SU1196752A1 - Method of determining crystal radiation defects - Google Patents

Method of determining crystal radiation defects Download PDF

Info

Publication number
SU1196752A1
SU1196752A1 SU833564454A SU3564454A SU1196752A1 SU 1196752 A1 SU1196752 A1 SU 1196752A1 SU 833564454 A SU833564454 A SU 833564454A SU 3564454 A SU3564454 A SU 3564454A SU 1196752 A1 SU1196752 A1 SU 1196752A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
sample
radiation
ionizing radiation
oscillations
samples
Prior art date
Application number
SU833564454A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Vladimir V Pastushin
Original Assignee
Vladimir V Pastushin
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Vladimir V Pastushin filed Critical Vladimir V Pastushin
Priority to SU833564454A priority Critical patent/SU1196752A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1196752A1 publication Critical patent/SU1196752A1/en

Links

Description

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано при определении с помощью упругих колебаний радиационных дефектов в кристаллах.The invention relates to non-destructive testing and can be used when determining with the help of elastic oscillations of radiation defects in crystals.

Цель изобретения - расширение функциональных возможностей за счет проведения измерений в процессе воздействия импульсного ионизирующего излучения.The purpose of the invention is the expansion of functionality due to measurements in the process of exposure to pulsed ionizing radiation.

На фиг. 1 представлены амплитудно-частотные характеристики образцов; на фиг. 2 - устройство для реализации способа.FIG. 1 shows the amplitude-frequency characteristics of the samples; in fig. 2 - a device for implementing the method.

II

Амплитудно-частотные характеристики образцов до облучения обозначены позицией 1, после облучения позицией 2. ,The amplitude-frequency characteristics of the samples before irradiation are indicated by 1, after irradiation by 2.,

Устройство для реализации способа определения радиационных дефектов в кристаллах содержит генератор 3 ультразвуковых колебаний, устройство 4 для измерения декремента затухания колебаний образца, частотомер 5, усилитель 6, возбуждающие пьезопреобразОватели 7 и звукопроводник 8, исследуемые образцы 9 и 10, приемные звукопроводы 11 и преобразователи 12, измерительные вольтметры 13, детекторы 14, блок 15 вычитания, выполненный в виде дифференциального усилителя, двухлучевой запоминающий осциллограф 16, фотоэлектронный катод 17 и устройствоA device for implementing a method for determining radiation defects in crystals contains a generator of 3 ultrasonic vibrations, a device 4 for measuring the decrement of attenuation of sample oscillations, a frequency meter 5, an amplifier 6, exciting piezoelectric transducers 7 and a sound conductor 8, test samples 9 and 10, receiving sound lines 11 and converters 12, measuring voltmeters 13, detectors 14, subtraction unit 15, made in the form of a differential amplifier, dual-beam storage oscilloscope 16, photoelectron cathode 17 and device

18 изменения температуры. Позицией18 temperature changes. Position

19 обозначена зона облучения образцов .19 denotes the irradiation zone of the samples.

Предлагаемый способ осуществляется следующим образом.The proposed method is as follows.

Сначала в исследуемом образце 9 на резонансной частоте возбуждают ультразвуковые колебания с помощью преобразователя 7 и звукопровода 8 при подаче на них сигнала с генератора 3. С помощью устройства 18 изменяют температуру нагрева образца 9. Пьезопреобразователями 12 со эвукопроводом 11 фиксируют амплитуду колебаний образца, а устройством 4 - декремент затухания этих колебаний в зависимости от температуры. По этим параметрам определяют внутреннее трение образца и устанавливают температуру максимального значения внутреннего трения, соответствующего исследуемому структурному эффекту, например, связанного с движением применяемых ато1196752First, in the test sample 9, ultrasonic vibrations are excited at the resonant frequency using a transducer 7 and a chute 8 when a signal from the generator 3 is applied to them. Using the device 18, they change the heating temperature of the sample 9. The piezoelectric transducers 12 with the evukoprovod 11 fix the amplitude of oscillations of the sample, and the device 4 - damping factor of these oscillations depending on temperature. These parameters determine the internal friction of the sample and establish the temperature of the maximum value of internal friction corresponding to the structural effect under investigation, for example, associated with the movement of the applied atoms.

мов, междоузлий. Затем одновременно при температуре Тм возбуждают в образцах 9 и 10 ультразвуковые колебания. Частота возбуждения выбра5 на таким образом, чтобы период колебаний был меньше длительности амплитуды импульса ионизирующего излучения не менее чем в десять раз. Частоту колебаний устанавливают Ю равной резонансной частоте колебаний образца 9 (£ρη).mov, internodes. Then, simultaneously at a temperature of T m , ultrasonic vibrations are excited in samples 9 and 10. The excitation frequency is chosen so that the oscillation period is less than ten times the duration of the amplitude of the ionizing radiation pulse. The oscillation frequency is set to 10 equal to the resonant oscillation frequency of sample 9 (£ ρ η ).

В результате того, что при изготовлении образцов невозможно обеспечить абсолютное равенство их гео15 метрических размеров, то их амплитудно-частотные характеристики . смещены одна относительно другой по . частотной шкале из-за некоторого различия их резонансных частот ϊ р120 и £р^. При частоте возбуждения £р амплитуда образца 9 равна А„, а амплитуда образца 10 А. С помощью уси· лителя 6 устанавливают амплитуду колебания образца 10 равной Ао. Ампли25 туду колебаний образцов 9 и 10 измеряют с помощью пьезопреобразователей 12 со звукопроводами 11, затем регистрируют с помощью вольтметров 13, выполняющих также роль 30 усилителей.As a result of the fact that in the manufacture of samples it is impossible to ensure the absolute equality of their geometric dimensions, their amplitude-frequency characteristics. displaced one relative to another. frequency scale due to some difference in their resonant frequencies ϊ p 1 20 and £ p ^. When the excitation frequency £ p, the amplitude of sample 9 is equal to А „, and the amplitude of sample 10 A. Using amplifier 6, set the amplitude of oscillation of sample 10 to be equal to A o . The amplitudes 25 of the oscillations of samples 9 and 10 are measured using piezo-transducers 12 with sound guides 11, then recorded with voltmeters 13, which also serve as 30 amplifiers.

Детектируют сигналы с помощью детекторов 14 и подают выпрямленные сигналы на блок 15 вычитания, с выхода которого сигнал разности подают на один вход запоминающего двухлучевого осциллографа 16. На второй вход осциллографа подают сигнал с фото-. электродного катода 17, который служит для запуска осциллографа и для 40 регистрации формы импульса ионизирующего излучения.Signals are detected using detectors 14 and fed to rectified signals to subtraction unit 15, from the output of which the difference signal is fed to one input of a two-beam storage oscilloscope 16. To the second input of the oscilloscope a signal is taken from a photo. electrode cathode 17, which serves to start the oscilloscope and for 40 registering the shape of the ionizing radiation pulse.

Поскольку в начальный момент амплитуды исследуемых образцов 9 и 10 устанавливаются одинаковыми, то 45 вольтметры 13 показывают равные 'Since at the initial moment the amplitudes of the investigated samples 9 and 10 are set equal, 45 voltmeters 13 show equal

значения, а на выходе дифференциального усилителя 15 сигнал отсутствует. Затем воздействуют на оба образца импульсом ионизирующего 50 излучения. Регистрируют разность амплитуд колебаний образцов после воздействия излучения. При воздействии ионизирующего излучения изменение амплитуд колебаний образца 55 связано не только со структурными эффектами, но и с помехами, вызванными ионизацией материала пьезопреобразователей, звукопроводов и воз1 1values, and the output of the differential amplifier 15 is no signal. Then act on the two sample pulse of ionizing radiation 50. Record the difference of the amplitudes of oscillations of the samples after exposure to radiation. When exposed to ionizing radiation, a change in the amplitudes of oscillations of sample 55 is associated not only with structural effects, but also with interference caused by ionization of the material of piezoelectric transducers, sound ducts and

душной среды и электромагнитной наваркой на преобразователи.stuffy environment and electromagnetic welding on converters.

Амплитуда колебаний резонирующего образца 9 несет информацию о полезном сигнале и сигнале помех. Амплитуда же колебаний нерезонирующего Образца 10 несет информацию только о сигнале помех. Поэтому разность амплитуд колебаний образцов характеризует изменение внутреннего трения исследуемого кристалла в области максимума в пропроцессе воздействия импульса ионизирующего излучения. По разности амплитуд колебаний образцов с учетом тарировочных зависимостей оп96752 · 4The amplitude of oscillation of the resonating sample 9 carries information about the useful signal and the signal of interference. The amplitude of the oscillations of the non-resonating Sample 10 carries information only about the interference signal. Therefore, the difference in the amplitudes of the oscillations of the samples characterizes the change in the internal friction of the crystal under study in the region of the maximum in the process of the action of an ionizing radiation pulse. The difference of the amplitudes of the oscillations of the samples, taking into account the calibration dependencies of op 96752 · 4

ределяют внутреннее трение образца в любой момент времени процесса облучения, по которому судят о наличии в образце радиационных дефек5 тов. .The internal friction of the sample is determined at any time in the process of irradiation, which is used to judge the presence of radiation defects in the sample. .

Способ определения радиационных ' дефектов в кристаллах позволяет сThe method of determining radiation 'defects in crystals allows

высокой точностью проводить измереЮ ния в процессе воздействия импульсного ионизирующего излучения; пос-, кольку измерение амплитуды колебаний двух образцов и выбор в качестве информативного параметра разностиhigh accuracy of measurements in the process of exposure to pulsed ionizing radiation; after-, measuring the amplitude of oscillations of two samples and choosing the difference as an informative parameter

15 этих амплитуд позволяет ускорить процесс исследования.15 of these amplitudes can speed up the research process.

Claims (1)

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАДИАЦИОННЫХ ДЕФЕКТОВ В КРИСТАЛЛАХ, заключающийся в том, что в исследуемом образце возбуждают на резонансной частоте ультразвуковые колебания, изменяют температуру образца, измеряют декремент затухания ультразвуковых колебаний при разной температуре, по декременту затухания определяют внутреннее трение образца, определяют температуру максимального значения внутреннего трения, соответствующего исследуемому дефекту, воздействуют на образец импульсным ионизирующим излучением и измеряют параметры ультразвуковых колебаний образца до и после воздействия импульсного ионизирующего излучения, отличающийс я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей за счет проведения измерений в процессе воздействия импульсного ионизирующего излучения, устанавливают температуру облучения, равную температуре максимального значения внутреннего трения, возбуждают во втором образце ультразвуковые колебания той же частоты и амплитуды, причем возбуждают ультразвуковые колебания с периодом не менее чем в десять раз меньшим длительности импульса ионизирующего излучения, воздействуют на образцы импульсным ионизирующим излучением, а наличие радиационных дефектов определяют по разности амплитуд колебаний образцов в процессе и после воздействия излучения.A METHOD FOR DETERMINING RADIATION DEFECTS IN CRYSTALS, which consists in the fact that ultrasound vibrations are excited at the resonant frequency in the test sample, the sample temperature is changed, the ultrasonic oscillation decrement is measured at different temperatures, the internal friction of the sample is determined by the damping factor, and the maximum value of the internal vibration is determined by the damping factor. corresponding to the defect under test, the sample is exposed to pulsed ionizing radiation and the parameters of ultrasonic oscillations of the sample before and after exposure to pulsed ionizing radiation, characterized in that, in order to expand functionality by measuring during exposure to pulsed ionizing radiation, set the irradiation temperature equal to the temperature of the maximum value of internal friction, excite the second sample in the second sample frequency and amplitude, and excite ultrasonic vibrations with a period of not less than ten times shorter than the duration of the ionization pulse radiation is applied to the samples by pulsed ionizing radiation, and the presence of radiation defects is determined by the difference in the amplitudes of the oscillations of the samples during and after exposure to radiation. 51) „„ ΓΪ9675251) „„ ΓΪ96752 Фиг,1Fig, 1 1one
SU833564454A 1983-03-21 1983-03-21 Method of determining crystal radiation defects SU1196752A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833564454A SU1196752A1 (en) 1983-03-21 1983-03-21 Method of determining crystal radiation defects

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833564454A SU1196752A1 (en) 1983-03-21 1983-03-21 Method of determining crystal radiation defects

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1196752A1 true SU1196752A1 (en) 1985-12-07

Family

ID=21053785

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833564454A SU1196752A1 (en) 1983-03-21 1983-03-21 Method of determining crystal radiation defects

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1196752A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5520052A (en) Method and apparatus for determining material structural integrity
US4102205A (en) Method and apparatus for ultrasonic nondestructive testing of workpieces with automatic compensation for the probe, workpiece material, and temperature
US5351543A (en) Crack detection using resonant ultrasound spectroscopy
US5408880A (en) Ultrasonic differential measurement
Goujon et al. Behaviour of acoustic emission sensors using broadband calibration techniques
US2484623A (en) Thickness measurement
SU917711A3 (en) Method of tuning ultrasonic apparatus
JPS6314762B2 (en)
SU1196752A1 (en) Method of determining crystal radiation defects
Theobald et al. Acoustic emission transducers—development of a facility for traceable out-of-plane displacement calibration
RU2354932C2 (en) Resonance method of ultrasonic thickness measurement
RU2619812C1 (en) Method of non-destructive testing of hidden defects in technically complex structural element which is not accessible and device for its implementation
Gushchina et al. Development of the experimental equipment for measuring the velocity of ultrasonic waves with high accuracy
RU2112235C1 (en) Method for measuring attenuation variables of elastic waves
SU1392429A1 (en) Method of determining tension in samples
SU868563A1 (en) Method of non-destructive testing of ferromagnetic articles
RU1781596C (en) Ultrasound method of checking of nondispersed media
RU2051345C1 (en) Method of testing elongated building constructions
RU2085880C1 (en) Process of test of extended construction structures
SU819709A2 (en) Acoustical method of flaw detection
SU819685A1 (en) Method of measuring ultrasonic wave damping
Tao et al. Evaluation of strength of concrete by linear predictive coefficient method
SU716135A1 (en) Method of non-destructive quality control of piezoelements
SU1582112A1 (en) Method of determining speed of propagation of uldtrasonic oscillations
JP3679887B2 (en) Automation method in absolute calibration method of vibration pickup using interference fringe counting method