SU1096562A1 - Flaw marker - Google Patents

Flaw marker Download PDF

Info

Publication number
SU1096562A1
SU1096562A1 SU833535611A SU3535611A SU1096562A1 SU 1096562 A1 SU1096562 A1 SU 1096562A1 SU 833535611 A SU833535611 A SU 833535611A SU 3535611 A SU3535611 A SU 3535611A SU 1096562 A1 SU1096562 A1 SU 1096562A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
inputs
output
switch
flaw detector
input
Prior art date
Application number
SU833535611A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Александр Иванович Бутенко
Original Assignee
Научно-исследовательский и опытно-конструкторский институт автоматизации черной металлургии
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-исследовательский и опытно-конструкторский институт автоматизации черной металлургии filed Critical Научно-исследовательский и опытно-конструкторский институт автоматизации черной металлургии
Priority to SU833535611A priority Critical patent/SU1096562A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1096562A1 publication Critical patent/SU1096562A1/en

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

ДЕФЕКТООТМЕТЧИК, содержащий датчик положени  преобразовател  дефектоскопа и датчик начала отсчета, подключенные к ним соединенные последовательно счетчик, дешифратор и блок коммутации,, выходы которого предназначены дл  подключени  к N отметчикам дефектов, формирователь стробимпульса , включенный между выходами датчиков начала отсчета и положени  преобразовател  дефектоскопа и входом управлени  дешифратора, п триггеров по числу каналов дефектоскопа , входы синхронизации С которых объединены и подключены к формирователю строб-импульса, входы D соединены с общим проводом, а установочные входы S предназначены дл  подключени  к выходу соответствующего канала дефектоскопа, пере1слючатель , выход которого подключен к информатдионным входам блока коммутации , и счетчик управлени  переключателем , вход установки которого соединен с датчиком начала отсчета, счетный вход с N/п-м выходом дешифратора, а выход счетчика управлени  переключателем соединен с входами управлени  переключател , отл.ичающийс  тем, что, с целью повьрени  надежности его в работе,каждый из каналов дефектоотметчика снабжен ()N/h разр дным регистром сдвига, имеющим выходы через i-fj- разр дов, где .i 1, 2,...,(п-1), и л -входовым элементом ИЛИ, включенным по одному из (@ входов между выходом соответствую (Л щего триггера и информационным входом переключател , информационные входы регистров сдвига каждого канала соединены.с выходами соотзетствуюп (их триггеров, каждый выход регистров сдвига через соответствующий элемент ИЛИ подключен к одному (;О У: из остальных входов переключатели так, что выход 1 -г- -го разр да СП регистра сдвига подключен к входу (У того канала переключател , преобраN5 зователь дефектоскопа которого расположен за преобразователем данного к| канала через 1--- секторов по ходу сканировани , тактовые входы всех регистров объединены к подключены н выходу формировани  строб-импульса.DEFECTOR contains a flaw detector transducer position sensor and a zero point sensor connected to them in series a counter, a decoder and a switching unit whose outputs are designed to be connected to N defect meters, a pulse generator connected between the zero point sensor outputs and the flaw gauge position and the input control of the decoder, n triggers by the number of channels of the flaw detector, the synchronization inputs of which are connected to the driver and the strobe -pulse, inputs D are connected to the common wire, and the installation inputs S are intended to be connected to the output of the corresponding channel of the flaw detector, the switch whose output is connected to the informatdion inputs of the switching unit, and the switch control counter whose installation input is connected to the origin sensor, the counting input with the N / A p output of the decoder, and the output of the control counter of the switch is connected to the control inputs of the switch, distinguished by the fact that, in order to increase its reliability in operation, each The alover of the flaw detector is equipped with () N / h bit shift register having outputs through i-fj-bits, where .i 1, 2, ..., (p-1), and n -orput element OR, included one by one from (@ inputs between the output of the corresponding (Lush trigger and information input of the switch), the information inputs of the shift registers of each channel are connected to the outputs of the corresponding (their triggers, each output of the shift registers through the corresponding OR element connected to one (; O): from the other inputs switches so that the output of the 1 -th-th digit of the JV shift register under for prison staff to the entrance (I switch the channel, preobraN5 zovatel flaw which is located behind the converter to this | channel through 1 --- sectors in the course of scanning, the clock inputs of all registers are connected to the connected output gate of the strobe pulse.

Description

Изобретение относитс  к нераэрушающему контролю изделий сканирующим преобразовател ми с двухкоординатной (по углу и сечению) отметкой дефектных мест и может найти применение в металлургической и машиностроительной промьшшенност х.The invention relates to non-destructive testing of products by scanning transducers with a two-coordinate (angle and section) mark of defective places and can be used in the metallurgical and machine-building industry.

Известен дефектоотметчик, содержащий датчики положени  преобразовани  1ефектоскопа и начала отсчета, схему формировани  координатных импульсов, счетчик, деш1-1фратор и блок коммутаtXHH и 1 .A flaw detector is known, which contains position sensors for the conversion of the flaw detector and the origin, the coordinate pulse shaping circuit, the counter, the desh1-1frator and the switch block XHH and 1.

Недостатком этого дефектоотметчик  вл етс  низка  надежность контрол  при наличии дефектов прот женной формы .The disadvantage of this defect tester is the low reliability of the control in the presence of extended defects.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому  в-л етс  дефектоотметчик, содержащий датчик положени  преобразовател  дефектоскопа и начала отсчета, подключенные к ним соединенные последовательно счетчик, дешифратор и блок коммута.ции, выходы которого предназначены дл  подключени  к N отмет-- чикам дефектов, формирователь стробимпульса , вютюченный между выходами датчиков начала отсчета и положени  преобразовател  дефектоскопа и входо управлени  дешифратора, п триггеров по числу каналов дефектоскопа, входы синхрониза1щи С которых объединены и подключены к формирователю стробимпульса , входы D соединены с обшзим приводом, а установочные входы 5 предназначены дл  подключени  к выходу соответствующего канала дефектоскопа , ПЕфеключатель, выход которого подключен к информационным входам блока коммутации, и счетчик управлени  переключателем, вход установки которого соединен с датчиком начала отсчета, счетный вход - с N|n -м выходом дешифратора, а выход счетчика управлени  переключателем соединен с входами управлени  переключател  23,The closest in technical essence to the proposed issue is a flaw detector containing a sensor position sensor and a reference point, connected to them a serially connected counter, a decoder and a switching unit, the outputs of which are intended to be connected to the N mark of defects, driver strobe pulse between the outputs of the origin sensor and the position of the flaw detector transducer and the decoder control input, n triggers according to the number of flaw detector channels, synchronization inputs 1 From which they are combined and connected to the strobe pulse former, inputs D are connected to the common drive, and the setup inputs 5 are intended to be connected to the output of the corresponding channel of the flaw detector, the PEC switch, the output of which is connected to the information inputs of the switching unit, and the control counter by the switch whose installation input is connected to the origin sensor, the counting input - with the N | nth output of the decoder, and the output of the control counter of the switch is connected to the control inputs of the switch 23,

Недостатком известного устройства  вл етс  то, что при неисправности или отсутствии хот  бы одного канала (преобразс.вател ) дефектоскопа происходит вы шючение отметчика в момент прохождени  преобразовател  неисправного канала над дефектом - на установочном входе 5 триггера данного канала по вл етс  логический-нуль. Затем при прохождении на,ц дефектом преобразовател  исправного канала вновьA disadvantage of the known device is that in case of malfunction or the absence of at least one channel (transducer) of the flaw detector, a marker is flashed when the transducer of the faulty channel passes over the defect — logic zero appears at the installation input 5 of the trigger of this channel. Then, with the passage to the C, the defect of the converter of the healthy channel again

производитс  включение этого отметчика , т.е. производитс  нанесение на поверхности контролируемого издели  метки в виде прерывистой линии. Это приводит к излишнему срабатывани н презкдевременному износу отметчиков , а также, учитыва  инерционность срабатывани , отметчиков, не всегда обеспечивает надежность их переключени  .this marker is turned on, i.e. marks are applied to the surfaces of the controlled product in the form of a dashed line. This leads to unnecessary actuation of advanced markers, as well as, taking into account the inertia of actuation of the markers, does not always ensure the reliability of their switching.

Целью изобретени   вл етс  повышение надежности дефектоотметчика в работе.The aim of the invention is to increase the reliability of the defect tester in operation.

Поставленна  цель достигаетс  тем, что в дефектоотметчике, содержащем датчик положени  преобразовател  дефектоскопа и датчик начала отсчета , подключенные к ним соединенные последовател:ьно счетчик, дешифратор и блок коммутации, выходы которого предназначены дл  подключени  к N отметчикам дефектов, формирователь строб-импульса, включенный между вькодами датчиков начала отсчета и пололсени  преобразовател  дефектоскопа и входом управлени  дешифратора , п триггеров по числу каналов дефектоскопа, входы синхронизации С которых объединены и подключены к формирователю строб-импульса , входы В соединены с общим проводом , а установочные входы 5 предназначены дгш подключени  к вькоду соответствующего канала дефектоскопа переключатель, выход которого подключен к инфор.матдионным входам блока коммутации, и счетчик управлени  переключатсшем, вход установки которого соединен с датчиком начала отсчета , счетный ззход - cNfn-м выходом дешифратора,, а выход счетчика управлени  переключателем соединен со входами управлени  переключател , канодый из каналов дефектсотметчика снабжен () разр дным регистром сдвига, имеющим выходы через i The goal is achieved by the fact that in a defect control device containing a position sensor of a flaw detector transducer and a origin sensor, connected to them are connected: a counter, a decoder and a switching unit, the outputs of which are intended to be connected to N defect levels, a gate-pulse generator connected between the codes of the sensors of reference and polarization of the transducer of the flaw detector and the control input of the decoder, n triggers according to the number of channels of the flaw detector, which synchronization inputs are connected with The inputs B are connected to the common wire, and the installation inputs 5 are dedicated to connecting to the code of the corresponding channel of the flaw detector switch whose output is connected to the informatddiamnymi inputs of the switching unit, and the control counter switch, the input of which is connected with a zero point sensor, the counting zazhod is the cnfn-m output of the decoder, and the output of the switch control counter is connected to the control inputs of the switch, and one of the channels of the flow meter nabzhen () dnym bit shift register having outputs through i

разр довS где i 1,2(n-l), иbit S where i 1,2 (n-l), and

ti-входовым элементом ИЛИ, включенным по одному из входов мелсду выходом соответствующего триггера и информационным входом переключател  информационные входы регистров сдвиг каждого канала соединены с вькодами соответствующих триггеров, выход регистров сдвига через соответствующий элемент ИЛИ подключенti-input element OR, connected via one of the inputs by a mulsde, output of the corresponding trigger and information input of the switch; information inputs of the shift registers of each channel are connected to the codes of the corresponding triggers; the output of the shift registers through the corresponding OR element

к одному из остальных входов пеN реключател  так, что выход i--гоto one of the other inputs of the peN switch so that the output of the i - th

разр да регистра сдвига подключен к входу того канала переключател , преобразователь дефектоскопа которого расположен за преобразователем данного канала через i- секторов по- ходу сканировани , тактовые входы всех регистров объединены и подключены к выходу формировател  стробимпульса . На чертеже приведена функциональна  схема дефектоотметчика. Рассматриваетс  устройство дл  трехканального () дефектоскопа и дев тисекторной () отметки дефектов . На чертеже не показаны сканатоо с преобразователем дефектоскопа и преобразователем отметчика дефектов Устройство содержит датчик 1 положени  преобразовател  дефектоскопа, датчик 2 начала отсчета, подключенны к ним и соединенные последовательно счетчик 3, дешифратор 4 и блок 5 ко мутации, выходы которого предназначе ны дл  подключени  к N отметчикам дефектов. Устройство содержит также формиро . ватель 6 строб-импульса, включенный между выходами датчиков 1 и 2 положе ни  преобразовател  дефектоскопа и начала отсчета и входом управлени  дешифратора 4, п -триггеров 7 по чи лу каналов дефектоскопа, входы С которых объединены и подключены к формирователю 6 строб-импульса, вход D соединены с общим проводом, а установочные . 5 входы предназначены дл  подключени  к выходу соответствую щего канала дефектоскопа, п(п-1)% разр дных регистров 8 сдвига, входы которых соединены с выходами триггеров 7 соответствующего канала, а так товые входы объединены и соединены с формирователем 6 строб-импульса, п элементов 9 ИЛИ. Устройство содержит также переключатель 10, выходы которого подключены к блоку 5,коммутации, и счет чик 11 управлени  переключателем, вход установки которого соединен с датчиком 2 начала отсчета, счетный - -м выходом дешифратора вход - 4, а с переключателем 10, Каждый элемент ИЛИ 9 включен по одному из входов между выходом три гера 7 соответствующего канала и ин формационным входом переключател  10 каждый вькод регистров сдвига через соответствующий элемент ИЛИ подключен к одному из остальных входов пе 624 реключател  10 так, что выход i -го разр да регистра . сдвига подключен к входу того канала переключател  10, преобразователь дефектоскопа которого расположен за преобразователем данного канала через ;- секторов по ходу п сканировани . Устройство работает следуюицлм образом. При вращении сканатора счетчик 3 регистрирует импульсы с датчика 1 положени  преобразовател , За каждый оборот сканатора импульсы с датчика 2 начала отсчета привод т счетчик в начальное состо ние, т.е. устанавливаетс  соответствие между положени ми преобразователей и значением счета в счетчике 3. Своими вькодами счетчик 3 через дешифраторы управл ет блоком 5 коммутации, коммутирующем выходы переключател  10. Предположим, что устройство работает только с одним первым каналом дефектоскопа . При наличии в одном из секторов контролируемого издели  дефекта он вы вл етс  в момент прохождени  над НИН преобразовател  первого канала. Сигнал дефектоскопа поступает на установочный вход 5 триггера 7 и переводит его в единичное состо ние на врем  прохождени  преобразователем данного дефектного сектора. Потенциал с выхода триггера 7 поступает на информационный вход регистра 8 сдвига и через элемент ИЛИ 9 и вход Д 1 переключател  10 - на информационный вход той группы триггеров блока 5 коммутации , в состав которой входит триггер, управл ющий работой отметчика данного сектора. Первый после дефекта строб-импульс с формировател  6 через дешифратор 4 поступает на тактовый вход С триггера данного сектора блока 5 коммутации и записывает на его выход состо ние информационного входа-единичный потенициал и включает отметчик. Этот строб-импульс поступает на тактовый вход регистра 8 сдвига и записывает единичный потенциал с триггера 7 в первый разр д регистра 8, а задним фронтом сбрасывает триггер 7 в исходное нулевое состо ние . Каждым следующим строб-импульсом единичный потенциал сдвигаетс  по разр дам регистра 8 и поспо разр дам регистра ле прохождени  . i - -го строб-импульса записываетс  в его i-- разр д. После 3-го строб-импульса (1) единичный потенциал записываетс  в 3-й разр д регистра 8 и через элемент ИЛИ 9 и вход JD 3 переключател  10 заводитс  на информационный вход группы блока 5 KOMMyTaiyiH, содержащей триггер отметчика данного дефект ного сектора, имитиру  сигнал дефекта с третьего канала дефектоскопа (преобразователь которого в этот момент должен был проходить данный дефектный сектор). После 6-го стробимпульса () единичный потенциал записываетс  в 6-й разр д регистра 8 и через элемент ИЛИ 9 и вход D 2 переключател  10 заводитс  на инфор мационный вход той же группы блока 5 коммутации, имитиру  сигнал дефекта с второго канала дефектоскопа (преоб разователь которого в этот момент проходил бы данный дефектный сектор издели ). В случае использовани  10 2 устройства с другим каналом дефекоскопа (или двум  каналами) оно аботает аналогичным образом. Устройство просто, так как состоит из меньшего количества элементов, таких как датчики положени  преобразовател  дефектоскопа с длинными монтажными проводами и транзисторы, причем этот выигрыш тем значительнее, чем дл  большего числа отметчцков дефектов предназначено устройство. Устройство используетс  с многокана .пьным дефектоскопом, что позвол ет заменить п -одноканальных коммутаторов отметчиков (базовый образец ) одним п -канальным дефектоотметчиком и высвободить соответствующее количество операторов, обслуживаюп1 1х данный участок контрол . ,Этот вьшгрыш возрастает с увеличением числа каналов .The shift register bit is connected to the input of that channel of the switch, the flaw detector converter of which is located behind the converter of this channel through the i-sectors of the scanning course, the clock inputs of all the registers are combined and connected to the output of the strobe pulse generator. The drawing shows the functional diagram of the flaw detector. A device for a three-channel () flaw detector and nine-sector () defect marking is considered. The drawing does not show a scanato with a flaw detector transducer and a defect marker transducer. The device contains a sensor 1 position of the flaw detector transducer, a reference sensor 2 connected to them and connected in series counter 3, a decoder 4 and a block 5 to a mutation whose outputs are intended to be connected to N defect markers. The device also contains formiro. strobe pulse 6 connected between the outputs of sensors 1 and 2, positioning the flaw detector transducer and origin and the control input of the decoder 4, n-triggers 7 through the flaw detector channels, inputs of which are combined and connected to the strobe pulse former 6, input D connected to the common wire, and the installation. 5 inputs are designed to connect to the output of the corresponding channel of the flaw detector, n (n-1)% of the 8 shift registers, the inputs of which are connected to the outputs of the flip-flops 7 of the corresponding channel, as well as these inputs are combined and connected to the gate driver 6, n elements 9 OR. The device also contains a switch 10, the outputs of which are connected to the switching unit 5, and the switch control counter 11, the installation input of which is connected to the reference sensor 2, the counting output of the decoder input 4, and to the switch 10, Each element OR 9 is switched on by one of the inputs between the output of three connectors 7 of the corresponding channel and the information input of switch 10 each of the shift register registers through the corresponding OR element is connected to one of the remaining inputs of ne 624 switch 10 so that the output of the i-th bit register. The shift is connected to the input of that channel of the switch 10, the flaw detector converter of which is located behind the converter of this channel through the sectors along the n-scan path. The device works in the following way. When the scanner rotates, the counter 3 registers the pulses from the sensor 1 of the transducer position. For each scanner revolution, the pulses from the sensor 2 of the reference point bring the counter to the initial state, i.e. the correspondence between the positions of the transducers and the count value in the counter 3 is established. Through its codes, the counter 3 controls the switching unit 5 switching the outputs of the switch 10. Suppose that the device works with only one first channel of the flaw detector. If there is a defect in one of the sectors of the product under test, it is detected at the moment when the first channel transducer passes over the NIN. The flaw detector signal arrives at the installation input 5 of the trigger 7 and translates it into a single state at the time when the converter passes this defective sector. The potential from the output of the trigger 7 is fed to the information input of the shift register 8 and through the element OR 9 and the input D 1 of the switch 10 to the information input of that trigger group of the switching unit 5, which includes the trigger controlling the operation of the marker of this sector. The first strobe-pulse after the defect from the imaging unit 6 through the decoder 4 enters the clock input C of the given sector trigger of the switching unit 5 and records on its output the state of the information input-unit potential and turns on the marker. This gate pulse arrives at the clock input of the shift register 8 and records a single potential from trigger 7 to the first register bit 8, and with the falling edge resets trigger 7 to its initial zero state. With each subsequent strobe pulse, the unit potential is shifted along the bits of register 8 and after the register of the passage. The i - th strobe pulse is written to its i-- bit. After the 3rd strobe pulse (1), the unit potential is written to the 3rd bit of the register 8 and through the OR element 9 and the input JD 3 of the switch 10 is turned on the information input of the 5 KOMMyTaiyiH block group containing the trigger trigger of this defective sector simulates the defect signal from the third channel of the flaw detector (the converter of which at that moment had to pass through the defective sector). After the 6th strobe pulse (), the unit potential is recorded in the 6th register bit 8 and through the OR element 9 and the input D 2 of the switch 10 is fed to the information input of the same group of the switching unit 5, simulating the defect signal from the second channel of the flaw detector the developer of which at this moment would pass this defective sector of the product). In the case of using 10 2 devices with a different flaw channel (or two channels), it works in a similar way. The device is simple, as it consists of a smaller number of elements, such as position sensors of a flaw detector transducer with long wiring wires and transistors, and this gain is more significant than the device is intended for a larger number of marks. The device is used with a multi-channel flaw detector, which allows replacing n-single-channel switches of markers (basic sample) with one n-channel flaw detector and freeing up the corresponding number of operators serving 1x this control area. This increase increases with the number of channels.

К атнетткап деуектввKetnettkup Deukvt

iilHliilHl

Claims (2)

ДЕФЕКТООТМЕТЧИК, содержащий датчик положения преобразователя дефектоскопа и датчик начала отсчета, подключенные к ним соединенные последовательно счетчик, дешифратор и блок коммутации,, выходы которого предназначены для подключения к N отметчикам дефектов, формирователь стробимпульса, включенный между выходами датчиков начала отсчета и положения преобразователя дефектоскопа и входом управления дешифратора, η триггеров по числу каналов дефектоскопа, входы синхронизации С которых объединены и подключены к формирователю строб-импульса, входы D соединены с общим проводом, а установочные входы S предназначены для подключения к выходу соответствующего канала дефектоскопа, переключатель, выход которого подключен к информационным входам блока коммутации, и счетчик управления переключателем, вход установки которого соединен с датчиком начала отсчета, счетный вход --.с N/в-м выходом дешифратора, а выход счетчика управления переключателем соединен с' входами управления переключателя, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности его в работе,каждый из каналов дефектоотметчика снабжен (η-1)Ν/η разрядным регистром сдвига, имеющим выходы через i разрядов, где . 1= 1,A flaw detector containing a flaw detector position transmitter and a reference sensor, connected to them in series with a counter, a decoder and a switching unit, the outputs of which are designed to be connected to N defect markers, a strobe pulse generator connected between the outputs of the flaw detector and the position of the flaw detector and the input decoder control, η triggers by the number of flaw detector channels, synchronization inputs from which are connected and connected to the gate-pulse former a, the inputs D are connected to a common wire, and the installation inputs S are designed to connect to the output of the corresponding flaw detector channel, a switch whose output is connected to the information inputs of the switching unit, and a switch control counter, the installation input of which is connected to the reference sensor, the counting input is - with N / in the output of the decoder, and the output of the switch control counter connected to the switch control inputs, characterized in that, in order to increase its reliability in operation, each of the defect channels the tap is equipped with (η-1) Ν / η bit shift register, having outputs through i bits, where. 1 = 1, 2,...,(п-1), и п -входовым элементом ИЛИ, включенным по одному из входов между выходом соответствующего триггера и информационным входом переключателя, информационные входы регистров сдвига каждого канала соединены.с выходами соответствующих триггеров, каждый выход регистров сдвига через соответствующий элемент ИЛИ подключен к одному из остальных входов переключателя так, что выход i -го разряда регистра сдвига подключен к входу того канала переключателя, преобразователь дефектоскопа которого расположен за преобразователем данного канала через 1-~ секторов по ходу сканирования, тактовые входы всех регистров объединены и подключены н выходу формирования строб-импульса.2, ..., (p-1), and a p-input OR element connected via one of the inputs between the output of the corresponding trigger and the information input of the switch, the information inputs of the shift registers of each channel are connected to the outputs of the corresponding triggers, each output of the shift registers through an appropriate element, OR is connected to one of the other inputs of the switch so that the output of the ith digit of the shift register is connected to the input of that channel of the switch, the flaw detector of which is located behind the converter of this channel in 1 ~ sectors during the scan, the clock inputs of all registers are combined and connected forming n output strobe pulse. SU „,.1096562SU „, .1096562
SU833535611A 1983-01-07 1983-01-07 Flaw marker SU1096562A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833535611A SU1096562A1 (en) 1983-01-07 1983-01-07 Flaw marker

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833535611A SU1096562A1 (en) 1983-01-07 1983-01-07 Flaw marker

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1096562A1 true SU1096562A1 (en) 1984-06-07

Family

ID=21043917

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833535611A SU1096562A1 (en) 1983-01-07 1983-01-07 Flaw marker

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1096562A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Авторское свидетельство СССР № 888023, кл. G 01 N 27/82, 1980. 2. Авторское свидетельство СССР по за вке № 3422814/25-28, кл. G 01 N 27/82, 1981 (прототип). *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU1096562A1 (en) Flaw marker
US3412215A (en) Digital-to-audio readout system
US4096471A (en) Method and apparatus for transfer of asynchronously changing data words
SU1649548A1 (en) Pulse train monitor
SU1252787A1 (en) Device for checking digital equipment
SU1352335A1 (en) Device for scanning flaw detector for two-coordinate marking of defects
SU911532A1 (en) Device for testing digital units
SU1136191A2 (en) Device for recognition of defects of images of objects
SU693383A1 (en) Device for processing information about flaws of articles
SU1138809A1 (en) Device for checking wiring
SU1004862A1 (en) Coordinate flaw marking device
SU948732A2 (en) Apparatus for reading information off mobile object
SU1107159A1 (en) Device for processing information
SU1173444A2 (en) Device for error correction in digital magnetic storage
SU1732332A1 (en) Device for monitoring multichannel pulsed sequences
SU1624453A1 (en) Device for checking information channel switching
SU1043547A1 (en) Flaw marker
SU801105A2 (en) Storage unit monitoring device
SU643973A1 (en) Device for control of storage element-based accumulator with non-destructive reading-out of information
SU1474681A2 (en) Failure detector
SU947793A1 (en) Device for checking pcb interlayer connections
SU1674056A1 (en) Multichannel meter of time intervals
SU1691865A2 (en) A radiotelegraph operator trainer
SU584323A1 (en) System for checking information-transmitting units
SU1298771A2 (en) Signature analyzer