SU1332205A1 - Датчик дл измерени параметров полупроводниковых материалов - Google Patents
Датчик дл измерени параметров полупроводниковых материалов Download PDFInfo
- Publication number
- SU1332205A1 SU1332205A1 SU853930319A SU3930319A SU1332205A1 SU 1332205 A1 SU1332205 A1 SU 1332205A1 SU 853930319 A SU853930319 A SU 853930319A SU 3930319 A SU3930319 A SU 3930319A SU 1332205 A1 SU1332205 A1 SU 1332205A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- proportional
- hall
- gap
- grounding base
- receiving
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к радиоизмерительной технике и обеспечивает неразрушающий контроль образцов произвольной формы. Датчик содержит магнитную систему и приемный и передающий тракты, выполненные в виде диэл. подложки 1, на одной стороне которой нанесено заземл ющее основание 2, а на другой - два взаимно перпендикул рных полосковых проводника (ПП) 3, 4, выполненные с зазором 5 в области их пересечени . Магнитна система состоит из источника 6 питани и электромагнита , на полюсе 7 которого размещено заземл ющее основание 2. Исследуемый полупроводниковый материал (ИМ) 8 накладывают на ПП 3, 4. В отсутствие магн. пол электромагнитна волна распростран етс только в передающем тракте и не проходит в приемный тракт. В ИМ 8 над зазором 5. протекает эл. ток плотностью, пропорциональной уд. проводимости ИМ 8, Мощность сигнала на выходе ПП 4 пропорциональна плотности этого тока. При наложении внешнего магн. пол в ИМ 8 возникает эл. поле, которое наводит в другой полосковой линии сигнал . Мощность сигнала пропорциональна наведенной ЭДС Холла. По формулам определ ютс коэф. Холла, дрейфова подвижность и концентраци носителей. 1 ил. о 9 (/) 00 tsD tsD СП
Description
1332205
зобретение относитс к радиоизмепо го ру ис эл с н р
рительной технике и может использоватьс дл определени электрофизических параметров пластин и эпитакси- апьных структур полупроводниковых материалов .
Цель изобретени - обеспечение неразрушающего контрол материалов произвольной формы.
На чертеже приведена конструкци датчика дл измерени параметров полупроводниковых материалов.
Датчик дл измерени параметров полупроводниковых материалов содержит приемный и передающий тракты, выполненные в виде диэлектрической подложки 1 , на одной стороне которой нанесено заземл ющее основание 2, а на другой - два взаимно перпендикул рных полосковых проводника.3 и 4, выполненные с зазором 5 в области их пересечени , магнитную систему, состо щую из источника 6 питани и электромагнита , на одном из полюсов 7 которого размещено заземл ющее основание 2.
Датчик дл измерени параметров полупроводниковых материалов работает следующим образом.
На поверхность полосковых проводников 3 и 4, образующих две полоско- вые линии, перекрыва область их пересечени , накладывают исследуемый полупроводниковый материал 8. В отсутствии магнитного пол В электромагнитна волна от генератора распростран етс только в передающем тракте и не проходит в приемный. В области исследуемого материала 8 над зазором 5 в полосковом проводнике 3 протекает Электрический ток с частотой возбуждающей электромагнитной волны и плотностью , пропорциональной напр женности электрического пол Е и удельной проводимости 6 исследуемого материала В j со 6 Е. .
Если напр женность возбуждающего электрического пол Е пропорциональн а мощности Р
8X1
сигнала на входе по- 6X1 Ё , то
лоскового проводника мощность сигнала на его выходе HBUKI оказываетс пропорциональной плотности тока в исследуемом материгше 8 над аазором в проводнике 4.
ВИНИЛИ Заказ 3825/39 Тираж 776
Подписное
Произв.-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектна , 4
При наложении внешнего магнитного пол с индукцией В, перпендикул рного исследуемому материалу 8. и вектору наведенного тока jy, в плоскости исследуемого материала 8 возникает электрическое поле Е,, измен ющеес с частотой возбуткдающего тока, вектор напр женности которого направлен параллельно оси X Е у2
л
где RH - коэффициент Холла, определ емый свойствами материала 8) xt - холловскаЯ подвижность носителей зар да.
Электрическое поле Ё, наводит в другой полосковой линии сигнал, мощность которого пропорциональна наве- денной ЭДС Холла . Ё.
Коэффициент Холла определ етс из следующего выражени :
т. Рейх 2 RU 5 Рри 2
Холловска подвижность носителей зар да /и. 6 R . Дрейфова подвижность вычисл етс с помощью выражени
|Ц«
lud -.-. Концентрацию носителей зар А
да п вычисл ют из соотношени п
д -р г де А - Холл-фактор, в слабых
еКц
магнитных пол х составл ющий величину ,93, а в сильных - равен 1.
Claims (1)
- Формула изобретениДатчик дл измерени параметров полупроводниковых материалов, содержащий приемный и передающий тракты и магнитную систему, отличающийс тем, что, с целью обеспечени неразрушающего контрол материалов произвольной формы, приемный и передающий тракты выполнены в виде диэлектрической подложки, на одной стороне которой нанесено заземл ющее основание, а на другой - два взаимно перпендикул рных полосковых проводника , выполненных с зазором в области их пересечени , при этом заземл ющее основание размещено на одном из полюсов магнитной системы.Подписное
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853930319A SU1332205A1 (ru) | 1985-07-18 | 1985-07-18 | Датчик дл измерени параметров полупроводниковых материалов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853930319A SU1332205A1 (ru) | 1985-07-18 | 1985-07-18 | Датчик дл измерени параметров полупроводниковых материалов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1332205A1 true SU1332205A1 (ru) | 1987-08-23 |
Family
ID=21189491
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853930319A SU1332205A1 (ru) | 1985-07-18 | 1985-07-18 | Датчик дл измерени параметров полупроводниковых материалов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1332205A1 (ru) |
-
1985
- 1985-07-18 SU SU853930319A patent/SU1332205A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4525671A (en) | Apparatus for sensing two components of a magnetic field | |
SU1332205A1 (ru) | Датчик дл измерени параметров полупроводниковых материалов | |
JPS5531929A (en) | Displacement oscillation sensor | |
Aoyagi et al. | Electrical conduction in phthalocyanine single crystals | |
Stoll et al. | Intrinsic Flux-Flow Resistance Steps in the Cuprate Superconductor Nd 2− x Ce x CuO y | |
Hayakawa et al. | Amplification of ultrasonic waves under dc operating condition in InSb under transverse magnetic field | |
ES372634A1 (es) | Procedimiento y aparato de control no destructivo por co- rrientes de foncault de las caracteristicas de elementos conductores de la electricidad. | |
Chari et al. | Electromagnetic field analysis of eddy current effects in rotating electrical apparatus and machinery | |
Gupta et al. | Phototransient spectral shifts in polyethylene with high fields | |
SE7904204L (sv) | Elektrisk metapparat med magnetoelektriska anordningar | |
Whitehouse | Bounded helicons in indium antimonide | |
Woltjer et al. | Quantum Hall measurements with pulsed electric fields | |
SU957091A1 (ru) | Намагничивающее устройство | |
SU1664030A1 (ru) | Способ определения удельной электропроводности жидкости | |
Boon et al. | The Frequency Dependence of Domain Wall Motion and Wall Bowing in Silicon–Iron Sheet | |
Halchin et al. | Magnetostatic wave propagation losses in thorium‐substituted YIG | |
SU978083A1 (ru) | Устройство дл измерени подвижности носителей тока в полупроводниках | |
SU560193A1 (ru) | Способ измерени магнитного пол | |
SU670823A1 (ru) | Устройство дл бесконтактного измерени вибраций | |
Biedrzycki et al. | Field-induced electron emission of telluric acid ammonium phosphate | |
SU381873A1 (ru) | УСТРОЙСТВО дл ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ИЗДЕЛИЙ ИЗ ФЕРРОМАГНИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ | |
SU1525595A1 (ru) | Бесконтактный преобразователь больших посто нных токов | |
SU371538A1 (ru) | Способ определения комплексного поверхностного | |
Larrabee et al. | A Two‐Position Probe Method of Microwave Impedance Measurements for the Determination of the Electrical Properties of Indium Antimonide. Part II | |
SU529435A1 (ru) | Магниточувствительный элемент |