SU1337934A2 - Способ анализа примесей в газах - Google Patents

Способ анализа примесей в газах Download PDF

Info

Publication number
SU1337934A2
SU1337934A2 SU864053904A SU4053904A SU1337934A2 SU 1337934 A2 SU1337934 A2 SU 1337934A2 SU 864053904 A SU864053904 A SU 864053904A SU 4053904 A SU4053904 A SU 4053904A SU 1337934 A2 SU1337934 A2 SU 1337934A2
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
increase
impurities
analysis
ratio
electric field
Prior art date
Application number
SU864053904A
Other languages
English (en)
Inventor
Игорь Александрович Буряков
Евгений Викторович Крылов
Владимир Прокопьевич Солдатов
Original Assignee
Предприятие П/Я А-1882
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-1882 filed Critical Предприятие П/Я А-1882
Priority to SU864053904A priority Critical patent/SU1337934A2/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1337934A2 publication Critical patent/SU1337934A2/ru

Links

Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

Изобретение служит дл  повышени  точности анализа примесей в газах . Б процессе анализа происходит ионизаци  исследуемого газа, разделение образовавшихс  ионов в электрическом поле, отбор и регистраци  ионов при воздействии на них переменным периодическим несимметричным по пол рности электрическим полем. При этом отношение амплитуд дл  случа  пр моугольного во времени распределени  равно 3.73. Использование способа повышает разрешающую способность более чем на 30% при одновременном по- вьппении чувствительности вследствие роста отношени  сигнал/помеха.3 ил. со 00 00

Description

Изобретение относитс  к способам wj - - - С fs ci газового анализа и может быть не-t + . . t
пользовано дл  обнаружени  и анализа микропримесей в газах.а условие (4) - вид
Цель изобретени  - повышение точности анализа примесей в газах, t, (8) ход щихс  в переменных электрических пол х, за счет повьппени  скорости причем дрейфа ионов. 0
Скорость дрейфа ионов пропорцио-Т t « , ,
нальна коэффициенту подвижности ис F F
напр женности электрического пол :г аис ° +
... ..с /,ч Подставл   услови  (8) и (9) в Vd Kt, ) f5f-,
уравнение (7; можно получить
где К - коэффициент подвижности ио- -,(i, .-3,,, - 2f3).(10)
f - напр женность электрического „
Чтобы найти максимум значени  Vd, пол .20ii
,,.,.,нужно продифференцировать и приравн ть
Коэффициент К подвижности ионов v t чгг v vvV V
. „нулю уравнение (10):
 вл етс  функцией от напр женности
электрического пол  и может быть
представлен в виде р да--- -fj 6f, -6 О,(11)
25
К К„ + К, + ..., (2)
Корн ми этого квадратного уравне ., ..ни   вл ютс  величины
где Кд - коэффициент подвижности в
нулевом поле; (--) (12) К - коэффициент подвижности призо - квадратичном члене разложени , завис щий от индивиду-а отношение этих корней альных характеристик иона.
Если разделение производ т в пере- +. о ч- JT ь 3 73 (13)
менном электрической поле, то усред-,. 3 - - - , i
J5 ненна  по периоду скорость дрейфаТаким образом, согласно предлагаеионовмому способу, заключающемус  в иониj г К fзации исследуемого газа, разделении
Vd - J f (t)dt+ j 5(t)dt,(3) образовавшихс  ионов в электрическом t+Tt4T 40 поле, отборе и регистрации ионов при
воздействии на них переменным периоПричем если переменное электричес- дическим несимметричным по пол рности кое поле периодическое, т.е.электрическим полем, отношение амплиtтуд образующего пол  выбирают равI j f(t)dt О, (4) 45 ным 3,73.
На фиг.1 представлена форма напр но несимметричное по пол рности: женности электрического пол , соответствующа  номинальному соотношению If г50 амплитуд
Ц fMt)dt о, (5)
ТО усредненна  скорость дрейфас - J J
t
|ж г
Т J где - амплитуды напр женностей
пол  положительной и отЕсли поле пр моугольной формы, торицательной пол рностей
уравнение (6) имеет видсоответственно;
t, t - длительности положительного и отрицательного импульсов соответственно; Т - период следовани  импульсов;
макс сумма напр женностей положительного и отрицательного импульсов.
На фиг.2 представлены дл  сравне- НИН спектры смеси ионов 0 и N с соотношением амплитуд напр женностей, образую1цих поле:
2 (а); 3,73 (б); 5 (в).
Из.фиг.2 видно, что критерий разрешени , выраженный стандартной формулой
5, - г
R
bf,+л
(14)
,. г
напр женности компенсирующего пол  дл  пары раздел емых ионов в воздухе;
&,, ufj - ширина пиков этих ионов на полувысоте.
ю ,
15
20
25
30
имеет максимальное значение при соотношении амплитуд напр женностей,образующих поле, равном -3,73,
На фиг.З представлен экспериментальный график зависимости критери  разрешени  дл  двух сортов ионов в зависимости от отношени  амплитуд напр женностей, образующих поле. Из графика видно, что оптимальное значение отношени  .-3,73.

Claims (1)

  1. Использование предлагаемого способа анализа примесей в газе позвол ет повысить разрешающую способность по сравнению с известным более чем на 30% при одновременном повышении чувствительности вследствие роста отношени  сигнал/помеха. Формула изобретени 
    Способ анализа примесей в газах по авт.св. 966583, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности анализа за счет повышени  скорости дрейфа ионов, отношение амплитуд напр женности противоположного направлени  переменного периодического несимметричного по пол рности электрического пол  противоположного направлени  дл  случа  пр моугольного во времени распределени  равно 3,73.
    gjue.l
    Д- .в
    r.r-f ав
    ffffHfrriffi/fyfCaffe fojrf.f
    . №,3-вЛ ,.
    trrai ftfi
    /У  V
    /(eMf rticufiffruffe гюле, е
    Л  У-У.в ..
    if, -77Т1ГЗГ
    /tOftrtfHfufyMuiff /т г , е Фиг
    г 3.739вП
    Oiftfffwftfi/t MOHftMrntHMfcitfu, ФмкЗ
    Редактор А.Огар
    Составитель А.Нестерович
    Техред В.КадарКорректор С.Черни
    Заказ 4135/49 Тираж 697Подписное
    ВНИИПИ Государственного KOh&iTeTa СССР
    по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска  наб., д. 4/5
    Производственно-полиграфическое предпри тие, г. Ужгород, ул. Проектна ,
SU864053904A 1986-04-09 1986-04-09 Способ анализа примесей в газах SU1337934A2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864053904A SU1337934A2 (ru) 1986-04-09 1986-04-09 Способ анализа примесей в газах

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864053904A SU1337934A2 (ru) 1986-04-09 1986-04-09 Способ анализа примесей в газах

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU966583 Addition

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1337934A2 true SU1337934A2 (ru) 1987-09-15

Family

ID=21232685

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU864053904A SU1337934A2 (ru) 1986-04-09 1986-04-09 Способ анализа примесей в газах

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1337934A2 (ru)

Cited By (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6727496B2 (en) 2001-08-14 2004-04-27 Sionex Corporation Pancake spectrometer
US6815669B1 (en) 1999-07-21 2004-11-09 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Longitudinal field driven ion mobility filter and detection system
US6815668B2 (en) 1999-07-21 2004-11-09 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Method and apparatus for chromatography-high field asymmetric waveform ion mobility spectrometry
US6972407B2 (en) 1999-07-21 2005-12-06 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Method and apparatus for electrospray augmented high field asymmetric ion mobility spectrometry
US7005632B2 (en) 2002-04-12 2006-02-28 Sionex Corporation Method and apparatus for control of mobility-based ion species identification
US7019291B2 (en) 2002-10-12 2006-03-28 Sionex Corporation NOx monitor using differential mobility spectrometry
US7030372B2 (en) 1999-07-21 2006-04-18 Sionex Corporation Micromachined field asymmetric ion mobility filter and detection system
US7045776B2 (en) 2001-06-30 2006-05-16 Sionex Corporation System for collection of data and identification of unknown ion species in an electric field
US7057168B2 (en) 1999-07-21 2006-06-06 Sionex Corporation Systems for differential ion mobility analysis
US7091481B2 (en) 2001-08-08 2006-08-15 Sionex Corporation Method and apparatus for plasma generation
US7098449B1 (en) 1999-07-21 2006-08-29 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Spectrometer chip assembly
US7119328B2 (en) 2001-06-30 2006-10-10 Sionex Corporation System for DMS peak resolution
US7122794B1 (en) 2002-02-21 2006-10-17 Sionex Corporation Systems and methods for ion mobility control
US7129482B2 (en) 1999-07-21 2006-10-31 Sionex Corporation Explosives detection using differential ion mobility spectrometry
US7148477B2 (en) 1999-07-21 2006-12-12 Sionex Corporation System for trajectory-based ion species identification
US7223970B2 (en) 2003-09-17 2007-05-29 Sionex Corporation Solid-state gas flow generator and related systems, applications, and methods
US7227134B2 (en) 2003-11-25 2007-06-05 Sionex Corporation Mobility based apparatus and methods using dispersion characteristics, sample fragmentation, and/or pressure control to improve analysis of a sample
US7274015B2 (en) 2001-08-08 2007-09-25 Sionex Corporation Capacitive discharge plasma ion source
US7381944B2 (en) 2004-04-28 2008-06-03 Sionex Corporation Systems and methods for ion species analysis with enhanced condition control and data interpretation
US7399958B2 (en) 1999-07-21 2008-07-15 Sionex Corporation Method and apparatus for enhanced ion mobility based sample analysis using various analyzer configurations
US7399959B2 (en) 2004-12-03 2008-07-15 Sionex Corporation Method and apparatus for enhanced ion based sample filtering and detection
US7456394B2 (en) 2004-02-02 2008-11-25 Sionex Corporation Compact sample analysis systems and related methods of using combined chromatography and mobility spectrometry techniques
US7608818B2 (en) 2005-04-29 2009-10-27 Sionex Corporation Compact gas chromatography and ion mobility based sample analysis systems, methods, and devices
US7714284B2 (en) 2001-06-30 2010-05-11 Sionex Corporation Methods and apparatus for enhanced sample identification based on combined analytical techniques
US7902498B2 (en) 2003-12-18 2011-03-08 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Methods and apparatus for enhanced ion based sample detection using selective pre-separation and amplification
US9070542B2 (en) 2012-04-06 2015-06-30 Implant Sciences Corporation Selective ionization using high frequency filtering of reactive ions
US9068943B2 (en) 2011-04-27 2015-06-30 Implant Sciences Corporation Chemical analysis using hyphenated low and high field ion mobility
US9395333B2 (en) 2011-06-22 2016-07-19 Implant Sciences Corporation Ion mobility spectrometer device with embedded faims

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР 966583, кл. G 01 N 27/62, 1982. *

Cited By (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7241989B2 (en) 1999-07-21 2007-07-10 Sionex Corp. Systems for differential ion mobility analysis
US6972407B2 (en) 1999-07-21 2005-12-06 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Method and apparatus for electrospray augmented high field asymmetric ion mobility spectrometry
US6815668B2 (en) 1999-07-21 2004-11-09 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Method and apparatus for chromatography-high field asymmetric waveform ion mobility spectrometry
US7262407B2 (en) 1999-07-21 2007-08-28 Sionex Corporation Explosives detection using differential mobility spectrometry
US8410432B2 (en) 1999-07-21 2013-04-02 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Method and apparatus for enhanced ion mobility based sample analysis using various analyzer configurations
US7619214B2 (en) 1999-07-21 2009-11-17 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Spectrometer chip assembly
US7030372B2 (en) 1999-07-21 2006-04-18 Sionex Corporation Micromachined field asymmetric ion mobility filter and detection system
US7605367B2 (en) 1999-07-21 2009-10-20 Sionex Corporation Explosives detection using differential mobility spectrometry
US7057168B2 (en) 1999-07-21 2006-06-06 Sionex Corporation Systems for differential ion mobility analysis
US7075068B2 (en) 1999-07-21 2006-07-11 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Method and apparatus for electrospray augmented high field asymmetric ion mobility spectrometry
US7576319B2 (en) 1999-07-21 2009-08-18 Sionex Corporation Systems for differential ion mobility analysis
US7098449B1 (en) 1999-07-21 2006-08-29 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Spectrometer chip assembly
US6815669B1 (en) 1999-07-21 2004-11-09 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Longitudinal field driven ion mobility filter and detection system
US7547879B2 (en) 1999-07-21 2009-06-16 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Longitudinal field driven ion mobility filter and detection system
US7129482B2 (en) 1999-07-21 2006-10-31 Sionex Corporation Explosives detection using differential ion mobility spectrometry
US7148477B2 (en) 1999-07-21 2006-12-12 Sionex Corporation System for trajectory-based ion species identification
US7176453B2 (en) 1999-07-21 2007-02-13 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Method and apparatus for chromatography-high field asymmetric waveform ion mobility spectrometry
US7399958B2 (en) 1999-07-21 2008-07-15 Sionex Corporation Method and apparatus for enhanced ion mobility based sample analysis using various analyzer configurations
US7365316B2 (en) 1999-07-21 2008-04-29 The Charles Stark Draper Laboratory Method and apparatus for chromatography-high field asymmetric waveform ion mobility spectrometry
US7355170B2 (en) 1999-07-21 2008-04-08 Sionex Corporation Systems for differential ion mobility analysis
US7211791B2 (en) 1999-07-21 2007-05-01 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Method and apparatus for chromatography-high field asymmetric waveform ion mobility spectrometry
US7119328B2 (en) 2001-06-30 2006-10-10 Sionex Corporation System for DMS peak resolution
US7714284B2 (en) 2001-06-30 2010-05-11 Sionex Corporation Methods and apparatus for enhanced sample identification based on combined analytical techniques
US7045776B2 (en) 2001-06-30 2006-05-16 Sionex Corporation System for collection of data and identification of unknown ion species in an electric field
US7279680B2 (en) 2001-08-08 2007-10-09 Sionex Corporation Method and apparatus for plasma generation
US7274015B2 (en) 2001-08-08 2007-09-25 Sionex Corporation Capacitive discharge plasma ion source
US7091481B2 (en) 2001-08-08 2006-08-15 Sionex Corporation Method and apparatus for plasma generation
US6727496B2 (en) 2001-08-14 2004-04-27 Sionex Corporation Pancake spectrometer
US7217920B2 (en) 2001-08-14 2007-05-15 Sionex Corporation Pancake spectrometer
US7122794B1 (en) 2002-02-21 2006-10-17 Sionex Corporation Systems and methods for ion mobility control
US7005632B2 (en) 2002-04-12 2006-02-28 Sionex Corporation Method and apparatus for control of mobility-based ion species identification
US7230238B2 (en) 2002-04-12 2007-06-12 Sionex Corporation Method and apparatus for control of mobility-based ion species identification
US7019291B2 (en) 2002-10-12 2006-03-28 Sionex Corporation NOx monitor using differential mobility spectrometry
US7453060B2 (en) 2003-09-17 2008-11-18 Sionex Corporation Solid-state flow generator and related systems, applications, and methods
US7223970B2 (en) 2003-09-17 2007-05-29 Sionex Corporation Solid-state gas flow generator and related systems, applications, and methods
US7227134B2 (en) 2003-11-25 2007-06-05 Sionex Corporation Mobility based apparatus and methods using dispersion characteristics, sample fragmentation, and/or pressure control to improve analysis of a sample
US7902498B2 (en) 2003-12-18 2011-03-08 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Methods and apparatus for enhanced ion based sample detection using selective pre-separation and amplification
US8592751B2 (en) 2003-12-18 2013-11-26 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Methods and apparatus for enhanced ion based sample detection using selective pre-separation and amplification
US7456394B2 (en) 2004-02-02 2008-11-25 Sionex Corporation Compact sample analysis systems and related methods of using combined chromatography and mobility spectrometry techniques
US7381944B2 (en) 2004-04-28 2008-06-03 Sionex Corporation Systems and methods for ion species analysis with enhanced condition control and data interpretation
US7399959B2 (en) 2004-12-03 2008-07-15 Sionex Corporation Method and apparatus for enhanced ion based sample filtering and detection
US7608818B2 (en) 2005-04-29 2009-10-27 Sionex Corporation Compact gas chromatography and ion mobility based sample analysis systems, methods, and devices
US9068943B2 (en) 2011-04-27 2015-06-30 Implant Sciences Corporation Chemical analysis using hyphenated low and high field ion mobility
US9395333B2 (en) 2011-06-22 2016-07-19 Implant Sciences Corporation Ion mobility spectrometer device with embedded faims
US9070542B2 (en) 2012-04-06 2015-06-30 Implant Sciences Corporation Selective ionization using high frequency filtering of reactive ions

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU1337934A2 (ru) Способ анализа примесей в газах
SU966583A1 (ru) Способ анализа примесей в газах
SU1733975A1 (ru) Способ определени электронной температуры плазмы тлеющего разр да
JPS573036A (en) Oxygen concentration detector
SU1218468A1 (ru) Аналого-цифровой преобразователь
SU828031A1 (ru) Спектральный способ фотоэлектрическогоОпРЕдЕлЕНи элЕМЕНТОВ-пРиМЕСЕй Вугл Х
RU2328729C1 (ru) Способ анализа микропримесей веществ в газах
Yiou et al. Measurement of 10Be and 26Al with a Tandetron accelerator mass spectrometer facility
SU789772A1 (ru) Способ измерени посто нного напр жени
SU742815A1 (ru) Способ измерени физических величин
SU702510A1 (ru) Способ преобразовани цифрового кода в электрическое напр жение
SU761893A1 (en) Method of determining thermoelectric efficiency of semiconductors
SU819649A1 (ru) Влагомер
SU928269A1 (ru) Датчик магнитного пол Вальтаса И.А.
Dewalt et al. A Background Emission Correction System for Atomic Absorption Spectrometry
SU410395A1 (ru)
SU1354086A1 (ru) Способ определени фазовых превращений
SU1239571A2 (ru) Способ повышени разрешающей способности регистрации изотропных линий в многокомпонентном спектре ЭПР
SU575547A1 (ru) Способ непрерывного измерени концентрации дисперсной фазы аэрозолей
SU537314A1 (ru) Феррозондовый нуль-орган
SU970683A2 (ru) Устройство врем -импульсного преобразовани напр жени посто нного тока в число
SU801139A1 (ru) Магнетронный масс-спектрометр
JPS6460948A (en) Mass spectrometer
Sekhar et al. Fabry-Perot Line Profiles in 5303A and 6374A Coronal Lines Obtained during the 1983 Eclipse
Uddin et al. The Distribution of Sunspots Over the Sun