SU1308091A1 - Источник ионов - Google Patents
Источник ионов Download PDFInfo
- Publication number
- SU1308091A1 SU1308091A1 SU853875792A SU3875792A SU1308091A1 SU 1308091 A1 SU1308091 A1 SU 1308091A1 SU 853875792 A SU853875792 A SU 853875792A SU 3875792 A SU3875792 A SU 3875792A SU 1308091 A1 SU1308091 A1 SU 1308091A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- ion
- electrode
- ionizer
- evaporator
- ions
- Prior art date
Links
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к источникам ионов дл масс-спектрометрии и может быть использовано дл микроопределени изотопного состава микро- 1троб в технологии переработки радиоактивного топлива. Целью изобретени вл етс обеспечение возможности использовани источника в масс-спектрометрах любого типа при сохранении высокой эффективности источника ионов . Источник содержит ионизатор 1, испаритель 2, шток 3, на котором креt ..:.-. п тс блоки ионизатора и испарител с их устройствами нагрева 5, вакуумный шлюз 4, через которьй ионизатор и испаритель подаютс из камеры загрузки пробы в рабочую вакуумируемую камеру во внутреннюю полость теплового экрана 6, окружающего ионизатор и испаритель и образованного извлекающим электродом 7, имеющим отверстие 8, перекрытое сеткой, через которое ионы пробы выт гиваютс потенциалом электрода 13 ионно-оптичес- кой системы 12. Между выт гивающим, электродом и извлекающим электродом дл отражени паразитных ионов и ионов пониженной энергии и улучшени монохроматичности ионного пучка установлен охлаждающий отражающий электрод 9 с коническим отверстием 10, обращенным большим диаметром в сто- рону. выт гивающего электрода. Температура электрода 9 стабилизируетс теплообменником 11, что устран ет интенсивные паразитные токи ионов и перегрев йонно-оптической системы, улучшает процесс выт гивани и формировани ионного пучка при работе. 1 ил. i . (Л 05 о 00 о со
Description
Изобретение относитс к источникам ионов дл масс-спектрометрии и может быть использовано при определе Д1ИИ изотопного состава микропроб в технологии переработки радиоактивного топлива.
Целью изобретени вл етс обеспечение возможности использовани источника в масс-спектрометрах любого типа при сохранении высокой эффективности источника ионов,
На чертеже представлена схема источника .
Он содержит Ионизатор 1 испаритель 2, шток 3, вакуумный шлюз 4, катоды 5 нагрева ионизатора и испарител , тепловой экран 6, извлекающий электрод 7, отверстие 8, перекрытое сеткой, охлаждаемый отражаю25
щий электрод 9, коническое отверстие 20 рода предложенной формы, позвол ет 10, теплообменник 11, ионно-оптичес- кую систему 12, выт гивающий электрод 13 ионно-оптической системы.
Устройство работает следующим образом .
Шток 3 с испарителем 2 и ионизатором 1 извлекают через шлюз 4 и помещают в испаритель вещество пробы, Затем перемещают ионизатор с испарителем в рабочее положение и поднимают ток нагрева катода ионизатора до величины 10-14 А так, чтобы ток электронной бомбардировки ионизатора достиг значени 0,2 А при напр жении между катодом и ионизатором 300 В,. При этом температура последнего достигнет К, С помощью на грева катода испарител поднимают температуру испарител 2 до значени , при котором ток ионов пробы достигнет нужной дл анализа величины,
В процессе анализа пары пробы из испарител 2 попадают в ионизатор 1, где при многократном столкновении с его нагретой поверхностью ионизи- .руютс и образуют в полости ионизатора плазму с высокой степенью ионизации атомов пробы. Их ионы извлекаютс полем электрода 7 и собираютс в
наиболее полно собрать образующиес ионы пробы, снизить их разброс по энерги м до теплового, устранить на более интенсивные паразитные токи ионов и перегрев ионно-оптической системы и подать на вход ионно-опти ческой системы масс-анализатора люб го типа ионный пучок с параметрами, сохран ющими высокую эффективность источника ионов и аналитические характеристики анализатора.
Claims (1)
- Формула изобретени35 Источник ионов дл масс-спектрометра , содержащий расположенные на ионно-оптической оси испаритель с устройством нагрева, ионизатор с ус ройством нагрева, извлекающий элект40 род, совмещенный с тепловым экраном окружающим испаритель с ионизатором имеющий отверстие на ионно-оптиЧеск оси дл прохода ионов, последовател но расположенные вдоль оси, охлажда45 емый выт гивающий электрод, ионно- оптическую систему, а также вакуумный шлюз, отличающийс тем, что, с целью обеспечени возмо ности его использовани в масс-спекотверстие 10 электрода 9, который от- 50 рометрах любого типа при сохраненииражает паразитные ионы конструкционных материалов и ионы пробы, обладающие пониженной энергией,Поле выт гивающего электрода 13, проника в отверстие Юр отбирает ионы пробы, разброс которых по энерги м близок к тепловому и которые формируютс ионно-оптической системой12 в пучок с параметрами,, обеспечи- вающ1 ми получение паспортного значени разрешающей силы масс-спектрометра . Охлаждение отражающего эл.ектрода 9 с помощью теплообменника 11 преп тствует испусканию его поверхностью паразитных ионов и теплового излучени , нагревающего оптику 12, что создает услови дл стабильной работы прибора. Наличие установленного непосредственно за ионизатором сетки извлекающего электрода имеющего от- рицательньй относительно ионизатора потенциал и перекрытое сеткой отверстие , а также размещенного вслед за ним в определенном положении относительно ионно-.оптической системы ох- , лаждаемого и наход щегос под потенциалом ионизатора отражающего элект2520 рода предложенной формы, позвол етнаиболее полно собрать образующиес ионы пробы, снизить их разброс по энерги м до теплового, устранить наиболее интенсивные паразитные токи ионов и перегрев ионно-оптической системы и подать на вход ионно-оптической системы масс-анализатора любого типа ионный пучок с параметрами, сохран ющими высокую эффективность источника ионов и аналитические характеристики анализатора.Формула изобретени35 Источник ионов дл масс-спектрометра , содержащий расположенные на ионно-оптической оси испаритель с устройством нагрева, ионизатор с устройством нагрева, извлекающий элект40 род, совмещенный с тепловым экраном, окружающим испаритель с ионизатором, имеющий отверстие на ионно-оптиЧеской оси дл прохода ионов, последовательно расположенные вдоль оси, охлажда45 емый выт гивающий электрод, ионно- оптическую систему, а также вакуумный шлюз, отличающийс тем, что, с целью обеспечени возможности его использовани в масс-спектвысокой эффективности источника иойов, между выт гивающим и извлекающим электродом расположен на ионно-опти- ческой оси охлаждаемый отражающий 55 электрод с коническим отверстием большим основанием обращенным в сторону извлекающего электрода, на отверстие которого установлена сетка.Редактор Н.Кол даЗаказ 3393Тираж 746ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска наб,, -д, 4/5Производственно-полиграфическое предпри тие, г.Ужгород, ул,Проектна , 4Составитель В,СпиридоновТехред Л.Олийкьк Корректор А.Обручар
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU853875792A SU1308091A1 (ru) | 1985-04-01 | 1985-04-01 | Источник ионов |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU853875792A SU1308091A1 (ru) | 1985-04-01 | 1985-04-01 | Источник ионов |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1308091A1 true SU1308091A1 (ru) | 1988-06-07 |
Family
ID=21170047
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU853875792A SU1308091A1 (ru) | 1985-04-01 | 1985-04-01 | Источник ионов |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1308091A1 (ru) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104241076A (zh) * | 2013-06-24 | 2014-12-24 | 安捷伦科技有限公司 | 轴向磁离子源及相关电离方法 |
| US10176977B2 (en) | 2014-12-12 | 2019-01-08 | Agilent Technologies, Inc. | Ion source for soft electron ionization and related systems and methods |
-
1985
- 1985-04-01 SU SU853875792A patent/SU1308091A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Галль Л.Н., Галль Р.Н. и др. Трехленточный источник ионов. - Журнал технической физики,, т. 32, 1962, с. 202-207. Калыгин В.В., Габескири В.Я. и др. Ионный источник дл микроколичественного изотопного анализа трансурановых элементов. - Приборы и техника эксперимента, 1980, № 4, с. 171-173. * |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104241076A (zh) * | 2013-06-24 | 2014-12-24 | 安捷伦科技有限公司 | 轴向磁离子源及相关电离方法 |
| EP2819144A3 (en) * | 2013-06-24 | 2015-04-01 | Agilent Technologies, Inc. | Axial magnetic field ion source and related ionization methods |
| US9117617B2 (en) | 2013-06-24 | 2015-08-25 | Agilent Technologies, Inc. | Axial magnetic ion source and related ionization methods |
| CN104241076B (zh) * | 2013-06-24 | 2018-06-15 | 安捷伦科技有限公司 | 轴向磁离子源及相关电离方法 |
| US10176977B2 (en) | 2014-12-12 | 2019-01-08 | Agilent Technologies, Inc. | Ion source for soft electron ionization and related systems and methods |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Menzinger et al. | High intensity, low energy spread ion source for chemical accelerators | |
| US5742049A (en) | Method of improving mass resolution in time-of-flight mass spectrometry | |
| US7060987B2 (en) | Electron ionization source for othogonal acceleration time-of-flight mass spectrometry | |
| JP2017098267A (ja) | 高速応答を有する電子衝撃イオン源 | |
| WO2007102224A1 (ja) | 質量分析装置 | |
| Amirav et al. | Improved electron ionization ion source for the detection of supersonic molecular beams | |
| US4988869A (en) | Method and apparatus for electron-induced dissociation of molecular species | |
| US2978580A (en) | Process and device for the addition of slow electrons to polyatomic or highmolecular compounds | |
| SU1308091A1 (ru) | Источник ионов | |
| CN107026067B (zh) | 一种使用快速脉冲电子源的无离子快门的离子迁移谱仪 | |
| US3049618A (en) | Methods and devices for performing spectrum analysis, in particular in the far ultraviolet region | |
| KR20130031181A (ko) | 자외선 다이오드와 ｃｅｍ을 이용한 질량분석기의 이온화원 획득장치 | |
| US6617771B2 (en) | Electron ionization ion source | |
| RU2158170C1 (ru) | Способ разделения изотопов иттербия в электромагнитном сепараторе с использованием источника ионов | |
| Duan et al. | Characterization of an improved thermal ionization cavity source for mass spectrometry | |
| Schaeffer | An improved mass spectrometer ion source | |
| CN115360079B (zh) | 一种基于电子束三维势阱存储的电子碰撞离子源 | |
| US20120280139A1 (en) | Method of Anion Production from Atoms and Molecules | |
| Feeney et al. | Surface Ionization Type Ion Source of Ba+ Ions for Use in Collision Experiments | |
| Afanas’ ev et al. | Influence of charged particles on the fullerene formation process | |
| CN112420480B (zh) | 一种小型化激光诱导超声解吸源飞行时间质谱 | |
| Yurimoto et al. | Negative metal‐ion source for secondary‐ion mass spectrometry | |
| Qi et al. | Numerical Simulations and the Design of Magnetic Field‐Enhanced Electron Impact Ion Source with Hollow Cylinder Structure | |
| RU2158167C1 (ru) | Способ разделения изотопов рения в электромагнитном сепараторе с использованием источника ионов | |
| JPS5774957A (en) | Ionizing device of mass spectrometer |