SU1305031A1 - Industrial robot gripping device - Google Patents
Industrial robot gripping device Download PDFInfo
- Publication number
- SU1305031A1 SU1305031A1 SU853978903A SU3978903A SU1305031A1 SU 1305031 A1 SU1305031 A1 SU 1305031A1 SU 853978903 A SU853978903 A SU 853978903A SU 3978903 A SU3978903 A SU 3978903A SU 1305031 A1 SU1305031 A1 SU 1305031A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- levers
- sponges
- pair
- conductive material
- elastic conductive
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Manipulator (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к машиностроению , в частности к технологическому оборудованию полупроводникового производства, и может быть использовано в конструкци х промышленных роботов , манипул торов и механических рук, примен емых в электротехнической, электронной промьшленност х рл контрол электрических параметров электронных приборов. Целью изобретени вл етс расширение функциональных возможностей путем обеспечени проведени испытаний полупроводниковых: приборов при их захвате и переносе. При подаче питани на нагревательный элемент 5, закрепленный на пластине 4, вьтолненной из материала, обладающего обратимой термомеханической пам тью формы, происходит сведение губок 7, установленных на паре двуплечих рычагов 2. Губки 7, выполненные из упругого токопроБодного материала по форме эллипсов, ориентируют и зажимают плоский вывод полупроводникового прибора, одновременно подключа контакты к его управл ющему выводу. Затем происходит сведение второй пары губок, охватывающих цилиндрическую часть полупроводникового прибора токопровод щими губками. После захвата прибор оказываетс подключенным к системе измерени и в про- дессе его переноса производитс измерение параметров прибора. 4 ил. ВидА i (Л со о СП о со (Риг.2The invention relates to mechanical engineering, in particular to semiconductor manufacturing equipment, and can be used in the construction of industrial robots, manipulators, and mechanical arms used in electrical, electronic control of electrical parameters of electronic devices. The aim of the invention is to enhance the functionality by ensuring that semiconductor devices are tested: when they are captured and transferred. When power is supplied to the heating element 5, fixed on the plate 4, made of a material with reversible thermomechanical shape memory, jaws 7 mounted on a pair of two shoulders 2 are mixed. Sponges 7, made of an elastic current-conducting material, are elliptical in shape, orient and clamp the flat terminal of the semiconductor device while simultaneously connecting the contacts to its control terminal. Then, the second pair of jaws is brought together, covering the cylindrical part of the semiconductor device with conductive jaws. After capturing, the device is connected to the measurement system and, in the transfer process, the device parameters are measured. 4 il. View A i (L so about SP about so (Rig.2
Description
Изобретение относитс к машиностроению , в частности к технологическому оборудованию подупроводникового производства, и может быть использовано в конструкци х промьшленных роботов , манипул торов и механических рук, примен емых в ; лектротехнической электронной промьшшенности дл контрол электрических параметров электронных приборов.The invention relates to mechanical engineering, in particular, to technological equipment of subconductor production, and can be used in the construction of industrial robots, manipulators and mechanical hands used in; Electrotechnical electronic industry for control of electrical parameters of electronic devices.
Цель изобретени расширение функциональных возможностей путем обеспечени проведени испытаний полупроводниковых приборов при их захвате и переносе.The purpose of the invention is the extension of functionality by ensuring the testing of semiconductor devices during their capture and transfer.
На фиг. 1 изображен схват, общий вид на фиг. 2 - вид А на фиг. 1-, на фиг. 3 - сечение Б-Е1 на фиг. 1; на фиг 4 - сечение В-В на фиг. 1.FIG. 1 shows a gripper, a general view of FIG. 2 is a view A of FIG. 1-, FIG. 3 - section B-E1 in FIG. one; FIG. 4 is a sectional view B-B in FIG. one.
Схват промышленного робота содержит корпус 1, в пазах которого установлены в параллельных плоскост х пара основных 2 и дополнительных 3 двуп.печих рычагов, на одних концах которых закреплены губки, выполн ющие одновременно роль электрических контактов , а другие концы св заны с приводами их перемещени , каждый из которых выполнен в виде пластины 4 из материала , обладающего обратимой термомеханической пам тью формы, на которой закреплен нагревательный элемент 5. Пластина 4 своими концами закреплена на рычагах с помощью пальцев 6, установленных с возможностью поворота . Губки 7 одной из пар рычагов, например рычагов 2, выполнены из упругого токопроводного материала, изогнуты по форме эллипсов и жестко св заны с рычагами, а губки 8 другой пары рычагов 3 также выполнены из упругого токопроводного материала, имеют М-образную форму и установлены на соответствующих с возможностью перемещени в двух взаимно перпендикул рных плоскост х. Кроме того, на, рычагах пары 2 через изол торы 9 закреплены контакты 10, взаимодействующие с управл ющим выводом полупроводникового прибора 1 1.The grip of an industrial robot comprises a housing 1, in the slots of which two main 2 and an additional 3 double-sided levers are installed in parallel planes, at one end of which there are jaws that simultaneously play the role of electrical contacts, and the other ends are connected to their movement drives, each of which is made in the form of a plate 4 of a material having a reversible thermomechanical memory of the form on which the heating element 5 is fixed. The plate 4 with its ends is fixed on the levers with the help of fingers 6 is set rotatably curved. The sponges 7 of one of the pairs of levers, for example the levers 2, are made of resilient conductive material, are bent in the shape of ellipses and rigidly connected to the levers, and the sponges 8 of the other pair of levers 3 are also made of resilient conductive material, are M-shaped and mounted on correspondingly movable in two mutually perpendicular planes. In addition, pins 10, which interact with the control lead of the semiconductor device 1 1, are fixed on the arms of the pair 2 through insulators 9.
Выполнение губок 7 в виде эллипсов дает возможность при захвате испытуемого прибора 11 ориентировать его так, что плоскости его катодного вьшода 12 всегда располагаютс параллельно больщой оси эллипсов.Making the jaws 7 in the form of ellipses makes it possible, when gripping the test device 11, to orient it so that the planes of its cathode tip 12 are always parallel to the larger axis of the ellipses.
В случае, если плоскости катодного вывода 12 прибора не параллельны больOIf the planes of the cathode output 12 of the device are not parallel
5five
00
5five
00
5five
00
5five
00
5five
шим ос м эллипсовгубок 7, то при взаимодействии их с катодным выводом захватываемого прибора 11 последний принудительно разворачиваетс . If the axis of the ellipse sponge 7, then when interacting with the cathode output of the captured device 11, the latter is forcibly unfolded.
В корпусе 1 выполнен также возду- хоподающий канал 13, обеспечивающий при необходимости принудительное охлаждение привода пластин 4. Кроме того, корпус снабжен крепежно-фикси- рующими элементами 14, с помощью которых схват крепитс к руке робота или манипул тора.The air supply channel 13 is also made in the housing 1, which, if necessary, provides for forced cooling of the plate drive 4. In addition, the housing is provided with fixing and fastening elements 14, by means of which the tong is attached to the arm of the robot or the manipulator.
Губки 7 и 8, контакты 10 электрически св заны с измерительной аппаратурой контрол электрических параметров испытуемого прибора 11.Sponges 7 and 8, contacts 10 are electrically connected with the measuring apparatus for monitoring the electrical parameters of the device under test 11.
Устройство работает следующим образом .The device works as follows.
Схват подвод т к полупроводниковому прибору 11, который занимает на позиции захвата вертикальное положение . При этом плечи двуплечих рычагов разведены, а пластины 4 привода занимают исходное положение.The grab is applied to the semiconductor device 11, which occupies a vertical position in the grab position. In this case, the shoulders of the two shoulders arms are divorced, and the drive plates 4 occupy the initial position.
После этого подаетс команда на включение электропитани нагреватель- ного элемента 5 пластины 4 двуплечих рычагов 2, к которым закреплены губки 7 и контакты 10. Пластина 4 нагреваетс до 60 С,, измен ет свою форму и переходит в рабочее положение (фиг.2).After that, a command is issued to turn on the power supply of the heating element 5 of the plate 4 of two shoulders 2, to which the jaws 7 and the contacts 10 are attached. The plate 4 heats up to 60 ° C, changes its shape and goes into the working position (Fig. 2).
При переходе пластины 4 из нерабо- ,чего положени в рабочее плечи двуплечих рычагов пары 2 сближаютс , осуществл тем самым одновременно ориентирование прибора 11, подключение контакта 10 к его управл ющему выводу захват (подключение) его катодного вывода с помощью губок 7. С задержкой во времени 0,6-1 с подаетс команда от блока управлени на включение нагревательного элемента 5, пластины 4 двуплечих рычагов 3. Пластина 4, негпева сь до 60 С, также измен ет свою форму, осуществл тем подключение и захват анодного вывода прибора 11 с помощью плавающих губок 8, которые самоустанавливаютс , слегка упруго деформиру сь, и равномерно обжимают анодный вывод прибора 11, обеспечива надежный электрический контакт, а следовательно , надежный захват. После чего рука манипул тора вместе со схватом перемещаетс к позиции сортировки приборов . При перемещении схвата от позиции захвата прибора 11 к позиции его сортировки осуществл етс замер не3130503When plate 4 moves from irrelevant, which position into the working shoulders of the double-arm levers of pair 2 come closer, thereby simultaneously orienting the device 11, connecting pin 10 to its control output, capturing (connecting) its cathode output using sponges 7. With a delay in a time of 0.6-1 seconds, a command is sent from the control unit to turn on the heating element 5, plate 4 double-arm levers 3. Plate 4, uninterruptedly to 60 ° C, also changes its shape, connecting and capturing the anode output of the device 11 withfloating jaws 8, which are self-aligning, slightly elastically deforming, and evenly compressing the anode output of the device 11, providing a reliable electrical contact, and therefore a secure grip. Then the manipulator arm moves with the grip to the instrument sorting position. When moving the gripper from the pickup position of the device 11 to the position of its sorting, the non3130503 is measured.
обходимых электрических параметров испытуемого прибора.walkable electrical parameters of the test device.
На позиции сортировки приборов отключаетс электрическое питание от нагревательных .элементов 5, пластин 5 4, которые охлаждаютс до за счет конвекционного теплообмена с окружающей средой и пластины 4 из рабочего положени переход т в исходное положение . При этом плечи двуплечих рыча- О ных в плоскости, параллельной плосгов развод тс , освобожда от зажати прибор 11, который затем поступает в устройство сортировки по электрическим параметрам.At the sorting position of the devices, electrical power is disconnected from the heating elements 5, plates 5 4, which are cooled down by convection heat exchange with the environment and plate 4 from the working position to the initial position. In this case, the shoulders of the double-arm lever arms are separated in a plane parallel to the planes, freeing the device 11 from being clamped, which then enters the sorting device by electrical parameters.
При необходимости охлаждени плас-J5 м тью формы, концы которой закреплетин А может быть осуществлено принудительно с помощью холодного воздуха, поступающего по воздухоподвод щим каналам 13, выполненным в корпусе 1,If it is necessary to cool the plate with a J5 mold, the ends of which zakleptletin A can be forced off with the help of cold air coming in through the air inlet ducts 13 made in housing 1,
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853978903A SU1305031A1 (en) | 1985-11-14 | 1985-11-14 | Industrial robot gripping device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853978903A SU1305031A1 (en) | 1985-11-14 | 1985-11-14 | Industrial robot gripping device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1305031A1 true SU1305031A1 (en) | 1987-04-23 |
Family
ID=21206108
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853978903A SU1305031A1 (en) | 1985-11-14 | 1985-11-14 | Industrial robot gripping device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1305031A1 (en) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013028674A1 (en) * | 2011-08-21 | 2013-02-28 | Electric Power Research Institute, Inc. | Apparatus and method for inspecting high voltage insulators |
US9261549B2 (en) | 2011-12-28 | 2016-02-16 | Electric Power Research Institute, Inc. | Leakage current sensor for suspension type insulator |
US9535105B2 (en) | 2013-12-12 | 2017-01-03 | Electric Power Research Institute, Inc. | Apparatus and method for measuring leakage currents on porcelain and glass insulator disc strings |
US9866064B2 (en) | 2012-09-10 | 2018-01-09 | Electric Power Research Institute, Inc. | Apparatus and method for monitoring substation disconnects and transmission line switches |
US9903899B2 (en) | 2011-12-28 | 2018-02-27 | Electric Power Research Institute, Inc. | Leakage current sensor for post type insulator |
US9970759B2 (en) | 2014-09-02 | 2018-05-15 | Electric Power Research Institute, Inc. | Sensor and method for identifying downed power transmission conductors and structures |
-
1985
- 1985-11-14 SU SU853978903A patent/SU1305031A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 1122505, кл. В 25 J 15/00, 1984. * |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013028674A1 (en) * | 2011-08-21 | 2013-02-28 | Electric Power Research Institute, Inc. | Apparatus and method for inspecting high voltage insulators |
US8991273B2 (en) | 2011-08-21 | 2015-03-31 | Electric Power Research Institute, Inc. | Apparatus and method for inspecting high voltage insulators |
US9261549B2 (en) | 2011-12-28 | 2016-02-16 | Electric Power Research Institute, Inc. | Leakage current sensor for suspension type insulator |
US9903899B2 (en) | 2011-12-28 | 2018-02-27 | Electric Power Research Institute, Inc. | Leakage current sensor for post type insulator |
US9866064B2 (en) | 2012-09-10 | 2018-01-09 | Electric Power Research Institute, Inc. | Apparatus and method for monitoring substation disconnects and transmission line switches |
US9535105B2 (en) | 2013-12-12 | 2017-01-03 | Electric Power Research Institute, Inc. | Apparatus and method for measuring leakage currents on porcelain and glass insulator disc strings |
US9970759B2 (en) | 2014-09-02 | 2018-05-15 | Electric Power Research Institute, Inc. | Sensor and method for identifying downed power transmission conductors and structures |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO2020075896A1 (en) | Socket device for semiconductor device test | |
SU1305031A1 (en) | Industrial robot gripping device | |
US4068170A (en) | Method and apparatus for contacting the lead of an article | |
WO2015167178A1 (en) | Socket apparatus for semiconductor device test | |
JP2003168709A5 (en) | ||
TW201140105A (en) | Test device and connection device | |
CN1979194B (en) | Electrical test apparatus for testing an electrical test piece and corresponding method | |
CN100575956C (en) | A kind of method of determining metal film fatigue life in electro-mechanical coupling field | |
CN215180686U (en) | Chip aging testing device | |
US20140091828A1 (en) | Sort Probe Gripper | |
CN105759224B (en) | A kind of power test mechanism and test method for LED filament lamp | |
WO2019245153A1 (en) | Plate spring-type connecting pin | |
WO2023243085A1 (en) | Device for testing insulating performance of semiconductor element | |
CN112363006A (en) | Batch test fixture for high-temperature aging system of capacitor | |
CN112025942A (en) | Ceramic glazing clamping tool | |
WO2016167412A1 (en) | Bidirectional conductive socket for testing high-frequency device, bidirectional conductive module for testing high-frequency device, and manufacturing method thereof | |
SU1489983A2 (en) | Gripping device | |
SU1328196A1 (en) | Industrial robot grip | |
WO2022191547A1 (en) | Transfer tool and device handler comprising same | |
WO2010016663A2 (en) | Flat plate folding type coil spring, pogo pin using the same, and manufacturing method thereof | |
SU1441460A1 (en) | Contact device for inspecting integrated microcircuits | |
WO2024210237A1 (en) | Test socket | |
CN220210684U (en) | Automatic grabbing mechanism | |
CN215415775U (en) | Measuring device for collecting ring of aero-engine | |
CN221528694U (en) | Clamping device |