SU1104448A1 - Electronic unit checking device - Google Patents

Electronic unit checking device Download PDF

Info

Publication number
SU1104448A1
SU1104448A1 SU792745161A SU2745161A SU1104448A1 SU 1104448 A1 SU1104448 A1 SU 1104448A1 SU 792745161 A SU792745161 A SU 792745161A SU 2745161 A SU2745161 A SU 2745161A SU 1104448 A1 SU1104448 A1 SU 1104448A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
pulses
threshold
amplifier
indicator
amplitude
Prior art date
Application number
SU792745161A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Владимир Юрьевич Солонин
Original Assignee
Solonin Vladimir Yu
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Solonin Vladimir Yu filed Critical Solonin Vladimir Yu
Priority to SU792745161A priority Critical patent/SU1104448A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1104448A1 publication Critical patent/SU1104448A1/en

Links

Abstract

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОВЕРКИ ЭЛЕКТРОННЫХ БЛОКОВ, содержащее пороговый элемент, усилитель и индикатор , отличающеес  тем. что, с целью расширени  его функциональных возможностей, заключающихс  в определении качества разв зки по цеп м питани , в него введены подавитель помех и элемент запрета, причем входна  клемма устройства соединена с сигнальным входом элемента запрета и через последовательно соединенные пороговый элемент, усилитель и подавитель помех - с запрещающим входом элемента запрета, выход элемента запрета соединен с индикатором .A DEVICE FOR CHECKING ELECTRONIC BLOCKS, containing a threshold element, an amplifier and an indicator, characterized by that. that, in order to expand its functionality, which consists in determining the quality of the isolation over power supply lines, an interference suppressor and a prohibition element are inserted into it, and the input terminal of the device is connected to the signal input of the prohibition element and through series-connected threshold element, amplifier and noise suppressor - with a prohibiting entry of the prohibition element, the output of the prohibition element is connected to the indicator.

Description

SS

фиг.1figure 1

4ib. 4 44ib. 4 4

0000

Изобретение относитс  к контролно-измерительной электронной технике и может быть использовано при ктроле качества разв зки по питанию узлов электронных блоков.The invention relates to electronic control electronics and can be used for controlling the quality of isolation on the power supply of electronic components.

Известен испытатель логических схем, содержащий индикатор импульсов , индикатор уровней напр жени  индикатор длительности фронтов 1A well-known tester of logic circuits, which contains a pulse indicator, a voltage level indicator, and an edge duration indicator 1.

Наиболее близким к предлагаемому  вл етс  устройство дл  обнаружени  неисправностей, содержащее генератор стимулов, соединенный с клеммами дл  подключени  объекта контрол , индуктивный датчик, соединенный через усилитель и пороговый элемент с входом компаратора, с другим входом которого соединен источник опорного напр жени , а с его выходом - индикатор 2.The closest to the present invention is a device for detecting faults, containing a stimulus generator connected to the terminals for connecting the test object, an inductive sensor connected through an amplifier and a threshold element to the comparator input, to which the voltage source is connected to another input - indicator 2.

Однако известные устройства не позвол ют оценить качество разв зки активных элементов электронных блоков по цепи питани .However, the known devices do not allow us to estimate the quality of isolation of the active elements of electronic units through the power supply circuit.

Целью изобретени   вл етс  расширение функциональных возможносте устройства, заключающихс  в возможности оценки качества разв зки активных элементов электронных блоков по цепи питани .The aim of the invention is to expand the functionality of the device, which consists in the possibility of assessing the quality of isolation of the active elements of electronic units through the power supply circuit.

Поставленна  цель достигаетс  тем, что в устройство, содержащее пороговый элемент, усилитель и индикатор , введены подавитель помех и элемент запрета, причем входна  клемма устройства соединена с сигнальным входом элемента запрета и через последовательно соединенные пороговый элемент, усилитель и подавитель помех - с запрещающим входом элемента запрета, выход элемента запрета соединен с индикатором .The goal is achieved by including a noise suppressor and a barring element in a device containing a threshold element, an amplifier and an indicator, and the input terminal of the device is connected to the signal input of a prohibition element and through series-connected threshold element, an amplifier and noise suppressor - with a prohibiting element input ban, the output of the ban item is connected to the indicator.

На фиг.1 показана схема предложенного устройства; на фиг.2 - временные диаграммы работы устройства на фиг.З - пример выполнени  -предлженного устройства.Figure 1 shows the diagram of the proposed device; 2 shows timing diagrams of the operation of the device; FIG. 3 shows an exemplary embodiment of the proposed device.

Устройство дл  проверки электроных блоков содержит индикатор 1, элемент 2 запрета, пороговый элемент 3, усилитель 4, подавитель 5 помех.The device for checking electronic blocks contains indicator 1, prohibition element 2, threshold element 3, amplifier 4, noise suppressor 5.

Импульсы б (фиг.21 на провер емой цепи, модул , к которой подключено предложенное устройство/состо т из соседних импульсов 7 и 8 с разной амплитудой. Кроме того, все импульсы 6 с временем плавно измен ютс  по амплитуде. Порог 9 ограничени  сформирован пороговым элементом 3. Импульсы 10 и 11 - импульсы на выходе порогового элемента 3, импульсы 12 и 13 - на выходе усилител  4. Порог 14 ограничени  сфор лирован подавителем 5 помех,на выходе которого присутствуют импульсы 15 { изображены усиленными), импульсы 16 - на выходе элемента 2 запрета .The pulses b (Fig. 21 on the tested circuit, the module to which the proposed device is connected / consist of adjacent pulses 7 and 8 with different amplitudes. In addition, all the pulses 6 gradually vary in amplitude with time. The limiting threshold 9 is formed by a threshold element 3. Pulses 10 and 11 - pulses at the output of threshold element 3, pulses 12 and 13 - at the output of amplifier 4. The limiting threshold 14 is formed by noise suppressor 5, the output of which contains pulses 15 {are shown amplified), pulses 16 - at the output element 2 of the ban.

Работа предложенного устройства по сн етс  на примере проверки цепей модул  на цифровых микросхемах. Обнаружение цифровых микросхем, в которых возможны сбои срабатывани  или самовозбуждение, сводитс  к обнаружению сигнальных цепей, на которых присутствуют соседние импульсы The operation of the proposed device is illustrated by the example of checking the circuit of a module on digital chips. Detection of digital chips, in which malfunctioning or self-excitation is possible, is reduced to the detection of signal circuits on which adjacent pulses are present.

0 7 и 8, отличающиес  по амплитуде один от другого больше, чем в установленную подавителем 5 помех величину . Дл  этого предложенное устройство подсоедин ют по очереди к всем сигнальным цеп м (сигнальным проводникам , соедин квдим элементы провер емого модул . Обнаружив такую цепь наход т логический элемент, выход которого подключен к этой цепи. Это и будет искомый логический элемент (цифрова  микросхема). Индикатором 1 индицируютс  импульсы 8 с меньшей амплитудой. Работа предложенного устройства не зависит от длительности импульсов,, скважности их следовани , амплитуды и непосто нства этих параметров во времени. Различие по амплитуде импульсов 7 и 8 вызвано недостаточной разв зкой микросхем по питанию, в частности той микросхемы, к выходу которой подключена цепь с этими импульсами и соседней по питанию. В результате этого срабатывание соседней микросхемы , вызывающее изменение потребл емого тока за счет изменени  падени  напр жени  на общем активном и реактивном сопротивлении шин питани  и задержки распространени  сигналов по цеп м { в частности, волн изменени  тока по шинам питани ), вызывает локальное изменение напр жени  питани  на участке шин и питани , охватывающего провер емую микросхему.0 7 and 8, differing in amplitude from one another more than the value specified by the noise suppressor 5. For this, the proposed device is connected in turn to all signal circuits (signal conductors connected to the elements of the module under test. Having detected such a circuit, a logic element is found whose output is connected to this circuit. This will be the desired logic element (digital chip). Pulse 8 with a smaller amplitude is indicated by the indicator 1. The operation of the proposed device does not depend on the duration of the pulses, the duty cycle, the amplitude and inconsistency of these parameters over time. ows 7 and 8 are caused by insufficient isolation of the power supply circuits, in particular, the microcircuit to the output of which is connected a circuit with these pulses and the neighboring power supply, as a result of which the neighboring microcircuit triggers a change in the current consumption due to the change in the voltage active and reactive impedance of the power supply busbars and delayed propagation of signals along the circuits {in particular, of the waves of current change over the power supply buses), causes a local change in the supply voltage at the tire section and the power about verifiable microcircuit.

Величина различи  по амплитуде импульсов 7 и 8 отражает веро тность сбоев срабатывани  или самовозбуждени  провер емого логического элемен- та (чем больше это различие, тем больша  веро тность). Кроме этого, импульсы б плавно измен ютс  по амплитуде с временем. Это изменение вызвано другими причинами, например колебани ми напр жени  на выходе источника питани . На достоверность работы предложенного устройства плавное изменение амплитуд не оказывает вли ни . После прохождени  через элемент 3 и усилитель 4 импульсы 7 и 8 представл ютс  соответственно импульсами 12 и 13. Через подавитель 5 проход т только импульсы 12, импульсы 13 подавител  5 расцениваютс  как помехи и подавл ютс  (импульсы 13 меньше порога 14 ограничени , сформированного подавителем 5). Каждый импульс 12 корректирует порогThe magnitude of the difference in the amplitude of the pulses 7 and 8 reflects the probability of failures of operation or self-excitation of the logical element being tested (the larger this difference, the greater the probability). In addition, the pulses of b gradually vary in amplitude with time. This change is caused by other factors, such as voltage fluctuations at the output of the power supply. The smooth operation of the amplitudes does not affect the reliability of the proposed device. After passing through element 3 and amplifier 4, pulses 7 and 8 are represented by pulses 12 and 13. Only pulses 12 pass through suppressor 5, pulses 13 of suppressor 5 are regarded as interference and are suppressed (pulses 13 are less than threshold 14 of limitation generated by suppressor 5 ). Each pulse 12 adjusts the threshold

14 ограничени  по своей амплитуде, который затем остаетс  неизменным до прихода следутацего импульса 12, Таким образом, одновременно на два входа элемента 2 запрета поступают импульсы 7, что преп тствует их прохождению через этот элемент. Импульсы 8 не поступают на инверсный вход элемента 2 запрета, в результате чего беспреп тственно проход т через этот элемент. Индикатор 1 индицирует наличие этих импульсов. Величина порога 14 установлена такой, что наличие импульсов на провер емой цепи с амплитудой, меньшей этого порога, свидетельствует о наличиисбоев срабатывани  провер емого логического элемента и указывает на необходимость прин ти  мер дл  улучшени  разв зки провер емой микросхемы по питанию.14 restrictions on its amplitude, which then remains unchanged until the arrival of the next impulse 12, Thus, at the same time, impulses 7 arrive at the two inputs of prohibition element 2, which prevents them from passing through this element. The pulses 8 do not arrive at the inverse input of the prohibition element 2, as a result of which they freely pass through this element. Indicator 1 indicates the presence of these pulses. The threshold value 14 is set such that the presence of pulses on the tested circuit with an amplitude less than this threshold indicates the presence of malfunctions of the tested logic element and indicates the need for measures to improve the isolation of the tested power supply chip.

Предложенное устройство может использоватьс  не только дл  проверки цепей устройств, выполненных на цифровых микросхемах, но и дл  проверки цепей импульсных устройств, выполненных на дискретных элементах а также аналоговых устройств, работающих с гармоническими колебани ми (гармоническое колебани  можно представить как р д импульсов ), При этом пороговый элемент 3 должен автоматически устанавливать порог 9 ограничени  пропорционально амплитуде входных импульсов или гармонических колебаний (амплитуда импульсов или гармонических колебаний в схемах на дискретных элементах или аналоговых микросхемах может иметь самое различное значение и удерживать его в течение времени, значительно большего максимсшьно возможного времени между двум  соседними импульсами , Этот порог ограничени  не должен корректироватьс  каждым импульсом (при работе с цифровыми микросхемами этот порог ограничени  достаточно выполнить фиксированным, так как цифровые микросхемы, логические элементы, имеют только два состо ни  логические О и 1), т, пороговый элемент 3 должен содержат запоминающий конденсатор без ключа .сброса и с посто нной времени раз|р да , превосход щей максимально воз (можное врем  между двум  соседними импульсами. {(Ъиг,3),The proposed device can be used not only to check the circuits of devices made on digital microcircuits, but also to check the circuits of impulse devices made on discrete elements as well as analog devices operating with harmonic oscillations (harmonic oscillations can be represented as a series of pulses). This threshold element 3 should automatically set the limit threshold 9 in proportion to the amplitude of the input pulses or harmonic oscillations (the amplitude of the pulses or harmonics Oscillations in circuits on discrete elements or analog microcircuits can have a very different value and hold it for a time much longer than the maximum possible time between two adjacent pulses. This threshold should not be adjusted by each pulse (when working with digital microcircuits, this threshold is sufficient to meet fixed, since digital microcircuits, logical elements, have only two states logical O and 1), t, threshold element 3 must contain a memory conductive capacitor without .sbrosa key and with a time constant times | series, superior to that of maximum WHO (can be the time between two adjacent pulses. {(Pig, 3),

Устройство (фиг,3} содержит пороговый элемент 3, усилитель 4, подавитель 5 помех, элемент 2 запрета {здесь это элемент И, так как подавитель 5 инвертирует импульсы), индикатор 1 импульсов, интегрирующий конденсатор 17, усилитель 18. Пороговый элемент 3 содержит запоминающий конденсатор 19, резистор 20, первый согласующий каскад на транзисторе 21, диод 22, второй согласующий каскад на транзисторе 23, делитель напр жени  на резисторах 24 и 25, конденсатор 26, элемент сравнени  на транзисторе 27, диоде 28, резисторах 29 и.30, Усилитель 18The device (Fig 3) contains the threshold element 3, the amplifier 4, the noise suppressor 5, the prohibition element 2 {here it is the AND element, since the suppressor 5 inverts the pulses), the pulse indicator 1 integrating the capacitor 17, the amplifier 18. The threshold element 3 contains storage capacitor 19, resistor 20, first matching stage at transistor 21, diode 22, second matching stage at transistor 23, voltage divider at resistors 24 and 25, capacitor 26, comparison element at transistor 27, diode 28, resistors 29 and 30 Amplifier 18

охвачен автоматической регулировкой усилител , управл ющее напр жение дл  которой формируетс  истоковым повторителем , состо щим из транзистора 31 и резисторов 32 и 33, Благо0 дар  такому решению порогового элемента 3, наличи  усилител  18 с автоматической регулировкой усилени , достигаетс  независимость работы предложенного устройства от ампли5 туды входных импульсов или гармонических колебаний. Напр жение порога 9 ограничени  формируетс  на резисторе 25, Усилитель 4 выполнен на транзисторе 34 и резисторах 35 и 36,covered by automatic adjustment of the amplifier, the control voltage for which is formed by a source follower consisting of transistor 31 and resistors 32 and 33, Thanks to this solution of the threshold element 3, the presence of amplifier 18 with automatic gain control, independence of the proposed device from amplitude is achieved input pulses or harmonic oscillations. The threshold voltage 9 limiting is formed on the resistor 25, the Amplifier 4 is made on the transistor 34 and the resistors 35 and 36,

Подавитель 5 помех содержит ключInterference suppressor 5 contains the key

сброса на транзисторе 37 и схему управлени  этим ключом, содержащую диод 38, резистор 39 и дифференцирующую цепь 40 и 41, благодар  чему с достигаетс  корректировка порога 14 ограничени  каждым импульсом 12 пропорционально амплитуде этого импульса . Порог 14 ограничени  несет информацию об амплитуде последнего про шедшего импульса 12 (порог 9 огра0 ничени  несет информацию об общем амплитудном уровне входных импулъсов ) ,reset on the transistor 37 and the control circuit of this key, containing a diode 38, a resistor 39 and a differentiating circuit 40 and 41, so that with the correction threshold 14 of each pulse 12 is achieved proportional to the amplitude of this pulse. Limit threshold 14 carries information about the amplitude of the last transmitted pulse 12 (limit threshold 9 carries information about the overall amplitude level of the input pulses),

Интегрирующий конденсатор 17 необходим дл  подавлени  коротких им5 пульсов, возникающих в результате задержки си нала в подавителе 5,An integrating capacitor 17 is required to suppress short pulse pulses resulting from the delay of the signal in the suppressor 5,

Дл  повышени  удобства пользовани  предложенным устройством его выполн ют с несколькими индикатора0 ми импульсов, подключенными каждый через отдельный элемент запрета к своему устройству подавлени  импульсных помех, каждое из которых формирует свой порог 14 ограничени ,In order to increase the usability of the proposed device, it is performed with several pulse indicators, each connected via a separate prohibition element to its impulse noise suppression device, each of which forms its own threshold 14 of limitation

с в результате, каждый индикатор импульсов индицирует свою величину различи  амплитуд соседних импульсов на провер емой цепи.As a result, each pulse indicator indicates its own difference in the amplitudes of adjacent pulses on the tested circuit.

Таким образом, предложенным устройством можно проверить цепи практически любой радиотехнической схемы , так как в аналоговые схемы независимо от того, с какими сигналами они предназначены работать, можно подавать гармонические колебани Thus, the proposed device can test the circuits of almost any electronic circuit, since it is possible to apply harmonic oscillations to analog circuits regardless of which signals they are intended to operate with.

5 или импульсы с генератора и провер ть их прохождение с помощью предложенного устройства, Прюводить подобную проверку с помощью осциллографа затруднительно . Это св зано с труднос0 тью визуальной оценки сигналов на возможность сбоев срабатывани  или самовозбуждени , потому что соседние импульсы 8 с меньшей амплитудой следуют не об зательно через один с им5 пульсами 7, (как показано на фйг,2)15 or pulses from the generator and checking their passage with the aid of the proposed device, it is difficult to make such a check using an oscilloscope. This is due to the difficulty of visually assessing the signals for the possibility of tripping or self-excitation, because the adjacent pulses 8 with a smaller amplitude do not necessarily follow one after them with 5 pulses 7 (as shown in fig, 2) 1

Они могут следовать через несколько дес тков или сотен импульсов 7. Кро ме того, осциллограф имеет большиеThey can follow in a few tens or hundreds of pulses. 7. In addition, the oscilloscope has large

7 97 9

10 ff10 ff

П п П пnnnnn n«n n,nj.P p P pnnnnn n "n n, nj.

,r2f3 , r2f3

irir

вat

размеры и вес, а предложенное устройство можно выполнить карманным, в виде пробника.dimensions and weight, and the proposed device can be made pocket-sized, in the form of a probe.

Claims (1)

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОВЕРКИ ЭЛЕКТРОННЫХ БЛОКОВ, содержащее поро говый элемент, усилитель и индикатор, отличающееся тем, что, с целью расширения его функциональных возможностей, заключающихся в определении качества развязки по цепям питания, в него введены подавитель помех и элемент запрета, причем входная клемма устройства соединена с сигнальным входом элемента запрета и через последовательно соединенные пороговый элемент, усилитель и подавитель помех - с запрещающим входом элемента запрета, выход элемента запрета соединен с индикатором.DEVICE FOR CHECKING ELECTRONIC UNITS, containing a threshold element, amplifier and indicator, characterized in that, in order to expand its functionality, which determine the quality of isolation through the power supply circuits, an interference suppressor and a prohibition element are introduced into it, and the input terminal of the device is connected with the signal input of the inhibit element and through the threshold element, amplifier and interference suppressor connected in series with the inhibit input of the inhibit element, the output of the inhibit element is connected to the indicator. фиг.1figure 1 SU ,,,,1104448SU ,,,, 1104448
SU792745161A 1979-03-28 1979-03-28 Electronic unit checking device SU1104448A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792745161A SU1104448A1 (en) 1979-03-28 1979-03-28 Electronic unit checking device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792745161A SU1104448A1 (en) 1979-03-28 1979-03-28 Electronic unit checking device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1104448A1 true SU1104448A1 (en) 1984-07-23

Family

ID=20818834

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792745161A SU1104448A1 (en) 1979-03-28 1979-03-28 Electronic unit checking device

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1104448A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Радио, 1977, № 11, с.29. 2. Электроника, 1976, № 24. с. 34-41, рис. 2 (прототип). *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4122995A (en) Asynchronous digital circuit testing system
JP3983807B2 (en) Testable circuit and test method
EP0084644B1 (en) Apparatus for testing dynamical noise immunity of digital integrated circuits
SU1104448A1 (en) Electronic unit checking device
EP0436358B1 (en) Integrated circuit having power supply connection integrity monitor
US10605861B2 (en) Test device for testing integrated circuit
US4370619A (en) Phase comparison circuit arrangement
US7482827B2 (en) Integrated circuit with testable clock circuits
US6313656B1 (en) Method of testing leakage current at a contact-making point in an integrated circuit by determining a potential at the contact-making point
JPS60140834A (en) Test circuit built-in type semiconductor integrated circuit
RU2723968C1 (en) Device for determining load capacity of microcircuits
US20220268823A1 (en) Detection and measurement unit for detecting electromagnetic interference, detection system comprising such an analysis unit and analysis method
US4686455A (en) Method for the localization of time-critical events within a clock electronic circuit
Wallace et al. Fast-transient susceptibility of a D-type flip-flop
RU1791819C (en) Device for testing correctness of wiring
SU1456916A1 (en) Logic tester
SU1370633A1 (en) Noise immunity analyser
US20070164753A1 (en) Power supply history monitor
GB2058366A (en) Improvements in or Relating to the Testing of Integrated Circuits
SU1262430A1 (en) Device for testing electronic logic circuits
JPH0660930B2 (en) Integrated circuit characteristics test method
JP3183585B2 (en) Logic IC test apparatus and test method
SU379011A1 (en) IMPULSE RESISTANCE RELAY
SU693275A1 (en) Device for registering short-circuitings and breaks of internal leadouts of transistors
SU900292A1 (en) Device for radio element classification