SU1241532A1 - Contact unit - Google Patents

Contact unit Download PDF

Info

Publication number
SU1241532A1
SU1241532A1 SU843801093A SU3801093A SU1241532A1 SU 1241532 A1 SU1241532 A1 SU 1241532A1 SU 843801093 A SU843801093 A SU 843801093A SU 3801093 A SU3801093 A SU 3801093A SU 1241532 A1 SU1241532 A1 SU 1241532A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
spring
contact
reduce
contacts
axis
Prior art date
Application number
SU843801093A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Александр Арнольдович Гордин
Владимир Васильевич Шевелев
Юрий Константинович Владимиров
Original Assignee
Предприятие П/Я В-2969
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-2969 filed Critical Предприятие П/Я В-2969
Priority to SU843801093A priority Critical patent/SU1241532A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1241532A1 publication Critical patent/SU1241532A1/en

Links

Abstract

- Изобретение относитс  к устройствам дл  подключени  к контрольно- испытательной аппаратуре плат печатного контакта с шагом контактных fug. / площадок 1,25 мм и менее. Цель ретени  уменьшение наружного диаметра узла и уменьшение его электрического сопротивлени  при сохранении величины рабочего хода и усили  контактировани . С помощью прижима 11 прикладываетс  усилие Р, и площадки 8 соприкасаютс  с контактами 1, Последние осаживают пружину 6, увеличива  контактное усилие. Пружина 6 выполнена из проволоки овального или пр моугольного со скругленными кромками сечени . При этом больша  ось сечени  проволоки параллельна оси пружины. 2 ил. о (Л- The invention relates to devices for connecting printed circuit boards with contact fug pitch to the test equipment. / pads 1.25 mm or less. The purpose of the retention is to reduce the outer diameter of the node and reduce its electrical resistance while maintaining the magnitude of the working stroke and contact force. With the help of a clamp 11, a force P is applied, and the pads 8 are in contact with the contacts 1, the latter settle the spring 6, increasing the contact force. The spring 6 is made of oval or rectangular wire with rounded section edges. In this case, the major axis of the wire section is parallel to the axis of the spring. 2 Il. o (l

Description

1one

Изобретение относитс  к электротехнике , в частности к устройствам дл  подключени  к контрольно-испытательной аппаратуре плат печатного контакта с шагом контактных площадок 1,25 мм и менее.The invention relates to electrical engineering, in particular, to devices for connecting printed contact boards with a pitch of contact pads of 1.25 mm or less to test equipment.

Цель изобретени  - уменьшение наружного диаметра узла и уменьшение его электрического сопротивлени  при сохранении величины рабочего хода и усили  контактировани .The purpose of the invention is to reduce the outer diameter of the assembly and reduce its electrical resistance while maintaining the magnitude of the working stroke and contact force.

На фиг.1 изображен контактный узел, продольный осевой разрез; на фиг.2 - то же, второй вариант выполнени ,, Figure 1 shows the contact node, a longitudinal axial section; 2, the same, second embodiment,

Узел состоит из верхнего 1 и нижнего 2 рабочих контактов, установленных в трубчатом корпусе 3, выполненном с сужени ми 4 и -5, которые позвол ют контактам 1 и 2свободно пе- ремещатьс  вдоль оси корпуса, но исключают их выпаде.ние под действием пружины 6, установленной между этими контактами с осевым нат гом. Пружина 6 вг полнена из проволоки овального или пр моугольного со скругленными кромками сечени . Контактные узлы S сборе установлены в ступенчатые отверсти  корпуса 7 с возможностью взаимодействи  с контактными площадками 8 печатной платы 9. Базирование про- вер емой плате 9 относительно контактов 1 обеспечиваетс  ловител ми 10, а прижатие плиты к контактам - прижимам 11,The assembly consists of the upper 1 and lower 2 working contacts installed in the tubular body 3, made with narrowing 4 and -5, which allow the contacts 1 and 2 to move freely along the axis of the body, but exclude their loss. installed between these pins with axial tension. The spring 6 vg is made of oval or rectangular wire with rounded section edges. The contact assemblies S assembly are installed in the stepped holes of the housing 7 with the possibility of interaction with the contact pads 8 of the printed circuit board 9. Basing of the tested board 9 relative to contacts 1 is provided by catchers 10, and pressing the plate to the contacts - clamps 11,

Во втором варианте контакты 1 и 2 а также пружина 6 установлены не- по средственно в отверсти х диэле кт- рического корпура.In the second variant, contacts 1 and 2 as well as spring 6 are installed directly in the holes of the dielectric housing.

Контактный узел работает следую- щим образом, .Contact node works as follows,.

32I32I

.Подлежаща  -контролю плата 9 устанавливаетс  над контактами 1 и с помощью ловителей 10 производитс  совмещение по координатам печатных площадок 8 с со9тветствуюц1ими контактами 1. Затем к плате 9 с помощью прижима 11 прикладывают усилие Р, плата опускаетс , и площадки 8 со- прикасакзтс  с контактами 1, При дальнейшем опускании прижима и штаты контакт 1 осаживает пружину 6, увеличива  контактное усилие от начального Р,| до конечного Р, Благодар  гфедварительному нат гу пружины 6, достаточного.дл  электрического соединени  , величина контактного усили  достигаетс  у;ке в самом начале перемещени  контакта 1, После этих операций провод т электрическую проверку печатной платы.Under the control, the board 9 is installed above the contacts 1 and with the help of catchers 10, the coordinates of the printed areas 8 are aligned with the corresponding contacts 1. Then a force P is applied to the board 9 using the clamp 11, and the platform 8 contacts with the contacts 1, Upon further lowering of the clamp and the states, contact 1 sets the spring 6 apart, increasing the contact force from the initial P, | to the final P, Due to the tension of the spring 6, sufficient for the electrical connection, the magnitude of the contact force is reached y; at the very beginning of the movement of the contact 1, After these operations, an electrical check of the printed circuit board is performed.

Claims (1)

Формула изобретени Invention Formula Контактный узел, преимущественно дл  подключегаг1 - к контрольно-испытательной аппаратуре плат печатного монтажа, содержащий подвижный и неподвижный контакты, установленные в отверсти х направл ющих деталей и соединенные между собой дилиндричес- кой пру:киной сжати , о т л. и ч а ю- щ и и с   тем, что, с целью уменьшени  наружного диаметра узла и уменьшени , его электрического сопротив-. лени  при сохранении величины рабочего кода и усили  контактировани , пружина сжати  выполнена из проволоки .овального или пр моугольного со скругленными кромками сечени , причем больша  ось сечени  проволоки пара; 1лепьна оси пружины.The contact unit, mainly for connecting 1 to the test equipment of printed circuit boards, contains movable and fixed contacts installed in the holes of the guide parts and interconnected with a dyndric spring: compression bar, about a liter. and h and y and so that, in order to reduce the outer diameter of the node and reduce its electrical resistance. while maintaining the size of the working code and the contacting force, the compression spring is made of an oval or rectangular wire with rounded section edges, with the major axis of the steam wire section; 1in the spring axis. Редактор Т.ПарфеноваEditor T. Parfenova Заказ 3617/59Тираж 765Order 3617/59 Circulation 765 ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска  наб., д.4/5VNIIPI USSR State Committee for Inventions and Discoveries 113035, Moscow, Zh-35, Raushsk nab., 4/5 Производственно-полиграфическое предпри тие,г.Ужгород,ул„Проектна ,4Production and printing company, Uzhgorod, Proektna St., 4 Фиг. 2FIG. 2 Техред Н.Вонкало Корректор М.МаксимишинецTehred N.Vonkalo Proofreader M.Maksimishinets ,,,,ee-, - -,-..- - - - - ------ ™ -,,,, ee-, - -, -..- - - - - ------ ™ - ПодписноеSubscription Тираж 765Circulation 765
SU843801093A 1984-10-17 1984-10-17 Contact unit SU1241532A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843801093A SU1241532A1 (en) 1984-10-17 1984-10-17 Contact unit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843801093A SU1241532A1 (en) 1984-10-17 1984-10-17 Contact unit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1241532A1 true SU1241532A1 (en) 1986-06-30

Family

ID=21142432

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843801093A SU1241532A1 (en) 1984-10-17 1984-10-17 Contact unit

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1241532A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5500901A (en) * 1992-02-20 1996-03-19 Resistance Technology, Inc. Frequency response adjusting device

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 875509, кл. Н 01 R 13/02, 1980. о Авторское свидетельство СССР № 425249, кл. Н 01 R 13/02, 1971. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5500901A (en) * 1992-02-20 1996-03-19 Resistance Technology, Inc. Frequency response adjusting device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69734815T2 (en) CASE NEEDLE BED TEST DEVICE FOR FITTED PRINTED CIRCUITS
US4730159A (en) Programmable bed-of-nails test access jigs
US4686464A (en) Buckling beam test probe assembly
ITMI960355A1 (en) DEVICE FOR CONVERSION OF THE GRID OF TEST POINTS OF A MACHINE FOR THE ELECTRICAL TEST OF UNASSEMBLED PRINTED CIRCUITS
KR101376589B1 (en) Inspection contact element and inspection jig
JP6892277B2 (en) Probes and electrical connections
DE19832330A1 (en) Test holder for integrated circuit with solder ball connections serving as test points
US4701702A (en) Contact pin having a spring under tension
SU1241532A1 (en) Contact unit
KR102458165B1 (en) Jig for PCB inspection
US6407565B1 (en) Loaded-board, guided-probe test fixture
DE19954041A1 (en) Ball grid array measuring device for integrated circuit (IC) component uses spring biased test pins contained in angled bores in measuring device housing mounted on circuit board
JP2000065892A (en) Jig for continuity inspection
JP2008151551A (en) Contact jig and fixture for inspecting semiconductor device and method for inspecting semiconductor device
JP4685694B2 (en) Contact pin and socket for electrical parts
SU1307347A1 (en) Contacting device for connecting printed-circuit boards
SU1127109A1 (en) Device for checking printed circuit boards
KR200260960Y1 (en) probing device
CN217655265U (en) Down lamp brightness testing device
KR200345867Y1 (en) a probe
CN220525952U (en) Burn test needle mould tool
KR102399180B1 (en) Replaceable single type probe pin
CN219660033U (en) Clamp for printed circuit board
SU1244741A2 (en) Output terminal
SU1251348A1 (en) Contact device