SU1288507A1 - Photometer for checking film materials - Google Patents
Photometer for checking film materials Download PDFInfo
- Publication number
- SU1288507A1 SU1288507A1 SU843766906A SU3766906A SU1288507A1 SU 1288507 A1 SU1288507 A1 SU 1288507A1 SU 843766906 A SU843766906 A SU 843766906A SU 3766906 A SU3766906 A SU 3766906A SU 1288507 A1 SU1288507 A1 SU 1288507A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- outputs
- photodetector
- photometer
- beam splitter
- source
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к фотометрии и может быть использовано в химической промьшшенности при производстве различных полимернЬгх пленок с оптически однородными и рассеивающими покрыти ми. Цель изобретени повышение точности измерений. Фотометр содержит два идентичных источника 1, 2 света, два идентичных фотоприемника 3, 4, установленные с разных сторон контролируемого материала 5. Четьфе светоделител 6, 7, 8, 9 установлены наклонно по ходу излучени перед каждым фотоприемником и каждым источником света. Идентичные усилители 10, 11 соединены, соответственно с фотоприемниками 3, 4. Выходы генератора 12 соединены соответственно с источниками 1, 2 света и с управл ющим входом синхронного коммутатора 13. Два входа комму- I татора 13 соединены с выходами усилителей 10, 11, а четыре его выхода - с четырьм входами вычислительного устройства 14. П тый вход вычислительного устройства 14 соединен с источником 15 опорного напр жени , а выход вл етс выходом фотометра. 2ил.j СХ) 00 сд Ц1иг.1The invention relates to photometry and can be used in the chemical industry in the production of various polymeric films with optically uniform and dispersive coatings. The purpose of the invention is improving the accuracy of measurements. The photometer contains two identical sources 1, 2 of light, two identical photodetectors 3, 4, installed on different sides of the material being monitored 5. A set of beam splitters 6, 7, 8, 9 are set obliquely in the direction of radiation in front of each photodetector and each light source. Identical amplifiers 10, 11 are connected, respectively, with photodetectors 3, 4. The outputs of generator 12 are connected respectively to sources 1, 2 of light and to the control input of synchronous switch 13. Two inputs of switch 13 are connected to outputs of amplifiers 10, 11, and its four outputs are with four inputs of the computing device 14. The fifth input of the computing device 14 is connected to the source 15 of the reference voltage, and the output is the output of the photometer. 2il.j CX) 00 cd C1ig.1
Description
1 12885071 1288507
зобретение относитс к фотометпр че зи ет пр вт не св из те а ли то ни 3 им те ма ви ни то но од ны ки по пр те пр по ч ли „ту во поThe invention relates to a phototransmitter not directly from either 3 of them, but not the same as the ones on the right.
рии, а именно к измерител м оптических характеристик пленочных материалов , и может быть использовано в химической промышленности при производстве различных полимерных пленок с оптически однородными и рассеивающими покрыти ми.It can be used in the chemical industry in the production of various polymer films with optically homogeneous and dispersive coatings.
Цель изобретени повышение точности измерений.The purpose of the invention is improving the accuracy of measurements.
На фиГо приведена функциональна схема фотометра; на фиг.2 - Схема работы фотометра при контроле оптически неоднородных светорассеивающих материалов .The figure shows the functional diagram of the photometer; figure 2 - Scheme of operation of the photometer when monitoring optically inhomogeneous light-scattering materials.
Фотометр содержит первый и второй идентичные источники 1 и 2 света, первый и второй идентичные фотоприемники 3 и 4, установленные с разных сторон Контролируемого материала 5, четыре светоделител 6-9, установленные наклонно по ходу излучени перед каждым фотоприемником и каждым источником света, первый и второй идентичные усилители 10 и 11, входы которых соединены соответственно с первым и вторым фотоприемником 3 и 4 генератор 12, выходы которого соединены соответственно с источником 1 и 2 света и с управл ющим входом синхронного коммутатора 13, два входа которого соединены соответственно с выходами усилителей 10 и 11, а четыре его выхода - с четырьм входами вычислительного устройства 14, п тый вход которого соединен с источником 15 опорного напр жени , а выход вл етс выходом фотометра.The photometer contains the first and second identical sources 1 and 2 of light, the first and second identical photoreceivers 3 and 4, installed on different sides of the Controlled Material 5, four beam splitters 6-9, mounted obliquely in the course of the radiation in front of each photoreceiver and each light source, the first and the second identical amplifiers 10 and 11, whose inputs are connected respectively to the first and second photodetector 3 and 4, generator 12, whose outputs are connected respectively to the source 1 and 2 of the light and to the control input of the synchronous switch 13, two inputs are connected respectively to the outputs of amplifiers 10 and 11, and four of its outputs are connected to four inputs of the computing device 14, the fifth input of which is connected to the source 15 of the reference voltage, and the output is the output of the photometer.
Фотометр . работает следуюпщм образом .Photometer. works in the following way.
При измерении оптической плотности D с одним фотоприемникомWhen measuring the optical density D with a single photodetector
Ueb. ()Ueb. ()
(1)(one)
где h - рассто ние от плоскости фотоприемника до контролируемого материала; Ah - изменение этого рассто ни .where h is the distance from the plane of the photodetector to the material under test; Ah is the change in this distance.
Импульсы питани с соответствующих выходов генератора 12 поочередно подаютс на первый и второй источники 1 и 2 света. В промежуток времени , когда излучает первый источник света, излучение от него с помощью светоделител 6 раздел етс на два пучка, один из которых, пройд через светоделитель 8, попадает на фотоThe power pulses from the respective outputs of the generator 12 are alternately fed to the first and second sources 1 and 2 of light. In the time when the first light source emits, the radiation from it using a beam splitter 6 is divided into two beams, one of which, having passed through the beam splitter 8, hits the photo
5five
00
5five
00
5five
приемник 4, а другой пучок, пройд через контролируемую пленку 5 и отразившись от светоделител 7, попадает на фотоприемник 3. В следующий промежуток времени, когда излучает второй источник света, излучение от него также расщепл етс с помощью светоделител 9 на два пучка, один из которых, пройд через светоделитель 7, попадает на фотоприемник 3, а другой пучок, пройд через контролируемую пленку и отразившись от светоделител 8, попадает на фотоприем- ник 4. В результате на фотоприемниках 3 и 4 возникают последовательности импульсов, которые усиливаютс усилител ми 10 и 11, с выхода которых снимаютс сигналы, амплитуды которых завис т не только от параметров источников света, фотоприемников, элементов оптической и электрической схем, но, в случае контрол оптически неоднородных светорассеивающих пленочных материалов, и от положени пленки в измерительном зазоре (фиг.2). поскольку в этом случае излучение, проход щее через контролируемый материал , претерпевает рассе ние и распростран етс под разными углами к поверхности материала, в результате чего при изменении положени контролируемого материала измен ютс апер- „турные углы фотоприемников, что приводит к изменению потоков излучени , попадающих на фотоприемники.the receiver 4 and the other beam, having passed through the controlled film 5 and reflected from the beam splitter 7, hits the photodetector 3. In the next period of time, when the second light source emits, the radiation from it is also split by the beam splitter 9 into two beams, one of which, having passed through the beam splitter 7, hits the photodetector 3, and the other beam, passes through the controlled film and being reflected from the beam splitter 8, hits the photoreceiver 4. As a result, the photodetectors 3 and 4 have pulse sequences that amplifiers 10 and 11 are loaded from the output of which signals are taken, whose amplitudes depend not only on the parameters of light sources, photodetectors, optical and electrical circuit elements, but, in the case of monitoring optically inhomogeneous light-scattering film materials, and on the position of the film in the measuring gap (figure 2). since in this case the radiation passing through the monitored material undergoes scattering and propagates at different angles to the material surface, as a result of which the aperture angles of the photodetectors change as the position of the monitored material changes, which leads to a change in the radiation fluxes falling on photodetectors.
С учетом перечисленных факторов, амплитуды сигналов на фотоприемниках можно записать следующим образом:Taking into account these factors, the amplitudes of the signals on the photodetectors can be written as follows:
U,I.K,sS,K,,; U,I,.-r,K,S,T-c/.,K,,;U, I.K, sS, K ,,; U, I, .- r, K, S, T-c /., K ,,;
Ii K. t.S, К,„; и, , K;S,TOI, К ,Ii K. t.S, K, „; and,, K; S, TOI, K,
(2)(2)
где Uj , - амплитуды импульсов на фотоприемниках 3, 4, вызванные пучками излучени от источников 2 и 1, отраженными от светоделителей 9 и 6 и попавшими непосредственно на фото- приемники без взаимодействи с контролируемыми материалами;where Uj, are the amplitudes of the pulses at the photoreceivers 3, 4, caused by the radiation beams from sources 2 and 1, reflected from the beam splitters 9 and 6, and which hit the photo receivers directly without interacting with controlled materials;
Uj5 и - амплитуды импульсов, вызванные пучками излучени от источников 1 и 2, прошедшими через конт- ролируемьй образец;Uj5 and are the amplitudes of the pulses caused by radiation beams from sources 1 and 2 that have passed through the control sample;
I, , I,j - интенсивность излучени источников света I и 2;I,, I, j is the radiation intensity of the light sources I and 2;
Sj, S - чувствительность фотоприемников 3 и 4;Sj, S - sensitivity of photodetectors 3 and 4;
К , К, - коэффициенты передачи усилителей 10 и II;K, K, - transfer coefficients of amplifiers 10 and II;
. и.6.. and.6.
- со- with
-7 8 -9-7 8 -9
ответственно коэффициенты отражени responsibly reflection coefficients
и пропускани светоделителей 6-9; and passing the beam splitters 6-9;
Т - пропускание контролируемой пленки;T - the transmission of the controlled film;
d , d - параметр, характеризующий апертурные углы фотоприемников 3 и 4 (фиг.2),d, d is a parameter characterizing the aperture angles of the photodetectors 3 and 4 (figure 2),
Снимаемые с выходов усилителей 10 и 11 сигналы поступают на соответствующие входы синхронного коммутатора , на управл ющий вход которого подаютс синхроимпульсы с соответствующего выхода генератора 12. После коммутатора каждый из четьфех сигналов и°, Uj, U/ и U, поступает в вычислительное устройство 14, на п The signals taken from the outputs of amplifiers 10 and 11 are fed to the corresponding inputs of a synchronous switch, to the control input of which clock pulses are supplied from the corresponding output of generator 12. After the switch, each of the four signals and °, Uj, U / and U enters the computing device 14, on p
тый вход которого с опорного источника 15 поступает напр жение U . В вычислительном устройстве 14 осуществл етс следующа функци преобразовани :the input of which from the reference source 15 receives the voltage U. In computing device 14, the following transformation function is performed:
и° и;and ° and;
+ и„+ and „
3 43 4
(2) в(2) in
(3), получим(3), we get
ЦC
BbtxBbtx
- ig т- igt
При равном удалении фотоприемников от контролируемой пленки и при малых апертурных углах (фиг.2) можWith equal removal of the photodetectors from the controlled film and at small aperture angles (Fig. 2), we can
II
h h
h - рассто ние от пленки до фотоприемников , at- линейный размер приемной площадки фотоприемников. Если контролируемый материал смещен относительно среднего положени на вено записать, что -, гдеh is the distance from the film to the photodetectors, and at is the linear size of the receiving area of the photodetectors. If the controlled material is shifted relative to the average position on the vein, write down that - where
личину дЬ, otj и о( запишутс следующим образом:The mask db, otj and o (written as follows:
h + uh h + uh
d,d,
h - лЬh - lb
Подставл (5) в (4), получим Substituting (5) into (4), we get
и 1„ 1сК21аКа% р п Vx and 1 „1СК21аКа% р п Vx
лЬb
- Ig т + и- Ig t + and
ohoh
Учитыва , что параметры светоделителей , линейный размер фотоприемников и рассто ние между фотоприемниками неизменны во времени, выбираTaking into account that the parameters of the beam splitters, the linear size of the photodetectors and the distance between the photodetectors are constant over time,
fOfO
5five
ем величину опорного напр жени U из услови the value of the reference voltage U of the condition
- 18 K,T,Kt Ь- 18 K, T, Kt b
(7)(7)
67 Ч 67 h
Подставл (7) в (6) и принима во внимание, что Ig Т -D, где D - оптическа плотность контролируемого материала, получим:Substituting (7) into (6) and taking into account that Ig T –D, where D is the optical density of the material being monitored, we obtain:
иand
вылhowled
2 D-Hg (1 - )- (8) 2 D-Hg (1 -) - (8)
1515
2020
2525
30thirty
3535
4040
Из сравнени последнего выражени с СО следует, что вли ние перемещени контролируемого материала в предлагаемом фотометре на пор док ниже по сравнению с известным, что повышает точность измерений. При этом отсутствует вли ние параметров источников света фотоприемников, что также способствует повьшению точности измерений.From a comparison of the last expression with CO it follows that the influence of the movement of the material under test in the proposed photometer is an order of magnitude lower than that known, which improves the measurement accuracy. In this case, there is no effect of the parameters of the light sources of photodetectors, which also contributes to an increase in the measurement accuracy.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843766906A SU1288507A1 (en) | 1984-07-06 | 1984-07-06 | Photometer for checking film materials |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843766906A SU1288507A1 (en) | 1984-07-06 | 1984-07-06 | Photometer for checking film materials |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1288507A1 true SU1288507A1 (en) | 1987-02-07 |
Family
ID=21129149
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843766906A SU1288507A1 (en) | 1984-07-06 | 1984-07-06 | Photometer for checking film materials |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1288507A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU175411U1 (en) * | 2017-01-19 | 2017-12-04 | Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военная академия материально-технического обеспечения имени генерала армии А.В. Хрулёва" Министерства обороны Российской Федерации | ELECTRONIC PHOTOMETER |
-
1984
- 1984-07-06 SU SU843766906A patent/SU1288507A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
За вка DE № 2540511, кл. G 01 J 1/42, опублик. 1977. Авторское свидетельство dCCP № 827982, кл. G 01 J 1/44, 1981. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU175411U1 (en) * | 2017-01-19 | 2017-12-04 | Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военная академия материально-технического обеспечения имени генерала армии А.В. Хрулёва" Министерства обороны Российской Федерации | ELECTRONIC PHOTOMETER |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0573178B2 (en) | ||
JPS56126747A (en) | Inspecting method for flaw, alien substance and the like on surface of sample and device therefor | |
US4841234A (en) | Voltage detector utilizing an optical probe of electro-optic material | |
GB1532980A (en) | Systems for measuring the distance of interference sources from one end of a glass fibre | |
SU1288507A1 (en) | Photometer for checking film materials | |
US4982152A (en) | Voltage detecting device | |
JPH0695114B2 (en) | Voltage detector | |
US4191469A (en) | Interference optical sensing device for a centrifuge | |
JPH0512657B2 (en) | ||
US5164667A (en) | Voltage detecting device | |
JPS6418071A (en) | Detecting apparatus for voltage | |
JPS60129645A (en) | Gas concentration measuring apparatus | |
JPS5539022A (en) | Optical thickness meter | |
RU2033603C1 (en) | Method of measurement of reflection factor | |
JPS5459166A (en) | Visual sensibility measuring apparatus of interferometer | |
SU641333A1 (en) | Differential refractometer | |
EP0307936B1 (en) | Multi-channel voltage detector | |
SU1561031A1 (en) | Digital device for measuring aggregation of thrombocytes | |
JPS6475928A (en) | Optical heterodyne detector | |
SU593122A1 (en) | Method of measuring refractive index of substance | |
SU1062573A1 (en) | Non-phelometric measuring method | |
SU1275272A1 (en) | Absorption gas analyzer | |
SU1280549A1 (en) | Device for measuring local velocity vector of flow | |
SU393789A1 (en) | METHOD OF MEASUREMENT OF CONSUMPTION OF A RAY OF OPTICAL QUANTUM GENERATOR | |
SU1733923A1 (en) | Photoelectric method of checking angular position of radiator and device to implement it |