SU1281986A1 - Способ определени коэффициента пропускани средой волны электромагнитного излучени - Google Patents

Способ определени коэффициента пропускани средой волны электромагнитного излучени Download PDF

Info

Publication number
SU1281986A1
SU1281986A1 SU833614552A SU3614552A SU1281986A1 SU 1281986 A1 SU1281986 A1 SU 1281986A1 SU 833614552 A SU833614552 A SU 833614552A SU 3614552 A SU3614552 A SU 3614552A SU 1281986 A1 SU1281986 A1 SU 1281986A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
measuring
transfer characteristic
measuring transducer
control unit
quasilinear
Prior art date
Application number
SU833614552A
Other languages
English (en)
Inventor
Виктор Алексеевич Таран
Юрий Алексеевич Скрипник
Владимир Ильич Водотовка
Original Assignee
Организация П/Я А-3560
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Организация П/Я А-3560 filed Critical Организация П/Я А-3560
Priority to SU833614552A priority Critical patent/SU1281986A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1281986A1 publication Critical patent/SU1281986A1/ru

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к технич. физике. Цель изобретени  - повьшение точности измерений - достигаетс  изменением плотности энергии падающей волнп на величину, кратную порогу чувствительности измерительного преобразовател  (ИИ), и в пределах квазилинейного участка его передаточной хар-ки, фиксированием измененных плотностей потоков энергии преломленной X.j и падающей Х волн. Коэф. пропускани  Т определ етс  по ф-ле

Description

ю
00
Итобретение отнпситс  к технической физике и может найти применение при исследовани х сред, отногитель- FIO прозрачных в оптическом и микроволновом диапазонах длин волн, и мо- жет использоватьс  дл  контрол  или анализа электрофизических характеристик полупровод щих и диэлектрических материалов с применением бесконтактных методов измерений, а так- же при автоматическом контроле или акапизе сред с помощью вычислительно-управл ющих комапексов на базе спетщализированных микро-ЭВМ, при измерени х пропусканий сред с помощью акустических или радиоактивных источников излучений (рентгеновского, гамма- или корпускул рного), а также методологически при измерени х незлектрических величин.
Цель изобретени  - повышение точности измерений.
На фиг.1 приведена структурна  электрическа  схема устройства, реализующего способ определени  коэффициента пропускани  средой волны электромагнитного излучени ; на фиг.2 и 3 - варианты устройства; на фиг.А - графики, по сн ющие способ .
Устройство (фиг.О содержит управл емый СВЧ-генератор 1, соединенный с передающей антенной 2, между которой и приемной антенной 3 ввод т исследуемую среду 4, Выход приемной антенны 3 соединен с измерительным преобразователем 5, выход которого, в свою очередь, соединен с последовательной цепью, состо щей из вычислительно-управл ющего блока 6 и цифрового индикатора 7. От вычислительно-управл ющего блока 6 команды упралени  подаютс  на СВЧ-генератор 1.
Устройство (фиг.2) содержит упра л емый СВЧ-генератор 1, соединенный через симметричный разветвитель СВЧ-мощности с измерительным 9 и опным 10 каналами, выходы которых подключены к входам управл емого пере- ключател  11 каналов. В измерительн канале 9 установлена волноводна   чка 12 с исследуемой средой А, а вых управл емого переключател  11 каналов соединен с последовательной це- пью, состо щей из измерительног о преобразовател  5, вычислительно- управл ющего блока 6 и цифрового индикатора 7. От вычислительнп-уп
5
5
0 0
-5 5 д
0
0
рав;г ющего блока Ь команды упраплс.- ни  подаютс  на СВЧ-генератор I и переключатель )1 каналов.
Устройство (фиг.З) состоит из управл емого лазера 13, пол ризованное излучение которого через управл емый ослабитель 14 падает на поверхность исследуемой среды А. Пре- лог-1ленное излучение на выходе его из исследуемой среды 4 фокусируетс  коллиматором 15, с выхода которого подаетс  на вход измерительного преобразовател  5, выходом соединенного с последовательной цепью, состо щей из вычислительно-управл ющего блока 6 и цифрового индикатора 7. От вычислительно-управл ющего блока 6 команды управлени  подаютс  на управл емый лазер 13 и управл емый ослабитель 14. Схема устройства допускает изъ тие исследуемой среды 4 из измерительного тракта.
На фиг.4 показаны два рабочих участка () и (У,- У ), т.е. В, В и Г, Гг , передаточной характеристики измерительного преобразовател  5 в параметрическом
У AI+ К, (1)
У Аг+ (2)
и временном
У Fdj- Т,)} (3) У А(Т4- Т,) (4)
ее представлени х,
где А,, начальные уровни выход- ныз сигналов измерительного преобразовател  5 на первом и втором участках его передаточной характеристики ,
К,, чувствительности измерительного преобразовател  5 по отношению к входным сигналам X на первом и втор ом участках его передаточной характеристики ,
п,, п,- показатели нелинейности первого и второго участков передаточной характеристики измерительного преобразовател  5, (T- lj) () -врем  уравновешивани  выходного сигнала У измерительного преобразовател  на квазилинейных отрезках В, В,и Г, Г его передаточной характеристики .
При этом У - выходной сигнал - отклик измерительного преобразовател  5 на входной сигнал X.
Вследствие квазилинейности участков В, Г, Г передаточной характеристики
п, n 1 (5)
а соотношени  (1) и (2) преобразуютс  к виду
У А,+ К,Х (6) У А,,+ (7) В исходном состо нии исследуема  среда 4 вьшедена из измерительного тракта (промежутка между передающей 2 и приемной 3 антеннами).
Первоначально по команде вычислительно-управл ющего блока 6 включают СВЧ-генератор 1 и устанавливают мощность Р, его квазймонохроматичес- кого излучени . Затем фиксируют датчиком измерительного преобразовател  5 нормальную составл ющую СВЧ- мсмцности PJ (точка А на квазилинейном учасгке Г, Г передаточной характеристики измерительного преобразовател  5, фиг,4), после чего отмечают на выходе измерительного преобразовател  5 результат У, фиксировани  им мощности Р, , который аналитически описьшают квазилинейной зави симостью вида
У, А,+ К, Р, , (8) где А, - начальньм уровень выходного сигнала У, измерительного преобразовател  5 в момент измерени  мощности Р, ; крутизна в точке А квазиК .
линейного участка Г, Г передаточной характеристики .
Далее ввод т в запоминающее устройство вычислительно-управл ющего блока 6 кодовое значение выходного сигнала У измерительного преобразовател  5, алгоритм аналитического описани  (В) выходного сигнала У, .
Затем ввод т в промежуток между передающей 2 и приемной 3 антеннами исследуемую среду 4 таким образом , что исследуема  область ее- находитс  в минимуме отражени  падающего , зондирующего излучени  мощностью Р, (т.е. в максимуме пропускани ) . Исследуемую среду 4 - - полупроводниковый материал в зтом случае ориентируют по исследуемому кристаллографическому направлению характеризукицемус  веро тным про-5
fO
f5
30
81986
пусканием Т,
падающего, зондирующего излучени  мощностью Р, , после чего фиксируют измерительным преобразователем 5 нормальную составл ющую падающей СВЧ-мощности Р, на выходе ее из исследуемой среды 4, т.е. преломленную мощность
PJ . (9) (точка Б на квазилинейном участке В,В передаточной характеристики измерительного преобразовател  5 (фиг.4).
Далее отмечают на выходе измерительного преобразовател  5 результат Yj фиксировани  им мощности Р , который аналитически описьшают квазилинейной зависимостью вида
К (,) (10)
Аг
К,Р2
V
где А- - начальный уровень выходного сигнала У измерительного преобразовател  5 в момент измерени  мощности Р, ; Kj - крутизна в точке Б квази- линейного участка В, Bj передаточной характеристики.
Затем ввод т в запоминающее устройство вычислительно-управл ющего . блока 6 кодовое значение выходного сигнала У, алгоритм аналитического описани  (10) выходного сигнала У . После зтого по команде вычислительно-управл кнцего блока 6 измен ют мощность излучени  Р СВЧ-генератора 1, падающую на исследуемую среду , на величину (-Р, ) , кратную порогу чувствительности измерительного преобразовател  5 в пределах соотношени 
40
(dP.I ЭеР,
nip
(11)
где
5
je - 2 - 3 - коэффициент пропорциональности ; Рдф - известное значение пороговой чувствительности измерительного преобразовател  5 с учетом внутренних (шумовых ) и сторонних (фоновых) помех. Слабое изменение (+ЛР,) падающей мощности Р, , в пределах соотношени  (11), вызывает на передаточной ха- с рактеристике (фиг.4) квазилинейную вариацию
(, ) БВ (12)
или же квазилинейную вариацию
0
(-T,,(iP, ) BBj (13)
нормальной составл ющей мощности P в пределах соотношени 
Р, Т(Р, + йР, ) , (14) где мойщост PJ - результат преломлени  исследуемой средой 4 падающей на нее мощности (Р, ± 4 Р, ) СВЧ- генвратора 1.
Как видно из графической зависимости (фиг.4) слабое изменение (- UP, ) падающей мощности Р( , в пределах соотношени  (11), вызывает на передаточной характеристике квазилинейную вариацию (13), и так как точка Bj находитс  ближе к значению Г„ф измерительного преобразовател  5 нежели точка В., то естественно, что квазилинейна  вариаци  (13) приводит к возрастанию суммарной относительной погрешности измерительного преобразовател  5.
С учетом указанного при предлагаемом способе используют преимущественно квазилинейную вариацию (12-).
Далее фиксируют датчиком измерительного преобразовател  5 нормальную сост-авл ющую падающей СВЧ-мощ- ности (Р, + д Р, ) на выходе ее из исследуемой среды 4, т.е. преломленную мощность Р - соотношение (14), что соответствует точке В, (фиг.4). Затем отмечают на выходе измерительного преобразовател  5 результат У фиксировани  им мощности Р, который аналитически описьюают квазилинейной зависимостью вида У, A,,+ , А,+ (Р, +лР,)
(15)
где AJ- начальный уровень выходного сигнала измерительного преобразовател  5 в момент измерени  им мощности РЗ. После этого ввод т в запоминающее устройство вычислительно-управл ющего блока 6 кодовое значение выходного сигнала Уд, алгоритм анали- ,тического описани  (15) выходного сигнала Уд . Далее вывод т исследуемую среду 4.
Фиксируют измерительным преобразователем 5 нормальную составл ющую мощности
Р (Р, + ДР, ) (16) излучени  СВЧ-генератора 1, что соответствует точке Fj на квазш1иней- ном участке Г,Г передаточной характеристики измерительного преобразовател  5 (фиг.4), после че го отмечаfO
30
819866
ют на выходе измерительного преобразовател  5 рез ультат У фиксировани  им мощности Р, которьй аналитически описывают квазилинейной зависимостью вида
У4 А4+ К,Р4 К,(Р, + ДР, ) (17) где А - начальный уровень выходного сигнала У измерительного преобразовател  5 в момент измерени  мощности Р . Далее ввод т в запоминающее устройство вычислительно-управл ющего блока 6 кодовое значение выходного сигнала У, алгоритм аналитического 5 описани  (17) выходного сигнала У .
Как показали экспериментальные результаты применени  предлагаемого способа измерени , суммарное врем  проведени  четырех измерительных Тактов (8), (10), (15) и (17), учи- тьша  и врем  вьмислени  значени  Т вычислительно-управл ющим блоком 6, находитс  в пределах 0,6, - 0,8с. Это позвол ет прин ть в пределах квазилинейного участка передаточной характеристики (фиг.4) измерительного преобразовател  5
А AS (18)
в пределах квазилинейного участка Г, Fjj передаточной характеристики (фиг.4) измерительного преобразовател  5
А,- А4 (19)
20
25
Затем ввод т в запоминающее уст- 35 ройство вычислительно-управл ющего блока 6 услови  (18) и (19), после чего вычислительно-управл ющий блок 6 определ ет промежуточные результаты:
У,- У К,Т,Р, ЛР, i
40
У - У( К,Р, Ь Р J
1
К,
к.
45
У
У
уГ
(20) (21)
(22)
50
на оснований введенных в его запоминающее устройство алгоритмов (8) (10), (15) и (17) и условий (18) и (19).
Далее ввод т в запоминающее устройство вычислительно-управл ющего блока 6 алгоритмы
55
к, Ко (1 + йК.) ; (23)
(1 ЬК,) (24)
к - к о
аналитических описаний чувствитель- ностей К, и К2 измерительного преобразовател  5 на квазилинейных
7 и В, В,
участках Г, Г и В, Ку его передаточной характеристики (фиг.4).
Затем вьпшслительно-управл ющий блок 6 на основании введенных в его запоминаюо;ее устройство алгоритмов (23) и (2Д) определ ет промежуточный результат
12
Т
(25)
После этого ввод т в запоминающе устройство вычислительно-управл ющего блока 6 кодовые значени  погрешностей л К, и AKg чувствительности измерительного преобразовател  5 на квазилинейных участках Г, Г и В , В его передаточной характеристики (фиг.4).
Далее вычислительно-управл ющий блок 6 на основании введенных в его запоминающее устройство кодовых значений выходных сигналов У - У измерительного преобразовател  5 и погрешностей К, и К его чувствительности определ ет по алгоритму (25) значение пропускани  Т исследуемой средой 4 квазимонохроматического , зондирующего излучени  Р, СВЧ-генератора 1.
.1
По команде вычислительно-управл щего блока 6 индицируют результат измерени  пропускани  Тл исследуемой среды 4 на цифровом индикаторе 7 после чего по команде вычислительно управл ницего блока 6 устанавливают первоначальное значение Р, мощности СВЧ-генератора 1 и выключают его.
На этом процесс измерени  пропускани  1 исследуемой средой 4 падак цего, квазимонохроматического, зондирующего излучени  Р, СВЧ-генератора 1 оканчивают.
Из соотношени  (25) видно, что пр предлагаемом способе измерений точность определени  пропускани  Т. исследуемой среды 4 зависит лишь от остаточных мультипликативных погрешностей ДК,,йК2 чувствительности измерительного преобразовател  5 на квазилинейных участках (У4--У, ), (УЗ - У) его передаточной характеристики (фиг.4). Это  вл етс  повьш1ени- ем точности измерени  пропускани  исследуемой средой волны электромагнитного излучени  в сравнении с известными способами измерений.
й
1281986
Использование устротЧства по фиг ,2 позвол ет устанавливать стационарно в измерительном канале 9 исследуемую среду 4. При этом результаты (18) с и (17) фиксировани  СВЧ-мощностсй
Р, и Р получают при подключении опорного канала 10 к входу измерительного преобразовател  5, результаты (10) и (15) фиксировани  СВЧ -мощностей PJ и PJ получают при подключении измерительного канала 9 к входу измерительного преобразовател  5. Измерительный 9 и опорный 10 каналы подключают к входу измерительного
преобразовател  5 с помощью управл емого переключател  11, управл емого (по программе) вычислительно- управл ющим блоком 6. В остальном
процесс измерени  пропускани  Тд исследуемой средой 4 с использованием структурной схемь по фиг.2 полностью идентичен процессу измерени  пропускани  Т, исследуемой средой 4 с использованием структурной схемы по
фиг.1.
Недостаток этого варианта устройства (фиг.2) состоит в необходимости нулевой балансировки измерительного 9 и опорного 10 каналов перед установкой исследуемой среды 4 в  чейку
измерительного канала 9. Так как суммарное врем  проведени  четьфех измерительных тактов (8), (10), (15) и (17), учитыва  и врем  вычислени 
значени  f вычислительно-управл ющим блоком 6, находитс  в пределах 0,6-0,8 с, то уход нул  балансировки незначителен в течение времени измерени  и им можно пренебречь.
Использование устройства по фиг.З позвол ет определ ть пропускани  Тл исследуемой средой 4 в оптическом диапазоне длин волн квазимонохроматических излучений управл емого лазера 13.
Процесс измерени  методологически идентичен процессу измерени  с использованием устройства по фиг.1. Датчик измерительного преобразовател  5 фиксирует нормальные составл ющие интенсивностей Л, - 3 потоков зондирующих излучений, при этом результаты У фиксирований интенсивностей 3 аналитически описьшают квазилинейными зависимост ми
У А + КЗ ,
характеризующими квази.аинейные участки В, Bj и Г, Г передаточной харак9I
теристики измерительного преобразовател  5 (фиг.4).
Слабое изменение интенсивности 3 излучени  управл емого лазера 13 провод т по команде вычислительно-уп- ;равл ющего блока бис помощью ослабител  14. При этом так же, как и при использовании устройства по фиг.1, In 1 - VF .
I Mil - fl nip
35 т, (3,± u:i,) 3 ± ,

Claims (1)

  1. (соотношени  (11) и (14)). Формула изобретени 
    Способ определени  коэффициента пропускани  средой волны электромагнитного излучени , основанный на облучении среды квазимокохроматичес- ким излучением и фиксировании измерительным преобразователем плотностей потоков энергий падающей X, и преломленной X,j волн, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности измерени , измен ют плотность энергии падающей волны на величину, кратную порогу чувствитель28198610
    ности измерительного преобразовател  и Б пределах квазилинейного участка его передаточной характеристики, фиксируют измененные плотности пото- 5 ков энергий пр,еломпенной Х и падающей Х волн, а коэффициент пропускани  Т определ ют по формуле
    10 Т
    ( &К,) (у, - yj
    ( 1 + лк) . (у - у7Т
    где ЛК , ЛК
    l а У4
    погрешности чувствительности измерительного преобразовател  на квазипиМейных участках его передаточной характеристики,
    результаты фиксировани  измерительным преобразователем плотностей потоков энергий волн зондирующего
    излучени  Х, Х, . Х соответственно.
    3
    1
    . /
    . //г.
    Ф.
SU833614552A 1983-06-30 1983-06-30 Способ определени коэффициента пропускани средой волны электромагнитного излучени SU1281986A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833614552A SU1281986A1 (ru) 1983-06-30 1983-06-30 Способ определени коэффициента пропускани средой волны электромагнитного излучени

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833614552A SU1281986A1 (ru) 1983-06-30 1983-06-30 Способ определени коэффициента пропускани средой волны электромагнитного излучени

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1281986A1 true SU1281986A1 (ru) 1987-01-07

Family

ID=21071810

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833614552A SU1281986A1 (ru) 1983-06-30 1983-06-30 Способ определени коэффициента пропускани средой волны электромагнитного излучени

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1281986A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5279403A (en) * 1992-07-23 1994-01-18 Crane & Company, Inc. Microwave security thread detector

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Лебедев И.В. Техника и приборы СВЧ. - М.; Высша школа, 1970, Т.1, с. 100. Справочник по теоретическим основам радиоэлектроники./Под ред. Б.Х.Кр ивицкого и В.Н.Дулина. - М.: Энерги , 1977, т.1, с. 220. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5279403A (en) * 1992-07-23 1994-01-18 Crane & Company, Inc. Microwave security thread detector

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3528749A (en) Apparatus for measuring optical density
US5113861A (en) Method for processing signals, particularly for oximetric measurements on living human tissue
US6293136B1 (en) Multiple mode operated surface acoustic wave sensor for temperature compensation
JPH04174369A (ja) 電磁界強度測定装置
IE54061B1 (en) Method and apparatus for determining physical quantities, particulary quantities related to length
SU1281986A1 (ru) Способ определени коэффициента пропускани средой волны электромагнитного излучени
JP2001513893A (ja) 電圧を測定するための方法と装置
US4342514A (en) Means and method for testing laser range finders
US3924444A (en) Ultrasonic calibration device
US5649538A (en) Simulation of bone in ultrasonic assessment apparatus
EP0919913B1 (en) Microcomputer and its access speed control method
KR19980703176A (ko) 광학적 가스 분석기
US3276249A (en) Ultrasonic measuring apparatus
ES2077839T3 (es) Dispositivo de cristal liquido para la calibracion y ensayo de instrumentos opticos.
RU2017085C1 (ru) Способ передачи размера единицы средней мощности или энергии лазерного излучения и устройство для его осуществления
RU2800721C1 (ru) Устройство для измерения энергии лазерных импульсов
Mariner An absolute microwave attenuator
RU2109272C1 (ru) Автоматизированное устройство для измерения параметров материалов
SU1727109A1 (ru) Устройство дл измерени светочувствительности электрофотографического носител записи
US1812030A (en) Acoustometer
SU907461A1 (ru) Автоматический измеритель параметров сверхвысокочастотных трактов
SU1456776A1 (ru) Способ контрол оптических деталей
SU1737366A1 (ru) Способ контрол анизотропии диэлектрической проницаемости диэлектрика
SU1753264A1 (ru) Измеритель диаметров объектов сферической формы
JPS5726743A (en) Ultrasonic flaw detection device