SU1290097A1 - Способ измерени температуры - Google Patents
Способ измерени температуры Download PDFInfo
- Publication number
- SU1290097A1 SU1290097A1 SU853914035A SU3914035A SU1290097A1 SU 1290097 A1 SU1290097 A1 SU 1290097A1 SU 853914035 A SU853914035 A SU 853914035A SU 3914035 A SU3914035 A SU 3914035A SU 1290097 A1 SU1290097 A1 SU 1290097A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- temperature
- wavelength
- light
- crystal
- monochromatic light
- Prior art date
Links
Landscapes
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано в дистанционных устройствах . Целью изобретени вл етс повыоление точности измерени температуры . Термочувствительный элемент 3, выполненный в виде пластины из анизотропного оптически активного кристалла с инверсией знака двулучепреломлени и температурной зависимостью спектрального положени изотропной точки, размещают в месте измерени температуры, совмеща одно из главных направлений кристалла с направлением пол ризапии падающего монохроматического света,, Интенсивность светового потока, прощедше- го от источника 1 света, длину волны которого непрерывно измен ют в заданном спектральном интервале, через элемент 3 и линейный пол ризатор 4, регистрируют фотоприемником 5, выходной сигнал которого будет соответствовать максимуму пропускани всей оптической системы. Искомую температуру определ ют по зафиксированному значению длины волны света и градуировочной темпера- турно-спектральной зависимости. 1 ил. с (О. ff СО Li О
Description
Изобретение относитс к приборостроению и может быть использовано преимущественно в системах дистанционного измерени температуры.
Целью изобретени вл етс повышение точности измерени температуры .
На чертеже приведена оптическа схема устройства, реализующего пред- лагаемьй способ измерени температуры .
Устройство содержит последовательно размещенные и оптически св занные источник 1 монохроматического света, линейный пол ризатор 2, термочувствительный элемент 3, выполненный в виде пластины из анизотропного оптически активного кристалла с инверсией знака двулучепреломлё- ни и температурной зависимостью спектрального положени изотропной точки, линейный пол ризатор 4 и фотоприемник 5. Плоскости пол ризации линейных пол ризаторов 2 и 4 взаимн перпендикул рны, а одно из главных направлений крцсталла термочувствительного элемента 3 совпадает с плоскостью пол ризации входного пол ризатора 2.
Способ осуществл ют следующим образом .
Параллельный пучок монохроматического света от источника 1 направл ют через пол ризатор 2 на кристаллическую пластину 3, которую устанавливают в месте измерени температуры . При этом длину волны источника 1 свата HenpeptiiBHo измен ют в заданном спектральном интервале и одновременно фотоприемником 5 регистрируют интенсивность светового потока , прошедшего кристаллическую пластину 3 и установленный за ней линейный пол ризатор 4, Величина спектрального интервала, в котором измен ют длину волны источника 1 света, определ етс конкретной температур- но-спектральной характеристикой используемого кристалла и заданным диапазоном веро тного изменени температуры объекта.
Если длина волны монохроматическго света будет соответствовать изотропному состо нию кристалла термочувствительного элемента 3, то из него вьйдет линейно-пол ризованный свет, плоскость пол ризации которог составит некоторый угол, завис щий
5
0
5
от толщины и степени оптической активности кристалла, с плоскостью пол ризации падающего на кристалл света. Часть светового потока, прошедшего термочувствительный оптически активный кристалл 3, пройдет через пол ризатор 4 и далее на фотоприемник 5, выходной сигнал которого в этом случае будет соответствовать максимальной интенсивности регистрируемого светового потока, т.е. максимуму пропускани всей оптической системы. Зафиксированное значение длины волны монохроматического света в этом случае совпадет со спектральным положением изотропной точки кристалла, а искома температура определитс по найденному значению длины волны света и предварительно полученной градуировочной температурно-спектральной зависимости . Дл всех других длин волн монохроматического света при данной температуре в кристалле возникает двулучепреломление. Свет после кристалла будет иметь эллиптическую пол ризацию и практически не пройдет
через пол ризатор
т.е. сигнал
фотоприемника 5 будет минимальным. Точность измерени температуры предлагаемым способом зависит от температурно-спектральной характеристики используемых кристаллов и полуширины максимума пропускани ,котора определ етс толщиной кристаллической пластины. Подбира толщину пластины кристалла с учетом степени его оптической активности, можно получить минимальное значение полуширины максимума пропускани и, следовательно, обеспечить максимальную точность измерени температуры (погрешность не превышает 0,001 К). В качестве оптически активных кристаллов могут быть использованы такие кристаллы, как NaNH - тартрат тетрагидрат, Na КС Н. О 41Г,.,0 , . (SeO .
Claims (1)
- Формула изобретениСпособ измерени температуры, заключающийс в освещении термочувствительного анизотропного кристалла с инверсией знака двулучепреломле- ни лИнейно пол ризованным монохроматическим светом, сканировании длины волны монохроматического света312900974в заданном спектральном интервале чающийс тем, что, с целью и одновременной регистрации интен- повышени точности измерени , моно- сивности светового потока, прошед- хроматическим светом освещают оптишего кристалл и вторично пол ризо- чески активный кристалл, одно изванного в плоскости, перпендикул р-5 главных направлений которого совме- ной направлению пол ризации падаю- щают с направлением пол ризации па - щего монохроматического света, и дающего на него линейно пол ризован- определении температуры по значению ного монохроматического света, а длины волны монохроматического све- фиксацию значени его длины волныта, зафиксированному при экстремаль- осуществл ют при максимальной интен- ной величине интенсивности регистри- сивности регистрируемого светового руемого светового потока, о т л и - потока.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853914035A SU1290097A1 (ru) | 1985-06-18 | 1985-06-18 | Способ измерени температуры |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853914035A SU1290097A1 (ru) | 1985-06-18 | 1985-06-18 | Способ измерени температуры |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1290097A1 true SU1290097A1 (ru) | 1987-02-15 |
Family
ID=21183839
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853914035A SU1290097A1 (ru) | 1985-06-18 | 1985-06-18 | Способ измерени температуры |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1290097A1 (ru) |
-
1985
- 1985-06-18 SU SU853914035A patent/SU1290097A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 807079, кл. G 01 К 11/12,05.02.79. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5128797A (en) | Non-mechanical optical path switching and its application to dual beam spectroscopy including gas filter correlation radiometry | |
US4309110A (en) | Method and apparatus for measuring the quantities which characterize the optical properties of substances | |
SU1290097A1 (ru) | Способ измерени температуры | |
US20030206325A1 (en) | Gas sensor detector balancing | |
CN100397232C (zh) | 使用一个声光可调谐滤波器(aotf)和多个窄带双折射滤波器的级联滤波器 | |
CN109187368B (zh) | 一种基于多通道测量的液晶偏振特性实时检测系统及方法 | |
SU1695145A1 (ru) | Эллипсометр | |
SU1157416A1 (ru) | Многолучевой интерференционный эллипсометр | |
SU1290096A1 (ru) | Пол ризационно-оптический цветовой индикатор температуры | |
JPS6423126A (en) | Multiple light source polarization analyzing method | |
SU1656342A1 (ru) | Микроспектрофотометр-флуориметр | |
SU1495648A1 (ru) | Спектроэллипсометр | |
SU1017978A1 (ru) | Способ определени показател преломлени твердых сред | |
SU1569618A1 (ru) | Пол ризационно-оптический преобразователь давлени | |
SU1663453A1 (ru) | Устройство дл измерени температуры | |
JP2509692B2 (ja) | 光学式測定装置 | |
SU1383108A1 (ru) | Спектрофотометр | |
SU1280501A1 (ru) | Способ определени показател преломлени в инфракрасной области спектра | |
SU1060939A1 (ru) | Многолучевой интерферометр | |
SU789686A1 (ru) | Денситометр | |
SU1130777A1 (ru) | Устройство дл определени пол ризационных параметров импульсного излучени | |
SU1100541A1 (ru) | Рефрактометр дл анизотропных кристаллов | |
SU1531690A1 (ru) | Способ измерени длины волны излучени и измеритель дл его осуществлени | |
SU1026001A1 (ru) | Пол ризационный интерферометр | |
SU1138714A1 (ru) | Угловой рефрактометр |