п И Изобретение относитс к измкре-нию деформаций оптическими методами Цель изобретени повышение точ нос-ти измерени за счет увеличе ни оптической разности хода эталонного и рабочего лучей интерферометра. На чертеже показана схема лазерного интерферометра дл измерени динамических деформаций образцов. Лазерный интерферометр дл измер ни динамических деформаций содержит основание 1, установленный на нем источник 2 монохроматического излучени и расположенный по ходу светового пучка светоделитель 3,зер кало А, образующее эталонное плечо интерферометраJ два измерительных штока 5 и 6, подпружиненнь1е в осево направлении, одни торцы которых предназначены дл установки на образец , 7, два,уголковых отражател 8 и 9) закрепленные на торцах измерительных штоков 5 и 6, п ть зеркал 0-i 4j , закрепленные на основании по ходу светового пучка, два из которых 10 и 13 закреплены напротив соответствующих уголковых отражателей 8 и 9, образуюшик рабочее плечо интерферометраJ коллиматор 15 диафрагму 16, фотоприемник М и соеди ненную с ним электронную схему 18 обработки. Устройство работает следующим образом. Световой пучок монохроматичееско го излучени от источника 2 направл етс на светоделитель 3,, где раздел етс на две части. Часть излуче ни направл етс на неподвижное зер кало 4;, закрепленное на си;новании 1 которое образует эталонное ин терферометрад отражаетс от него и через коллиматор 15, диафрагму 16 падает на фотоприемник 17, где взаимодействует с другой частью излуче ни , котора проходит через све то-двлитель 3, падает на уголковый отр жатель 8j закрепленный на одном измерительном штоке 55 отражаетс от HerOj с помощью зеркал направл етс на уголковый отражатель 9, закрепленный на торце другого из мерительного штока 6 и, отража сь о зеркала 14, неподвижно закрепленного на основании 1. проходит по тому же оптическому пути обратно от светоделител 3, отражаетс от него и через коллиматор 15 и диафрагму 16 попадает на фотоприемник 7, вз 5 имодействует с пучком эталонного изучени и образует интерференционную картину. При динамических деформаци х образца 7 измен етс рассто ние между уголковыми отражател ми 8 и 9,закрепленными на торцах измерительных штоков 5 и 6, что зызьшает движение интерференционной картины на фотоприемнике 17, который регистрирует эти изменени с помощью электронной измерительной схемы i8. Движение недеформированного объекта не вызывает изменени интерференционной картины , так как уголковые отражатели 8 и 9 смещаютс и компенсируют смещение друг друга. Предлагаемое устройство испытывали с применением Не-Ке лазера (А 0,63 мкм). Объектом измере ш служила труба, в которой резко мен ли напор жидкости. Сигналы фотоприемника регистрировали запоминающим осциллографом ,, Оптические путиэталонного и рабочего лучей до начала измерений устанавлив.ши одинаковыми с точностью до 1 мм. Из услови максимума интерференции дл предлагаемого устройства , где i - пор док интерференции, следует, что ./4, а смена максимума на минимум происходит при . Учитыва изменение интенсивности в интерференционной полосе, можно измер ть деформацию д нм. При временном разрещении регистрирующей аппаратуры Т 10® с мсэжно измер ть скорость деформации до V --г: 8 м/с. Частота вибраций объекта, при которой может работать интерферометр, должна быть меньще резонансной частоты колебаний измерительных штоков, определ емой их массой и упругими свойствами пружины (до 10 кГц), Допустимые амплитуды вибрации объекта ограничены длиной свободного хода измерительш: 1х штоков, а максимальна величина измер емой деформации ограничена длиной когерентности излучени лазера. Дл достижени наибольшей видности. интерференционной картины эталонный и рабочий лучи должны иметь одинаковую пол ризацию и интенсивность. Формула изобретени Лазерный интерферометр дл измерени динамических деформаций образ3127
цов, содержащий основание, установленные на нем источник монохроматического излучени и расположенный по ходу светового пучка светоделитель , зеркало, образующее эталонное плечо интерферометра, три зеркала, образующие рабочее плечоинтерферометра и неподвижно закрепленные на основании по ходу светового пучка, два подпружиненных в осевом направлении измерительных штока, одни торцы которых предназначены дл установки на образец, два отражательных зле5 ,4
мента, закрепленных на других торцах каждого измерительного штока, коллиматор , диафрагму, фотоприемник и соединенную с ним электронную схему обработки, отличающийс тем, что, с целью повьщтени точности, каждый отражательньга элемент выполнен в виде уголкового отражател ,а интерферометр снабжен двум зеркалами , каждое из которых закреплено на основании по ходу светового пучка перед соответствующим уголковым отражателем .