SU1370548A1

SU1370548A1 - Способ ультразвукового контрол изделий

Info

Publication number: SU1370548A1
Application number: SU864119725A
Authority: SU
Inventors: Олег Николаевич Жуков; Алексей Харитонович Вопилкин; Виктор Георгиевич Стасеев
Original assignee: Научно-Производственное Объединение По Технологии Машиностроения "Цниитмаш"
Priority date: 1986-06-26
Filing date: 1986-06-26
Publication date: 1988-01-30

Abstract

Изобретение относитс к неразрушающему контролю материалов и может быть использовано дл определени типа обнаруживаемых дефектов. Целью изобретени вл етс повьш1ение точности контрол путем выбора нового информативного параметра. Согласно способу ультразвукового контрол издели в последнем возбуждают ультразвуковые импульсы с широким спектром частот, принимают сигналы, отраженные от дефекта, измер ют их амплитуду АО, анализируют спектр.этого сигнала и измер ют амплитуду Ал максимальной составл ющей этого спектра , принимают сигнал, отраженный от эталонной поверхности, измер ют амплитуду АЗ этого сигнала, анализируют его спектр, измер ют амплитуду А максимальной составл ющей его спектра , а тип дефекта определ ют по отношению Afl,-A,/AcL А,. , 1 ил. | сл

Description

00

-vj

о ел

4

С

113

Изобретение относитс к неразруша- гощему контролю материалов и может быть использовано дл определени типа обнаруживаемых дефектов,

Целью изобретени вл етс повышение точности контрол путем выбора нового информативного параметра дл определени типа дефекта.

На чертеже приведена эксперимен- тальна крива зависимости козффици- ента формы Q дефекта от отношени максимальных амплитуд спектров сигналов .

Способ ультразвукового контрол изделий осуществл ют следующим образом .

поверхностей ступенчатого образца, расположенную на той же, что и де- фект, глубине. При контроле изделий наклонным преобразователем в качестве эталонной поверхности используетс наклонна поверхность клинового образца. Измер ют величину его амп- лиТуды АЭ . Получают частотный спектр этого сигнала. Вьщел ют дл него частотную составл ющую с максимальной амплитудой, измер ют ее величину А и наход т соотношение

А

2

Затем наход т отношение

С помощью широкополосного преобразовател в изделие излучают последовательность ультразвуковых импульсов с широким спектром частот и принимают отраженные сигналы, по которы определ ют наличие дефекта. Измер ют величину АО, амплитуды сигнала от дефекта, затем получают частотный спектр сигнала от дефекта, выдел ют частотную составл ющую с максимальной амплитудой и измер ют ее величи-

ну АС

Определ ют отношение

Aic

К,

L п j v/i 1 Jc d lTinj t vy 1 nwiucnnt; .

a

Известно, что сигналы, отраженные от объемных дефектов, имеют монотонно измен ющиес спектры с равномерным распределением энергии по составл юп;им.

ориентированных дефектов, имеют осциллирующие спектры, т.е. вследствие интерференционных влений происходит перераспределение энергии в спектре отраженного сигнала по различным частотным составл ющим. Причем амплитуда отдельньрс составл ющих спектра сигнала, отраженного от плоскостного дефекта, может превьщ1ать амплитуду составл ющих спектра сигнала от объемного дефекта в несколько раз при одинаковой величине амплитуды сигналов . Затем принимают сигнал, отраженный от эталонной поверхности. При контроле изделий пр мыми преобразова- тел ми целесообразно использовать в качестве эталонной поверхности донную поверхность самого издели или угол, образованный двум перпендикул рны- ми поверхност ми, или одну из донных

К - к,А

i

А2

АЭС

и по кривой определ ют коэффициент Q, т.е. тип дефекта. В практической работе дл упрощени процесса обра- ботки можно устанавливать сигналы, отраженные от дефекта и эталонной поверхности , одинаковой амплитуды, и тогда тип дефекта определ ют по отношению

К

А|С

Aj

40

Claims

Формула изобретени

Способ ультразвукового контрол 35 изделий, заключающийс в том, что в контролируемом изделии возбузкдают ультразвуковые импульсы с щироким спектром частот, принимают сигналы, отраженные от дефекта, анализируют спектр этих сигналов и по параметрам спектра определ ют тип дефекта, о т- л и чающий с тем, что, с целью повышени точности контрол , измер ют амплитуду Ал сигнала от де- фекта и амплитуду А„ максимальной составл ющей его спектра, дополнительно принимают сигнал, отраженный от эталонной поверхности, измер ют

50

его амплитуду А, , анализируют частотный спектр этого сигнала и измер ют амплитуду А,р максимальной составл ющей его спектра, а тип дефекта определ ют с учетом соотношени

7С

as Q