SU1211675A1 - Устройство дл обнаружени коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых приборах - Google Patents
Устройство дл обнаружени коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых приборах Download PDFInfo
- Publication number
- SU1211675A1 SU1211675A1 SU833641128A SU3641128A SU1211675A1 SU 1211675 A1 SU1211675 A1 SU 1211675A1 SU 833641128 A SU833641128 A SU 833641128A SU 3641128 A SU3641128 A SU 3641128A SU 1211675 A1 SU1211675 A1 SU 1211675A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- bus
- connection
- input
- block
- outputs
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
Изобретение касаетс контрол готовых полупроводниковых приборов и может быть использовано дл раздельного обнаружени кратковременных и посто нных коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых диодах и диодных матрицах. Цель изобретени - расширение функцио нальных возможностей. Устройство содержит генератор 1 напр жений, блок 2 подключени , блок 3 обнаружени постр нных неисправностей, выполненный в виде последовательно соединенных фильтра 19 низких частот и триггера 20, блок 4 обнаружени кратковременных неисправностей , выполненный в виде фильтра высоких частот, блоки 5 и 6 регистрации , шины 8 и 10, провер емый диод 9, резисторы 11 и 17, шины 12, 13, 15 и 16 дл подключени диодной матрицы 14, переключатель 18. Предложенное выполнение генератора 1 напр жений, блока 3 обиа- ружени посто нных неисправностей и блока 2 подключени позвол ет контролировать как полупроводниковые диоды, так и мостовые диодные матрицы. 1 ил. i (Л Э) ел
Description
1
Изобретение относитс к контролю готовых полупроводниковых приборов и может быть испопьзов.ано дл раздельного обнаружени кратковременных и посто нных коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых диодах и диодных матрицах.
Целью изобретени вл етс расширение функциональных возможностей устройства путем обеспечени контрол как полупроводниковых диодов, так и мостовых диодных матриц.
На чертеже представлена функциональна схема устройства дл обнаружени коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых приборах.
Устройство содержит генератор 1 напр жени , первый, второй, третий и четвертый выходы которого соединены соответственно с первым, вторым , третьим и четвертым входами блока 2 подключени , выход которого соединен с входами блоков 3 и 4 обнаружени соответственно посто нных и кратковременных неисправносте выходы которых соединены с входами соответственно первого и второго блоков 5 и 6 регистрации. При этом генератор 1 выполнен в виде сетевого трансформатора 7, выводы первой вторичной обмотки которого соответствуют первому и второму выходам генератора 1, а выводы второй вторичной обмотки - третьему и четвертому его выходам. Блок 2 подключени выполнен в виде первой шинь 8 дл подключени провер емого диода 9, котора соединена с первым входом блока подключени , второй вход которого соединен с о-бщей шиной устройства и с второй шиной 10 дп подключени провер емого диода через первый резистор 1 1 . Третий и четвертый входы блока подключени соединены соответственно с третьей и четвертой лшнами 12 и 13 дп подключени диодной матрицы 14, п та и шеста шины 15 и 16 дл подключени диодной матрицы соединены соответственно с общей шиной устройства непосредственно и через второй резистор 17, Втора шина 10 и шеста шина 16 соединены соответственно с первым и вторым входами переключател 18, выход которого соединен с выходом блока 2 подключени . Блок 3 обнаружени посто нных неисправностей выполнен в виде последова116752
тельно соединенных фильтра 19 низких частот и триггера 20, а блок 4 обнаружени кратковременных неисправностей выполнен в виде фильтра вы5 соких частот.
Устройство дп обнаружени коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых приборах работает следующим образом.
10Посто нные короткие замыка;ни
и обрывы однаруживаютс по интегральному эффекту, возникающему при работе провер емых диодов или мостовой диодной матрицы в схеме выпр мител
15 с фильтром низких частот (ФНЧ). В случае посто нных обрывов и или коротких замыканий посто нное напр жение на выходе ФНЧ меньше номинального значени U , которое равно
20 0,319 и, дл диода и 0,638 U дл диодной матрицы, где - амплитуды напр жени соответственно на первой и второй обмотках сетевого трансформатора 7. Эти обмотки вы- , 25 полнены так, чтобы при исправном диоде 9 или диодной матрице 14
напр жени на выходе ФНЧ 19 были одинаковыми. Переключатель 58 позвол ет переключать входы блоков
30 3 и 4 с первого на второй резисторы, что обеспечивает возможность контрол одновременно установленных в блоке провер емых диода 9 и диодной матрицы 14.
Наличие посто нных кратковременных замыканий или обрывов в диоде приводит к отсутствию напр жени на выходе ФНЧ 19 дл диода.
I
При проверке мостовой диодной
матрищ 1 14 с посто нными короткими замыкани ми или обрывами напр жение на выходе ФНЧ 19 равно либо О, либо 0,319 и, в зависимости от количества и сочетаний неисправных диодов в мостовой диодной матрице }4. Частота среза ФНЧ должна быть ниже частоты сети Fg , и за полосой пропускани его входное сопротивление не должно шунтировать переключаемую
цепь и вход фильтра 4.
С выхода ФНЧ 19 посто нное напр жение поступает на триггер, пороговое напр жение которого имеет низкую величину, так что при исправ55 ном диоде или диодной матрице триггер срабатывает и блок регистрации регистрирует исправность прибора. При наличии посто нных коротких
35
замыканий или обрывов в провер емом приборе триггер не переходит в новое состо ние и регистрируетс несправность прибора.
Блок 5 регистрации может быть выполнен, например, в виде лампы накаливани ,
Определение кратковременных коротких за№1каний и обрывов про- изводитс по импульсам, выдел емым на выходе фильтра 4 высоких частот частота среза которого выбираетс из услови Fg 10Fp дл исключени гармоник выпр мпенного сигнала. Таким образом, на выходе фильтра по вл ютс только импульсы, вызванные наличием кратковременных обрыв или коротких замыкани в провер ем приборах. Эти импульсы регистрируюс в блоке 6, который может быть выполнен в виде счетчика импульсов например прибора типа 43-36.
Claims (1)
- Формула изобретени, .Устройство дп обнаружени коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых приборах, содержащее первый и второй блоки регист- ращ1и, входы которых соединены с выходами соответственно блока обнаружени посто нных неисправ- ностей и блока обнаружени кратковременных неисправностей, входы которых соединены с выходами блока подключени , первый и второй входы которого соединены соответственно с первым и вторым выходами генератора напр жени , блок подключени выполнен в виде первой шины дл подключени , провер емого прибора, соединенной с первым входом блока подключени , и второй шины длСоставитель В.Карпов Редактор И.Рыбченко Техред А.Кикемезей Корректор Т.КолбЗаказ 637/50Тираж 730 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, ,.Раушска наб., д. 4/5Филиал ГШП Патент, г.Ужгород, ул. Проектна , 411675подключени провер емого прибора, соединенной через первый резистор с вторым входом блока подключени , отличающеес тем, что,с с целью расширени функциональных возможностей, генератор напр жени выполнен в виде сетевого трансформатора с двум вторичными обмотками , блок подключени снабжен двумto дополнительными входами, четырьм дополнительными шинами дп подключени провер емого прибора, вторым резистором и переключателем, блок обнаружени посто нных неис-t5 правностей выполнен в виде последовательно соединенных фильтра низких частот и триггера, а блок обнаружени кратковременных неисправностей выполнен в виде филь2Q тра верхних частот, при этом выводы первой вторичной обмотки сетевого трансформатора соответствуют первому и второму выходам генератора напр жени , а выводы второй вто- 25 ричной обмотки - третьему и четвертому его выходам, которые соединены соответственно с третьим и четвертым входаьш блока подключени , которые соединены с третьей и четвертой шинами дп подкл|очени провер емого прибора, п та шина дл подключени которого соединена с вторым входом блока подключени , первым выводом второго резистора и общей шиной устройства , шеста шина дп подключени провер емого прибора соединена с вторым выводом второго резистора и первым входом переключател , второй вход которого соединен с второй шиной дл подключени провер емого прибора, а выход переключател соединен с выходом блока подключени .303540
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833641128A SU1211675A1 (ru) | 1983-08-31 | 1983-08-31 | Устройство дл обнаружени коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых приборах |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833641128A SU1211675A1 (ru) | 1983-08-31 | 1983-08-31 | Устройство дл обнаружени коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых приборах |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1211675A1 true SU1211675A1 (ru) | 1986-02-15 |
Family
ID=21081344
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU833641128A SU1211675A1 (ru) | 1983-08-31 | 1983-08-31 | Устройство дл обнаружени коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых приборах |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1211675A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2660384C2 (ru) * | 2013-12-02 | 2018-07-06 | Абб Швайц Аг | Обнаружение короткозамкнутых диодов |
-
1983
- 1983-08-31 SU SU833641128A patent/SU1211675A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 673940, кл. G 01 R 31/26, 1978. Авторское свидетельство СССР № 277954, кл. G 01 R 31/26, 1969. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2660384C2 (ru) * | 2013-12-02 | 2018-07-06 | Абб Швайц Аг | Обнаружение короткозамкнутых диодов |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU1211675A1 (ru) | Устройство дл обнаружени коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых приборах | |
US3783378A (en) | Battery adapter | |
US3521155A (en) | Ignition amplifier and coil tester | |
SU748297A1 (ru) | Устройство дл контрол контактировани | |
CN218866043U (zh) | 一种pcba短路检测电路及检测系统 | |
SU1120255A1 (ru) | Устройство дл автоматической проверки параметров электрических цепей | |
SU1758605A1 (ru) | Устройство дл проверки трехфазных обмоток электрических машин и трансформаторов | |
SU1129567A1 (ru) | Устройство дл контрол обрыва и короткого замыкани в цепи с электромагнитной нагрузкой | |
SU834616A1 (ru) | Устройство дл контрол релейнойКОММуТАциОННОй элЕКТРОАппАРАТуРы | |
US3899737A (en) | Apparatus for testing alternator diodes | |
SU1476408A1 (ru) | Устройство контрол монтажа и сопротивлени изол ции кабелей и жгутов | |
RU2020498C1 (ru) | Устройство контроля контактирования интегральных схем | |
SU1287050A1 (ru) | Устройство дл испытаний индуктивных элементов на наличие межвитковых замыканий и замыканий на корпус | |
RU1772770C (ru) | Способ группового контрол изол ции электрических цепей на возникновение пробо | |
SU1661029A1 (ru) | Устройство дл контрол работоспособности релейных блоков | |
SU1707687A2 (ru) | Устройство дл защиты трансформатора с параллельно включенными вторичными обмотками | |
RU2012005C1 (ru) | Устройство для контроля обмоток трехфазных электрических машин переменного тока | |
JPH0110616Y2 (ru) | ||
SU1002987A1 (ru) | Устройство дл проверки исправности электрического монтажа | |
SU1449943A1 (ru) | Способ испытаний электрических обмоток на наличие витковых замыканий | |
SU1483403A1 (ru) | Устройство дл автоматической проверки правильности электромонтажа | |
US3848190A (en) | Signal conditioner test set | |
SU1461655A1 (ru) | Устройство дл контрол и диагностики силовой цепи вагона метрополитена | |
SU1379865A1 (ru) | Устройство дл диагностировани мостового вентильного преобразовател | |
SU1275636A1 (ru) | Вентильный узел полупроводникового преобразовател |