SU1193566A1

SU1193566A1 - Способ магнитной дефектоскопии

Info

Publication number: SU1193566A1
Application number: SU843709766A
Authority: SU
Inventors: Николай Николаевич Бакурский; Владимир Николаевич Мортиков
Priority date: 1984-03-11
Filing date: 1984-03-11
Publication date: 1985-11-23

Abstract

СПОСОБ МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ , заключающийс в том, что на поверхности намагниченного издели размещают магниточувствительную линзу, направл ют луч света на линзу через пол ризатор и по распределению ркости пол ризованного света определ ют наличие дефектов , отличающийс тем, что, с целью повышени надежности и упрощени процесса контрол , ис- пользуют магниточувствительную линзу в виде стекл нной пластины, покрытой с одной стороны оптически прозрачной обладающей магнитооптическими свойствами ферромагнитной пленкой,а с другой стороны - отра- жающим свет зеркальным немагнитным составом, размещают линзу параллельно поверхности контролируемого издели , направл ют луч света на линзу перпендикул рно контролируе мой поверхности, а распределение (Л ркости пол ризованного света на пластине в зависимости от магнитного пол рассе ни наблюдают со стороны источника света.

Description

t

Изобретение относитс к неразрушающим методам дефектоскопии, а именно магнитным методам, и может быть использовано дл контрол магистр .альных трубопроводов на наличи дефектов поверхйости в различных отрасл х машиностроени .

Цель изобретени - повышение надежности способа и упрощение процесса контрол . .

На чертеже представлено устройство дл осуществлени способа.

Устройство содержит магниточувствительную линзу в виде Плоскопараллельной стекл нной пластины 1 с зеркальным неферромагнитным покрытием 2 и прозрачным ферромагнитным обладающим магнитооптическими свойствами покрытием 3. Над линзой размещают пол ризатор 4, формирующий плоскопол ризованный луч 5 света.

Магниточувствительна линза размещаетс над поверхностью контролируемого издели 6.

Способ осуществл етс следующим образом.

Луч 5 света от искусственного или естественного источника пропускают через пол ризатор 4 перпендикул рно исследуемой поверхности издели 6, оптически прозрачное ферромагнитное покрытие 3 и стекл нную пластину 1.

Пройд через пол ризатор 4, луч света пол ризуетс и попадает на

93566 .

ферромагнитное покрытие З. Оно вращает плоскость пол ризации луча на угол 9 , пропорциональный толщине J ферромагнитного покрыти 5 3, величине Н напр женности магнитного пол перпендикул рного плоскости линзы

9 -с -2- Н„, где С - коэ(1 фициент, завис щий от

О свойства ферромагнетика.

Пройд через стекл нную пластину 1, пол ризованный луч с измененным на б углом пол ризации отражаетс без изменени угла пол ризации от

15 зеркального покрыти 2 и вторично проходит через стекл нную пластину 1 и магнитооптическое ферромагнитное покрытие 3. В качестве магнитооптической пленки могут быть использованы соединени типа железоиттриевых гранатов, обладающих рко вьфаженным эффектом Фараде .

При прохождении отраженного луча через ферромагнитное покрытие 3

25 происходит поворот его угла пол ризации в ту же сторону и на тот же угол в .

Таким образом, угол пол ризации луча при его вхождении в пол ризатор 4 будет 2 9 . Пол ризатор 4 в этом случае будет вьшолн ть роль анализатора и наблюдатель увниит картину распределени пол ркости в соответствии с распределением пол рассе ни дефектов в изделии 6.

Claims

СПОСОБ МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ, заключающийся в том, что на поверхности намагниченного изделия размещают магниточувствитель— ную линзу, направляют луч света на линзу через поляризатор и по распределению яркости поляризованного света определяют наличие дефектов, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности и упрощения процесса контроля, используют магниточувствительную линзу в виде стеклянной пластины, покрытой с одной стороны оптически прозрачной обладающей магнитооптическими свойствами ферромагнитной пленкой,а с другой стороны - отражающим свет зеркальным немагнитным составом, размещают линзу параллельно поверхности контролируемого изделия , направляют луч света на линзу перпендикулярно контролируемой поверхности, а распределение яркости поляризованного света на пластине в зависимости от магнитного поля рассеяния наблюдают со стороны источника света.

SU ,.„1193566 >