SU134053A1

SU134053A1 - Semiautomatic device for temperature testing semiconductor devices

Info

Publication number: SU134053A1
Application number: SU661178A
Authority: SU
Inventors: С.И. Полуэктов
Original assignee: С.И. Полуэктов
Priority date: 1960-04-01
Filing date: 1960-04-01
Publication date: 1960-11-30

Description

ПОЛУАВТОМАТ ДЛЯ ТЕМПЕРАТУРНЫХ ИСПЫТАНИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВSEMI-AUTOMATIC TEMPERATURE TESTS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES

За влено 1 апре.п 1960 г. :ia .N2 661178/26 п Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Alri KCTpoB СССРDeclared April 1, 1960: ia .N2 661178/26 n Committee on Inventions and Discoveries at the Council of the Alri KCTpoB USSR

Опубликовано в «Бюллетене изобрстенш .Vs 23 la 1960 г.Published in “Bulletin izbrstensh .Vs 23 la 1960

Используемые карусельные и конвейерные установки дл температурных пспытаний полупроводниковых приборов имеют р д недо статков, св занпых с низкой производительностью и попнженнон точностью выдержки температурного режима.Carousel and conveyor installations used for temperature testing of semiconductor devices have a number of drawbacks, due to their low productivity and enhanced accuracy of temperature conditions.

Недостатки суш.ествуюш,их устройств такого назначени в известной мере устранены в описываемом полуавтоматическом устройстве дл температурных испытаний полупроводниковых приборов. Повышение производительности и обеспечение точности поддержани заданного температурпого режима достигаетс в нем применением роторов, равномерно размепденных вокруг центрального коммутируюп его ротора , которые снабжены теплоизол ционными кожухами и электропагревaтeл п .The drawbacks of dry matter, their devices for this purpose are to a certain extent eliminated in the described semi-automatic device for temperature tests of semiconductor devices. Improving the performance and ensuring the accuracy of maintaining the desired temperature is achieved in it by using rotors uniformly centered around the central commutator of its rotor, which are equipped with insulating shells and electric heater p.

На фиг. 1 изображена ехема иолуавтомата дл температурных испытаний п()лупроводниковь;х приборов; на фиг. 2 - периферн1 |ный ротор , в разрезе.FIG. 1 shows a device for automatic temperature testing of n () semiconductor; x instruments; in fig. 2 - periphery rotor, in section.

На квадратной станине ./, несущей источники питани , блоки индикации и пуско-регулируюш,ую аппаратуру, расположены главный ротор 2 с центральным коммутатором 3 и двенадцать периферийных роторов 4-15, равномерно установленных но окружности. Каждый периферийньп ротор состоит из термоизолирующего кожуха /6, плотно прижатого пружиной к основанию ротора П, на котором укреплен нагревательный элемент 18, испытываемые приборы 19 ц термопара 20. Каждый ротор снабжен своим приводом, сообщаюнитм ему прерывистое вран1ательное движение.The main rotor 2 with the central switch 3 and twelve peripheral rotors 4-15, uniformly mounted on a circle, are located on the square frame ./ carrying the power sources, display units and starting and adjusting equipment. Each periphery rotor consists of a heat-insulating casing / 6, tightly pressed by a spring to the base of the rotor П, on which the heating element 18 is fixed, the tested devices 19 c are thermocouple 20. Each rotor is equipped with its own drive, informing it with intermittent cranking motion.

Установка действует следующим образом.The installation operates as follows.

В положении ротора 4 кожух 16 посредством ролика 21 и ненодвил.ного конира 22 под,н1 маетс дл съема испытанной и загрузки новой партии приборов. В положени х роторов 5-13 наг)евательные элементы периферийных роторов включаютс иод напр жение, экспериментально подобранное таким, что в объеме ротора поддерживаетс температура, близка к требуемой. В положени х роторов 14 и 15 про изводитс автоматнчеекое регулирование температуры термопарой 20In the position of the rotor 4, the casing 16, by means of the roller 21 and the non-curved wire nether 22, is underneath to remove the tested and load a new batch of devices. At the rotor positions 5-13, the functional elements of the peripheral rotors include iodine voltage, experimentally chosen so that the temperature is maintained in the volume of the rotor, which is close to the required one. At the positions of the rotors 14 and 15, an automatic temperature control by thermocouple is performed 20