SU1205328A1 - Device for connecting flat electronic components with measuring unit - Google Patents
Device for connecting flat electronic components with measuring unit Download PDFInfo
- Publication number
- SU1205328A1 SU1205328A1 SU833651854A SU3651854A SU1205328A1 SU 1205328 A1 SU1205328 A1 SU 1205328A1 SU 833651854 A SU833651854 A SU 833651854A SU 3651854 A SU3651854 A SU 3651854A SU 1205328 A1 SU1205328 A1 SU 1205328A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- contact
- rotor
- loaded
- measuring unit
- spring
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
Изобретение относитс к области контрол радиоэлементов по электрическим параметрам, в частности к устройствам дл подключени плоск гх радиодеталей, например кристаллов диодов, к измерительному блоку. Цель изобретени - повышение надежности в работе за счет yi ieHb- шени веро тности повреждени радиодеталей в процессе подкл1очен1« их к измерительному блоку, а также за счет исключени прилипани ра- .диодеталей к контактам контактных головок.The invention relates to the field of control of radio components by electrical parameters, in particular, to devices for connecting flat radio components, such as diode crystals, to a measuring unit. The purpose of the invention is to increase the reliability of operation due to yi iehb-likelihood of damage to radio components in the process of connecting them to the measuring unit, as well as eliminating sticking of radio components to the contacts of the contact heads.
На фиг о 1 изображена установка дл разбраковки кристалловJ на фит. устройство дл подключени радиодеталей к измерительному блоку, разрез , на фиг. 3 - контактна головка , разрезi на фиг. 4 - сечение А-А на фиг. 3.Fig. 1 shows a setup for grading crystals on a fit. device for connecting radio components to the measuring unit, section, in fig. 3 shows a contact head, a section in FIG. 4 is a section A-A in FIG. 3
Устройство дл подключени плоских радиодеталей к измерительному блоку входит в состав установки дл разбраковки кристаллов по электрическим параметрам, котора содержит установленные на станине 1, блок управлени и измерительный бло размещенные в корпусе 2, механизмы 3 загрузки кристаллов из накопительной кассеты 4 на транспортирующий ротор 5 устройства дл подключени плоских радиодеталей 6, например кристаллов, к измерительному блоку , механизмы 7 разгрузки разбракованных кристаллов с транспортирующего ротора 5 в приемные кассеты 8, количество которых соответствует числу групп разбраковки кристаллов j и механизм 9 выгрузки бракованных кристаллов в приемную кассету 10 и пульт 11 управлени .A device for connecting flat radio components to the measuring unit is included in the installation for screening crystals by electrical parameters, which contains installed on the base 1, a control unit and a measuring unit housed in the housing 2, mechanisms 3 loading crystals from the accumulator cassette 4 to the transporting rotor 5 connecting flat radio components 6, for example crystals, to a measuring unit, mechanisms 7 for unloading broken crystals from a transport rotor 5 into receiving cassettes 8, the number of which corresponds to the number of crystal display groups j and the mechanism 9 for unloading rejected crystals into the receiving cassette 10 and the control panel 11 of the control.
Устройство дл подключени плоских радиодеталей к измерительному блоку содержит транспортирующий ротор 5 и контактные головхи, кинематически соединенные при помощи размещенного в корпусе 12 вала 13 с механизмом привода установки. На валу 13 расположена пара кулачков 14, которые при помощи двух подпружиненных рычагов 15 обеспечивают возврагно-поступательное перемещение держателей 16 с соосно расположенными одна относителько дру гой контактными головками 17 и 18.The device for connecting flat radio components to the measuring unit contains a transporting rotor 5 and contact goggles, kinematically connected by means of a shaft 13 placed in a housing 12 with an installation drive mechanism. On the shaft 13 there is a pair of cams 14, which, with the help of two spring-loaded levers 15, provide for the reciprocating movement of the holders 16 with the contact heads 17 and 18 coaxially located one with respect to another.
Кулачки 14 закреплены на валу 13 с помощью зат жного болта 19,The cams 14 are fixed on the shaft 13 with the aid of a tightening bolt 19,
00
5five
00
5five
00
00
5five
что обеспечивает возможность поворота кулачков 14 относительно вала 13, тем самым получив необходимый сдвиг по фазе перемещени контактных головок 17 и 18 относительно друг друга в соответствии с циклограммой работы установки.which makes it possible to rotate the cams 14 relative to the shaft 13, thereby obtaining the necessary phase shift of the contact heads 17 and 18 relative to each other in accordance with the unit operation pattern.
Контактные головки 17 и 18 закреплены в держател х 16 с помощью зат жных болтов 20, что обеспечивает вертикальное перемещение контактных головок 17 в вертикальной плоскости относительно гнезда 21 дл размещени радиодеталей транспортирующего ротора 5,The contact heads 17 and 18 are fixed in the holders 16 by means of tightening bolts 20, which provides vertical movement of the contact heads 17 in a vertical plane relative to the socket 21 to accommodate the radio components of the transporting rotor 5,
Одна из контактных головок (контактна головка 17) установлена над транспортирующим ротором 5, выполнена с подпружиненным контактом 22 и снабжена дополнительными подпружиненными контактами 23, размещенными по окружности, концентричной к оси основного подпружиненного контакта 22. Основной подпружинен- ньш контакт 22 - измерительный, а дополнительные подпружиненные контакты 23 - токовые,One of the contact heads (contact head 17) is installed above the transporting rotor 5, made with a spring-loaded contact 22 and provided with additional spring-loaded contacts 23 placed around a circle concentric to the axis of the main spring-loaded contact 22. The main spring-loaded contact 22 is measuring, and additional spring-loaded contacts 23 - current,
Основой подпружиненный контакт 22 может быть выполнен короче или длиннее дополнительных контактов 23 на величину лЬ , чем обеспечиваетс первоначальное и последующее за,мьжание дополнительных подпру- кненных контактов 23 на кристалл 24, расположенный в гнезде 21 транспортирующего ротора 5,The basis of the spring-loaded contact 22 can be made shorter or longer than the additional contacts 23 by the magnitude lb, which ensures the initial and subsequent loading of additional biased contacts 23 to the crystal 24 located in the slot 21 of the transporting rotor 5,
Транспортирующий ротор 5 снаб- жэн опорными втулками 25 из злектро- проводного материала, подвижно установленными в его гнездах 21, выполненных в виде стаканов 26 из изо- гшционного материала и неподвижно закрепленных на транспортирующем роторе 5.The transporting rotor 5 is provided with supporting sleeves 25 of electrically conductive material, movably mounted in its sockets 21, made in the form of cups 26 of isoshing material and fixedly mounted on the transporting rotor 5.
Друга контактна головка 18 установлеча под транспортирующим ротором и выполнена в виде корпусаAnother contact head 18 is installed under the transport rotor and is designed as a housing.
27,27,
в верхней части которого закрепat the top of which is fixed
лек жесткий токовый контакт 28,Lek hard current contact 28,
В центре токового контакта 28 Б изол ционных втулках 29 расположен измерительный подпруж1шенный контакт 30.,In the center of the current contact 28B of the insulating sleeves 29 there is a measuring spring-loaded contact 30.,
Опорные втулки 25 транспортирующего ротора 5 установлены с возможностью взаргмодействи с жестким токовым контактом 28 контактной головки 18.Support sleeves 25 of the transporting rotor 5 are installed with the possibility of cooperating with the hard current contact 28 of the contact head 18.
Дл исключени налипани кристаллов к контактам контактной головки 17, установленной над транспортирующим ротором 5, дополнительные подпружиненные контакты 23 выпо.лнены различной, длины.To prevent crystals from sticking to the contacts of the contact head 17 mounted above the transporting rotor 5, additional spring-loaded contacts 23 are made of different lengths.
Устройство работает следующим образом.The device works as follows.
На установку устанавливают накопительную кассету 4 с кристаллами подлежащими разбраковке по электрическим параметрам, пустые приемные кассеты 8 дл кристаллов соответствующих разбраковочных групп, а также приемную кассету 10 дл кристаллов , не вошедших ни в одну из трех предыдущих разбраковочных irpynn.A cumulative cassette 4 with crystals to be screened by electrical parameters, empty receiving cassettes 8 for the crystals of the corresponding reflecting groups, and also a receiving cassette 10 for crystals not included in one of the three previous irpynn casings are installed on the installation.
i Включают- привод установки, в результате чего начинают действоват механизмы 3 загрузки кристаллов, обеспечивающие поштучную подачу кристаллов на дискретно.вращающийс транспортирующий ротор 5.i Turn on the drive of the installation, as a result of which the mechanisms of 3 loading of crystals begin to operate, providing a single supply of crystals to the discretely rotating transporting rotor 5.
При перемещении кристалла 24 на позицию измерени в гнездах 21 транспортирующего ротора 5 во врем высто происход т следующие действи .When moving the crystal 24 to the measurement position in the slots 21 of the transporting rotor 5, the following actions take place during the whole process.
Приводной вал 13, получа вращение от привода установки, вращает кулачки 14, которые с целью обеспечени надежного контакта обеспечивают первоначальное вертикальное перемещение верхней контактной го2053284The drive shaft 13, when rotated from the drive of the machine, rotates the cams 14, which, in order to ensure reliable contact, provide the initial vertical movement of the upper contact body.
ловки 17, котора своими дополнительными подпружиненными контактами 23 прижимает кристалл 24 к поверхности опорной втулки 25, после17, which with its additional spring-loaded contacts 23 presses the crystal 24 against the surface of the support sleeve 25, after
5 чего с некоторым запаздыванием нижним жестким контактом 28 происходит перемещение опорной втулки 25 с кристаллом 24 вверх и в этот момент происходит надежный контакт.5, with some delay by the bottom hard contact 28, the support sleeve 25 moves with the crystal 24 upwards and at this moment reliable contact occurs.
10 Затем происходит замыкание основного подпружиненного контакта 22 контактной головки 17 и измерительного подпружиненного контакта 30 контактной головки 18 и производитс из15 мерение па раметров кристалла 24. При последующем вращении вала 13 происходит размыкание контактов. После полного размыкани транспортирующий ротор 5 начинает перемещать20 с , перемеща измененный кристалл с позиции измерени в зону действи механизмов 7 разгрузки разбракованных кристаллов с транспортирующего ротора 5 в приемные кас25 сеты 8 или в зону действи механизма 9 выгрузки бракованных кристаллов в приемную кассету 10, и на позицию замера транспортирующий ротор 5 перемещает новый кристалл 24 и цикл возобновл етс .10 Then, the main spring-loaded contact 22 of the contact head 17 and the measuring spring-loaded contact 30 of the contact head 18 are closed and the parameters of the crystal 24 are measured. With the subsequent rotation of the shaft 13, the contacts open. After fully opening, the transporting rotor 5 begins to move 20 seconds, moving the modified crystal from the measurement position to the zone of action of the mechanisms 7 unloading deflected crystals from the transporting rotor 5 to receiving cassettes 25 or 8 to the position of the unloading crystals 9 to the position measuring transporting the rotor 5 moves the new crystal 24 and the cycle resumes.
30thirty
Таким образом, происходит подключение радиодеталей к измерительному блоку и разбраковка кристаллов наThus, the radio components are connected to the measuring unit and the crystals are distributed on
группы.groups.
2 2
2222
1515
СWITH
..
(«W.J("W.J
А-ЛA-l
2 232 23
Редактор А.РевинEditor A.Revin
Составитель В,Дрель Техред М.ПароцайCompiled by, Drill Tehred M. Parotsay
Заказ 8542/60 Тираж 793 .ПодписноеOrder 8542/60 Circulation 793. Subscription
ВНИИПИ Государственного комитета СССРVNIIPI USSR State Committee
по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35,, Раушска наб. , д. 4/5for inventions and discoveries 113035, Moscow, Zh-35 ,, Raushsk nab. D. 4/5
Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектна , 4Branch PPP Patent, Uzhgorod, st. Project, 4
Корректор Е.РошкоProofreader E.Roshko
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833651854A SU1205328A1 (en) | 1983-10-10 | 1983-10-10 | Device for connecting flat electronic components with measuring unit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833651854A SU1205328A1 (en) | 1983-10-10 | 1983-10-10 | Device for connecting flat electronic components with measuring unit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1205328A1 true SU1205328A1 (en) | 1986-01-15 |
Family
ID=21085265
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU833651854A SU1205328A1 (en) | 1983-10-10 | 1983-10-10 | Device for connecting flat electronic components with measuring unit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1205328A1 (en) |
-
1983
- 1983-10-10 SU SU833651854A patent/SU1205328A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР 1012469, кл. Н 05 К 13/08, 14.02.75. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR19990045554A (en) | Socket device suitable for BGA type semiconductor devices | |
WO2007083968A1 (en) | Test handler | |
KR100339283B1 (en) | socket | |
SU1205328A1 (en) | Device for connecting flat electronic components with measuring unit | |
US4905028A (en) | Electrophotographic printer | |
US6075255A (en) | Contactor system for a ball grid array device | |
KR100779029B1 (en) | Probe station and testing method for a wafer using the same | |
CN112730088B (en) | Automatic monitoring equipment is used in microwave radio frequency switch production | |
JPH08283995A (en) | Plating device | |
JPS63299243A (en) | Probe card adapter | |
JP2000114323A (en) | Electrostatic breakdown testing device | |
SU1058753A1 (en) | Apparatus for automatic welding | |
US3500192A (en) | Oscillatory probe system for contacting and testing a circuit point through a high density of wires | |
SU1220147A1 (en) | Device for orientating leads of electronic components with unilateral leads | |
KR100206642B1 (en) | Rotary arm and device chuck part of handler | |
KR102561219B1 (en) | Substrate supporting assmbly for substrate treating apparatus | |
FR2555395A1 (en) | Flexible machine for installing components on a support and method of installation by means of such a machine | |
JP2969615B2 (en) | Wafer prober | |
SU1166199A1 (en) | Device for moving and contacting integrated circuits in climatic chamber | |
JP2727765B2 (en) | Antenna direction adjustment device | |
JP7308792B2 (en) | Semiconductor device evaluation apparatus and semiconductor device evaluation method | |
KR100462883B1 (en) | Test head of electrical die sorting apparatus for manufacturing semiconductor device | |
JPH1114701A (en) | Charged corpuscular ray device | |
KR200143990Y1 (en) | Sorting apparatus of semiconductor package testing handler | |
SU1553208A1 (en) | Arrangement for inspecting and sorting springs by rigidity |