Изобретение относитс к контрольноизмерительной технике и предназначенодл измерени показател преломлени в первую очередь твердых прозрачных сред (оптических стекол). Известен дифференциальный гониометрический способ измерени показател преломлени сред, в котором коллимированный пучок света направл етс на оптическую систему, состо щую из двух или более призм, выполненных из образцового и исследуемого материалов, имеющих достаточно близкие показатели преломлени ( ) Поэтому угол отклонени коллимированного пучка системой призм (или разность углов отклонени ) не превышает 10-20. Такой угол возможно измерить с погрешностью пор дка 0,,4., что соответствует погрешности S&n (3-4)х10 1. Недостатком его вл етс невысока точность измерений. Наиболее близким к предлагаемому изобретению по технической сущности и достигаемому положительному эффекту вл етс способ измерени показател преломлени среды, включающий линейную пол ризацию светового потока, пропускание его через исследуемую среду и определение состо ни пол ризации светового потока. После прохождени через исследуемую среду световой поток испытывает поступательное или угловое смещение, величина которого зависит от показател преломлени среды. Использу линейно пол ризованный луч, его подвергают оптическому вращению на угол, завис щий от величины смещени . Оптическое вращение измер етс пол ризатором, по выходному сигналу которого определ ют показатель преломлени 2. Недостатком известного способа вл етс невысока точность измерений, обусловленна тем, что при наклоне пучка относительно оптической оси клинообразного датчика линейных перемещений имеет место не только вращение плоскости пол ризации , завис щее от координаты сечени клина , но и эллиптичность световой волны. Это приводит к весьма существенным погрещност м . Целью изобретени вл етс повышение точности измерени . Поставленна цель достигаетс тем, что согласно способу измерени показател преломлени среды, включающему линейную пол ризацию светового потока, пропускание его через исследуемую среду и определение состо ни пол ризации светового потока после прохождени через нее и определение показател преломлени среды, линейную пол ризацию светового потока осуществл ют на выходе из исследуемой среды, после чего преобразуют состо ние пол ризации светового потока в эллиптическое путем пропускани через двупреломл ющий кристаллоптический элемент, определ ют разность фаз эллиптической пол ризации и по ее изменению в зависимости от угла отклонени светового потока на выходе из исследуемой среды определ ют ее показатель преломлени . На фиг. 1 показано возникновение интерференционного эффекта в кристаллооптическом элементе; на фиг. 2 - принципиальна схема устройства, реализующего предлагаемый способ. Физическа основа изобретени состоит в масщтабном преобразовании с по.мощью кристаллооптического элемента малых угловых отклонений света из-за наличи лп в значительное изменение состо ни его пол ризации (разности фаз эллиптической пол ризации) На фиг. 1 показан простейщий тип кристаллооптического элемента в виде плоскопараллельной пластины, вырезанной под углом к оптической оси кристалла. Нормально падающий на пластину широкий пучок линейно пол ризованного света А-А разлагаетс в кристаллооптическом элементе на два когерентных пучка, пол ризованных в ортогональных плоскост х и сдвинутых в поперечном направлении на величину d, завис щую от толщины пластины, ее двупреломлени и угла между осью кристалла и нормалью к поверхности. Если диаметр исходного пучка D превышает d, то прощедщие кристалл обыкновенный и необыкновенный пучки частично переналожены. В области переналожени пучки интерферируют, результатом чего вл етс эллиптически пол ризованна светова волна с некоторой начальной разностью фаз fo (в некоторых более сложных конструкци х кристаллооптического элемента fo может быть равна нулю). При наклоне пучка А-А относительно кристалла на малый угол 5i (положение АА ) разность фаз прощедшего эллиптччески пол ризованного света измен етс на величину 6,, где сдвиг пучков; Л - длина волны света. Посто нна К. вл етс коэффициентом преобразовани углового отклонени пучка в разность фаз. Величина К в зависимости от выбранного d легко достигает значений 10 -10. Поэтому очевидно , что малые угловые отклонени света $i перед кристаллом трансформируютс в значительные изменени разности фаз 8 . Таким образом, сравнительно грубо измер разность фаз, возможно очень точное измерение угловых отклонений. Способ реализуетс следующим образом . Угловое отклонение пучка преобразуетс в ту или иную эллиптичность световойThe invention relates to reference measurement technology and is intended to measure the refractive index primarily of solid transparent media (optical glasses). The differential goniometric method for measuring the refractive index of media is known, in which a collimated beam of light is directed to an optical system consisting of two or more prisms made of the model and test materials having sufficiently close refractive indices () Therefore, the angle of deflection of a collimated beam by a system of prisms ( or the deviation angle difference) does not exceed 10-20. This angle can be measured with an error of the order of 0, 4, which corresponds to the error S & n (3-4) x10 1. Its disadvantage is the low measurement accuracy. The closest to the invention according to the technical essence and the achieved positive effect is a method of measuring the refractive index of the medium, including linear polarization of the light flux, passing it through the medium under study and determining the polarization state of the light flux. After passing through the test medium, the light flux experiences a translational or angular displacement, the value of which depends on the refractive index of the medium. Using a linearly polarized beam, it is subjected to optical rotation at an angle depending on the magnitude of the displacement. Optical rotation is measured by a polarizer, the output of which determines the refractive index 2. A disadvantage of the known method is the low measurement accuracy due to the fact that when the beam is tilted relative to the optical axis of the wedge-shaped linear displacement sensor, distance from the wedge cross section, but also the ellipticity of the light wave. This leads to quite substantial faults. The aim of the invention is to improve the measurement accuracy. The goal is achieved by the method of measuring the refractive index of the medium, which includes linear polarization of the light flux, passing it through the medium under study and determining the state of polarization of the luminous flux after passing through it and determining the refractive index of the medium, linearly polarizing the luminous flux at the outlet of the medium under study, after which the state of polarization of the light flux is transformed into an elliptic one by passing through a birefringent crystalline The first element determines the phase difference of elliptical polarization and its refractive index is determined by its change depending on the angle of deflection of the light flux at the outlet of the medium under study. FIG. 1 shows the appearance of an interference effect in a crystal-optical element; in fig. 2 is a schematic diagram of a device implementing the proposed method. The physical basis of the invention consists in the large-scale conversion of small angular deviations of light with the help of a crystal-optical element due to the presence of lp in a significant change in the state of its polarization (phase difference of elliptical polarization). In FIG. 1 shows the simplest type of a crystal-optical element in the form of a plane-parallel plate, cut at an angle to the optical axis of the crystal. A wide beam of linearly polarized light A-A normally incident on a plate in a crystal-optical element is decomposed into two coherent beams polarized in orthogonal planes and shifted transversely by d, depending on the thickness of the plate, its birefringence and the angle between the crystal axis. and normal to the surface. If the diameter of the initial beam D is greater than d, then the ordinary crystal and the extraordinary crystal beams are partially overlaid. In the transposition region, the beams interfere, resulting in an elliptically polarized light wave with some initial phase difference fo (in some more complex structures of the crystal-optical element, fo may be zero). When the AA beam is tilted relative to the crystal at a small angle 5i (AA position), the phase difference of the elliptical polarized light changes by 6, where the beam shift; L is the wavelength of light. The constant quotient is the coefficient for converting the angular deviation of the beam to the phase difference. The value of K depending on the selected d easily reaches values of 10 -10. Therefore, it is obvious that small angular deviations of light $ i in front of the crystal transform into significant changes in the phase difference 8. Thus, it is a relatively rough measurement of the phase difference, perhaps a very accurate measurement of the angular deviations. The method is implemented as follows. The angular deflection of the beam is converted into one or another ellipticity of the light.