SU1149123A1 - Оптико-электронное устройство дл измерени линейных перемещений - Google Patents

Оптико-электронное устройство дл измерени линейных перемещений Download PDF

Info

Publication number
SU1149123A1
SU1149123A1 SU833637472A SU3637472A SU1149123A1 SU 1149123 A1 SU1149123 A1 SU 1149123A1 SU 833637472 A SU833637472 A SU 833637472A SU 3637472 A SU3637472 A SU 3637472A SU 1149123 A1 SU1149123 A1 SU 1149123A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
unit
measured
measure
measuring
photodetectors
Prior art date
Application number
SU833637472A
Other languages
English (en)
Inventor
Эдуард Кириллович Яценко
Григорий Яковлевич Кивензор
Original Assignee
Украинский Научно-Исследовательский Институт Станков И Инструментов
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Украинский Научно-Исследовательский Институт Станков И Инструментов filed Critical Украинский Научно-Исследовательский Институт Станков И Инструментов
Priority to SU833637472A priority Critical patent/SU1149123A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1149123A1 publication Critical patent/SU1149123A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОЕ УСТРОЙСТВО ДПЯ ИЗЬШРЕШЯ ЛИНЕЙНЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ , содержащее монохроматический источник света и последовательно установленные по ходу излучени  измерительную и индикаторную дифракционные решетки с одинаковым шагом, блок фотоприемников и блок регистpdi iH , отличающеес  тем,, что, с целью повышени  точности измерени  , индикаторна  решетка установлена так, что плоскость расположени  ее штрихов составл ет двугранный угол с плоскостью расположени  штрихов- измерительной решетки, ребро двугранного угла параллельно штрихам решеток, а блок фотоприемников расположён в вершине угла, образованного пересечением оптических осей пучков одноименных пор дков дифракции на измерительной и (Л индикаторной решетках, так что входна  плоскость блока фотоприемников перпендикул рна биссектрисе этого угла.

Description

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и может бьпь использовано в измерительных системах координатно-измерительных машин, станков и приборов активного контрол .
Известно оптико-электронное устройство дл  измерени  перемещений , содержащее источник света и последовательно расположенные по ходу излучени  индикаторную и измерительную растровые решетки и блок фотоприемников 03
Недостатком устройства  вл етс  низка  разрешающа  способность вследствие к)упного шага растровых решеток.
Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату к изобретению  вл етс  оптико-электронное устройство дл  измерени  линейных перемещений, содержащее монохроматический источник света и последовательно установленные по ходу излучени  измерительную и индикаторную дифракционные решетки с одинаковым шагом, блок фотоприемников и блок регистрации 2 .
Недостатком известного устройства  вл етс  невысока  точность измерени  вследствие низкой контрастности муаровых полос.
Цель изобретени  - повьшение точности измерени .
Дл  достижени  поставленной цели в оптико-электронном устройстве дл  измерени  линейных перемещений, содержащем монохроматический источник света и последовательно устанойленные по ходу излучени  измерительную и индикаторную дифракционные решетки с одинаковьм ща:гом, блок фотоприемников и блок регистрации, индикаторна  решетка установлена так, что плоскость расположени  ее штрихов составл ет двугранный угол с плоскостью расположени  штрихов измерительнойрешетки, ребро двугра ного угла параллельно штрихам решеток , а блок фотоприемников расположен в вершине угла, об1 азованного пересечением оптических-осей -пучков одноименных пор дков дифракции на измерительной и индикаторной решетках , так что входна  плоскость блока фотоприемников перпендикул рна биссектрисе этого угла.
1491232
На чертеже представлена схема оптико-электронного устройства дл  измерени  линейных перемещений.
Устройство содержит монохроматический источник 1 света и последовательно установленные по ходу излучени  измерительную и индикаторную дифракционные решетки 2 и 3 с одинаковым шагом, блок 4 фотоприto емников и блок 5 регистрации. Индикаторна  решетка 3 установлена так, что плоскость расположени  ее штри .хов составл ет двугранный угол с плоскостью расположени  штрихов 15 измерительной решетки 2, ребро двугранного утла параллельно штрихам решеток 2 и 3, а блок 4 фотоприемников расположен в вершине угла, образованного пересечением оптических пучков одноименных пор дков дифракции на измерительной и индикаторной решетках 2 и 3, так что входна  плоскость блока 4 фотоприемников перпендикул рна биссектрисе 25 этого угла.
Устройство работает следующем образом .
Луч монохроматического источника 1 с длиной волны Л падает на измери„ тельную дифракционную решетку 2,
имеющую шаг d , под углом i , претерпевает преломление и дифракцию. Ввиду того, что дл  большинства профилей дифракционньк решеток интенсивность лучей в пор дках вьш1е первого мала, используютс  пучки одноименных первых пор дков дифракции на измерительной и индикаторной дифракционной решетках 2 и 3.
Луч периого пор дка дифракции на измерительной дифракционной решетке 2 выходит из решетки под углом б , определ емым из известного соотношени 
«}
5100 « sini -д-
На индикаторную дифракционную решетку 3 падает пучок нулевого пор дка под углом 1 ср . Угол пучка у первого пор дка дифракции излучени  на индикаторной решетке 3 определ етс  из выражени 
5;ny + sini,-cfbj

Claims (1)

  1. ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ, содержащее монохроматический источник света и последовательно установленные по ходу излучения измерительную и индикаторную дифракционные решетки с одинаковым шагом, блок фотоприемников и блок регистрации, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения , индикаторная решетка установлена так, что плоскость расположения ее штрихов составляет двугранный угол с плоскостью расположения штрихов· измерительной решетки, ребро двугранного угла параллельно штрихам решеток, а блок фотоприемников расположён в вершине угла, образованного пересечением оптических осей пучков одноименных порядков дифракции на измерительной и индикаторной решетках, так что входная плоскость блока фотоприемников перпёндикулярна биссектрисе этого угла.
SU833637472A 1983-08-29 1983-08-29 Оптико-электронное устройство дл измерени линейных перемещений SU1149123A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833637472A SU1149123A1 (ru) 1983-08-29 1983-08-29 Оптико-электронное устройство дл измерени линейных перемещений

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833637472A SU1149123A1 (ru) 1983-08-29 1983-08-29 Оптико-электронное устройство дл измерени линейных перемещений

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1149123A1 true SU1149123A1 (ru) 1985-04-07

Family

ID=21079990

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833637472A SU1149123A1 (ru) 1983-08-29 1983-08-29 Оптико-электронное устройство дл измерени линейных перемещений

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1149123A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2534378C1 (ru) * 2013-05-13 2014-11-27 Федеральное государственное бюджетное учреждение "Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова" Датчик линейных перемещений

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Фотоэлектрические преобразователи информации. Под ред. Л.Н. Преснухииа, М., Машиностроение, 1974, с. 180. 2. Bucrh J.M. The metrological applications of diffraction gratings. - Progress in optics, V. 2, 1963 p. 85-106 (прдтотип). *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2534378C1 (ru) * 2013-05-13 2014-11-27 Федеральное государственное бюджетное учреждение "Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова" Датчик линейных перемещений

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5214280A (en) Photoelectric position detector with offset phase grating scales
SU1450761A3 (ru) Устройство дл измерени относительных перемещений двух объектов
GB1516536A (en) Measuring apparatus
US10670431B2 (en) Encoder apparatus that includes a scale and a readhead that are movable relative to each other configured to reduce the adverse effect of undesirable frequencies in the scale signal to reduce the encoder sub-divisional error
DE3776742D1 (de) Lichtelektrische winkelmesseinrichtung.
US4606642A (en) Measuring arrangement for the clear scanning of at least one reference mark allocated to a graduation
US3900264A (en) Electro-optical step marker
JPS58191907A (ja) 移動量測定方法
SU1149123A1 (ru) Оптико-электронное устройство дл измерени линейных перемещений
US4231662A (en) Phase shift correction for displacement measuring systems using quadrature
CN1032757A (zh) 火花电蚀加工机
CN106247992A (zh) 一种高精度、宽范围和大工作距自准直装置与方法
US4867568A (en) Optoelectronic measuring system
CN212180228U (zh) 一种光栅周期的测量装置
ATE48699T1 (de) Lichtelektrische laengen- oder winkelmesseinrichtung.
JPS5963517A (ja) 光電式エンコ−ダ
JP2571694B2 (ja) レベル測量用スタッフの光ファイバを利用した受光位置検出装置
JPS6232403B2 (ru)
JPH08320205A (ja) 干渉縞の評価装置及びそれを用いた回折干渉光学系の検査方法
JP2861804B2 (ja) 測長装置
EP3527953B1 (en) Methods to calculate the shape of a mask slots of an optical incremental encoder
JPH0733134Y2 (ja) 光学式変位検出装置
SU1696855A1 (ru) Двухкоординатный оптикоэлектронный угломер
JPH0454166B2 (ru)
SU823273A1 (ru) Оптико-электронное измерительноеуСТРОйСТВО