Изобретение относитс к измерительной технике, а более точно к средствам контрол качества покрытий проволоки. Известно устройство дл контрол покрыти электропроводов, состо щее из индикаторных роликов и датчи ка в виде магнита и соленоида, подключенного через усилитель к реле l Указанное -устройство, работающее на основе измерени электрического контакта, принципиально не может обнаруживать дефекты и,зол ции в виде трещин с малым раскрытием. Наиболее близким по технической сущности к изобретению вл етс оптическое устройство дл контрол качества покрытий, содержащее источник света с системой фокусировки и оптический детектор (фотоприемник Однако это устройство может регистрировать только.определенный класс дефектов, а именно - большое количество трещин на малом участке требуемое дл получени дифракции, и не может обнаруживать прот женные дефекты и одиночные нарушени сплош ности покрыти проволоки. Цель изобретени г- повышение чувствительности контрол качества покрыти проволоки. Указанна цель достигаетсс тем что в оптическом устройстве дл кон рол качества покрытий, содержащем источник света, систему фокусировки и фотоприемник, система фокусировки выполнена в виде линзы со сквозным отверстием по оптической оси и снаб жена установленной центром в фокусе линзы интегрирующей сферой с диамет рально противоположно расположенными окнами, лежащими на оптической оси устройства, а также окном, в ко тором параллельно этой оптической оси размещен фотоприемникi Применение интегрирующей сферы, снабженной окнами, увеличивает градиент светового излучени (наблюдаетс вспышка света), обусловленного по влением дефекта, в результате чего повьпиаетс быстродействие и чувствительность контрол . На чертеже показана схема оптического устройства дл контрол покрытий. Устройство состоит из системы фокусировки, в качестве которой установлена оптическа линза 1 с от верстием дл пропускани контролируемой проволоки 2 и интегрирующей сферы 3, содержаща окна 4 и 5 дл прохождени проволоки 2 и пропускани падающего и отраженного пучка света, фокусируемого линзой 1 на поверхность проволоки в участке 6, расположенном в центре сферы 3. Окн 7 сферы 3 служит дл размещени фо т топриемника 8 и выхода рассе нного дефектом светового потока. Фотоприемник 8 электрически св зан с блоком 9 измерени и управлени технолоническим процессом. Блок 9 подключен также к формирователю 10 синхроимпульсов , вырабатываемых модул тором 11, расположенным между источником света и системой фокусировки (линзой ) 1. Дл осуществлени контрол можно использовать спект 0,25-1,1 мкм. Пучок света фокусируют линзой 1 на поверхность контролируемой проволоки 2 на участок б, расположенный в центре сферы 3. Если на поверхность проволоки имеютс дефекты, то участок 6 обуславливает рассе нное излучение общего падающего потока т , которое падает на диффузию отражающие поверхности стенок интегрирующей сферы 3. Учитыва , что отражающа способность поверхности образца г S отражакица способность nor верхности стенки сферы о ° ток света при первом отражении составит . «Р. РСТ- Гоб.рТак как используема сфера имеет диффузно отражающие стенки, внутри возникает вспышка света интенсивности Обр 2 Ч 5 cT- --5 -r,/o&P где 5 - площадь внутренней поверхности сферы. Таким образом, показани оптического фотоприемника 8, воспринимающего свечени внутри сферы через окно, имеют величину, пропорциональную величине рассеивани поверхности образца Говр 50-ГстУ° Р где f - коэффициент пропорциональности . Чем больше коэффициент отражени стенок.сферы г и меньше площадь & Фем больше величина сигнала а , снимаемого с фотоприемника 8. Так как параметры у , 9 , 5 , ст посто нные , показани фотоприемника в общем случае пропорциональны коэффициенту ГоБр , характеризующему величину дефектов. Сигнал с фотоприемника 8 поступает в блок 9 синхронного детектировани и усилени сигнала, туда же поступают синхроимпульсы из формировател 10. С целью повышени чувствительности измерительной схемы облучак ций поток света модули- . рует механическим модул тором 11, который служит также дл вырабаты311400174The invention relates to a measurement technique, and more specifically to means of controlling the quality of wire coatings. A device for monitoring the coating of electrical wires is known, consisting of indicator rollers and a sensor in the form of a magnet and a solenoid connected via an amplifier to a relay. L This device, which works on the basis of measuring electrical contact, cannot detect defects and, in principle, cracks. with little disclosure. The closest in technical essence to the invention is an optical device for monitoring the quality of coatings containing a light source with a focusing system and an optical detector (photodetector However, this device can only detect a certain class of defects, namely a large number of cracks in a small area required to obtain diffraction, and cannot detect extended defects and single discontinuities of wire coating. The purpose of the invention is to increase the sensitivity of quality control wire cover. This goal is achieved by the fact that in an optical device for monitoring coating quality, containing a light source, a focusing system and a photodetector, the focusing system is made in the form of a lens with a through hole along the optical axis and provided with an established center in the focus of the lens oppositely located windows lying on the optical axis of the device, as well as a window in which the photodetector is placed parallel to this optical axis i ennoy windows increases the gradient of the light rays (observed flash of light), due to the advent of the defect, whereby povpiaets speed and sensitivity control. The drawing shows a diagram of an optical device for monitoring coatings. The device consists of a focusing system, which is equipped with an optical lens 1 with a version for passing the controlled wire 2 and an integrating sphere 3, comprising windows 4 and 5 for passing the wire 2 and passing the incident and reflected light beam focused by the lens 1 onto the wire surface The area 6 located in the center of the sphere 3. The window 7 of the sphere 3 serves to accommodate the photo of the receiving device 8 and exit the light flux scattered by the defect. The photodetector 8 is electrically connected to the unit 9 for measuring and controlling the tehnolonical process. Unit 9 is also connected to the shaper 10 sync pulses produced by the modulator 11 located between the light source and the focusing system (lens) 1. For monitoring, you can use a spectrum of 0.25-1.1 µm. A beam of light is focused by a lens 1 onto the surface of the controlled wire 2 onto a segment b located in the center of sphere 3. If there are defects on the surface of the wire, region 6 causes the scattered radiation of the total incident flux t, which falls on the diffusion reflecting surfaces of the walls of the integrating sphere 3. Taking into account that the reflectivity of the sample surface g S reflector, the ability nor the top of the sphere wall о the light current at the first reflection will be. "R. PCT-Gob. As the used sphere has diffusely reflecting walls, inside there is a flash of light of intensity Obr 2 H 5 cT- --5 -r, / o & P where 5 is the area of the inner surface of the sphere. Thus, the readings of the optical photodetector 8, which perceives luminescence inside the sphere through a window, have a value proportional to the scattering value of the sample surface Govr 50-GstU ° P where f is the proportionality coefficient. The larger the reflection coefficient of the walls of the sphere r and the smaller the area of & Themes are larger than the magnitude of the signal a taken from the photodetector 8. Since the parameters y, 9, 5 are constant, the photoreceiver's readings are generally proportional to the GOr coefficient characterizing the magnitude of the defects. The signal from the photodetector 8 enters the block 9 of the synchronous detection and amplification of the signal, and the sync pulses from the generator 10 also arrive there. In order to increase the sensitivity of the measuring circuit of the irradiation, the light flow modulo-. It is driven by a mechanical modulator 11, which also serves as a modulator 311400174
вани импульсов синхронизации дл Предлагаемое устройство позвол етsynchronization pulses for the proposed device allows
блока 9. Из блока 9 сигнал можетвы вл ть не только дефекты в видеof block 9. Of block 9, the signal can be not only defects in the form
поступать на исполнительный механизммикротрещин, но и незначительныеarrive at the executive mechanisms of microcracks, but also minor
дл регулировани технологическимотклонени качества покрытий, мен юпроцессом .щие коэффициент отражени света.to regulate the technological variation of the quality of coatings, changing the process of reflecting light.