SU1260697A1 - Эллипсометр дл измерени толщины поверхностных слоев и оптических свойств образцов - Google Patents
Эллипсометр дл измерени толщины поверхностных слоев и оптических свойств образцов Download PDFInfo
- Publication number
- SU1260697A1 SU1260697A1 SU843766963A SU3766963A SU1260697A1 SU 1260697 A1 SU1260697 A1 SU 1260697A1 SU 843766963 A SU843766963 A SU 843766963A SU 3766963 A SU3766963 A SU 3766963A SU 1260697 A1 SU1260697 A1 SU 1260697A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- cuvette
- optical
- tube
- ellipsometer
- optical properties
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике, св занной с оптическими методами из.мерени оптических свойств изотропных и анизотропных ОДНОС.ЮИНЫХ и МНОГ()СЛО11ных отражающих систе.м. Цель 113()О) ни - повышение удобства в работе и возможность проведени измерений на любых изотропных и анизотропных от|К1 1 аю1цих системах при любых бол1)111их уг.чах падени вплоть до 90°. CyniHOCTb изобретени зак.чю- чаетс в том, что в э. 1.1инсо% стре л. 1 li.iMC- рени толщины и оптических cBoiicr-ri ойрал цов, содержаигем тубус падающс ciier;; и тубус отраженного света, устанои.юипыо под угло.м дру1 к дру1 у, и кювет дл размещени образца, оптические окна расположены на торцах тубх сон. o6| iaiucii ibi ix кювете , тубусы герметично iipiiKfieih ioiib: к NUii - ко гофрировапныл стенкам кюнс Т,, д/ю которой жестко зак| )ег1,1е;1о на про.тмотном сто.1пке. I H.i. ю К5 С5 О 05 со
Description
Изобретение относит(; к измерительной технике, св занной с оптическими методами измерени оптических свойств изотропных и анизотропных однослойных и многослойных отражающих систем.
Целью изобретени вл етс расширение области применени на проведение иммерсионных измерений при больших углах падени света.
На чертеже изображена принципиальна схема эллипсометра.
Эллипсометр содержит тубус 1 падающего света и тубус 2 отраженного света, крыщ- ки 3 и 4, полые трубки 5 и 6, вставленные в направл ющие втулки 7 и 8 каждого из тубусов , оптические окна 9 и 10 из плавленного кварца прикрепленные к торцу каждого тубуса, м гко гофрированную кювету 11 с дном 12 дл размещени образца 13. Кювета расположена на предметном столике 14 и жестко с ним соединена. На дне кюветы имеетс отверстие со штуцером, который соединен с резиновым резервуаром 15 с помощью щланга 16, причем последний может пережиматьс зажимом 17. В резервуаре 15 помещена иммерсионна жидкость 18. Крыщ- ка 19 (с отводной трубкой 20 и зажимом 21 на ней) закрывает кювету при работе с ток- сичными жидкост ми.
Эллипсометр работает следующим образом .
Во врем измерений на воздухе иммерсионна жидкость 18 находитс в резервуа- ре 15, а щланг 16 пережат зажимом 17. При необходимости иммерсионных измерений зажим 17 снимают, жидкость из резер
вуара 15 вытесн ют в кювету таким образом, чтобы ее уровень находилс выще оптических окон 9 и 10. Затем измерение проводитс по обычной методике как на воздухе, что обеспечиваетс м гко гофрированными стенками кюветы.
При увеличении угла падени гофрированные боковые стенки кюветы сжимаютс , в противоположном случае - разжимаютс . Избыток воздуха под крыщкой 19 отводитс с помощью отводной трубки 20 при открытом положении зажима 21. Описанна процедура в любой жидкости занимает примерно такое же врем , как и на воздухе. Кроме того, отсутствие ограничени на диаметр кюветы обеспечивает удобную настройку образца к падающему и отраженному световому пучку.
Claims (1)
- Формула изобретениЭллипсометр дл измерени толщины поверхностных слоев и оптических свойств образцов, содержащий тубус падающего света и тубус отраженного света, установленные под углом друг к другу, кювету дл размещени образцов, расположенные на торцах тубусов, обращенных к кювете, оптические окна, предметный столик, отличающийс тем, что, с целью обеспечени применени дл иммерсионных измерений при больщих углах падени света, стенки кюветы выполнены м гко гофрированными, тубусы герметично прикреплены к ним, а дно кюветы жестко закреплено на предметном столике.12Составитель В. Яков.левРедактор Н. ГорватТехред И. ВересКорректор Т. КолбЗаказ f)216/37Тираж 778ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж-35, Раушска наб., д. 4/5Филиал ППП «Патент, г. Ужгород, ул. Проектна , 4
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843766963A SU1260697A1 (ru) | 1984-07-04 | 1984-07-04 | Эллипсометр дл измерени толщины поверхностных слоев и оптических свойств образцов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843766963A SU1260697A1 (ru) | 1984-07-04 | 1984-07-04 | Эллипсометр дл измерени толщины поверхностных слоев и оптических свойств образцов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1260697A1 true SU1260697A1 (ru) | 1986-09-30 |
Family
ID=21129172
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843766963A SU1260697A1 (ru) | 1984-07-04 | 1984-07-04 | Эллипсометр дл измерени толщины поверхностных слоев и оптических свойств образцов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1260697A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6734967B1 (en) | 1995-01-19 | 2004-05-11 | Kla-Tencor Technologies Corporation | Focused beam spectroscopic ellipsometry method and system |
-
1984
- 1984-07-04 SU SU843766963A patent/SU1260697A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 947641, кл. G 01 В 11/06, 1982. М. Gauch, I. Quentel. Surf. Sci, v. 108, № 3, p. 617-624, 1981. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6734967B1 (en) | 1995-01-19 | 2004-05-11 | Kla-Tencor Technologies Corporation | Focused beam spectroscopic ellipsometry method and system |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5599503A (en) | Detector cell | |
US6490034B1 (en) | Micromechanical transmission measuring cell | |
US4595833A (en) | Multiple internal reflection cell optical system for use in infrared spectrophotometry of liquid and fluidized samples | |
EP0108524B1 (en) | Fluorometer | |
US4909990A (en) | Immunoassay apparatus | |
US5051551A (en) | Immersion probe for infrared internal reflectance spectroscopy | |
US5172182A (en) | Internal reflectance element with very small sample contacting surface | |
US6498353B2 (en) | Microfluidic devices and systems incorporating integrated optical elements | |
EP0762119A1 (en) | Photometric flow apparatus for small sample volumes | |
US5152962A (en) | Immunoassay apparatus | |
JPS6279333A (ja) | 免疫検定装置 | |
WO2003073069A1 (en) | An opaque additive to block stray light in teflon af light-guiding flowcells | |
US4572672A (en) | Surface coating characterization method and apparatus | |
US20050219539A1 (en) | Microchemical system | |
JPH04265844A (ja) | 光学プローブ | |
ATE126454T1 (de) | Adapter zum halten einer mikropipette. | |
US20070081159A1 (en) | Apparatus and methods for evaluating an optical property of a liquid sample | |
US5854863A (en) | Surface treatment and light injection method and apparatus | |
US3431424A (en) | Optical fluid sampling device | |
EP0861432B1 (en) | A photometric measuring system and a holder for such a system | |
SU1260697A1 (ru) | Эллипсометр дл измерени толщины поверхностных слоев и оптических свойств образцов | |
CA1134729A (en) | Apparatus for colorimetric determination | |
US5039224A (en) | Self-referencing remote optical probe | |
US4115011A (en) | Cuvette configured for photoanalysis use | |
US5923431A (en) | Spectroscopic helical separator and fluid sample interface |