SU1264097A1 - Устройство дл измерени длины волны сигнала - Google Patents

Устройство дл измерени длины волны сигнала Download PDF

Info

Publication number
SU1264097A1
SU1264097A1 SU853912176A SU3912176A SU1264097A1 SU 1264097 A1 SU1264097 A1 SU 1264097A1 SU 853912176 A SU853912176 A SU 853912176A SU 3912176 A SU3912176 A SU 3912176A SU 1264097 A1 SU1264097 A1 SU 1264097A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
laser
wavelength
frequency
mirror
acousto
Prior art date
Application number
SU853912176A
Other languages
English (en)
Inventor
Александр Алексеевич Головков
Сергей Викторович Кузнецов
Алексей Алексеевич Макаров
Александр Петрович Осипов
Андрей Владимирович Павлов
Original Assignee
Ленинградский Ордена Ленина Электротехнический Институт Им.В.И.Ульянова (Ленина)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ленинградский Ордена Ленина Электротехнический Институт Им.В.И.Ульянова (Ленина) filed Critical Ленинградский Ордена Ленина Электротехнический Институт Им.В.И.Ульянова (Ленина)
Priority to SU853912176A priority Critical patent/SU1264097A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1264097A1 publication Critical patent/SU1264097A1/ru

Links

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  измерени  длины волны сигнала . Целью изобретени   вл етс  повышение точности измерени  при расширении функциональных возможностей, в частности обеспечение возможности измерени  длины волны СВЧ-сигнала. Дл  достижени  поставленной цели в устройство введен акустооцтический дефлектор 8, расположенный на оптической оси второго лазера 4 и оптически св занный через зеркало 9 оптической св зи лазеров с входом фотоприем1шка 10, а подвижное зеркало второго лазера укреплено нЪ обратной стороне подвижного зеркала зталонного лазера 1 с активным веществом 2. На чертеже также показаны  чейка 3 поглощени , активное вещество 5второго лазера, пьезопреобразователь 6,двухстороннее ё зеркало 7, усштитель 11, генератор 12 пилообразного напр жени , осциллограф 13, счетное устройство со стандартом 14 частоты, электронно-счетный частотомер 15. Активна  среда второго лазера выбираетс  идентичной акlagni тивной среде эталонного лазера. 1 ил. N: о ч

Description

Изобретение отнЬсит-с  к измерительной технике и может быть использовано дл  измерени  длины волны сигнала .
Цель изобретени  - повышение точности измерени  при одновременном расширении функциональных возможностей устройства, т.е. обеспечени  возможности измерени  длины волны СВЧсигна-ла ..
На чертеже изображена схема устройства дл  измерени  длины волны СВЧ-сигналов.
Устройство содержит эталонный 1 с активным веществом 2,  чейкой 3 поглощени , второй лазер 4 с aктивны t веществом 5 пьезопреобразователь 6, конструктивно св занный .с двухсторонним зеркалом 7,- общим дл  обоих лазеров., aкycтooптIiчecкий дефлектор 8, оптически св занный со вторым лазером, зерк,ало 9 оптической св зи лазеров, фотоприемник 10, оптически св занный с обоими лазерами через зеркало 9, усилитель 11, подключенный к выходу фотоприемника 10, генератор 12 пилообразного напр жени , соединенный с пьезопреобразователем 6 и разверткой осциллографа 13, другой вход которого соединен с выходом усилител  11, счетное устройство, включающее стандарт 14 частоты, подключенный к электронно-счетному частотомеру 15, второй вход которого соединен с выходом усилител  11.
Устройство работает следуюнц-гм образом .
При отсутствии напр жени  на пьезопреобразователе 6 частоты излуче ш  лазеров 1 и 4 равны. Излучение лазера 1, имеющего  чейку 3 поглощени , через зеркало 9 оптической св зи подаетс  на фотоприемник 10, усилитель 11 и устройство измерени  частоты , состо щее из осциллографа 13, стандарта 14 частоты и электронно- . счетного частотомера 15. Излучение лазера 4 через акустооптический.дефлектор 8 и систему зеркал также пода e-lcH на вход фотоприемника. При подаче на пьезопреобразователь пилообразного напр жени  с генератора 12 частота излучени  лазеров линейно измен етс  вследствие изменени  оптической длины резонаторов, причем закон изменени  частоты лазеров 1 и 4 противоположен . Это достигаетс  тем. что зеркала резонаторов лазеров 1 и
4 конструктивно объединены и жестко св заны с пьезопреобразователем.
В отсутствие радиосигнала на электрическом входе акустооптического дефлектора 8 на экране осциллографа 13, напр жением развертки которого  вл етс  пилообразное напр жение генератора 12, а сигналом на входе усилител  вертикального отклонени   вл етс  выходное напр жение усилител  11, регистрируютс  пики интенсивности , обусловленные насьш;енным поглощением излучени  лазера 1. Кроме того, индицируетс  метка нулевых биений частот генерации лазеров, соответствутоща  моменту времени, когда рабочие частоты лазеров равны.
Измен   вел1тчину пилообразного напр жени  па входе пьезопреобразовател , добиваютс  того, чтобы на экра . не осциллографа осталаС1з метка пулевых биений и два ближайших к ней максимума насыщенного поглощени . Частотпый интервал между максимумами л насьщенного поглощени  известен с высокой точностью.
Перекрыва  на врем  излучени  лазера 4, получают на выходе усилител  два пика, которые осуществл ют запуск и остановку электронно-счетного частотомера. Производ т калибровку устройства (известному частотному интервалу дкц став т в соответствие число N,. счетных импульсов стандарта частоты). После зтого вновь направл ют излучение лазера 4 на фотоприемник . В этом случае импульсами запуск и остановки частотомера  вл ютс  калибровочный импульс и метка нулевых биений. Производ т отсчет по электронно-счетному частотомеру числа N импульсов соответствующих метке нулевых биений.
Частотный интервал AV равен
.Р.
Ыц
NV.
Так как . заведомо известна и определ етс  свойствами поглощающей среды, то нетрудно вычислить значение .
Затем на входакустооптического дефлектора подают исследуемый СВЧсигнал . -Частота изл чени  лазера 4 после прохождени  света через акустсоптический дефлектор будет отличатьс  от исходной, причем

Claims (1)

  1. i,p,, где 1/2- собственна  частота лазера 4 PS частота СВЧ-радиосигнала. В результате метка нулевых -биений сместитс  на величину, пропорциональ ную 1/5 , Производ т аналогичное измерение числа Ny импульсов дл  смещенной метки нулевых биений. По результатам двух указанных измерений производитс  вычисление частоты СВЧсигнала , .),, -fA., п . „;, Затем, пользу сь значением скорос ти света, производ т вычисление длины волны СВЧ-сигнала. Если устройство работает в режда1е измерени  характеристик генерации ак тивной среды второго лазера 4, то оно обеспечивает в два раза более вы сокую точность измерени  длины волны исследуемого лазера 4, чем устройство-прототип . При 5том на акустооптический дефлектдр 8 радиосигнал не подаетс . Если устройство работает в режиме измерени  длины волны СВЧ-сигнала, что осуществл етс  за счет сдвига частоты второго лазера 4 в акустооптическом дефлекторе 8, то очевидно, что оно обеспечивает такую же точ .ность измерени  длины волны СВЧ-сиг|нала , как и в режиме измерени  длины ;волны лазера. Поскольку длина волны лазера много меньше длины волны СВЧсигнала , то предлагаемое устройство обеспечивает точность измерени  длины волны радиосигналов, недостгшимую в радиотехнических измерител х частоты . В этом режиме на акустооптический дефлектор 8 подаетс  СВЧ-сигнал, а активна  среда второго лазера 4 выбираетс  идентичной активной среде эталон-ного лазера 1 . Формула изобретени  Устройство дл  измерени  длины волны сигнала, содержащее эталонный лазер с поглощающей средой, подвижное зеркало которого укреплено на пьезокерамическом преобразователе, фотоприемник , оптически св занный с эталонным лазером через зеркало оптической св зи и электрически св занный через усилитель с электронно-счетным частотомером и осцютлографом, стандарт частоты, подключенный к частотомеру , второй лазер и генератор пило- образного напр женп , соединенный с пьезокерамическим преобразователем и осциллографом, отличающее- с   тем, что, с целью повышени  точности измерени  при одновременном . расширении функциональных возможностей , в устройство введен акустоопти- ческий дефлектор, расположенный на оптической оси второго лазера и оптически св занный через зеркало оптической св зи.с входом фотоприемника, причем электрический вход акустооптического дефлектора  вл етс  входом исследуемого СБЧ-сигнала, а подвижное зеркало второго лазера укреплено на обратной стороне подвижного зеркала эталонного лазера.
SU853912176A 1985-06-17 1985-06-17 Устройство дл измерени длины волны сигнала SU1264097A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853912176A SU1264097A1 (ru) 1985-06-17 1985-06-17 Устройство дл измерени длины волны сигнала

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853912176A SU1264097A1 (ru) 1985-06-17 1985-06-17 Устройство дл измерени длины волны сигнала

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1264097A1 true SU1264097A1 (ru) 1986-10-15

Family

ID=21183188

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853912176A SU1264097A1 (ru) 1985-06-17 1985-06-17 Устройство дл измерени длины волны сигнала

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1264097A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114453734A (zh) * 2021-12-24 2022-05-10 深圳市大族数控科技股份有限公司 板材激光表面粗化处理装置及方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 890262, кл. G 01 R 23/16, 1981. Авторское свидетельство СССР № 757090, кл. Н 01 S 3/10, 1979. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114453734A (zh) * 2021-12-24 2022-05-10 深圳市大族数控科技股份有限公司 板材激光表面粗化处理装置及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Barker et al. Interferometer technique for measuring the dynamic mechanical properties of materials
US5033826A (en) High temporal resolution optical instrument
US4571085A (en) Reflectometer based on optical cavity decay time
CN102780153B (zh) 一种基于声光偏转器的声光扫频激光器
CN111796297B (zh) 基于铒玻璃激光器的并行调频连续波激光测距装置
CN113534104A (zh) 基于傅里叶域锁模光纤激光器的调频连续波激光成像系统
SU1264097A1 (ru) Устройство дл измерени длины волны сигнала
CN208385830U (zh) 可调谐单纵模光纤激光器、气体浓度检测装置
CN100386930C (zh) 能输出光强稳定的两垂直偏振光的HeNe激光器
JP2923770B2 (ja) 光ファイバー構成要素での反射損失を測定する方法及び装置
US4624573A (en) Total optical loss measurement device
WO1991010121A1 (en) Optical time domain relfectometer
CN215894939U (zh) 基于傅里叶域锁模光纤激光器的调频连续波激光成像系统
JPH0886816A (ja) 電圧測定装置
Cruz et al. An all-fiber RF modulation technique: frequency response calibration of optical detectors
SU1122088A1 (ru) Устройство дл измерени длин волн лазеров
SU877325A1 (ru) Интерференционный измеритель перемещений
TW201043942A (en) System and method for measuring dispersion
JPH0522216B2 (ru)
RU2029251C1 (ru) Устройство для измерения амплитуд малых периодических линейных перемещений
SU1046713A1 (ru) Устройство дл измерени напр женности импульсного электрического пол
SU595635A1 (ru) Устройство дл измерени параметров световых импульсов
JPS58175881A (ja) 半導体レ−ザの発振波長安定化装置
SU1281949A1 (ru) Устройство дл измерени хроматической дисперсии оптического волокна
SU1458707A1 (ru) Уctpoйctbo для изmepehия amплиtуд maлыx пepиoдичeckиx лиheйhыx пepemeщehий