SU1064350A1 - Электростатический энергоанализатор-дифрактометр - Google Patents
Электростатический энергоанализатор-дифрактометр Download PDFInfo
- Publication number
- SU1064350A1 SU1064350A1 SU823457393A SU3457393A SU1064350A1 SU 1064350 A1 SU1064350 A1 SU 1064350A1 SU 823457393 A SU823457393 A SU 823457393A SU 3457393 A SU3457393 A SU 3457393A SU 1064350 A1 SU1064350 A1 SU 1064350A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- mirror
- electrodes
- spherical
- energy
- diffractometer
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКИЙ ЭНЕРГОАНАЛИЗАТОР- ДИФ-РАКТОМЕТР. содержащий электронную пушку, сферическое зеркало , выполненное в виде двух сферических сетчатых электродов, иконцентричный электродам экран-коллектор , отличающий с тем, , что; с целью повышени чувствительности энергоанализа, он снабжен дополнительным сферическим зеркалом, установленным осесимметрично с основным зеркалом, и двум перпендикул рными оси симметрии диафрагмами, из которых перва по ходу.электронного пучка выполнена с кольцевым отверстием , а втора - с круглым отверстием и размещена в плоскости фокуса дополнительного зеркала. (Л О 4 СО СП
Description
Изобретение относитс к электронной спектроскопии поверхности твердого тела и может быть использовано при построении спектрометра дл наблюдейи дифракций медленных электронов (ДМЭ) и высокочувствительного энергоаналиэа вторичных электронов. Известны электростатические энергоанализаторы , например,цилиндрическое зеркёшо, секторный сферический анализатор, в которых регистраци электронов .осуществл етс в узкой энергетической полосе. Такие энергоанализаторы содержат электронную пуш ку и соответствующую систему электро дов, с помощью которых производитс разделение электронов с относительно высокой чувствительностью В то же врем энергоанализаторы полосового типа не прйспоОоблены дл наблюдени ДМЭ и дл выполнени функции дифрактометра используетс отдельный прибор. Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности вл етс электростатический энергоанализйтордифрактометр , содержащий электронную пушку, сферическое зеркало, выполнен ное в виде двух сферических сетчатых электродов, и концентричный электродам экран-коллектор 2. Известное устройство обеспечивает как энергоанализ электронов в случае приложени к электродам задерживгиощей разности потенциалов, так и наблюд эние ДМЭ, на флуоресцирующем слое экрана-коллектора, однако оно имеет низкую чувствительность. Это св занр с тем, что в режиме задерживающего потенциала все электроны с энергией выие потенциального барьера достигают коллектора. При этом создаваемый ими дробовой шум велик и значительно ограничивает чувствительность энерго анализа. Кроме того, устройство не позвол ет использовать дл регистрации электронный умножитель, поскольку регистрируемый поток электронов распределен по всей площади экранаколлектора .Цель изобретени - повшиение чувствительности энергоаналиэа. Указанна цель достигаетс тем, что электростатический энергоанализа тор- дифрактометр, содержащий электронную пушку, сферическое зеркало, выполненное :В виде двух сферических сетчатых электродов, и концентричный электродам экран-коллектор, снаб жен дополнительным сфер1ическим зерка лом, установленным осесимметрично с основным зеркалом, и двум перпендикул рными оси симметрии диафрагмами , из которых по ходу электронного пучка выполнена с кольцевым отверстием, а втора - с круглым от-J верстием и размещена в плоскости фокуса дополнительного зеркеша. На чертеже показана схема предлагаемого устройства. На общей оси установлено ооновное сферическое зеркало, состо щее из двух сферических сетчатых электродов 1 и 2, за которыми установлен экран-коллектор 3, Электронна пушка располагаетс по оси устройства (центральна пушка 4) или занимает боковое положение (бокова пушка 5). Перпендикул рно оси размещаетс образец 6 на заданном рассто нии от электродов 1 и 2. Осесимметрично с основным зеркалом установлено дополнительное сферическое зеркало о электродами 7 и 8. Перва по ходу пучка диафрагма 9-имеет кольцевое отверстие, а втора диафрагма 10 круглое отверстие и размещена в плоскости фокуса дополнительного зеркала. За второй диафрагмой 10 может быть установлен электронный умножитель 1Г.. Энергоанализатор-дифрактометр работает в двух режимах. Регистраци картины ДМЭ осуществл етс аналогично прототипу. В этом случае дополнительное заркало отключаетс , образец 6 помещен в геометрическом центре основного эеркгша. Центральна электронна пушка 4 или бокова пушк-а 5 посылает на поверхность образца сколлимированный пучок первичных электронов с энергией 10-300 эВ. Вторичные ЭJJeктроны пролетают дрейфовое пространство между образцом 6 и электродом 1, тормоз тс полем между электродами 1 и 2, которое пропускает на экран-коллектор 3 -электроны с энергией, , кой к энергии первичных электронов. Эти электроны, ускоренные между электродом 2 и э сран-коллектором 3, вызывают свечение флуоресцирующего сло и формируют картину ДЮ на экране-коллекторе 3. В услови х энергоанализа вторичных электронов основное зеркало работает не как энергоанализатор с задерживающим полем, а как электростатическое зеркало , отражающее и коллимирующее пучок с энергией в узкой полосе. Парёшлельный оси симметрии отргикенный пучок проходит через первую кольцевую апертурную диафрагму 9, отражаетс от дополнительного зеркала , фокусируетс на центральное отверстие второй диафрагмы 10 и попадает в электронный умножитель 11. в этом режиме работы необходимо образец б приблизить к электродам основного зеркала, а источником первичных электронов вл етс электронна пушка 4. Вторичные электроны, эмиттируютс областью поверхности образца, локализованной у оси симт
метрий, в полупространство 2Я от поверхности образца. В оптику основного зеркала попадает значительна часть этого потока электронов. Однако , поскольку коллимирование пучка В пространстве между зеркалами осуществл етс при строго определенных соотношени х между кинетической энергией электронов/ отклон ющими потенциалами зеркал, р иусами электродов 1 и 7, углами входа осевой траектории в зеркала, то при заданной ширине кольцевой щели первой диафрагмы 9 через энергоанализатор пройдет пучок, ограниченный на входе.двум коническими поверхност ми ot±4flt GOnsi, с энергией электронов в узкой энергетичеекой полосе, что обеспечивает выигрыш в чувст- . вительности по Ьрав ению с режимом порогового 11ильтровани электронного пучка задерживаюишм полем в случае прототипа.
В режиме энергоанализа величина смещени вдоль оси симметрии по направлению к электродам основного зеркёша зависит от выбора
угла оС и измен етс в интервале 0,75 - 0,90 радиуса электрода 1. Относительна дисперси близка к единице, а коэффициенты квадратичной и кубической аберрацц( (углова аберраци изображени в направлении оси симметрии) соответственно составл ет 0,6 и 0,6.
Расчет электронно-оптических характеристик предлагаемого энергоана0 лизатора показывает, что он не уступает цилиндрическому зеркалу, работанщему в режиме минимальной ширины изобргикени , а приДо(.5,5° по параметру разрешающей способности пре5 восходит его. При этом известно, что цилиндрическое зеркало, как энергоанализатор, по чувствительности превосходит стандартную сферическую систему на два пор дка.
Таким образом, добавление к стандартной сферической сеточной системе , широко используемой в ДМЭ, дополнительного сферического зеркала переводит систему иа полосовой режим 5 энергоанализа и позвол ет повысить чувствительность на два пор дка.
Claims (1)
- ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКИЙ ЭНЕРГОАНАЛИЗАТОР- ДИФРАКТОМЕТР. содержащий электронную пушку, сферическое зеркало, выполненное в виде двух сферических сетчатых электродов, и концентричный электродам экран-коллектор, отличающий с я тем, . что; с целью повышения чувствительности энергоанализа, он снабжен дополнительным сферическим зеркалом, установленным осесимметрично с основным зеркалом, и двумя перпендикулярными оси симметрии диафрагмами, ходу электронс с в , из которых первая по ного- пучка выполнена верстием, а вторая верстием и размещена фокуса дополнительного кольцевым откруглым отплоскости зеркала.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823457393A SU1064350A1 (ru) | 1982-06-18 | 1982-06-18 | Электростатический энергоанализатор-дифрактометр |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823457393A SU1064350A1 (ru) | 1982-06-18 | 1982-06-18 | Электростатический энергоанализатор-дифрактометр |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1064350A1 true SU1064350A1 (ru) | 1983-12-30 |
Family
ID=21018118
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU823457393A SU1064350A1 (ru) | 1982-06-18 | 1982-06-18 | Электростатический энергоанализатор-дифрактометр |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1064350A1 (ru) |
-
1982
- 1982-06-18 SU SU823457393A patent/SU1064350A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1. Зашквара В7в. и др. Фокусирующие.свойства электростатического зеркала с цилиндрическим полем. ИСТФ, т. 36, 1966, № 1, с. 132-Г138. 2. ТауЕог N.J. Reso ution and Sensitivity Considerations of an Auqer Etectron spectrometer Based pn Dist lay LEED Optics Reo. Sci. . Instr, V. 40, 1969, № 6, p. 792-804 (прототип). * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA1263766A (en) | Electron spectrometer | |
US7141800B2 (en) | Non-dispersive charged particle energy analyzer | |
US8013298B2 (en) | Electrostatic electron spectrometry apparatus | |
US6984821B1 (en) | Mass spectrometer and methods of increasing dispersion between ion beams | |
US3783280A (en) | Method and apparatus for charged particle spectroscopy | |
JP3266286B2 (ja) | 荷電粒子エネルギー分析器 | |
JP2001035434A (ja) | エネルギ分解及び角度分解電子分光用の結像装置、その方法及び分光器 | |
US5032724A (en) | Multichannel charged-particle analyzer | |
US7250599B2 (en) | Energy filter image generator for electrically charged particles and the use thereof | |
SU1064350A1 (ru) | Электростатический энергоанализатор-дифрактометр | |
JPH03173054A (ja) | 粒子線装置 | |
AU2017220662A1 (en) | Extraction system for charged secondary particles for use in a mass spectrometer or other charged particle device | |
US20210098244A1 (en) | Input Lens and Electron Spectrometer | |
RU2327246C2 (ru) | Электростатический энергоанализатор для параллельного потока заряженных частиц | |
US7126117B2 (en) | Imaging energy filter for electrons and other electrically charged particles and method for energy filtration of the electrons and other electrically charged particles with the imaging energy filter in electro-optical devices | |
US4219730A (en) | Charge-particle energy analyzer | |
SU695465A1 (ru) | Анализатор энергий зар женных частиц | |
EP0295653B1 (en) | High luminosity spherical analyzer for charged particles | |
SU591107A1 (ru) | Энергетический анализатор с электростатическим зеркалом | |
AU2017220663B2 (en) | Extraction system for charged secondary particles for use in a mass spectrometer or other charged particle device | |
RU2076387C1 (ru) | Спектрометр заряженных частиц | |
US3783278A (en) | Single magnet tandem mass spectrometer | |
US4223223A (en) | Broad-range ion mass spectrometer | |
SU680534A1 (ru) | Электростатический энергоанализатор | |
SU1605288A1 (ru) | Ионный микрозондовый анализатор |