU1283672A1 (en) | 1985-07-17 | 1985-07-17 | Transducer of surface charges and potentials |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1283672A1 true SU1283672A1 (en) | 1987-01-15 |
Family
ID=21190002
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853931846A SU1283672A1 (en) | 1985-07-17 | 1985-07-17 | Transducer of surface charges and potentials |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1283672A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6034530A (en) * | 1994-05-31 | 2000-03-07 | Nec Corporation | Apparatus and method for measuring a movable electric charge induced in a conductive member |
-
1985
- 1985-07-17 SU SU853931846A patent/SU1283672A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Сакалаускас С.Ю. Добровольские А.Т. Измеритель распределени поверхностного электрического потенциала. - Приборы и техника эксперимента, 1978, 3, с. 165-168. Авторское свидетельство СССР № 464872, кл. G 01 R 29/12, 1973. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6034530A (en) * | 1994-05-31 | 2000-03-07 | Nec Corporation | Apparatus and method for measuring a movable electric charge induced in a conductive member |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3851242A (en) | Frequency-modulated eddy-current proximity gage | |
US4763078A (en) | Sensor for electrostatic voltmeter | |
SU1283672A1 (en) | Transducer of surface charges and potentials | |
JPH01189570A (en) | Non-contact type measuring apparatus for electric field varying statically and/or hourly | |
US4789829A (en) | Method and apparatus for determining RE gasket shielding effectiveness | |
SU1308946A2 (en) | Device for measuring voltages of pulsed electric field along three orthogonal directions | |
FR2326712A1 (en) | CIRCUIT AND METHOD FOR THE AUTOMATIC MEASUREMENT AND DISPLAY OF RESONANCE FREQUENCIES OF SEISMIC DETECTION ELEMENTS | |
SU1226354A1 (en) | Method of measuring strength of electric field | |
SU668004A2 (en) | Device for measuring moving magnetic carrier skew | |
JPS627533A (en) | Detecting device for angle of inclination of steel wire in belt for tire | |
GB2123237A (en) | Surface detector | |
RU1577469C (en) | Transmitter of angle of slope | |
SU1681280A1 (en) | Device for measuring electric properties of dielectric materials | |
SU1392519A1 (en) | Device for measuring distribution of a charge over dielectric surface | |
SU1244574A1 (en) | Device for determining parameters of electromagnetic waves in solid | |
SU1132261A1 (en) | Method of volume charge measuring | |
SU551808A1 (en) | Method for measuring static inhomogeneity of sinusoidal magnetic fields | |
SU759996A1 (en) | Device for registering parameters throughout surafce area of dielectric-semiconductor structures | |
SU1045169A1 (en) | Aeroion current density measuring device | |
SU1272283A1 (en) | Device for measuring electrostatic contrast of periodically moving charged dielectric and semiconducor layers | |
SU851245A1 (en) | Capacitive pickup of integrity | |
SU1191814A1 (en) | Eddy-current thickness gauge of dielectric coatings | |
US3356940A (en) | Method and apparatus for locating a broken conductor in a cable by vibrating a section of the cable | |
SU1659915A1 (en) | Device fpr measuring distribution of surface electrical potential | |
SU781717A1 (en) | Device for measuring charged surface electric potential |