SU1064350A1 - Электростатический энергоанализатор-дифрактометр - Google Patents

Электростатический энергоанализатор-дифрактометр Download PDF

Info

Publication number
SU1064350A1
SU1064350A1 SU823457393A SU3457393A SU1064350A1 SU 1064350 A1 SU1064350 A1 SU 1064350A1 SU 823457393 A SU823457393 A SU 823457393A SU 3457393 A SU3457393 A SU 3457393A SU 1064350 A1 SU1064350 A1 SU 1064350A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
mirror
electrodes
spherical
energy
diffractometer
Prior art date
Application number
SU823457393A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Васильевич Зашквара
Лариса Сергеевна Юрчак
Original Assignee
Институт Ядерной Физики Ан Казсср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Ядерной Физики Ан Казсср filed Critical Институт Ядерной Физики Ан Казсср
Priority to SU823457393A priority Critical patent/SU1064350A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1064350A1 publication Critical patent/SU1064350A1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКИЙ ЭНЕРГОАНАЛИЗАТОР- ДИФ-РАКТОМЕТР. содержащий электронную пушку, сферическое зеркало , выполненное в виде двух сферических сетчатых электродов, иконцентричный электродам экран-коллектор , отличающий с   тем, , что; с целью повышени  чувствительности энергоанализа, он снабжен дополнительным сферическим зеркалом, установленным осесимметрично с основным зеркалом, и двум  перпендикул рными оси симметрии диафрагмами, из которых перва  по ходу.электронного пучка выполнена с кольцевым отверстием , а втора  - с круглым отверстием и размещена в плоскости фокуса дополнительного зеркала. (Л О 4 СО СП

Description

Изобретение относитс  к электронной спектроскопии поверхности твердого тела и может быть использовано при построении спектрометра дл  наблюдейи  дифракций медленных электронов (ДМЭ) и высокочувствительного энергоаналиэа вторичных электронов. Известны электростатические энергоанализаторы , например,цилиндрическое зеркёшо, секторный сферический анализатор, в которых регистраци  электронов .осуществл етс  в узкой энергетической полосе. Такие энергоанализаторы содержат электронную пуш ку и соответствующую систему электро дов, с помощью которых производитс  разделение электронов с относительно высокой чувствительностью В то же врем  энергоанализаторы полосового типа не прйспоОоблены дл  наблюдени  ДМЭ и дл  выполнени  функции дифрактометра используетс  отдельный прибор. Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности  вл етс  электростатический энергоанализйтордифрактометр , содержащий электронную пушку, сферическое зеркало, выполнен ное в виде двух сферических сетчатых электродов, и концентричный электродам экран-коллектор 2. Известное устройство обеспечивает как энергоанализ электронов в случае приложени  к электродам задерживгиощей разности потенциалов, так и наблюд эние ДМЭ, на флуоресцирующем слое экрана-коллектора, однако оно имеет низкую чувствительность. Это св занр с тем, что в режиме задерживающего потенциала все электроны с энергией выие потенциального барьера достигают коллектора. При этом создаваемый ими дробовой шум велик и значительно ограничивает чувствительность энерго анализа. Кроме того, устройство не позвол ет использовать дл  регистрации электронный умножитель, поскольку регистрируемый поток электронов распределен по всей площади экранаколлектора .Цель изобретени  - повшиение чувствительности энергоаналиэа. Указанна  цель достигаетс  тем, что электростатический энергоанализа тор- дифрактометр, содержащий электронную пушку, сферическое зеркало, выполненное :В виде двух сферических сетчатых электродов, и концентричный электродам экран-коллектор, снаб жен дополнительным сфер1ическим зерка лом, установленным осесимметрично с основным зеркалом, и двум  перпендикул рными оси симметрии диафрагмами , из которых по ходу электронного пучка выполнена с кольцевым отверстием, а втора  - с круглым от-J верстием и размещена в плоскости фокуса дополнительного зеркеша. На чертеже показана схема предлагаемого устройства. На общей оси установлено ооновное сферическое зеркало, состо щее из двух сферических сетчатых электродов 1 и 2, за которыми установлен экран-коллектор 3, Электронна  пушка располагаетс  по оси устройства (центральна  пушка 4) или занимает боковое положение (бокова  пушка 5). Перпендикул рно оси размещаетс  образец 6 на заданном рассто нии от электродов 1 и 2. Осесимметрично с основным зеркалом установлено дополнительное сферическое зеркало о электродами 7 и 8. Перва  по ходу пучка диафрагма 9-имеет кольцевое отверстие, а втора  диафрагма 10 круглое отверстие и размещена в плоскости фокуса дополнительного зеркала. За второй диафрагмой 10 может быть установлен электронный умножитель 1Г.. Энергоанализатор-дифрактометр работает в двух режимах. Регистраци  картины ДМЭ осуществл етс  аналогично прототипу. В этом случае дополнительное заркало отключаетс , образец 6 помещен в геометрическом центре основного эеркгша. Центральна  электронна  пушка 4 или бокова  пушк-а 5 посылает на поверхность образца сколлимированный пучок первичных электронов с энергией 10-300 эВ. Вторичные ЭJJeктроны пролетают дрейфовое пространство между образцом 6 и электродом 1, тормоз тс  полем между электродами 1 и 2, которое пропускает на экран-коллектор 3 -электроны с энергией, , кой к энергии первичных электронов. Эти электроны, ускоренные между электродом 2 и э сран-коллектором 3, вызывают свечение флуоресцирующего сло  и формируют картину ДЮ на экране-коллекторе 3. В услови х энергоанализа вторичных электронов основное зеркало работает не как энергоанализатор с задерживающим полем, а как электростатическое зеркало , отражающее и коллимирующее пучок с энергией в узкой полосе. Парёшлельный оси симметрии отргикенный пучок проходит через первую кольцевую апертурную диафрагму 9, отражаетс  от дополнительного зеркала , фокусируетс  на центральное отверстие второй диафрагмы 10 и попадает в электронный умножитель 11. в этом режиме работы необходимо образец б приблизить к электродам основного зеркала, а источником первичных электронов  вл етс  электронна  пушка 4. Вторичные электроны, эмиттируютс  областью поверхности образца, локализованной у оси симт
метрий, в полупространство 2Я от поверхности образца. В оптику основного зеркала попадает значительна  часть этого потока электронов. Однако , поскольку коллимирование пучка В пространстве между зеркалами осуществл етс  при строго определенных соотношени х между кинетической энергией электронов/ отклон ющими потенциалами зеркал, р иусами электродов 1 и 7, углами входа осевой траектории в зеркала, то при заданной ширине кольцевой щели первой диафрагмы 9 через энергоанализатор пройдет пучок, ограниченный на входе.двум  коническими поверхност ми ot±4flt GOnsi, с энергией электронов в узкой энергетичеекой полосе, что обеспечивает выигрыш в чувст- . вительности по Ьрав ению с режимом порогового 11ильтровани  электронного пучка задерживаюишм полем в случае прототипа.
В режиме энергоанализа величина смещени  вдоль оси симметрии по направлению к электродам основного зеркёша зависит от выбора
угла оС и измен етс  в интервале 0,75 - 0,90 радиуса электрода 1. Относительна  дисперси  близка к единице, а коэффициенты квадратичной и кубической аберрацц( (углова  аберраци  изображени  в направлении оси симметрии) соответственно составл ет 0,6 и 0,6.
Расчет электронно-оптических характеристик предлагаемого энергоана0 лизатора показывает, что он не уступает цилиндрическому зеркалу, работанщему в режиме минимальной ширины изобргикени , а приДо(.5,5° по параметру разрешающей способности пре5 восходит его. При этом известно, что цилиндрическое зеркало, как энергоанализатор, по чувствительности превосходит стандартную сферическую систему на два пор дка.
Таким образом, добавление к стандартной сферической сеточной системе , широко используемой в ДМЭ, дополнительного сферического зеркала переводит систему иа полосовой режим 5 энергоанализа и позвол ет повысить чувствительность на два пор дка.

Claims (1)

  1. ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКИЙ ЭНЕРГОАНАЛИЗАТОР- ДИФРАКТОМЕТР. содержащий электронную пушку, сферическое зеркало, выполненное в виде двух сферических сетчатых электродов, и концентричный электродам экран-коллектор, отличающий с я тем, . что; с целью повышения чувствительности энергоанализа, он снабжен дополнительным сферическим зеркалом, установленным осесимметрично с основным зеркалом, и двумя перпендикулярными оси симметрии диафрагмами, ходу электронс с в , из которых первая по ного- пучка выполнена верстием, а вторая верстием и размещена фокуса дополнительного кольцевым откруглым отплоскости зеркала.
SU823457393A 1982-06-18 1982-06-18 Электростатический энергоанализатор-дифрактометр SU1064350A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823457393A SU1064350A1 (ru) 1982-06-18 1982-06-18 Электростатический энергоанализатор-дифрактометр

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823457393A SU1064350A1 (ru) 1982-06-18 1982-06-18 Электростатический энергоанализатор-дифрактометр

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1064350A1 true SU1064350A1 (ru) 1983-12-30

Family

ID=21018118

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823457393A SU1064350A1 (ru) 1982-06-18 1982-06-18 Электростатический энергоанализатор-дифрактометр

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1064350A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Зашквара В7в. и др. Фокусирующие.свойства электростатического зеркала с цилиндрическим полем. ИСТФ, т. 36, 1966, № 1, с. 132-Г138. 2. ТауЕог N.J. Reso ution and Sensitivity Considerations of an Auqer Etectron spectrometer Based pn Dist lay LEED Optics Reo. Sci. . Instr, V. 40, 1969, № 6, p. 792-804 (прототип). *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1263766A (en) Electron spectrometer
US7141800B2 (en) Non-dispersive charged particle energy analyzer
US8013298B2 (en) Electrostatic electron spectrometry apparatus
US6984821B1 (en) Mass spectrometer and methods of increasing dispersion between ion beams
US3783280A (en) Method and apparatus for charged particle spectroscopy
JP3266286B2 (ja) 荷電粒子エネルギー分析器
JP2001035434A (ja) エネルギ分解及び角度分解電子分光用の結像装置、その方法及び分光器
US5032724A (en) Multichannel charged-particle analyzer
US7250599B2 (en) Energy filter image generator for electrically charged particles and the use thereof
SU1064350A1 (ru) Электростатический энергоанализатор-дифрактометр
JPH03173054A (ja) 粒子線装置
AU2017220662A1 (en) Extraction system for charged secondary particles for use in a mass spectrometer or other charged particle device
US20210098244A1 (en) Input Lens and Electron Spectrometer
RU2327246C2 (ru) Электростатический энергоанализатор для параллельного потока заряженных частиц
US7126117B2 (en) Imaging energy filter for electrons and other electrically charged particles and method for energy filtration of the electrons and other electrically charged particles with the imaging energy filter in electro-optical devices
US4219730A (en) Charge-particle energy analyzer
SU695465A1 (ru) Анализатор энергий зар женных частиц
EP0295653B1 (en) High luminosity spherical analyzer for charged particles
SU591107A1 (ru) Энергетический анализатор с электростатическим зеркалом
AU2017220663B2 (en) Extraction system for charged secondary particles for use in a mass spectrometer or other charged particle device
RU2076387C1 (ru) Спектрометр заряженных частиц
US3783278A (en) Single magnet tandem mass spectrometer
US4223223A (en) Broad-range ion mass spectrometer
SU680534A1 (ru) Электростатический энергоанализатор
SU1605288A1 (ru) Ионный микрозондовый анализатор