Изобретение относитс к производству оптических деталей и может быть использовано при изготовлении крупногабаритных деталей высокой точности. Известен способ корректирующей обработки рабочей поверхности инструмента дл притирки деталей, согласно которому регистрируют отклонени поверхности инструмента по лекальной линейке и дорабатывают участки его поверхности до исчезновени отклонений 1. Этот способ не обеспечивает высокую точность корректирующей обработки рабочей поверхности инструмента, вследствие малой разрешающей способности метода контрол по лекальной линейке. Известен также способ корректирующей обработки рабочей поверхности инструмента дл изготовлени оптической детали, согласно которому инструментом поэтапно обрабатывают поверхность детали, создают интерференционную картину от поверхности детали, регистрируют отклонение интерференционных полос и с учетом полученных данных дорабатывают участки поверхности инструмента до исчезновени отклонений, причем об исчезновении отклонений суд т по исчезновению полос интерференции 2. Этот способ вл етс малопроизводительным , так как при контроле отклонений не могут быть получены данные по величине подлежащего удалению с инструмента сло материала. Цель изобретени - повышение производительности корректирующей обработки поверхности инструмента. Указанна цель достигаетс тем, что согласно способу корректирующей обработки рабочей поверхности инструмента дл изготовлени оптической детали, по которому инструментом поэтапно обрабатывают поверхность детали, создают интерференционную картину от поверхности детали, регистрируют отклонение интерференционных полос и с учетом полученных данных дорабатывают участки поверхности инструмента до исчезновени отклонений, интерференционную картину создают путем дискретного смещени относительно друг друга двух идентичных волновых фронтов, сформированных от обрабатываемой поверхности, а место и величину необходимой доработки поверхности инструмента определ ют по отклонению участков первой полосы интерферрграммы от проведенной к ней касательной линии, параллельной нулевой полосе. На фиг. 1 показана интерферрграмма сферического зеркала из стекла марки К8, диаметром 500 мм, имеющего радиус сферы 1000 мм; на фиг. 2 - конфигураци рабочей поверхности инструмента, соответствующа интерферрграмме на фиг. 1 (рабоча часть поверхности заштрихована); на фиг. 3 - интерферрграмма, полученна после 1 57 обработки детали инструментом, конфигураци рабочей поверхности которого приведена на фиг. 2. Предлагаемый способ предусматривает поэтапную обработку детали с контррлем ее поверхности после каждого этапа обработки и последующую доработку поверхности инструмента. Так как рабоча поверхность инструмента состоит из полировочной смолы, то ее доработка может прризводитьс одним из известных методов: подрезкой, нанесением смол ного сло , опрессовкой. Смещение волновых фррнтов можно прризводить при помощи интерферрметррв бокового сдвига. Дл наилучшей коррекции рабочей поверхности инструмента необходимо, чтобы размах траектории инструмента, а соответственно и смещение волновых фррнтов находились в пределах 0,1 диаметра обрабатываемой детали, а ширина интерференционных полос равн лась 0,5 смещени , так как в этом случае перва полоса пррходит через центр детали и ее длина практически равна диаметру детали, что важно дл правильного определени величины ошибок и радиусов зон, в KOTOpbix эти ошибки имеютс . Дл определени места и величины необходимой доработки поверхности инструмента на интерферрграмме пррвод т линию, параллельную Нулевой полосе, касающуюс первой полосы в зоне планируемого максимального съема, пррвод т перпендикул рь к нулевой полосе в зонах отклонени первой полосы от пррведенной линии, а также через центр иНтерферрграммы, определ ют отклонени первой полосы от пррведенной пр мой во всех зонах, после чего определ ют коэффициенты заполнени рабочей поверхности инструмента в зонах с радиусами, равными рассто ни м от перпендикул ра, проход щего через центр ИНтерферрграммы до данной зоны в масштабе инструмента, по формуле KiH К,с 1(1-Ко) f-.}, гдеХ1 -отклонение первой полосы от пррведенной линии в i-й зоне на j-й интерферрграмме; Xmsxj- максимальное отклонение первой полосы от пррведенной линии на J-й интерферрграмме; Ко - коэффициент заполнени смолы в зоне с максимальным отклонением первой полосы отпроведенной линии; Kit -старый коэффициент заполнени смолы в i-й зоне; KiH -новый коэффициент заполнени смолы в i-й зоне, соответственно которым осуществл ют корректи рующую обработку рабочей поверхности инструмента.The invention relates to the production of optical parts and can be used in the manufacture of large parts of high precision. There is a method of correcting the treatment of the working surface of the tool for grinding parts, according to which deviations of the surface of the tool are recorded in the curve line and the surface sections are modified until the deviations disappear 1. This method does not provide high accuracy of the correction treatment of the tool surface due to the low resolution of the method of controlling the lineup. There is also known a method for correcting the treatment of the working surface of an instrument for manufacturing an optical part, according to which the surface of the part is processed by a tool, an interference pattern is created from the part surface, the deviation of interference bands is recorded and, taking into account the data obtained, the surface areas of the instrument are refined until the deviations disappear. t on the disappearance of interference bands 2. This method is inefficient, since when ntrole deviations can not be received by the data value to be removed from the tool material layer. The purpose of the invention is to improve the performance of the tool surface correction treatment. This goal is achieved by the fact that, according to the method of corrective treatment of the working surface of the instrument for the manufacture of an optical part, according to which the surface of the part is gradually processed with a tool, an interference pattern is created from the part surface, the deviation of the interference fringes is recorded and, taking into account the obtained data, the surface areas of the instrument are removed until the interference pattern is created by discrete displacement of two identical waves relative to each other of the fronts formed from the surface to be treated, and the location and amount of the required surface refinement of the instrument is determined by the deviation of the first interferrgram band from the tangent line drawn to it, parallel to the zero band. FIG. 1 shows the interfergram of a spherical mirror made of K8 glass with a diameter of 500 mm and having a sphere radius of 1000 mm; in fig. 2 shows the configuration of the tool working surface corresponding to the interferrogram in FIG. 1 (the working part is shaded); in fig. 3 - interferrgram obtained after 1 57 part processing with a tool, the configuration of the working surface of which is shown in FIG. 2. The proposed method provides for the step-by-step processing of the part with a control roll of its surface after each processing step and the subsequent refinement of the tool surface. Since the working surface of the tool consists of a polishing resin, its refinement can be carried out by one of the known methods: trimming, applying a resin layer, and crimping. The displacement of wave frrntov can be made using the lateral shear interferrmetrrv. For the best correction of the working surface of the tool, it is necessary that the span of the toolpath, and accordingly the wavefront offset, be within 0.1 of the diameter of the workpiece, and the width of interference fringes is 0.5 offset, since in this case the first strip passes through the center details and its length is almost equal to the diameter of the part, which is important for correct determination of the magnitude of errors and radii of zones, in KOTOpbix these errors exist. To determine the location and magnitude of the required tool surface refinement on the interfergram, set a line parallel to the Zero band, relating to the first band in the zone of the planned maximum removal, send perpendicular to the zero band in the zones of deviation of the first band from the preceding line, as well as through the center and Interferrgram, determine the deviations of the first strip from the lead straight in all zones, after which the fill factors of the working surface of the instrument are determined in zones with radii equal to the distances from the perpendicular that passes through the center of the Interfergram to the given zone on the instrument scale, according to the formula KiH K, c 1 (1-Ko) f-.}, where Х1 is the first deviation from the established line in the i-th zone on the j-th interferrgram; Xmsxj is the maximum deviation of the first band from the selected line on the J-th interferrgram; Ko is the coefficient of filling the resin in the zone with the maximum deviation of the first strip of the extended line; Kit - old resin filling factor in the i-th zone; KiH is the new coefficient of resin filling in the i-th zone, according to which corrective treatment of the tool working surface is carried out.