SU1241532A1 - Contact unit - Google Patents
Contact unit Download PDFInfo
- Publication number
- SU1241532A1 SU1241532A1 SU843801093A SU3801093A SU1241532A1 SU 1241532 A1 SU1241532 A1 SU 1241532A1 SU 843801093 A SU843801093 A SU 843801093A SU 3801093 A SU3801093 A SU 3801093A SU 1241532 A1 SU1241532 A1 SU 1241532A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- spring
- contact
- reduce
- contacts
- axis
- Prior art date
Links
Abstract
- Изобретение относитс к устройствам дл подключени к контрольно- испытательной аппаратуре плат печатного контакта с шагом контактных fug. / площадок 1,25 мм и менее. Цель ретени уменьшение наружного диаметра узла и уменьшение его электрического сопротивлени при сохранении величины рабочего хода и усили контактировани . С помощью прижима 11 прикладываетс усилие Р, и площадки 8 соприкасаютс с контактами 1, Последние осаживают пружину 6, увеличива контактное усилие. Пружина 6 выполнена из проволоки овального или пр моугольного со скругленными кромками сечени . При этом больша ось сечени проволоки параллельна оси пружины. 2 ил. о (Л- The invention relates to devices for connecting printed circuit boards with contact fug pitch to the test equipment. / pads 1.25 mm or less. The purpose of the retention is to reduce the outer diameter of the node and reduce its electrical resistance while maintaining the magnitude of the working stroke and contact force. With the help of a clamp 11, a force P is applied, and the pads 8 are in contact with the contacts 1, the latter settle the spring 6, increasing the contact force. The spring 6 is made of oval or rectangular wire with rounded section edges. In this case, the major axis of the wire section is parallel to the axis of the spring. 2 Il. o (l
Description
1one
Изобретение относитс к электротехнике , в частности к устройствам дл подключени к контрольно-испытательной аппаратуре плат печатного контакта с шагом контактных площадок 1,25 мм и менее.The invention relates to electrical engineering, in particular, to devices for connecting printed contact boards with a pitch of contact pads of 1.25 mm or less to test equipment.
Цель изобретени - уменьшение наружного диаметра узла и уменьшение его электрического сопротивлени при сохранении величины рабочего хода и усили контактировани .The purpose of the invention is to reduce the outer diameter of the assembly and reduce its electrical resistance while maintaining the magnitude of the working stroke and contact force.
На фиг.1 изображен контактный узел, продольный осевой разрез; на фиг.2 - то же, второй вариант выполнени ,, Figure 1 shows the contact node, a longitudinal axial section; 2, the same, second embodiment,
Узел состоит из верхнего 1 и нижнего 2 рабочих контактов, установленных в трубчатом корпусе 3, выполненном с сужени ми 4 и -5, которые позвол ют контактам 1 и 2свободно пе- ремещатьс вдоль оси корпуса, но исключают их выпаде.ние под действием пружины 6, установленной между этими контактами с осевым нат гом. Пружина 6 вг полнена из проволоки овального или пр моугольного со скругленными кромками сечени . Контактные узлы S сборе установлены в ступенчатые отверсти корпуса 7 с возможностью взаимодействи с контактными площадками 8 печатной платы 9. Базирование про- вер емой плате 9 относительно контактов 1 обеспечиваетс ловител ми 10, а прижатие плиты к контактам - прижимам 11,The assembly consists of the upper 1 and lower 2 working contacts installed in the tubular body 3, made with narrowing 4 and -5, which allow the contacts 1 and 2 to move freely along the axis of the body, but exclude their loss. installed between these pins with axial tension. The spring 6 vg is made of oval or rectangular wire with rounded section edges. The contact assemblies S assembly are installed in the stepped holes of the housing 7 with the possibility of interaction with the contact pads 8 of the printed circuit board 9. Basing of the tested board 9 relative to contacts 1 is provided by catchers 10, and pressing the plate to the contacts - clamps 11,
Во втором варианте контакты 1 и 2 а также пружина 6 установлены не- по средственно в отверсти х диэле кт- рического корпура.In the second variant, contacts 1 and 2 as well as spring 6 are installed directly in the holes of the dielectric housing.
Контактный узел работает следую- щим образом, .Contact node works as follows,.
32I32I
.Подлежаща -контролю плата 9 устанавливаетс над контактами 1 и с помощью ловителей 10 производитс совмещение по координатам печатных площадок 8 с со9тветствуюц1ими контактами 1. Затем к плате 9 с помощью прижима 11 прикладывают усилие Р, плата опускаетс , и площадки 8 со- прикасакзтс с контактами 1, При дальнейшем опускании прижима и штаты контакт 1 осаживает пружину 6, увеличива контактное усилие от начального Р,| до конечного Р, Благодар гфедварительному нат гу пружины 6, достаточного.дл электрического соединени , величина контактного усили достигаетс у;ке в самом начале перемещени контакта 1, После этих операций провод т электрическую проверку печатной платы.Under the control, the board 9 is installed above the contacts 1 and with the help of catchers 10, the coordinates of the printed areas 8 are aligned with the corresponding contacts 1. Then a force P is applied to the board 9 using the clamp 11, and the platform 8 contacts with the contacts 1, Upon further lowering of the clamp and the states, contact 1 sets the spring 6 apart, increasing the contact force from the initial P, | to the final P, Due to the tension of the spring 6, sufficient for the electrical connection, the magnitude of the contact force is reached y; at the very beginning of the movement of the contact 1, After these operations, an electrical check of the printed circuit board is performed.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843801093A SU1241532A1 (en) | 1984-10-17 | 1984-10-17 | Contact unit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843801093A SU1241532A1 (en) | 1984-10-17 | 1984-10-17 | Contact unit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1241532A1 true SU1241532A1 (en) | 1986-06-30 |
Family
ID=21142432
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843801093A SU1241532A1 (en) | 1984-10-17 | 1984-10-17 | Contact unit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1241532A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5500901A (en) * | 1992-02-20 | 1996-03-19 | Resistance Technology, Inc. | Frequency response adjusting device |
-
1984
- 1984-10-17 SU SU843801093A patent/SU1241532A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 875509, кл. Н 01 R 13/02, 1980. о Авторское свидетельство СССР № 425249, кл. Н 01 R 13/02, 1971. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5500901A (en) * | 1992-02-20 | 1996-03-19 | Resistance Technology, Inc. | Frequency response adjusting device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69734815T2 (en) | CASE NEEDLE BED TEST DEVICE FOR FITTED PRINTED CIRCUITS | |
US4730159A (en) | Programmable bed-of-nails test access jigs | |
US4686464A (en) | Buckling beam test probe assembly | |
ITMI960355A1 (en) | DEVICE FOR CONVERSION OF THE GRID OF TEST POINTS OF A MACHINE FOR THE ELECTRICAL TEST OF UNASSEMBLED PRINTED CIRCUITS | |
KR101376589B1 (en) | Inspection contact element and inspection jig | |
JP6892277B2 (en) | Probes and electrical connections | |
DE19832330A1 (en) | Test holder for integrated circuit with solder ball connections serving as test points | |
US4701702A (en) | Contact pin having a spring under tension | |
SU1241532A1 (en) | Contact unit | |
KR102458165B1 (en) | Jig for PCB inspection | |
US6407565B1 (en) | Loaded-board, guided-probe test fixture | |
DE19954041A1 (en) | Ball grid array measuring device for integrated circuit (IC) component uses spring biased test pins contained in angled bores in measuring device housing mounted on circuit board | |
JP2000065892A (en) | Jig for continuity inspection | |
JP2008151551A (en) | Contact jig and fixture for inspecting semiconductor device and method for inspecting semiconductor device | |
JP4685694B2 (en) | Contact pin and socket for electrical parts | |
SU1307347A1 (en) | Contacting device for connecting printed-circuit boards | |
SU1127109A1 (en) | Device for checking printed circuit boards | |
KR200260960Y1 (en) | probing device | |
CN217655265U (en) | Down lamp brightness testing device | |
KR200345867Y1 (en) | a probe | |
CN220525952U (en) | Burn test needle mould tool | |
KR102399180B1 (en) | Replaceable single type probe pin | |
CN219660033U (en) | Clamp for printed circuit board | |
SU1244741A2 (en) | Output terminal | |
SU1251348A1 (en) | Contact device |