SU117426A1 - Method for investigating parameters of gas discharge plasma - Google Patents
Method for investigating parameters of gas discharge plasmaInfo
- Publication number
- SU117426A1 SU117426A1 SU583345A SU583345A SU117426A1 SU 117426 A1 SU117426 A1 SU 117426A1 SU 583345 A SU583345 A SU 583345A SU 583345 A SU583345 A SU 583345A SU 117426 A1 SU117426 A1 SU 117426A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- probe
- discharge plasma
- gas discharge
- parameters
- oscilloscope
- Prior art date
Links
Landscapes
- Plasma Technology (AREA)
Description
И,3|01б,рвтеии.е отно зитс КОпоооб.ам .исследовани параметров газоразр дной плазмы путем сн ти импульсных зондовых характеристик с напоаредсрвенным наблюдением аоидовой характеристики на экране осциллографа в полулогарифмическом масштабе.And, 3 | 01b, rvteii.e refers to Kopoob.am. Research of parameters of gas-discharge plasma by removing pulsed probe characteristics from direct viewing of aoid characteristic on the oscilloscope screen on a semi-log scale.
Известные способы сн ти зондовых характеристик газоразр дной плазмы требуют дл получени голулогарифмического ма Н1таба Либо специальной обработки результатов измерений, либо сложной схемы развертки электронного луча в осциллографе.Known methods for removing the probe characteristics of a gas-discharge plasma require either special processing of measurement results or a complex scanning pattern of an electron beam in an oscilloscope to obtain a holodarithmic method.
В отличие от известных способов описываемый способ основан на принудительном пропускании через зонд экспоненциально опадающего тока, Бследств.ие чего при л.инейной во времени развертке аир жени на экране осциллографа получаетс зондова характеристика в полуJюгapифмичecкoм масштабе.In contrast to the known methods, the described method is based on forcing an exponentially falling current through the probe, the Future, with a linear in-time sweep of the antenna on the oscilloscope screen, the probe characteristic is obtained on a semi-irregular scale.
Описываемый способ заключаетс в следующем.The described method is as follows.
Через зонд, помещенный в газоразр дную плазму, пропускаетс экспоненциально опадающий що времени ток /. Напр жение, возникающее на зонде вследств;ие прохождени тока, подаетс ма вход вертикальных отклон ющих пластин осциллографа . Ждуща развертка осциллографа запускаетс в нулевой момент времени. Таким образом, отклонение луча на экране осциллографа в вертикальном направлении оказываетс пропорциональным напр жению на зонде, а отклонение луча в гор.изонтальном направлении-пропорциональным логарифму тока зонда.An exponentially current-falling current is transmitted through a probe placed in a gas-discharge plasma. The voltage that occurs on the probe as a result of the current passing through it is supplied to the input of the vertical deflection plates of the oscilloscope. Waiting for the oscilloscope sweep to start at time zero. Thus, the deviation of the beam on the oscilloscope screen in the vertical direction is proportional to the voltage on the probe, and the deviation of the beam in the horizontal direction is proportional to the logarithm of the probe current.
В результате .на экране осциллографа получаетс зондова характеристика газоразр дной плазмы в полулогарифмическом масштабе.As a result, on the oscilloscope screen, a probe characteristic of a gas discharge plasma at a semi-log scale is obtained.
Описываемый сп.особ может быть применен при любых измерени х параметров плазмы, когда наличие МаксвеллОБСКОГО распределени электронов по скорост м делает желательпым получение зондовой характеристики в полулогарифмическом маснхтабе.The described method can be used for any measurements of plasma parameters, when the presence of the Maxwell – Electron velocity distribution of electrons makes it desirable to obtain a probe characteristic in a semilogarithmic mashtab.
Предмет изобретени Subject invention
Способ исследовани параметров газоразр дной плазмы нутем сн ти The method of studying the parameters of a gas-discharge plasma
Лг 117426- 2 - «Lg 117426-2 - "
импульсных характе1)истик зонда. функции от .логарифма тока чепомешеиного в плазму, с наблюде -pt3 зонд, току зонда нридают эксиием характеристик на эк)ане ос--.impulse characteristics 1) istik probe. the functions of the log current of the four-way plasma into the plasma, with the supervised -pt3 probe, the current of the probe, are thrown by an ecstasy of the characteristics on the ec - an axis.
циллографа в 1К)лулога1)ифмическомпоненцийлыю снадаюшую форму иcylinder in 1K) lugue1) and the physical contingent form and
масштабе, о т л и ч а ю tri и if с и тем,производ т линейную во времениthe scale of the tri and if with and so produce a linear in time
что, с целью наблюдени на экранеразвертку нанр жени , возникаюосциллографа нанр жени iHa зонде него на зонде.that, in order to observe on the screening scanner, an iHa probe oscilloscope is generated on the probe.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU583345A SU117426A1 (en) | 1957-09-16 | 1957-09-16 | Method for investigating parameters of gas discharge plasma |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU583345A SU117426A1 (en) | 1957-09-16 | 1957-09-16 | Method for investigating parameters of gas discharge plasma |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU117426A1 true SU117426A1 (en) | 1957-11-30 |
Family
ID=48389575
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU583345A SU117426A1 (en) | 1957-09-16 | 1957-09-16 | Method for investigating parameters of gas discharge plasma |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU117426A1 (en) |
-
1957
- 1957-09-16 SU SU583345A patent/SU117426A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US2519367A (en) | Method of and apparatus for detecting defects in objects | |
US3293429A (en) | Apparatus for detection and intensity measurement of high energy charged particle beams | |
KR900000683A (en) | Pattern Shape Measuring Device | |
KR970011874A (en) | Partial discharge measurement method using frequency spectrum analyzer | |
GB1058862A (en) | An eddy current nondestructive testing device | |
US3714424A (en) | Apparatus for improving the signal information in the examination of samples by scanning electron microscopy or electron probe microanalysis | |
SU117426A1 (en) | Method for investigating parameters of gas discharge plasma | |
US2694151A (en) | Mass spectrometry | |
Haeff | Minimum detectable radar signal and its dependence upon parameters of radar systems | |
US3531715A (en) | Methods and apparatus for examination and measurement by means of nuclear magnetic resonance phenomena | |
Hieftje et al. | New developments and final frontiers in inductively coupled plasma spectrometry. Plenary lecture | |
GB995623A (en) | Pulse excitation apparatus for non-destructively testing materials | |
US2958774A (en) | Omegatron with orbit increment detection | |
SU147793A1 (en) | Device for interpreting geophysical anomalies | |
Wood | A method of frequency measurement with the cathode ray oscillograph | |
US1389836A (en) | Colorimeter and the like | |
SU849074A1 (en) | Electroconductive object non-destructive testing method | |
SU132867A1 (en) | Method for analyzing random processes | |
DE834023C (en) | Mass spectrograph | |
SU146812A1 (en) | Method for measuring characteristics of cathodoluminescent screens | |
SU149476A1 (en) | Device for measuring electron beam parameters of electron beam devices | |
US3144764A (en) | Ultrasonic inspection system | |
SU418859A1 (en) | ||
SU141518A1 (en) | Device for automatically determining the dependence of the frequency of the microwave generator with electronic tuning on the magnitude of the control voltage | |
SU859899A1 (en) | Matrix converter of magnetic fields |