SU131896A1 - Device for continuous monitoring of fine wire diameter - Google Patents

Device for continuous monitoring of fine wire diameter

Info

Publication number
SU131896A1
SU131896A1 SU658977A SU658977A SU131896A1 SU 131896 A1 SU131896 A1 SU 131896A1 SU 658977 A SU658977 A SU 658977A SU 658977 A SU658977 A SU 658977A SU 131896 A1 SU131896 A1 SU 131896A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
continuous monitoring
wire diameter
fine wire
micrometer
contact
Prior art date
Application number
SU658977A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Г.С. Берлин
А.А. Котляр
р А.А. Котл
В.И. Чернобровкин
Original Assignee
Г.С. Берлин
А.А. Котляр
р А.А. Котл
В.И. Чернобровкин
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Г.С. Берлин, А.А. Котляр, р А.А. Котл, В.И. Чернобровкин filed Critical Г.С. Берлин
Priority to SU658977A priority Critical patent/SU131896A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU131896A1 publication Critical patent/SU131896A1/en

Links

Description

Известные устройства дл  непрерывного контрол  диаметра тонкой проволоки с перемоточным механизмом, самописцем, измерительными контактами и микрометром не обеспечивают высокой чувствительности прибора и высокой точности измерений.The known devices for continuous monitoring of the diameter of the thin wire with a winding mechanism, a recorder, measuring contacts and a micrometer do not provide a high sensitivity of the device and high measurement accuracy.

В описываемом изобретении в микрометрической части устройства применен электронно-механический датчик в юиде сдвоенного диода с плоокопараллельными анодами, механически св занный с подвижным измерительным контактом. Такое выполнение устройства увеличивает его чувствительность и повышает точность измерений.In the described invention, in the micrometer part of the device, an electron-mechanical sensor is used in a dual diode with plane-parallel anodes, which is mechanically connected with a movable measuring contact. This embodiment of the device increases its sensitivity and increases the accuracy of measurements.

На ф:ИГ. 1 изображена кинематическа  схема описываемого устройства; на фит. 2 - измерительный узел устройства; на фиг. 3-иринципиальна  схема электронного микрометра; на фит. 4 -схематическое устройство электронно-механического датчика (механотрона); на фиг. 5 схематически изображена микрометрическа  подача в двух проекци х а и б.On f: IG. 1 shows the kinematic diagram of the device described; on fit. 2 - measuring device unit; in fig. 3-microscopic electronic circuit; on fit. 4 -schematic device of the electron-mechanical sensor (mechanotron); in fig. Figure 5 schematically shows the micrometric feed in two projections a and b.

Устройство имеет три основных узла, установленных на одной плите: перемоточное и измерительное устройства и электронный микрометр .The device has three main nodes installed on one plate: rewinding and measuring device and an electronic micrometer.

Перемоточное устройство состоит из двух катушек 7, которые привод тс  во вращен ие от электродвигател  2. Проволока 3 в процессе перемотки с одной катушки на другую с заданным натэгом проходит через измерительное устройство.The rewinding device consists of two coils 7, which are rotated from the electric motor 2. The wire 3 in the process of rewinding from one coil to another with a given tag is passed through a measuring device.

Измерительное устройство представл ет собой стойку 4, на которой с помощью прижима 5 (фиг. 2) укреплен нижний неподвижный контакт 6. Верхний подвижный контакт 7 через эластичную пружину 8 св зан с коромыслом 9, которое может при помощи винта 10 плавно поворачиватьс  вокруг оси 11. Верхний контакт 7 имеет цилиндрическую рабочую поверхность; нижний контакт 6 выполнен в виде плоской площадки шириной 1 -f 1,5 мм. Измер ема  проволока 3 пропускаетс  между нижним неподвижным контактом 6 и верхним подвижным контактом 7 под углом 5-7° к плоскости рабочей площадки иThe measuring device is a pole 4, in which the lower fixed contact 6 is fastened with the help of clamp 5 (Fig. 2). The upper movable contact 7 through the elastic spring 8 is connected to the beam 9, which can rotate smoothly around the axis 11 by means of a screw 10 The top contact 7 has a cylindrical work surface; the bottom contact 6 is made in the form of a flat platform with a width of 1 to 1.5 mm. The measured wire 3 is passed between the lower fixed contact 6 and the upper movable contact 7 at an angle of 5-7 ° to the plane of the working platform and

№ 131896- 2 прижимаетс  верхним контзктом 7 к нижнему контакту 6 с определенным заданным усилием при помощи винта 12 с градуированной головкой и динамической пружины 13.No. 131896-2 is pressed by the upper contact 7 to the lower contact 6 with a certain predetermined force using a screw 12 with a graduated head and a dynamic spring 13.

Измерение проволоки 3 и фиксирование отклонений ее толщины от нормальной осуществл етс  электронным микрометром. Принципиальна  схема электронного микрометра (фиг. 3) представл ет собой симметричный мост, в одну из диагоналей которого включен источник питани  (здесь - суха  батаре  Еа, а В другую - выходной отсчетный прибор (в данном случае - гальванометр с внутренним сопротивлением ). С целью увеличени  чувствительности прибора и точности измерений в микрометрической части устройства, применен электромеханический датчик М (меха«отрон). Он представл ет собой сдвоенный диод с плоскопараллельными электродами и неподвижным подогревным катодом /С лампы (см. фи-г. 4). Подвижными электродами лампы  вл ютс  два анода AI и А, жестко укрепленные при помощи стекл нного изол тора И на молибденовом штыре С и соединенные с выводами ножки лампы В при помощи специальных тонких и эластичных пружин Пр. Штырь С впа н в коваровую мембрану М, жестко вл1онтированную в коваровое кольцо-фланец Ф, которое соединено со стекл нной частью оболочки лампы колбой О путем высокочастотной пайки стекла с металлом. Подача механического сигнала на штырь С датчика (например, перемещение конца штыр ) вызывает удаление от катода /С одного и приближение к нему второго анода, а результате чего по вл етс  разбаланс анодных токов и, следовательно , разбаланс мостовой схемы электронного микрометра.The measurement of the wire 3 and the recording of the deviations of its thickness from the normal one is carried out with an electron micrometer. The schematic diagram of the electron micrometer (Fig. 3) is a symmetric bridge, in one of the diagonals of which the power source is turned on (here the dry battery is Ea, and the other is the output meter (in this case, a galvanometer with internal resistance). to increase the sensitivity of the device and the accuracy of measurements in the micrometric part of the device, an electromechanical sensor M (fur "spout) is used. It is a dual diode with plane-parallel electrodes and a fixed heating cathode / C lamp (see fig-4). The movable electrodes of the lamp are two anodes AI and A, rigidly fixed with glass insulator AND on the molybdenum probe C and connected to the terminals of lamp stem B with the help of special thin and elastic springs Pr Pin C is pressed into covol membrane M, rigidly inserted into covár ring flange F, which is connected to the glass part of the lamp envelope by flask O by high-frequency soldering glass with metal. A mechanical signal is applied to pin C of the sensor (for example, moving the end of the pin) causes removal m cathode / C and the approach of one of the second anode thereto, and whereby the unbalance of the anode is a current, and hence the unbalance bridge circuit electronic micrometer.

Механотрон 14 в защитном кожухе 15 закреплен во вкладыщах 16 (фиг. 5), имеющих вертикальное перемещение в окне стойки 17 и своим штырем С укладываетс  на призму 18 (фиг. 1), расположенную на верхнем подвижном контакте 7 измерительного устройства.The mechanotron 14 in the protective housing 15 is fixed in inserts 16 (Fig. 5), having a vertical movement in the window of the rack 17 and its pin C is placed on the prism 18 (Fig. 1) located on the upper movable contact 7 of the measuring device.

При монтаже механотрЪна 14 преднамеренно создаетс  неоимметри  в расположении его электродов - разбаланс моста схемы дл  того, чтобы при установке электронного микрометра на нуль перемещением штыр  механотрона 14 можно было бы создать заданное измерительное усилие штыр  С на контролируемое изделие. Заданное измерительное усилие устанавливаетс  при помощи винта 19 (фиг. 5), головка которого 20 градуирована в граммах измерительного усили  при установке электронного микрометра на нуль. Отсчет показаний электронного микрометра можно производить как по шкале гальванометра , так и по шкале или диаграммой на бумате самопишущего потенциометра.When mounting the mechanotrau 14, a neo-symmetry is intentionally created in the arrangement of its electrodes — an imbalance of the bridge of the circuit so that when the electronic micrometer is set to zero by moving the pin of the mechanotron 14, the specified measuring force pin C can be created on the article under test. The specified measuring force is set using a screw 19 (FIG. 5), the head of which 20 is graduated in grams of measuring force when the electronic micrometer is set to zero. The readings of the electronic micrometer can be made either on a scale of a galvanometer, or on a scale, or by a diagram on the back of the recording potentiometer.

Предмет изобретени Subject invention

Устройство дл  непрерывного контрол  диаметра тонкой проволоки с перемоточным механизмом, самописцем, измерительными контактами и микрометром, отличающеес  тем, что, с целью з величени  чувствительности прибора и точности измерений в микрометрической части устройства применен электронно-механический датчик в виде сдвоенного диода с плоокопараллельными анодами, механически св занный с подвижным измерительньгм контактом.A device for continuous monitoring of the diameter of a thin wire with a winding mechanism, a recorder, measuring contacts and a micrometer, characterized in that, in order to increase the sensitivity of the device and the accuracy of measurements in the micrometric part of the device, an electronic-mechanical sensor in the form of a dual diode with parallel-parallel anodes is used, mechanically associated with a movable measuring contact.

3 7 с3 7 s

7У/8 137U / 8 13

15- 615-6

Фиг. 2FIG. 2

)- i|i|b- -) - i | i | b- -

аbut

SU658977A 1960-03-19 1960-03-19 Device for continuous monitoring of fine wire diameter SU131896A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU658977A SU131896A1 (en) 1960-03-19 1960-03-19 Device for continuous monitoring of fine wire diameter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU658977A SU131896A1 (en) 1960-03-19 1960-03-19 Device for continuous monitoring of fine wire diameter

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU131896A1 true SU131896A1 (en) 1960-11-30

Family

ID=48402953

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU658977A SU131896A1 (en) 1960-03-19 1960-03-19 Device for continuous monitoring of fine wire diameter

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU131896A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
GB974197A (en) Improvements in electro-chemical integrator
SU131896A1 (en) Device for continuous monitoring of fine wire diameter
US2142677A (en) Temperature indicator
US2635453A (en) Torque testing device
US2477085A (en) Frequency controlled micrometer
GB818345A (en) Improvements in or relating to the measurement of surface texture and apparatus therefor
US3286525A (en) Device for the thermoelectric measurement of the temperature of rotary specimen carriers
US2580009A (en) Adapter for snap gauges
US2290940A (en) Apparatus for making pressureless measurements
GB895175A (en) Improvements in or relating to devices for positioning a sensing member on a longitudinally advancing elongated element
SU906231A1 (en) Device for measuring linear dimensions
SU896382A1 (en) Resistance strain gauge
Hargreaves et al. A monitor for measuring X-ray beam intensities
SU139848A1 (en) Ultramicrometer for linear precision measurements
JPH0161161B2 (en)
SU681396A1 (en) Apparatus for measuring magnetic fields
SU303815A1 (en) DEVICE FOR AUTOMATIC MEASUREMENT OF VOLTAGE IN ELECTRIC HOURS
SU906045A1 (en) Device for measuring electric parameters of integrated circuits
US3768169A (en) Minitype electronic micrometer
SU1384928A1 (en) Device for checking variation in wall thickness of cylindrical current-conducting shell
SU115614A1 (en) Device for measuring horizontal deviations of contact wire
SU522418A1 (en) Discrete Level Gauge for Electrically Conducting Media
SU714142A1 (en) Device for testing leaf spring resilence
SU1518817A1 (en) Deformation recorder
SU144297A1 (en) Compact measuring device for checking holes in machine parts