SU1204986A1 - Устройство дл контрол качества объективов - Google Patents

Abstract

Изобретение позвол ет повысить надежность и оперативность контрол . Дл  этого в плоскости изображени  контролируемого объектива установлена призма - куб с эталонным ,отверстием в диагональном отражающем покрытии и система измерени  прошедшего через эталонное отверстие и отраженного от диагональной грани призмы - куба, световых потоков „ Микрообъектив 7 создает увелх-гчен- ное изображение п тна рассе ни  контролируемого объект11ва 6 на диаго-- нально отражающей грани призмы - куба 8„ Часть энергии проходит в отверстие заданного размера и направл етс  зеркалами 9-11 через коллективную линзу 13 на фотопрй- емное устройство 14. Друга  часть отражаетс  от диагональной грани призмы - куба 8 и зеркала 10 и таклсе через коллективную линзу 3 направл етс  на фотоприемное устройство 14. Качество контролируемых объективов определ етс  на фотоприемное устройство 14. Качество контролируемых объективов определ етс  соотношением величин электрических сигналов, пропорциональных прошедшему и отраженному световым потокам . 1 ил /Ji |5-:::i;5

Description

V

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике, предназначено дл  оперативного контрол  качества объективов путем измерени  энергии в п тне рассе ни  и может быть использовано на предпри ти х оптико-механической про- м Л11лепности при производственном контроле качества объективов, как в ходе их изготовлени , так и при орсончательной аттестации.

Цель изобретени  - повьшение надежности и оперативности контрол .

На чертеже схематически показано предлагаемое.устройство дл  контрол , качества объективов,

5 стройство состоит из установленных последовательно источника 1 излучени , конденсора i 2, модул тора 3, точечной диафрагмы 4, располо- лсенпой в фокальной плоскости кол- лиматорного объектива 5, контролируемого объектива 6, плоскость изоб ра:кенш1 которого совмещена с предме пой плоскостью микрообъектива 7, призмы -- куба 8, расположенной в плоскости изображени  микрообъектива 7 и имеющей на диагональной от- рз-жающей грани эллиптическое отверстие , зеркала 9, установленного под углом к оптической оси, и параллельных ему зеркала 10 и перекидного зеркала 11 (положение 1) , окул ра 12, коллективной линзы 13, фотоприемного устройства 14, выход которого соединен с входом регистрирующего прибора 15.

Устройство работает следующим образом.

Источник 1 света с помощью конденсора 2 освещает точечную ди- афраг му 4, расположенную в фокгшь- ной плоскости коллиматорного объектива 5., Дп  достижени  хорошей помехозапщщенности оптико-электронной схемы от паразитных засветок и высокой чувствительности за конденсатором 2 установлен модул тор 3 светового потока. Контролируема  система строит изображение диаф- рапчы 4 в предметной плоскости микроабъектиэа 7, который еоздает увеличенное изображение п тна рассе ни  контролируемого об ьектива 6 на диагональной отражающей грани призмы - куба 8, Увеличение микрообъектива 7 должно быт1 таким чтобы п тно расЬеншн, еоэдава

049862

емое эталонным объективом или опре деленное расчетными данными вписывалось в отверстие на отражающей грани призмы - куба 8. Конг тролируемые объективы вследствие ошибок изготовлени  в отличие от расчетных данных дают п тно рассе ни  большего размера, в результате чего одна часть энергии

jg проходит в отверстие заданного размера, а друга  часть отража- етс  от диагональной грани призмы - кула 8. Часть потока излзгче- ни , прошедшего через отверстие

15 призмы - куба 8, направл етс  зеркалами 9 и 1 1 (положение j через коллективную линзу 13 на фотоприемное устройство 14. Величина электрического сигнала U.j, про20 порционального прошедшему потоку излут-шни  ФП РОЦ) воспринимаемому чувствительной площадкой фотоприемного устройства 14, регистрируетс  вольтметром 15, вход которого

25 соединен с выходом фотоприемного устройства 14. Предварительно осуществл етс  груба  настройка систе- / мы по второму каналу (каналу отражени ) с помощью окул ра 12, фокузи сировка может производитьс  как визуально с помощью окул ра 12, так и по величине максимального электрического сигнала на регистрирующем приборе 15. Остальна  часть потока излучени , отраженного от диагональной грани призмы - куба В зеркалом 10Дперекидное зеркало 11 при этом выключено из хода лучей положение П), направл етс  также через коллективную линзу 13 ка фотоприемное

35

40

45

устройство 14. Величина электрического сигнала U , пропорционального отраженному потоку излучени  , воспринимаемому чувствительной площадкой фотоприемного устройства 14, также регистрируетс  вольтметром 15. Качество контролируемьпс объективов определ етс  соотношением велиUjJfOLUчин

и„

в зависимости от допусков

50 Р

на величину потока излучени , проход щего в отверстие заданного размера относительно всего потока излучени , создаваемого объективом.

55

Claims (1)

1. Формула изобретени 

   Устройство дл  контрол  качества об1ьективов, содержащее установлен31204986 4

   Hyio в предметной плоскости контро-изображени  точечной диафрагмы

   лируемого объектива подсвечиваемуюсодержит установленную в плоскости

   точечную диафрагму и расположен-изображени  контролируемого объекный в пространстве изображенийтива призму - куб с вьшолненным в ди- контролируемого объектива анализатор 5 агональном отражающем покрытии

   изображени  точечной диафрагмы,эталонным отверс.тиеми системуизмеотличающеес  тем, что,рени  прошедшегочерез эталонное отс целью повышени  надежности иверстие иотраженного отдиагональной

   оперативности контрол , анализаторграни призму- кубасветовых потоков.