SU1332205A1 - Датчик дл измерени параметров полупроводниковых материалов - Google Patents

Датчик дл измерени параметров полупроводниковых материалов Download PDF

Info

Publication number
SU1332205A1
SU1332205A1 SU853930319A SU3930319A SU1332205A1 SU 1332205 A1 SU1332205 A1 SU 1332205A1 SU 853930319 A SU853930319 A SU 853930319A SU 3930319 A SU3930319 A SU 3930319A SU 1332205 A1 SU1332205 A1 SU 1332205A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
proportional
hall
gap
grounding base
receiving
Prior art date
Application number
SU853930319A
Other languages
English (en)
Inventor
Виктор Викторович Сидорин
Юрий Викторович Сидорин
Original Assignee
Войсковая часть 67947
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Войсковая часть 67947 filed Critical Войсковая часть 67947
Priority to SU853930319A priority Critical patent/SU1332205A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1332205A1 publication Critical patent/SU1332205A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к радиоизмерительной технике и обеспечивает неразрушающий контроль образцов произвольной формы. Датчик содержит магнитную систему и приемный и передающий тракты, выполненные в виде диэл. подложки 1, на одной стороне которой нанесено заземл ющее основание 2, а на другой - два взаимно перпендикул рных полосковых проводника (ПП) 3, 4, выполненные с зазором 5 в области их пересечени . Магнитна  система состоит из источника 6 питани  и электромагнита , на полюсе 7 которого размещено заземл ющее основание 2. Исследуемый полупроводниковый материал (ИМ) 8 накладывают на ПП 3, 4. В отсутствие магн. пол  электромагнитна  волна распростран етс  только в передающем тракте и не проходит в приемный тракт. В ИМ 8 над зазором 5. протекает эл. ток плотностью, пропорциональной уд. проводимости ИМ 8, Мощность сигнала на выходе ПП 4 пропорциональна плотности этого тока. При наложении внешнего магн. пол  в ИМ 8 возникает эл. поле, которое наводит в другой полосковой линии сигнал . Мощность сигнала пропорциональна наведенной ЭДС Холла. По формулам определ ютс  коэф. Холла, дрейфова  подвижность и концентраци  носителей. 1 ил. о 9 (/) 00 tsD tsD СП

Description

1332205
зобретение относитс  к радиоизмепо го ру ис эл с н р
рительной технике и может использоватьс  дл  определени  электрофизических параметров пластин и эпитакси- апьных структур полупроводниковых материалов .
Цель изобретени  - обеспечение неразрушающего контрол  материалов произвольной формы.
На чертеже приведена конструкци  датчика дл  измерени  параметров полупроводниковых материалов.
Датчик дл  измерени  параметров полупроводниковых материалов содержит приемный и передающий тракты, выполненные в виде диэлектрической подложки 1 , на одной стороне которой нанесено заземл ющее основание 2, а на другой - два взаимно перпендикул рных полосковых проводника.3 и 4, выполненные с зазором 5 в области их пересечени , магнитную систему, состо щую из источника 6 питани  и электромагнита , на одном из полюсов 7 которого размещено заземл ющее основание 2.
Датчик дл  измерени  параметров полупроводниковых материалов работает следующим образом.
На поверхность полосковых проводников 3 и 4, образующих две полоско- вые линии, перекрыва  область их пересечени , накладывают исследуемый полупроводниковый материал 8. В отсутствии магнитного пол  В электромагнитна  волна от генератора распростран етс  только в передающем тракте и не проходит в приемный. В области исследуемого материала 8 над зазором 5 в полосковом проводнике 3 протекает Электрический ток с частотой возбуждающей электромагнитной волны и плотностью , пропорциональной напр женности электрического пол  Е и удельной проводимости 6 исследуемого материала В j со 6 Е. .
Если напр женность возбуждающего электрического пол  Е пропорциональн а мощности Р
8X1
сигнала на входе по- 6X1 Ё , то
лоскового проводника мощность сигнала на его выходе HBUKI оказываетс  пропорциональной плотности тока в исследуемом материгше 8 над аазором в проводнике 4.
ВИНИЛИ Заказ 3825/39 Тираж 776
Подписное
Произв.-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектна , 4
При наложении внешнего магнитного пол  с индукцией В, перпендикул рного исследуемому материалу 8. и вектору наведенного тока jy, в плоскости исследуемого материала 8 возникает электрическое поле Е,, измен ющеес  с частотой возбуткдающего тока, вектор напр женности которого направлен параллельно оси X Е у2
л
где RH - коэффициент Холла, определ емый свойствами материала 8) xt - холловскаЯ подвижность носителей зар да.
Электрическое поле Ё, наводит в другой полосковой линии сигнал, мощность которого пропорциональна наве- денной ЭДС Холла . Ё.
Коэффициент Холла определ етс  из следующего выражени :
т. Рейх 2 RU 5 Рри 2
Холловска  подвижность носителей зар да /и. 6 R . Дрейфова  подвижность вычисл етс  с помощью выражени 
|Ц«
lud -.-. Концентрацию носителей зар  А
да п вычисл ют из соотношени  п
д -р г де А - Холл-фактор, в слабых
еКц
магнитных пол х составл ющий величину ,93, а в сильных - равен 1.

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Датчик дл  измерени  параметров полупроводниковых материалов, содержащий приемный и передающий тракты и магнитную систему, отличающийс  тем, что, с целью обеспечени  неразрушающего контрол  материалов произвольной формы, приемный и передающий тракты выполнены в виде диэлектрической подложки, на одной стороне которой нанесено заземл ющее основание, а на другой - два взаимно перпендикул рных полосковых проводника , выполненных с зазором в области их пересечени , при этом заземл ющее основание размещено на одном из полюсов магнитной системы.
    Подписное
SU853930319A 1985-07-18 1985-07-18 Датчик дл измерени параметров полупроводниковых материалов SU1332205A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853930319A SU1332205A1 (ru) 1985-07-18 1985-07-18 Датчик дл измерени параметров полупроводниковых материалов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853930319A SU1332205A1 (ru) 1985-07-18 1985-07-18 Датчик дл измерени параметров полупроводниковых материалов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1332205A1 true SU1332205A1 (ru) 1987-08-23

Family

ID=21189491

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853930319A SU1332205A1 (ru) 1985-07-18 1985-07-18 Датчик дл измерени параметров полупроводниковых материалов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1332205A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4525671A (en) Apparatus for sensing two components of a magnetic field
SU1332205A1 (ru) Датчик дл измерени параметров полупроводниковых материалов
JPS5531929A (en) Displacement oscillation sensor
Aoyagi et al. Electrical conduction in phthalocyanine single crystals
Stoll et al. Intrinsic Flux-Flow Resistance Steps in the Cuprate Superconductor Nd 2− x Ce x CuO y
Hayakawa et al. Amplification of ultrasonic waves under dc operating condition in InSb under transverse magnetic field
ES372634A1 (es) Procedimiento y aparato de control no destructivo por co- rrientes de foncault de las caracteristicas de elementos conductores de la electricidad.
Chari et al. Electromagnetic field analysis of eddy current effects in rotating electrical apparatus and machinery
Gupta et al. Phototransient spectral shifts in polyethylene with high fields
SE7904204L (sv) Elektrisk metapparat med magnetoelektriska anordningar
Whitehouse Bounded helicons in indium antimonide
Woltjer et al. Quantum Hall measurements with pulsed electric fields
SU957091A1 (ru) Намагничивающее устройство
SU1664030A1 (ru) Способ определения удельной электропроводности жидкости
Boon et al. The Frequency Dependence of Domain Wall Motion and Wall Bowing in Silicon–Iron Sheet
Halchin et al. Magnetostatic wave propagation losses in thorium‐substituted YIG
SU978083A1 (ru) Устройство дл измерени подвижности носителей тока в полупроводниках
SU560193A1 (ru) Способ измерени магнитного пол
SU670823A1 (ru) Устройство дл бесконтактного измерени вибраций
Biedrzycki et al. Field-induced electron emission of telluric acid ammonium phosphate
SU381873A1 (ru) УСТРОЙСТВО дл ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ИЗДЕЛИЙ ИЗ ФЕРРОМАГНИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ
SU1525595A1 (ru) Бесконтактный преобразователь больших посто нных токов
SU371538A1 (ru) Способ определения комплексного поверхностного
Larrabee et al. A Two‐Position Probe Method of Microwave Impedance Measurements for the Determination of the Electrical Properties of Indium Antimonide. Part II
SU529435A1 (ru) Магниточувствительный элемент