SU1260697A1 - Эллипсометр дл измерени толщины поверхностных слоев и оптических свойств образцов - Google Patents

Эллипсометр дл измерени толщины поверхностных слоев и оптических свойств образцов Download PDF

Info

Publication number
SU1260697A1
SU1260697A1 SU843766963A SU3766963A SU1260697A1 SU 1260697 A1 SU1260697 A1 SU 1260697A1 SU 843766963 A SU843766963 A SU 843766963A SU 3766963 A SU3766963 A SU 3766963A SU 1260697 A1 SU1260697 A1 SU 1260697A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
cuvette
optical
tube
ellipsometer
optical properties
Prior art date
Application number
SU843766963A
Other languages
English (en)
Inventor
Анатолий Селиверстович Мардежов
Тахир Хасанов
Original Assignee
Институт Физики Полупроводников Со Ан Ссср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Физики Полупроводников Со Ан Ссср filed Critical Институт Физики Полупроводников Со Ан Ссср
Priority to SU843766963A priority Critical patent/SU1260697A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1260697A1 publication Critical patent/SU1260697A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике, св занной с оптическими методами из.мерени  оптических свойств изотропных и анизотропных ОДНОС.ЮИНЫХ и МНОГ()СЛО11ных отражающих систе.м. Цель 113()О) ни  - повышение удобства в работе и возможность проведени  измерений на любых изотропных и анизотропных от|К1 1 аю1цих системах при любых бол1)111их уг.чах падени  вплоть до 90°. CyniHOCTb изобретени  зак.чю- чаетс  в том, что в э. 1.1инсо% стре л. 1  li.iMC- рени  толщины и оптических cBoiicr-ri ойрал цов, содержаигем тубус падающс ciier;; и тубус отраженного света, устанои.юипыо под угло.м дру1 к дру1 у, и кювет дл  размещени  образца, оптические окна расположены на торцах тубх сон. o6| iaiucii ibi ix кювете , тубусы герметично iipiiKfieih ioiib: к NUii - ко гофрировапныл стенкам кюнс Т,, д/ю которой жестко зак| )ег1,1е;1о на про.тмотном сто.1пке. I H.i. ю К5 С5 О 05 со

Description

Изобретение относит(;  к измерительной технике, св занной с оптическими методами измерени  оптических свойств изотропных и анизотропных однослойных и многослойных отражающих систем.
Целью изобретени   вл етс  расширение области применени  на проведение иммерсионных измерений при больших углах падени  света.
На чертеже изображена принципиальна  схема эллипсометра.
Эллипсометр содержит тубус 1 падающего света и тубус 2 отраженного света, крыщ- ки 3 и 4, полые трубки 5 и 6, вставленные в направл ющие втулки 7 и 8 каждого из тубусов , оптические окна 9 и 10 из плавленного кварца прикрепленные к торцу каждого тубуса, м гко гофрированную кювету 11 с дном 12 дл  размещени  образца 13. Кювета расположена на предметном столике 14 и жестко с ним соединена. На дне кюветы имеетс  отверстие со штуцером, который соединен с резиновым резервуаром 15 с помощью щланга 16, причем последний может пережиматьс  зажимом 17. В резервуаре 15 помещена иммерсионна  жидкость 18. Крыщ- ка 19 (с отводной трубкой 20 и зажимом 21 на ней) закрывает кювету при работе с ток- сичными жидкост ми.
Эллипсометр работает следующим образом .
Во врем  измерений на воздухе иммерсионна  жидкость 18 находитс  в резервуа- ре 15, а щланг 16 пережат зажимом 17. При необходимости иммерсионных измерений зажим 17 снимают, жидкость из резер
вуара 15 вытесн ют в кювету таким образом, чтобы ее уровень находилс  выще оптических окон 9 и 10. Затем измерение проводитс  по обычной методике как на воздухе, что обеспечиваетс  м гко гофрированными стенками кюветы.
При увеличении угла падени  гофрированные боковые стенки кюветы сжимаютс , в противоположном случае - разжимаютс . Избыток воздуха под крыщкой 19 отводитс  с помощью отводной трубки 20 при открытом положении зажима 21. Описанна  процедура в любой жидкости занимает примерно такое же врем , как и на воздухе. Кроме того, отсутствие ограничени  на диаметр кюветы обеспечивает удобную настройку образца к падающему и отраженному световому пучку.

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Эллипсометр дл  измерени  толщины поверхностных слоев и оптических свойств образцов, содержащий тубус падающего света и тубус отраженного света, установленные под углом друг к другу, кювету дл  размещени  образцов, расположенные на торцах тубусов, обращенных к кювете, оптические окна, предметный столик, отличающийс  тем, что, с целью обеспечени  применени  дл  иммерсионных измерений при больщих углах падени  света, стенки кюветы выполнены м гко гофрированными, тубусы герметично прикреплены к ним, а дно кюветы жестко закреплено на предметном столике.
    12
    Составитель В. Яков.лев
    Редактор Н. ГорватТехред И. ВересКорректор Т. Колб
    Заказ f)216/37Тираж 778Подписное
    ВНИИПИ Государственного комитета СССР
    по делам изобретений и открытий
    113035, Москва, Ж-35, Раушска  наб., д. 4/5
    Филиал ППП «Патент, г. Ужгород, ул. Проектна , 4
SU843766963A 1984-07-04 1984-07-04 Эллипсометр дл измерени толщины поверхностных слоев и оптических свойств образцов SU1260697A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843766963A SU1260697A1 (ru) 1984-07-04 1984-07-04 Эллипсометр дл измерени толщины поверхностных слоев и оптических свойств образцов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843766963A SU1260697A1 (ru) 1984-07-04 1984-07-04 Эллипсометр дл измерени толщины поверхностных слоев и оптических свойств образцов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1260697A1 true SU1260697A1 (ru) 1986-09-30

Family

ID=21129172

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843766963A SU1260697A1 (ru) 1984-07-04 1984-07-04 Эллипсометр дл измерени толщины поверхностных слоев и оптических свойств образцов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1260697A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6734967B1 (en) 1995-01-19 2004-05-11 Kla-Tencor Technologies Corporation Focused beam spectroscopic ellipsometry method and system

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 947641, кл. G 01 В 11/06, 1982. М. Gauch, I. Quentel. Surf. Sci, v. 108, № 3, p. 617-624, 1981. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6734967B1 (en) 1995-01-19 2004-05-11 Kla-Tencor Technologies Corporation Focused beam spectroscopic ellipsometry method and system

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5599503A (en) Detector cell
US6490034B1 (en) Micromechanical transmission measuring cell
US4595833A (en) Multiple internal reflection cell optical system for use in infrared spectrophotometry of liquid and fluidized samples
EP0108524B1 (en) Fluorometer
US4909990A (en) Immunoassay apparatus
US5051551A (en) Immersion probe for infrared internal reflectance spectroscopy
US5172182A (en) Internal reflectance element with very small sample contacting surface
US6498353B2 (en) Microfluidic devices and systems incorporating integrated optical elements
EP0762119A1 (en) Photometric flow apparatus for small sample volumes
US5152962A (en) Immunoassay apparatus
JPS6279333A (ja) 免疫検定装置
WO2003073069A1 (en) An opaque additive to block stray light in teflon af light-guiding flowcells
US4572672A (en) Surface coating characterization method and apparatus
US20050219539A1 (en) Microchemical system
JPH04265844A (ja) 光学プローブ
ATE126454T1 (de) Adapter zum halten einer mikropipette.
US20070081159A1 (en) Apparatus and methods for evaluating an optical property of a liquid sample
US5854863A (en) Surface treatment and light injection method and apparatus
US3431424A (en) Optical fluid sampling device
EP0861432B1 (en) A photometric measuring system and a holder for such a system
SU1260697A1 (ru) Эллипсометр дл измерени толщины поверхностных слоев и оптических свойств образцов
CA1134729A (en) Apparatus for colorimetric determination
US5039224A (en) Self-referencing remote optical probe
US4115011A (en) Cuvette configured for photoanalysis use
US5923431A (en) Spectroscopic helical separator and fluid sample interface