SU1337934A2 - Способ анализа примесей в газах - Google Patents
Способ анализа примесей в газах Download PDFInfo
- Publication number
- SU1337934A2 SU1337934A2 SU864053904A SU4053904A SU1337934A2 SU 1337934 A2 SU1337934 A2 SU 1337934A2 SU 864053904 A SU864053904 A SU 864053904A SU 4053904 A SU4053904 A SU 4053904A SU 1337934 A2 SU1337934 A2 SU 1337934A2
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- increase
- impurities
- analysis
- ratio
- electric field
- Prior art date
Links
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
Изобретение служит дл повышени точности анализа примесей в газах . Б процессе анализа происходит ионизаци исследуемого газа, разделение образовавшихс ионов в электрическом поле, отбор и регистраци ионов при воздействии на них переменным периодическим несимметричным по пол рности электрическим полем. При этом отношение амплитуд дл случа пр моугольного во времени распределени равно 3.73. Использование способа повышает разрешающую способность более чем на 30% при одновременном по- вьппении чувствительности вследствие роста отношени сигнал/помеха.3 ил. со 00 00
Description
Изобретение относитс к способам wj - - - С fs ci газового анализа и может быть не-t + . . t
пользовано дл обнаружени и анализа микропримесей в газах.а условие (4) - вид
Цель изобретени - повышение точности анализа примесей в газах, t, (8) ход щихс в переменных электрических пол х, за счет повьппени скорости причем дрейфа ионов. 0
Скорость дрейфа ионов пропорцио-Т t « , ,
нальна коэффициенту подвижности ис F F
напр женности электрического пол :г аис ° +
... ..с /,ч Подставл услови (8) и (9) в Vd Kt, ) f5f-,
уравнение (7; можно получить
где К - коэффициент подвижности ио- -,(i, .-3,,, - 2f3).(10)
f - напр женность электрического „
Чтобы найти максимум значени Vd, пол .20ii
,,.,.,нужно продифференцировать и приравн ть
Коэффициент К подвижности ионов v t чгг v vvV V
. „нулю уравнение (10):
вл етс функцией от напр женности
электрического пол и может быть
представлен в виде р да--- -fj 6f, -6 О,(11)
25
К К„ + К, + ..., (2)
Корн ми этого квадратного уравне ., ..ни вл ютс величины
где Кд - коэффициент подвижности в
нулевом поле; (--) (12) К - коэффициент подвижности призо - квадратичном члене разложени , завис щий от индивиду-а отношение этих корней альных характеристик иона.
Если разделение производ т в пере- +. о ч- JT ь 3 73 (13)
менном электрической поле, то усред-,. 3 - - - , i
J5 ненна по периоду скорость дрейфаТаким образом, согласно предлагаеионовмому способу, заключающемус в иониj г К fзации исследуемого газа, разделении
Vd - J f (t)dt+ j 5(t)dt,(3) образовавшихс ионов в электрическом t+Tt4T 40 поле, отборе и регистрации ионов при
воздействии на них переменным периоПричем если переменное электричес- дическим несимметричным по пол рности кое поле периодическое, т.е.электрическим полем, отношение амплиtтуд образующего пол выбирают равI j f(t)dt О, (4) 45 ным 3,73.
На фиг.1 представлена форма напр но несимметричное по пол рности: женности электрического пол , соответствующа номинальному соотношению If г50 амплитуд
Ц fMt)dt о, (5)
ТО усредненна скорость дрейфас - J J
t
|ж г
Т J где - амплитуды напр женностей
пол положительной и отЕсли поле пр моугольной формы, торицательной пол рностей
уравнение (6) имеет видсоответственно;
t, t - длительности положительного и отрицательного импульсов соответственно; Т - период следовани импульсов;
макс сумма напр женностей положительного и отрицательного импульсов.
На фиг.2 представлены дл сравне- НИН спектры смеси ионов 0 и N с соотношением амплитуд напр женностей, образую1цих поле:
2 (а); 3,73 (б); 5 (в).
Из.фиг.2 видно, что критерий разрешени , выраженный стандартной формулой
5, - г
R
bf,+л
(14)
,. г
напр женности компенсирующего пол дл пары раздел емых ионов в воздухе;
&,, ufj - ширина пиков этих ионов на полувысоте.
ю ,
15
20
25
30
имеет максимальное значение при соотношении амплитуд напр женностей,образующих поле, равном -3,73,
На фиг.З представлен экспериментальный график зависимости критери разрешени дл двух сортов ионов в зависимости от отношени амплитуд напр женностей, образующих поле. Из графика видно, что оптимальное значение отношени .-3,73.
Claims (1)
- Использование предлагаемого способа анализа примесей в газе позвол ет повысить разрешающую способность по сравнению с известным более чем на 30% при одновременном повышении чувствительности вследствие роста отношени сигнал/помеха. Формула изобретениСпособ анализа примесей в газах по авт.св. 966583, отличающийс тем, что, с целью повышени точности анализа за счет повышени скорости дрейфа ионов, отношение амплитуд напр женности противоположного направлени переменного периодического несимметричного по пол рности электрического пол противоположного направлени дл случа пр моугольного во времени распределени равно 3,73.gjue.lД- .вr.r-f авffffHfrriffi/fyfCaffe fojrf.f. №,3-вЛ ,.trrai ftfi/У V/(eMf rticufiffruffe гюле, еЛ У-У.в ..if, -77Т1ГЗГ/tOftrtfHfufyMuiff /т г , е Фигг 3.739вПOiftfffwftfi/t MOHftMrntHMfcitfu, ФмкЗРедактор А.ОгарСоставитель А.НестеровичТехред В.КадарКорректор С.ЧерниЗаказ 4135/49 Тираж 697ПодписноеВНИИПИ Государственного KOh&iTeTa СССРпо делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска наб., д. 4/5Производственно-полиграфическое предпри тие, г. Ужгород, ул. Проектна ,
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864053904A SU1337934A2 (ru) | 1986-04-09 | 1986-04-09 | Способ анализа примесей в газах |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864053904A SU1337934A2 (ru) | 1986-04-09 | 1986-04-09 | Способ анализа примесей в газах |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU966583 Addition |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1337934A2 true SU1337934A2 (ru) | 1987-09-15 |
Family
ID=21232685
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU864053904A SU1337934A2 (ru) | 1986-04-09 | 1986-04-09 | Способ анализа примесей в газах |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1337934A2 (ru) |
Cited By (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6727496B2 (en) | 2001-08-14 | 2004-04-27 | Sionex Corporation | Pancake spectrometer |
US6815669B1 (en) | 1999-07-21 | 2004-11-09 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Longitudinal field driven ion mobility filter and detection system |
US6815668B2 (en) | 1999-07-21 | 2004-11-09 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Method and apparatus for chromatography-high field asymmetric waveform ion mobility spectrometry |
US6972407B2 (en) | 1999-07-21 | 2005-12-06 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Method and apparatus for electrospray augmented high field asymmetric ion mobility spectrometry |
US7005632B2 (en) | 2002-04-12 | 2006-02-28 | Sionex Corporation | Method and apparatus for control of mobility-based ion species identification |
US7019291B2 (en) | 2002-10-12 | 2006-03-28 | Sionex Corporation | NOx monitor using differential mobility spectrometry |
US7030372B2 (en) | 1999-07-21 | 2006-04-18 | Sionex Corporation | Micromachined field asymmetric ion mobility filter and detection system |
US7045776B2 (en) | 2001-06-30 | 2006-05-16 | Sionex Corporation | System for collection of data and identification of unknown ion species in an electric field |
US7057168B2 (en) | 1999-07-21 | 2006-06-06 | Sionex Corporation | Systems for differential ion mobility analysis |
US7091481B2 (en) | 2001-08-08 | 2006-08-15 | Sionex Corporation | Method and apparatus for plasma generation |
US7098449B1 (en) | 1999-07-21 | 2006-08-29 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Spectrometer chip assembly |
US7119328B2 (en) | 2001-06-30 | 2006-10-10 | Sionex Corporation | System for DMS peak resolution |
US7122794B1 (en) | 2002-02-21 | 2006-10-17 | Sionex Corporation | Systems and methods for ion mobility control |
US7129482B2 (en) | 1999-07-21 | 2006-10-31 | Sionex Corporation | Explosives detection using differential ion mobility spectrometry |
US7148477B2 (en) | 1999-07-21 | 2006-12-12 | Sionex Corporation | System for trajectory-based ion species identification |
US7223970B2 (en) | 2003-09-17 | 2007-05-29 | Sionex Corporation | Solid-state gas flow generator and related systems, applications, and methods |
US7227134B2 (en) | 2003-11-25 | 2007-06-05 | Sionex Corporation | Mobility based apparatus and methods using dispersion characteristics, sample fragmentation, and/or pressure control to improve analysis of a sample |
US7274015B2 (en) | 2001-08-08 | 2007-09-25 | Sionex Corporation | Capacitive discharge plasma ion source |
US7381944B2 (en) | 2004-04-28 | 2008-06-03 | Sionex Corporation | Systems and methods for ion species analysis with enhanced condition control and data interpretation |
US7399958B2 (en) | 1999-07-21 | 2008-07-15 | Sionex Corporation | Method and apparatus for enhanced ion mobility based sample analysis using various analyzer configurations |
US7399959B2 (en) | 2004-12-03 | 2008-07-15 | Sionex Corporation | Method and apparatus for enhanced ion based sample filtering and detection |
US7456394B2 (en) | 2004-02-02 | 2008-11-25 | Sionex Corporation | Compact sample analysis systems and related methods of using combined chromatography and mobility spectrometry techniques |
US7608818B2 (en) | 2005-04-29 | 2009-10-27 | Sionex Corporation | Compact gas chromatography and ion mobility based sample analysis systems, methods, and devices |
US7714284B2 (en) | 2001-06-30 | 2010-05-11 | Sionex Corporation | Methods and apparatus for enhanced sample identification based on combined analytical techniques |
US7902498B2 (en) | 2003-12-18 | 2011-03-08 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Methods and apparatus for enhanced ion based sample detection using selective pre-separation and amplification |
US9070542B2 (en) | 2012-04-06 | 2015-06-30 | Implant Sciences Corporation | Selective ionization using high frequency filtering of reactive ions |
US9068943B2 (en) | 2011-04-27 | 2015-06-30 | Implant Sciences Corporation | Chemical analysis using hyphenated low and high field ion mobility |
US9395333B2 (en) | 2011-06-22 | 2016-07-19 | Implant Sciences Corporation | Ion mobility spectrometer device with embedded faims |
-
1986
- 1986-04-09 SU SU864053904A patent/SU1337934A2/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР 966583, кл. G 01 N 27/62, 1982. * |
Cited By (45)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7241989B2 (en) | 1999-07-21 | 2007-07-10 | Sionex Corp. | Systems for differential ion mobility analysis |
US6972407B2 (en) | 1999-07-21 | 2005-12-06 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Method and apparatus for electrospray augmented high field asymmetric ion mobility spectrometry |
US6815668B2 (en) | 1999-07-21 | 2004-11-09 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Method and apparatus for chromatography-high field asymmetric waveform ion mobility spectrometry |
US7262407B2 (en) | 1999-07-21 | 2007-08-28 | Sionex Corporation | Explosives detection using differential mobility spectrometry |
US8410432B2 (en) | 1999-07-21 | 2013-04-02 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Method and apparatus for enhanced ion mobility based sample analysis using various analyzer configurations |
US7619214B2 (en) | 1999-07-21 | 2009-11-17 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Spectrometer chip assembly |
US7030372B2 (en) | 1999-07-21 | 2006-04-18 | Sionex Corporation | Micromachined field asymmetric ion mobility filter and detection system |
US7605367B2 (en) | 1999-07-21 | 2009-10-20 | Sionex Corporation | Explosives detection using differential mobility spectrometry |
US7057168B2 (en) | 1999-07-21 | 2006-06-06 | Sionex Corporation | Systems for differential ion mobility analysis |
US7075068B2 (en) | 1999-07-21 | 2006-07-11 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Method and apparatus for electrospray augmented high field asymmetric ion mobility spectrometry |
US7576319B2 (en) | 1999-07-21 | 2009-08-18 | Sionex Corporation | Systems for differential ion mobility analysis |
US7098449B1 (en) | 1999-07-21 | 2006-08-29 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Spectrometer chip assembly |
US6815669B1 (en) | 1999-07-21 | 2004-11-09 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Longitudinal field driven ion mobility filter and detection system |
US7547879B2 (en) | 1999-07-21 | 2009-06-16 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Longitudinal field driven ion mobility filter and detection system |
US7129482B2 (en) | 1999-07-21 | 2006-10-31 | Sionex Corporation | Explosives detection using differential ion mobility spectrometry |
US7148477B2 (en) | 1999-07-21 | 2006-12-12 | Sionex Corporation | System for trajectory-based ion species identification |
US7176453B2 (en) | 1999-07-21 | 2007-02-13 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Method and apparatus for chromatography-high field asymmetric waveform ion mobility spectrometry |
US7399958B2 (en) | 1999-07-21 | 2008-07-15 | Sionex Corporation | Method and apparatus for enhanced ion mobility based sample analysis using various analyzer configurations |
US7365316B2 (en) | 1999-07-21 | 2008-04-29 | The Charles Stark Draper Laboratory | Method and apparatus for chromatography-high field asymmetric waveform ion mobility spectrometry |
US7355170B2 (en) | 1999-07-21 | 2008-04-08 | Sionex Corporation | Systems for differential ion mobility analysis |
US7211791B2 (en) | 1999-07-21 | 2007-05-01 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Method and apparatus for chromatography-high field asymmetric waveform ion mobility spectrometry |
US7119328B2 (en) | 2001-06-30 | 2006-10-10 | Sionex Corporation | System for DMS peak resolution |
US7714284B2 (en) | 2001-06-30 | 2010-05-11 | Sionex Corporation | Methods and apparatus for enhanced sample identification based on combined analytical techniques |
US7045776B2 (en) | 2001-06-30 | 2006-05-16 | Sionex Corporation | System for collection of data and identification of unknown ion species in an electric field |
US7279680B2 (en) | 2001-08-08 | 2007-10-09 | Sionex Corporation | Method and apparatus for plasma generation |
US7274015B2 (en) | 2001-08-08 | 2007-09-25 | Sionex Corporation | Capacitive discharge plasma ion source |
US7091481B2 (en) | 2001-08-08 | 2006-08-15 | Sionex Corporation | Method and apparatus for plasma generation |
US6727496B2 (en) | 2001-08-14 | 2004-04-27 | Sionex Corporation | Pancake spectrometer |
US7217920B2 (en) | 2001-08-14 | 2007-05-15 | Sionex Corporation | Pancake spectrometer |
US7122794B1 (en) | 2002-02-21 | 2006-10-17 | Sionex Corporation | Systems and methods for ion mobility control |
US7005632B2 (en) | 2002-04-12 | 2006-02-28 | Sionex Corporation | Method and apparatus for control of mobility-based ion species identification |
US7230238B2 (en) | 2002-04-12 | 2007-06-12 | Sionex Corporation | Method and apparatus for control of mobility-based ion species identification |
US7019291B2 (en) | 2002-10-12 | 2006-03-28 | Sionex Corporation | NOx monitor using differential mobility spectrometry |
US7453060B2 (en) | 2003-09-17 | 2008-11-18 | Sionex Corporation | Solid-state flow generator and related systems, applications, and methods |
US7223970B2 (en) | 2003-09-17 | 2007-05-29 | Sionex Corporation | Solid-state gas flow generator and related systems, applications, and methods |
US7227134B2 (en) | 2003-11-25 | 2007-06-05 | Sionex Corporation | Mobility based apparatus and methods using dispersion characteristics, sample fragmentation, and/or pressure control to improve analysis of a sample |
US7902498B2 (en) | 2003-12-18 | 2011-03-08 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Methods and apparatus for enhanced ion based sample detection using selective pre-separation and amplification |
US8592751B2 (en) | 2003-12-18 | 2013-11-26 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Methods and apparatus for enhanced ion based sample detection using selective pre-separation and amplification |
US7456394B2 (en) | 2004-02-02 | 2008-11-25 | Sionex Corporation | Compact sample analysis systems and related methods of using combined chromatography and mobility spectrometry techniques |
US7381944B2 (en) | 2004-04-28 | 2008-06-03 | Sionex Corporation | Systems and methods for ion species analysis with enhanced condition control and data interpretation |
US7399959B2 (en) | 2004-12-03 | 2008-07-15 | Sionex Corporation | Method and apparatus for enhanced ion based sample filtering and detection |
US7608818B2 (en) | 2005-04-29 | 2009-10-27 | Sionex Corporation | Compact gas chromatography and ion mobility based sample analysis systems, methods, and devices |
US9068943B2 (en) | 2011-04-27 | 2015-06-30 | Implant Sciences Corporation | Chemical analysis using hyphenated low and high field ion mobility |
US9395333B2 (en) | 2011-06-22 | 2016-07-19 | Implant Sciences Corporation | Ion mobility spectrometer device with embedded faims |
US9070542B2 (en) | 2012-04-06 | 2015-06-30 | Implant Sciences Corporation | Selective ionization using high frequency filtering of reactive ions |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU1337934A2 (ru) | Способ анализа примесей в газах | |
SU966583A1 (ru) | Способ анализа примесей в газах | |
SU1733975A1 (ru) | Способ определени электронной температуры плазмы тлеющего разр да | |
JPS573036A (en) | Oxygen concentration detector | |
SU1218468A1 (ru) | Аналого-цифровой преобразователь | |
SU828031A1 (ru) | Спектральный способ фотоэлектрическогоОпРЕдЕлЕНи элЕМЕНТОВ-пРиМЕСЕй Вугл Х | |
RU2328729C1 (ru) | Способ анализа микропримесей веществ в газах | |
Yiou et al. | Measurement of 10Be and 26Al with a Tandetron accelerator mass spectrometer facility | |
SU789772A1 (ru) | Способ измерени посто нного напр жени | |
SU742815A1 (ru) | Способ измерени физических величин | |
SU702510A1 (ru) | Способ преобразовани цифрового кода в электрическое напр жение | |
SU761893A1 (en) | Method of determining thermoelectric efficiency of semiconductors | |
SU819649A1 (ru) | Влагомер | |
SU928269A1 (ru) | Датчик магнитного пол Вальтаса И.А. | |
Dewalt et al. | A Background Emission Correction System for Atomic Absorption Spectrometry | |
SU410395A1 (ru) | ||
SU1354086A1 (ru) | Способ определени фазовых превращений | |
SU1239571A2 (ru) | Способ повышени разрешающей способности регистрации изотропных линий в многокомпонентном спектре ЭПР | |
SU575547A1 (ru) | Способ непрерывного измерени концентрации дисперсной фазы аэрозолей | |
SU537314A1 (ru) | Феррозондовый нуль-орган | |
SU970683A2 (ru) | Устройство врем -импульсного преобразовани напр жени посто нного тока в число | |
SU801139A1 (ru) | Магнетронный масс-спектрометр | |
JPS6460948A (en) | Mass spectrometer | |
Sekhar et al. | Fabry-Perot Line Profiles in 5303A and 6374A Coronal Lines Obtained during the 1983 Eclipse | |
Uddin et al. | The Distribution of Sunspots Over the Sun |