Изобретение относитс к иэмерительной технике и может быть использовано вустройствах дл автоматической проверки электронных блоков по динамическим параметрам, в частности в устройствах дл измерени задержек в микросхемах, лини х и схе мах задержки кабел х, проводах. Цель изобретени - повьпвение точ|ности измерени динамических парамет ров электронных блоков за счет исключени погрешности от неидентичности задержек схемы совпадени по разным входам. На чертеже представлена схема измерител . Измеритель содержит цепь 1 из последовательно соединенных микросхем 2 дискриминатор 3, блок 4 индикации, элемент 5 И-ИЛИ с четырьм входами, первый и второй элементы 6 И и 7i элемент 8 регулируемой задержки, элемент 9 задержки, клемма 10 дл подключени входа объекта контрол 1 клеммы 12 и 13 дл подключени управ л ющих сигналов, клемма 14 дл подключени входа объекта контрол . Эле мент 8 регулируемой задержки служит дл установки нул измерител . Первый вход дискриминатора 3 соединен с клеммой дл подключени источника опорного напр жени . Вход эл мента 8 регулируемой задержки соединен с входом элемента 9 задержки и с первым выходом цепи 1, вход кото рой соединен с выходом элемента 5 ИИЛИ , первый вход которого соединен с первым входом первого 7 элемента И и с клеммой 13 дл подключени управ л ющего сигнала, второй вход - с выходом дискриминатора 3., третий вход с клеммой 12 дл подключени управл ющего сигнала, четвертый вход с выходом второго 6 элемента И, первый вход которого соединен с выходом элемента 8 регулируемой задержки, второй вход - с третьим входом элеме та 5 И-ИЛИ, второй вход дискриминатора 3 соединен с клеммой 10 дл под ключени выхода объекта контрол 11, выход элемента 9 задержки соединен с вторым входом первого 7 элемента И выход которого .соединен с клеммой 14 дл подключени входа объекта контро л , второй выход цепи 1 из последовательно соединенных микросхем 2 подключен к блоку 4 индикации. Функции блока 4 индикации может выполн ть цифровой частотомер 43-50, в состав которого входит счетно-решающее устройство с программным управлением . Устройство работает следующим образом . Перед началом измерений замыкают клемму 14 измерител с его клеммой 10. На клемму 12 подаетс сигнал на клемму 13 1. Образуетс кольцевой генератор из элементов 3,5,1,9,7, период следовани которого равен удвоенной задержке перечисленных элементов цепи. С помощью блока 4 индикации период генератора преобразуетс в цифровой код. Затем на клемму 12 подаетс сигнал 1, на клемму 13 . В этом случае кольцевой генератор образуетс из элементов 5,1,8,6, период следовани которого устанавливаетс равным периоду кольцевого генератора из элементов 3,5,1,9,7 при предыдущем измерении и блок 4 индикации установитс в нулевое состо ние . Затем к клемме 10 измерител подключаетс выход объекта контрол 11, а его вход подключаетс к клемме 14 измерител и повтор ютс оба цикла, измерени вновь. В первом цикле период кольцевого генератора равен удвоенной задержке элементов 3,5, 1,9,7 и объекта контрол 11, во втором случае - элементов 5,1,8,6. Но так как задержка элементов 3,5,1,9 и 7 равна задержке элементов 5,1, 8,6,. то зафиксированное на индикаторе число покажет удвоенную задержку в провер емом блоке. Введение дополнительного компенсирующего кольца с возможностью регулировки периода генератора дает возможность исключить вли ние переключателей , ключей, соединительных проводников , дискриминатора на результат измерени , повьппа тем самым точность измерени , особенно при измерени х нано- и пикосекундной диапазонах. Кроме того, использование бесконтактных коммутаторов позвол ет увеличить скорость измерени и автоматизировать процесс измерени в многоканальных системах.The invention relates to a measuring technique and can be used by devices for automatically checking electronic components by dynamic parameters, in particular, in devices for measuring delays in chips, lines and delay circuits of cables and wires. The purpose of the invention is to improve the accuracy of measuring the dynamic parameters of electronic units by eliminating the error from non-identical delays in the coincidence circuit over different inputs. The drawing shows a diagram of the meter. The meter contains circuit 1 of series-connected microcircuits 2 discriminator 3, display unit 4, element 5 AND-OR with four inputs, first and second elements 6 AND and 7i adjustable delay element 8, delay element 9, terminal 10 for connecting the control object 1 input terminals 12 and 13 for connecting control signals; terminal 14 for connecting the control object input. Element 8 adjustable delay is used to set the zero gauge. The first input of the discriminator 3 is connected to a terminal for connecting a voltage source. The input of the adjustable delay element 8 is connected to the input of the delay element 9 and to the first output of the circuit 1, the input of which is connected to the output of the ORI element 5, the first input of which is connected to the first input of the first 7 And element and to terminal 13 for connecting the control signal , the second input is with the output of discriminator 3., the third input is with terminal 12 for connecting a control signal, the fourth input is with the output of the second 6I element, the first input of which is connected to the output of the adjustable delay element 8, the second input is with the third input of 5th element And-or, sec The input of the discriminator 3 is connected to terminal 10 for connecting the output of the test object 11, the output of the delay element 9 is connected to the second input of the first 7 element, and the output of which is connected to terminal 14 for connecting the input of the control object, the second output of circuit 1 of serially connected 2 is connected to the display unit 4. The functions of the display unit 4 can be performed by a digital frequency meter 43-50, which includes a computer-controlled computing device. The device works as follows. Before starting measurements, the terminal 14 of the meter with its terminal 10 is closed. At terminal 12, a signal is sent to terminal 13 1. A ring oscillator of elements 3,5,1,9,7 is formed, the period of which is equal to twice the delay of the listed circuit elements. Using the display unit 4, the period of the generator is converted into a digital code. Signal 1 is then applied to terminal 12, to terminal 13. In this case, the ring generator is formed from elements 5,1,8,6, the follow-up period of which is set equal to the period of the ring generator from elements 3,5,1,9,7 in the previous measurement and display unit 4 is set to the zero state. Then, the output of the test object 11 is connected to terminal 10 of the meter, and its input is connected to the terminal 14 of the meter and both cycles are repeated, the measurements are repeated. In the first cycle, the period of the ring generator is equal to twice the delay of the elements of 3.5, 1.9.7 and the control object 11, in the second case - the elements of 5,1,8,6. But since the delay of elements 3,5,1,9 and 7 is equal to the delay of elements 5,1, 8,6,. then the number fixed on the indicator will show twice the delay in the tested block. The introduction of an additional compensating ring with the ability to adjust the generator period makes it possible to eliminate the influence of switches, switches, connecting conductors, the discriminator on the measurement result, thus measuring accuracy, especially when measuring the nano- and picosecond ranges. In addition, the use of contactless switches allows to increase the measurement speed and automate the measurement process in multi-channel systems.