SU1289317A1 - Способ определени подвижности носителей зар да в твердых телах - Google Patents
Способ определени подвижности носителей зар да в твердых телах Download PDFInfo
- Publication number
- SU1289317A1 SU1289317A1 SU853871685A SU3871685A SU1289317A1 SU 1289317 A1 SU1289317 A1 SU 1289317A1 SU 853871685 A SU853871685 A SU 853871685A SU 3871685 A SU3871685 A SU 3871685A SU 1289317 A1 SU1289317 A1 SU 1289317A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- magnetic field
- induction
- charge carriers
- mobility
- magnetoresistance
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к области полупроводниковой техники и материаловедени и может быть использовано дл определени подвижности носителей зар да в металлах, вырожденных полупроводниках, структурах металл- диэлектрик-полупроводник , гетеропереходах , бикристаллах и других действующих устройствах электронной техники . Целью изобретени вл етс повьшенне чувствительности и точности . После предварительного опреде-- лени подвижности носителей зар да по магнитосопротивлению при индукции магнитного пол Во производ т измерени зависимости амплитуды А. Осцйл - ции производной магнитосопротивлени измер ютс в точках максимумов и минимумов при температуре образца Т, устанавливаемой в пределах . he9 2Jr -k-inj. eB/km и при изменении индукции магнитного пол В в пределах (uV В 2lr kTm /|,e, где k - посто нна Больцмана, - посто нна Планка , го - циклотронна масса электрона , е - зар д электрона. Использу измеренную зависимость А от индукции магнитного пол В, вычисл ют уточненное значение подвижности носителей зао да ч по фор муле / -1/2}(А пА/л «(1/В) - TtkTm /beV. 3 ил. W со о
Description
112
Изобретение йтноситсп к области гюлутфоподнйковой техники и материаловедени и может бытоь использовано дл определени подВ 1жности носителе зар да в металлах, вьфожденных полу- проводникам структурах металл - диэлектрик - полупроводник, гетеропереходах , бикристаллах и других действующих устройствах электронной техники.
Цель изобретени - повьтение чувствительности и точности.
На фиг. 1 изображена принципиальна схема измерений, реализующа предлагаемый способ; на фиг. 2 - зависимость производной магнитосопротив- лени dR/dVa МДП-транзистора от ин- дУкции магнитного пол В при фиксированном значении напр жени на затворе Vg 15 В (пунктир-огибающа ); на фиг. 3 - зависимость относительной амплитуды А осцилл ции произвоЗд- ной магнитосопротивлени МДП-транзистора от индукции магнитного пол В в координатах En А от В .
Схема измерений содержит генератор 1 переменного напр жени , блок 2 питани , источник 3 магнитного пол (соленоид), датчик А индукции магнитного пол , источник 5 посто нного то ка, селективный вольтметр 6, двух- координатный самописец 7, объект исследовани (на фиг. 1 выделен пунктиром ), в качестве которого выбран полевой транзистор 8 с изолированным затвором, слоем диэлектрика 9, провод щим слоем 10, токовыми контактами J 1 и подложкой 12,
Пример. Проиллюстрируем применение способа на примере определени подвижности электронов в инверсном слое кремниевого МДП-траН- зистора, изготовленного на подложке (ЮО) из р-кремни , легированного бо
.
ром.
с удельным сопротивлением
20 Ом см. Толщина окисла составл ет 0,1 мкм, площадь структуры ;; 3-1 Измерение производной магнитосопротивлени dR/dV (фиг. 2) при фиксированном напр жении на затворе У 15В проводитс по модул ционной методике в процессе изменени индук ции магнитного пол В от 1 до 3 Тл. Установленное значение температуры удовлетвор ет условию реализации
j 2Jt
способа
kTrn ЬеВ
4I во всем интервале значений магнитной индукции.
где k 1,36-in- Лж/К и Ь 1 ,05 х X - посто нные Больцмана и Планка соответственно, е I,60 х X 10 Кл - зар д электрона, тп 0,19 т -.эффективна циклотронна масса электрона в плоскости (100) SJ , т 9,11-10 кг - масса электрона , I Тлев 3 Тл - индукци магнитного пол . Подвижность носителей зар да определенна известным способом по измеренному значению магнитной индукции В , при котором возникают квантовые социлл ции магнитосопротивлени (фиг. 2), равна ,гО,8 MVBc (В/ 1,2 Тл).
Таким образом, значени индукции магнитного пол , приложенного перпендикул рно поверхности Ri, при измерении зависимости dP/dVg удовлетвор ют
условию
;.„. Ц
во всем
25
30
35
40
исследуемом интервале. На фиг. 3 определ ют изменение величины обратной индукции магнитного пол д(Е/В), исход из услови линейности зависимости натурального логарифма амплитуды осцилл ции магнитосопротивлени Zn А ОТ/Е-/В. Амплитуда осцилл ции магнитосопротивлени А из- мep etc в точках максимумов или минимумов производной магнитосопротивлени (точках касани огибающей с графиком функции dR/dVj. Далее определ ют изменение логарифма амплитуды осцилл ции магнитосопротивлени &( In А), соответствующее вели- чине л(1/В), и вычисл ют подвижность fi носителей зар да по формуле
Г- А). L 9Г
(17в)
ykTme. t,e
;
Дл рассматриваемого примера значени величин, определенные по фиг, 3, равны й(1п А) -2,50, ) 0,147 Тл, Подставл указанные выше численные значени величин, вход щих в расчётную формулу, получают значение подвижности электронов f 1,17 MVBc.
Claims (1)
- Формула изобретениСпособ определени подвижности носителей зар да в твердых телах, включающий приложение к образцу т нущего31289электрического и магнитного полей при посто нной температуре, измерение значени индукЦии магнитного пол Вд, при котором возникают осцилл ции производной магнитосопротивлени , и 5 определение подвижности носителей зар да р, расчетным путем, отличающийс тем, что, с целью повьплени чувствительности и точности , температуру образца устанавли- вают исход из услови НеВ ,„, ЬеВ2ЛЧш,14ItmIизмерение зависимости амплитуды ос- лилл ций производной магнитосопротивлени производ т при изменении индукции магнитного пол В в пределах« / В2Т( Ке.расчетным путем наход т значение под-25 вижности носителей зар да по формулеj.Jд(1п А) й(1/В) .Hgk 1 tie -где (Ц - подвижность носителей зар да ;, - подвижность носителей зар да , определенна известным способом при индукции магнитного пол В ;В - индукци магнитного пол ;А - амплитуда осцилл ции производной магнитосопротивлени ;л(1п А) - изменение логарифма величины А;.л(L/B) - соответствующее изменение величины обратного маг- .нитного пол ;k - посто нна Больцмана;Ъ - посто нна Планка}е - величина зар да носите- лей;m - циклотронна масса электрона;Т - температура образца./г./,, «//«/C7atСоставитель Л. Смирнов Редактор Т. Янова Техред И.ПоповичКорректоре. Черни«.i ,И,.ацдцищ....и-тт-т-ТТЯ Т-тп т--I- -1Tftf-Заказ 3436 Тираж 364ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска наб., д. .4/5Производственно-полиграфическое предпри тие, г. Ужгород, ул. Проектна , 4
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853871685A SU1289317A1 (ru) | 1985-01-18 | 1985-01-18 | Способ определени подвижности носителей зар да в твердых телах |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853871685A SU1289317A1 (ru) | 1985-01-18 | 1985-01-18 | Способ определени подвижности носителей зар да в твердых телах |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1289317A1 true SU1289317A1 (ru) | 1991-08-07 |
Family
ID=21168595
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853871685A SU1289317A1 (ru) | 1985-01-18 | 1985-01-18 | Способ определени подвижности носителей зар да в твердых телах |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1289317A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2679463C1 (ru) * | 2018-01-12 | 2019-02-11 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского" | Неразрушающий способ измерения подвижности носителей заряда в полупроводниковой структуре |
-
1985
- 1985-01-18 SU SU853871685A patent/SU1289317A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 1000945, кл. G 01 R 31/26, 1980. Maguer R, J. et all. Magneto- transconductance study of surface accumulation layers in In As. Surface Sci., 1978, 73, p. 545-346. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2679463C1 (ru) * | 2018-01-12 | 2019-02-11 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского" | Неразрушающий способ измерения подвижности носителей заряда в полупроводниковой структуре |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6191605B1 (en) | Contactless method for measuring total charge of an insulating layer on a substrate using corona charge | |
Kuhn et al. | Ionic contamination and transport of mobile ions in MOS structures | |
Kittlesen et al. | Chemical derivatization of microelectrode arrays by oxidation of pyrrole and N-methylpyrrole: fabrication of molecule-based electronic devices | |
JPH08236591A (ja) | 非接触コロナ酸化物半導体q−v移動電荷測定の方法および装置 | |
Poghossian | Determination of the pHpzc of insulators surface from capacitance–voltage characteristics of MIS and EIS structures | |
US11289601B2 (en) | Negative capacitance semiconductor sensor | |
Henning et al. | Tunable diameter electrostatically formed nanowire for high sensitivity gas sensing | |
Zhou et al. | High performance gas sensors with dual response based on organic ambipolar transistors | |
SU1289317A1 (ru) | Способ определени подвижности носителей зар да в твердых телах | |
US9638659B2 (en) | Nanowire field-effect sensor including nanowires having network structure and fabrication method thereof | |
CN103822953A (zh) | 背栅式离子敏感场效应晶体管 | |
CN107505376B (zh) | 一种基于场效应晶体管结构的pH值传感器件及其制造方法 | |
JP2005183933A (ja) | シリコンオンインシュレータ(soi)ウエハの電気特性決定方法 | |
Yusof et al. | pH sensing characteristics of silicon nitride thin film and silicon nitride-based ISFET sensor | |
US10818785B2 (en) | Sensing device for sensing minor charge variations | |
KR100697554B1 (ko) | 임계 치수 측정 방법 | |
Presnov et al. | Silicon nanowire field effect transistor made of silicon-on-insulator | |
Polley et al. | Ambipolar gate modulation technique for the reduction of offset and flicker noise in graphene Hall-effect sensors | |
Jan et al. | Characteristics of the hydrogen ion-sensitive field effect transistors with sol–gel-derived lead titanate gate | |
SU1629931A1 (ru) | Способ определени параметров энергетических уровней в полупроводниках и гетероструктурах | |
Clément et al. | Water electrolysis and energy harvesting with 0D ion-sensitive field-effect transistors | |
JPH02249962A (ja) | Fetセンサ | |
JPS5543880A (en) | Non-contact measurement of semiconductor carrier concentration and conductivity by capacitance-coupling | |
JP4927777B2 (ja) | 電荷検出器および電荷検出方法 | |
Kalra | Performance Analysis of Split Gate Schottky Barrier Tunnel FET Biosensor |