SU1226047A1

SU1226047A1 - Device for measuring residual deformation

Info

Publication number: SU1226047A1
Application number: SU843765725A
Authority: SU
Inventors: Виталий Иннокентьевич Грушко; Флор Флорович Лаврентьев
Original assignee: Физико-технический институт низких температур АН УССР
Priority date: 1984-06-28
Filing date: 1984-06-28
Publication date: 1986-04-23

Abstract

Изобретение относитс к области испытаний материалов и может быть использовано дл исследовани температурной стабильности материалов при циклическом воздействии температуры. Цель изобретени - повышение точности измерений. Устройство содержит измерительный микроскоп со столиком и промежуточную съемную подложку из ситалла с малым коэффициентом линейного расширени . Подложка выполнена П-образной формы с двум выступами на концах, к которым при испытани х креп тс концы исследуемых образцов. Наблюда в микроскоп за изменением зазора между смежными концами двух образцов , получают данные о величине остаточной дефррма ции после каддого температурного цикла. Устройство упрощает эксперимент и повышает точность из- i мерений благодар стабильности базы отсчета. 1 ил. т 1C ю Од О 4: SiThe invention relates to the field of testing materials and can be used to study the temperature stability of materials under cyclic temperature effects. The purpose of the invention is to improve the measurement accuracy. The device contains a measuring microscope with a table and an intermediate removable substrate of a sitall with a low coefficient of linear expansion. The substrate is U-shaped with two protrusions at the ends, to which, when tested, the ends of the test samples are attached. Observations in a microscope of the change in the gap between the adjacent ends of the two samples receive data on the magnitude of the residual defrost after a temperature cycle. The device simplifies the experiment and improves the accuracy of measurements due to the stability of the base of reference. 1 il. T 1C Yu OD 4: Si

Description

Изобретение относитс к испытани м материалов и может быть использовано дл исследовани стабильности линейных размеров материалов после нескольких циклов воздействи температуры .The invention relates to the testing of materials and can be used to study the stability of the linear dimensions of materials after several cycles of exposure to temperature.

Цель изобретени - повьпнение точности измерени при многократной смене температур на образце.The purpose of the invention is to improve the measurement accuracy with repeated temperature changes on the sample.

Достигаетс эта цель путем обеспечени стабильной базы отсчета линейных размеров измерительным микроскопом .This goal is achieved by providing a stable baseline of linear dimensions with a measuring microscope.

На чертеже представлено устройство с установленными в нем образцами , общий вид.The drawing shows the device with installed samples, a general view.

Устройство дл измерени остаточной деформации содержит измерительный микроскоп с предметным столиком (не показан) и промежуточную съемную подложку 1 П-образной формы из ситалла с, двум выступами 2 и 3 на концах. К этим выступам в процессе испытаний закрепл ют исследуемые образцы 4 и 5,A device for measuring residual deformation contains a measuring microscope with a stage (not shown) and an intermediate removable substrate 1 of U-shaped form made of glass, with two protrusions 2 and 3 at the ends. The test specimens 4 and 5 are attached to these protrusions during testing.

Устройство работает следующим образом .The device works as follows.

Перед началом испытаний на промежуточную съемную подложку 1, вьшол- ненную из ситалла с малым коэффициентом линейного расширени , укладывают два исследуемых плоских образца 4 и 5 с зазором а между их свободными концами, равным 10-20 мкм. Концы образцов 4 и 5, обращенные к выступам 2 и 3, закрепл ют св зуюBefore starting the tests, the two test specimens 4 and 5 with a gap a between 10 and 20 µm between their free ends are placed on an intermediate removable substrate 1, made from a glass with a low linear expansion coefficient. The ends of samples 4 and 5 facing protrusions 2 and 3 secure the bond

щим. Затем подложку 1 с образцами 4 и 5 устанавливают на столик измерительного микроскопа и измер ют величину зазора. В дальнейшем подложку 1 с образцами 4 и 5 подвергают нагреву и охлаждению в соответствии с заданным режимом испытаний. После каждого цикла возвращают подложку 1 на столик микроскопа и повтор ют измерени зазора. По этим данным определ ют остаточную деформацию образцов после каждого цикла температурных испытаний. shim. Then, the substrate 1 with samples 4 and 5 is placed on the table of the measuring microscope and the gap is measured. Subsequently, the substrate 1 with samples 4 and 5 is subjected to heating and cooling in accordance with a given test mode. After each cycle, the substrate 1 is returned to the microscope stage and the gap measurements are repeated. From these data, the residual strain of the specimens is determined after each cycle of temperature testing.

Использование предлагаемого устройства позвол ет повысить точность и упростить эксперимент, а также обработку результатов эксперимента.The use of the proposed device allows to increase the accuracy and simplify the experiment, as well as the processing of experimental results.

Claims

Invention Formula

A device for measuring residual deformation, comprising a measuring microscope with a sample table for placing a sample, characterized in that, in order to improve the measurement accuracy with repeated temperature changes on the sample, it is provided with an intermediate removable U-shaped substrate with two projections at the ends made of the sital and the two samples to be placed simultaneously with the fixing of one end of each sample to the corresponding protrusion of the substrate.

f

7

/

Editor E. Papp

Compiled by V.Timoshenko Tehred N. Bonkalo

Order 2110/28

Circulation 670 Subscription

BNIIPI USSR State Committee

for inventions and discoveries 113035, Moscow, Zh-35, Raushsk nab., 4/5

. Production and printing company, Uzhgorod, Projecto st., 4

Proofreader L. Pilipenko