SU1289317A1 - Способ определени подвижности носителей зар да в твердых телах - Google Patents

Способ определени подвижности носителей зар да в твердых телах Download PDF

Info

Publication number
SU1289317A1
SU1289317A1 SU853871685A SU3871685A SU1289317A1 SU 1289317 A1 SU1289317 A1 SU 1289317A1 SU 853871685 A SU853871685 A SU 853871685A SU 3871685 A SU3871685 A SU 3871685A SU 1289317 A1 SU1289317 A1 SU 1289317A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
magnetic field
induction
charge carriers
mobility
magnetoresistance
Prior art date
Application number
SU853871685A
Other languages
English (en)
Inventor
А.Г. Ждан
В.В. Мухин
Н.Е. Никитин
В.Ф. Синкевич
Original Assignee
Институт Радиотехники И Электроники Ан Ссср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Радиотехники И Электроники Ан Ссср filed Critical Институт Радиотехники И Электроники Ан Ссср
Priority to SU853871685A priority Critical patent/SU1289317A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1289317A1 publication Critical patent/SU1289317A1/ru

Links

Landscapes

  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к области полупроводниковой техники и материаловедени  и может быть использовано дл  определени  подвижности носителей зар да в металлах, вырожденных полупроводниках, структурах металл- диэлектрик-полупроводник , гетеропереходах , бикристаллах и других действующих устройствах электронной техники . Целью изобретени   вл етс  повьшенне чувствительности и точности . После предварительного опреде-- лени  подвижности носителей зар да по магнитосопротивлению при индукции магнитного пол  Во производ т измерени  зависимости амплитуды А. Осцйл - ции производной магнитосопротивлени  измер ютс  в точках максимумов и минимумов при температуре образца Т, устанавливаемой в пределах . he9 2Jr -k-inj. eB/km и при изменении индукции магнитного пол  В в пределах (uV В 2lr kTm /|,e, где k - посто нна  Больцмана, - посто нна  Планка , го - циклотронна  масса электрона , е - зар д электрона. Использу  измеренную зависимость А от индукции магнитного пол  В, вычисл ют уточненное значение подвижности носителей зао да ч по фор муле / -1/2}(А пА/л «(1/В) - TtkTm /beV. 3 ил. W со о

Description

112
Изобретение йтноситсп к области гюлутфоподнйковой техники и материаловедени  и может бытоь использовано дл  определени  подВ 1жности носителе зар да в металлах, вьфожденных полу- проводникам структурах металл - диэлектрик - полупроводник, гетеропереходах , бикристаллах и других действующих устройствах электронной техники.
Цель изобретени  - повьтение чувствительности и точности.
На фиг. 1 изображена принципиальна  схема измерений, реализующа  предлагаемый способ; на фиг. 2 - зависимость производной магнитосопротив- лени  dR/dVa МДП-транзистора от ин- дУкции магнитного пол  В при фиксированном значении напр жени  на затворе Vg 15 В (пунктир-огибающа ); на фиг. 3 - зависимость относительной амплитуды А осцилл ции произвоЗд- ной магнитосопротивлени  МДП-транзистора от индукции магнитного пол  В в координатах En А от В .
Схема измерений содержит генератор 1 переменного напр жени , блок 2 питани , источник 3 магнитного пол  (соленоид), датчик А индукции магнитного пол , источник 5 посто нного то ка, селективный вольтметр 6, двух- координатный самописец 7, объект исследовани  (на фиг. 1 выделен пунктиром ), в качестве которого выбран полевой транзистор 8 с изолированным затвором, слоем диэлектрика 9, провод щим слоем 10, токовыми контактами J 1 и подложкой 12,
Пример. Проиллюстрируем применение способа на примере определени  подвижности электронов в инверсном слое кремниевого МДП-траН- зистора, изготовленного на подложке (ЮО) из р-кремни , легированного бо
.
ром.
с удельным сопротивлением
20 Ом см. Толщина окисла составл ет 0,1 мкм, площадь структуры ;; 3-1 Измерение производной магнитосопротивлени  dR/dV (фиг. 2) при фиксированном напр жении на затворе У 15В проводитс  по модул ционной методике в процессе изменени  индук ции магнитного пол  В от 1 до 3 Тл. Установленное значение температуры удовлетвор ет условию реализации
j 2Jt
способа
kTrn ЬеВ
4I во всем интервале значений магнитной индукции.
где k 1,36-in- Лж/К и Ь 1 ,05 х X - посто нные Больцмана и Планка соответственно, е I,60 х X 10 Кл - зар д электрона, тп 0,19 т -.эффективна  циклотронна  масса электрона в плоскости (100) SJ , т 9,11-10 кг - масса электрона , I Тлев 3 Тл - индукци  магнитного пол . Подвижность носителей зар да определенна  известным способом по измеренному значению магнитной индукции В , при котором возникают квантовые социлл ции магнитосопротивлени  (фиг. 2), равна ,гО,8 MVBc (В/ 1,2 Тл).
Таким образом, значени  индукции магнитного пол , приложенного перпендикул рно поверхности Ri, при измерении зависимости dP/dVg удовлетвор ют
условию
;.„. Ц
во всем
25
30
35
40
исследуемом интервале. На фиг. 3 определ ют изменение величины обратной индукции магнитного пол  д(Е/В), исход  из услови  линейности зависимости натурального логарифма амплитуды осцилл ции магнитосопротивлени  Zn А ОТ/Е-/В. Амплитуда осцилл ции магнитосопротивлени  А из- мep etc  в точках максимумов или минимумов производной магнитосопротивлени  (точках касани  огибающей с графиком функции dR/dVj. Далее определ ют изменение логарифма амплитуды осцилл ции магнитосопротивлени  &( In А), соответствующее вели- чине л(1/В), и вычисл ют подвижность fi носителей зар да по формуле
Г- А). L 9Г
(17в)
ykTme. t,e
;
Дл  рассматриваемого примера значени  величин, определенные по фиг, 3, равны й(1п А) -2,50, ) 0,147 Тл, Подставл   указанные выше численные значени  величин, вход щих в расчётную формулу, получают значение подвижности электронов f 1,17 MVBc.

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Способ определени  подвижности носителей зар да в твердых телах, включающий приложение к образцу т нущего
    31289
    электрического и магнитного полей при посто нной температуре, измерение значени  индукЦии магнитного пол  Вд, при котором возникают осцилл ции производной магнитосопротивлени , и 5 определение подвижности носителей зар да р, расчетным путем, отличающийс  тем, что, с целью повьплени  чувствительности и точности , температуру образца устанавли- вают исход  из услови  НеВ ,„, ЬеВ
    2ЛЧш,
    14
    Itm
    I
    измерение зависимости амплитуды ос- лилл ций производной магнитосопротивлени  производ т при изменении индукции магнитного пол  В в пределах
    « / В
    2Т( Ке
    .расчетным путем наход т значение под-25 вижности носителей зар да по формуле
    j
    .J
    д(1п А) й(1/В) .
    Hgk 1 tie -
    где (Ц - подвижность носителей зар да ;
    , - подвижность носителей зар да , определенна  известным способом при индукции магнитного пол  В ;
    В - индукци  магнитного пол ;
    А - амплитуда осцилл ции производной магнитосопротивлени  ;
    л(1п А) - изменение логарифма величины А;.
    л(L/B) - соответствующее изменение величины обратного маг- .нитного пол ;
    k - посто нна  Больцмана;
    Ъ - посто нна  Планка}
    е - величина зар да носите- лей;
    m - циклотронна  масса электрона;
    Т - температура образца.
    /г./
    ,, «
    //«/C7
    at
    Составитель Л. Смирнов Редактор Т. Янова Техред И.ПоповичКорректоре. Черни
    «.i ,И,.ацдцищ....и-тт-т-ТТЯ Т-тп т--I- -1Tftf-
    Заказ 3436 Тираж 364Подписное
    ВНИИПИ Государственного комитета СССР
    по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска  наб., д. .4/5
    Производственно-полиграфическое предпри тие, г. Ужгород, ул. Проектна , 4
SU853871685A 1985-01-18 1985-01-18 Способ определени подвижности носителей зар да в твердых телах SU1289317A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853871685A SU1289317A1 (ru) 1985-01-18 1985-01-18 Способ определени подвижности носителей зар да в твердых телах

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853871685A SU1289317A1 (ru) 1985-01-18 1985-01-18 Способ определени подвижности носителей зар да в твердых телах

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1289317A1 true SU1289317A1 (ru) 1991-08-07

Family

ID=21168595

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853871685A SU1289317A1 (ru) 1985-01-18 1985-01-18 Способ определени подвижности носителей зар да в твердых телах

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1289317A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2679463C1 (ru) * 2018-01-12 2019-02-11 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского" Неразрушающий способ измерения подвижности носителей заряда в полупроводниковой структуре

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 1000945, кл. G 01 R 31/26, 1980. Maguer R, J. et all. Magneto- transconductance study of surface accumulation layers in In As. Surface Sci., 1978, 73, p. 545-346. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2679463C1 (ru) * 2018-01-12 2019-02-11 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского" Неразрушающий способ измерения подвижности носителей заряда в полупроводниковой структуре

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6191605B1 (en) Contactless method for measuring total charge of an insulating layer on a substrate using corona charge
Kuhn et al. Ionic contamination and transport of mobile ions in MOS structures
Kittlesen et al. Chemical derivatization of microelectrode arrays by oxidation of pyrrole and N-methylpyrrole: fabrication of molecule-based electronic devices
JPH08236591A (ja) 非接触コロナ酸化物半導体q−v移動電荷測定の方法および装置
Poghossian Determination of the pHpzc of insulators surface from capacitance–voltage characteristics of MIS and EIS structures
US11289601B2 (en) Negative capacitance semiconductor sensor
Henning et al. Tunable diameter electrostatically formed nanowire for high sensitivity gas sensing
Zhou et al. High performance gas sensors with dual response based on organic ambipolar transistors
SU1289317A1 (ru) Способ определени подвижности носителей зар да в твердых телах
US9638659B2 (en) Nanowire field-effect sensor including nanowires having network structure and fabrication method thereof
CN103822953A (zh) 背栅式离子敏感场效应晶体管
CN107505376B (zh) 一种基于场效应晶体管结构的pH值传感器件及其制造方法
JP2005183933A (ja) シリコンオンインシュレータ(soi)ウエハの電気特性決定方法
Yusof et al. pH sensing characteristics of silicon nitride thin film and silicon nitride-based ISFET sensor
US10818785B2 (en) Sensing device for sensing minor charge variations
KR100697554B1 (ko) 임계 치수 측정 방법
Presnov et al. Silicon nanowire field effect transistor made of silicon-on-insulator
Polley et al. Ambipolar gate modulation technique for the reduction of offset and flicker noise in graphene Hall-effect sensors
Jan et al. Characteristics of the hydrogen ion-sensitive field effect transistors with sol–gel-derived lead titanate gate
SU1629931A1 (ru) Способ определени параметров энергетических уровней в полупроводниках и гетероструктурах
Clément et al. Water electrolysis and energy harvesting with 0D ion-sensitive field-effect transistors
JPH02249962A (ja) Fetセンサ
JPS5543880A (en) Non-contact measurement of semiconductor carrier concentration and conductivity by capacitance-coupling
JP4927777B2 (ja) 電荷検出器および電荷検出方法
Kalra Performance Analysis of Split Gate Schottky Barrier Tunnel FET Biosensor