SU1200179A1 - Способ определени внутренней структуры материала и устройство дл его осуществлени - Google Patents

Способ определени внутренней структуры материала и устройство дл его осуществлени Download PDF

Info

Publication number
SU1200179A1
SU1200179A1 SU843753763A SU3753763A SU1200179A1 SU 1200179 A1 SU1200179 A1 SU 1200179A1 SU 843753763 A SU843753763 A SU 843753763A SU 3753763 A SU3753763 A SU 3753763A SU 1200179 A1 SU1200179 A1 SU 1200179A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
bottom signal
spectrum
frequency
radio pulse
internal structure
Prior art date
Application number
SU843753763A
Other languages
English (en)
Inventor
Анатолий Владимирович Захаров
Юрий Аркадьевич Тимошенков
Original Assignee
Московский авиационный технологический институт им.К.Э.Циолковского
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский авиационный технологический институт им.К.Э.Циолковского filed Critical Московский авиационный технологический институт им.К.Э.Циолковского
Priority to SU843753763A priority Critical patent/SU1200179A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1200179A1 publication Critical patent/SU1200179A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

1. Способ определени  внутренней структуры материала, заключающийс  в том, что излучают и принимйют отраженные от дна издели  ультразвуковые импульсы и анализируют спектр донного сигнала, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности, формируют радиоимпульс , задержка которого относительно донного сигнала определ етс  из соотношени  1 ., , 1 где т - задержка радиоимпульса относительно донного сигнала; частота спектра донного сигнала на урорне 0,5 со стороны нижних частот; частота спектра донного сигнала на уровне 0,5 со стороны верхних частот, анализируют суммарный спектр донного сигнала и задержанного радиоимпульса и по частоте минимума суммарного спектра определ ют искомый параметр.

Description

2. Устройство дл  определени  внутренней структуры материала, содержащее последовательно соединенные импульсный генератор, совмещенный ультразвуковой преобразователь, широкополосный усилитель, временной селектор и а нализатор спектра и осцилрграф,.: соединенный с выходом временного селектора, отличаю200179
щ е е с   тем, что, с целью повышени  точности, оно снабжено после;Довательно соединенными блоком задержки , вход которого соединен с выходом временного селектора, формирователем синхроимпульсов и вторым генератором , выход которого соединен с входом анализатора спектра.
1
Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть исполь зовано в ультразвуковой дефектоскоп дл  определени  внутренней структуры материала.
Целью изобретени   вл етс  повышение точности.
На чертеже изображено устройство , реализующее способ определени  внутренней структуры материала.
Устройство содержит последователно соединенные импульсный генератор 1, совмещенный ультразвуковой преобразователь 2, широкополосный уси/штель 3, временной селектор 4 и ан лизатор 5 спектра и осцилограф 6, соединенный с выходом временного селектора 4, последовательно соединенные блок 7 задержки, вход которого соединен с выходом временного селектора 4, формирователь 8 синхроимпульсов и второй генератор 9, выход которого соединен с входом анализатора 5 спектра.
Устройство работает следующим образом. ,
Генератор 1 вырабатьтает импульс электрических колебаний, который возбуждает совмещенный ультразвуковой преобразователь 2. Отраженные от донной поверхности издели  (не показано) ультразвуковые сигналы принимает совмещенный ультразвуковой преобразователь 2 и трансформирует их в электрические импульсы, которые поступают на вход широкополосного усилител  3, с выхода которого донный сигнал поступает на временной селектор 4 и селектируетс  от других мешающих сигналов.
С выхсща временного селектора 4 отселектированный донный сигнал поступает на анализатор 5 спектра, по которому определ ютс  частоты f и f2 спектра донного сигнала на уровне 0,5 со стороны нижних и соответственно верхних частот.
Одновременно с выхода временного селектора 4 донный сигнал поступает на блок 7 задержки, в котором он задерживаетс  на врем  , определеное из соотношени 
2L - - 2f,
Далее этот задержанньй донньй сигнал поступает на формирователь 8 синхроимпульсов , который формирует синхроимпульс , запускающий второй генератор 9, который формирует радиоимпульс , задержанный относительно донного сигнала. Задержанньй радиоимпульс поступает на вход анализатора 5 спектра, которьй анализирует суммарный спектр донного сигнала и (задержанного радиоимпульса, определ емьй из выражени 
(a))(a))( -/0 (и))П + 4/F(u))/( G (U)),, + (
где U)- значение частот донного сигнала и радиоимпульса; to - врем , соответствующее половине установленной задержки;
F(u)) - амплитудный спектр радиоимпульса , задержанного относительйо донного сигнала
G(w) - амплитудный спектр донного сигнала;
сЛ(и)) - разность фаз между донным сигналом и радиоимпульсом,
-1200179 4
задержанным относительно радиоимпульса определ ют внутреннюю донного сигнала на часто- . структуру материала, так U) .Использование способа определеЗакон изменени  функции cf(uo} ни  внутренней структуры материала имеет вполне определенное значение j и устройства дл  его осуществлени  дл  различной структуры материалов. .позвол ет повысить точность измереПо частоте минимума суммарного спект- ний за счет использовани  второго ра донного сигнала и задержанного сигнала - задержанного радиоимпуль

Claims (2)

1. Способ определения внутренней структуры материала, заключающийся в том, что излучают и принимают отраженные от дна изделия ультразвуковые импульсы и анализируют спектр донного сигнала, отлича ющийся тем, что, с целью повышения точности, формируют радиоимпульс, задержка которого относительно донного сигнала определяется из соотношения
2f2 1 где г задержка радиоимпульса относительно донного сигнала; частота спектра донного сигнала на уровне 0,5 со стороны нижних частот;
частота спектра донно'го сигнала на уровне 0,5 со стороны верхних частот, анализируют суммарный спектр донного сигнала и задержанного радиоимпульса и по частоте минимума суммарного спектра определяют искомый параметр.
SU843753763A 1984-04-18 1984-04-18 Способ определени внутренней структуры материала и устройство дл его осуществлени SU1200179A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843753763A SU1200179A1 (ru) 1984-04-18 1984-04-18 Способ определени внутренней структуры материала и устройство дл его осуществлени

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843753763A SU1200179A1 (ru) 1984-04-18 1984-04-18 Способ определени внутренней структуры материала и устройство дл его осуществлени

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1200179A1 true SU1200179A1 (ru) 1985-12-23

Family

ID=21124060

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843753763A SU1200179A1 (ru) 1984-04-18 1984-04-18 Способ определени внутренней структуры материала и устройство дл его осуществлени

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1200179A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Методы неразрушающих испытаний. Под ред. Р.Шарпа. - М.: Мир, 1972, с. 59-88. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU1200179A1 (ru) Способ определени внутренней структуры материала и устройство дл его осуществлени
SU1490620A1 (ru) Устройство дл ультразвукового контрол качества бетона
SU757974A1 (ru) Автоматический измеритель коэффициента отражения акустических сигналов от пьезопреобразователя 1
SU1027839A1 (ru) Устройство дл измерени амплитудно-частотных характеристик ультразвуковых пьезопреобразователей
RU2011193C1 (ru) Устройство для ультразвукового контроля изделий
SU1201747A1 (ru) Способ измерени коэффициента затухани ультразвука
SU1385058A1 (ru) Способ определени структуры материала и устройство дл его осуществлени
SU1525568A1 (ru) Ультразвуковой зеркально-теневой дефектоскоп
SU1458804A1 (ru) Устройство дл ультразвукового контрол
SU1188647A1 (ru) Способ ультразвукового контрол изделий
SU1302206A1 (ru) Анализатор спектра
SU1483353A1 (ru) Способ ультразвукового контрол качества изделий с соединением сваркой давлением
SU1114946A1 (ru) Устройство дл ультразвукового контрол материалов и изделий
SU1113737A1 (ru) Способ измерени параметров электроакустического преобразовател
RU1797035C (ru) Способ контрол структуры материалов
SU1304782A1 (ru) Способ определени зрелости арбузов
RU2075074C1 (ru) Устройство для ультразвукового контроля материалов
SU1206690A1 (ru) Способ ультразвукового контрол качества издели
SU1244581A1 (ru) Устройство дл испытаний электроакустических преобразователей
SU998943A1 (ru) Ультразвуковой дефектоскоп
SU1173298A1 (ru) Устройство дл измерени механической добротности микроизделий методом свободных колебаний
SU1030720A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициента отражени и сдвига фазы акустических сигналов
SU426186A1 (ru) Способ определения дисперсионной характеристики среды
SU548800A1 (ru) Устройство дл ультразвукового контрол изделий
SU896567A1 (ru) Измеритель амплитудно-частотных характеристик пьезоэлектрических преобразователей