SU104340A1

SU104340A1 - Deflection system for modulating electron beam intensity

Info

Publication number: SU104340A1
Application number: SU453343A
Authority: SU
Inventors: А.В. Фришман
Original assignee: А.В. Фришман
Priority date: 1954-03-05
Filing date: 1954-03-05
Publication date: 1955-11-30

Description

Модул ци интенсивности электронного пучка в электронно-лучевых трубках осуществл етс обычно изменением потенциала, поданного на диафрагму модул тора, расположенную непосредственно перед катодом трубки.The intensity of the electron beam in cathode-ray tubes is usually modulated by changing the potential applied to the modulator diaphragm located directly in front of the tube cathode.

Частична емкость между катодом и модул тором оказываетс при этом чрезмерно большой в случае применени трубок в некоторых схемах, использующих обратную св зь между цеп ми катода и модул тора трубки при малой длительности модулирующих импульсов.The partial capacitance between the cathode and the modulator turns out to be excessively large when tubes are used in some circuits that use feedback between the circuits of the cathode and the tube modulator with a short duration of modulating pulses.

При модул ции электронного пучка за счет его отклонени по выре ывающей диафрагме можно уменьшить емкость между катодом и модулирующей системой, однако при этом способе модул ции возникает нежелательное смещение электронного п тна на экране трубки.When the electron beam is modulated due to its deflection along the reducing aperture, the capacitance between the cathode and the modulating system can be reduced; however, this modulation method causes an undesirable displacement of the electron spot on the tube screen.

С целью получени малой частичной емкости-между катодом и модулирующей системой и предотвращени смещени электронного п тна при модул ции предлагаетс In order to obtain a small partial capacitance between the cathode and the modulating system and to prevent the electron spot from shifting during modulation,

использование дл модул ции системы электродов, состо щей из двух пар пластин, отклон ющих пучок в одной плоскости, разделенных вырезывающей диафрагмой и установленных в прожекторе электронно-лучевой трубки между ускор ющим электродом и главной линзой.use for modulating the system of electrodes consisting of two pairs of plates deflecting the beam in the same plane, separated by a cutting diaphragm and installed in the illuminator a cathode ray tube between the accelerating electrode and the main lens.

Электронный пучок, который можно считать выход щим из точечного источника GI, расположенного на оси прожектора вблизи катода, отклон етс первой парой отклон ющих пластин 1 и частично срезаетс вырезывающей диафрагмой 2. (см. чертеж).The electron beam, which can be considered to be emerging from a point source GI located on the axis of the searchlight near the cathode, is deflected by the first pair of deflecting plates 1 and partially cut off by cutting diaphragm 2. (see drawing).

Отклоненный пучок кажетс выход щим из точки (2 (мнимого изображени источника), расположенной в стороне от оси.The deflected beam appears to come out of a point (2 (imaginary image of the source) located away from the axis.

Дл устранени этого смещени , вызывающего соответствующее смещение п тна на экране, после вырезывающей диафрагмы установлена втора пара пластин 5, отклон юща пучок в противоположном направлении на такой угол, чтобы мнимое изображение источника сместилось на ось, в точку о.To eliminate this displacement, causing a corresponding displacement of the spot on the screen, a second pair of plates 5 are installed after the cutting diaphragm, the deflecting beam in the opposite direction at such an angle that the imaginary image of the source is shifted to the axis, to the point o.

Пластины второй пары включаютс параллельно пластинам первой пары так, чтобы пластины, расположенные с разных сторон от оси, были соединены между собой.The plates of the second pair are included parallel to the plates of the first pair so that the plates located on opposite sides of the axis are interconnected.

Смещение мнимого изображени источника отсутствует при условии , что отношение чувствительности первой пары пластин к чувствительности второй пары пластин удовлетвор ет соотношению: Л а+й g-l b где: g-отношение чувствительностей пластин; а-рассто ние от мнимого изображени кроссовера до центра отклонени первой пары пластин; Ь-рассто ние между центрами отклонени первой и второй пары пластин. Мен форму вырезывающей диафрагмы , можно соответственно измен ть форму модул ционной характеристики трубки.The displacement of the imaginary image of the source is absent, provided that the ratio of the sensitivity of the first pair of plates to the sensitivity of the second pair of plates satisfies the relation: L a + th g – l b where: g is the ratio of the sensitivity of the plates; a is the distance from the imaginary image of the crossover to the center of deflection of the first pair of plates; B is the distance between the centers of deviation of the first and second pairs of plates. With the shape of the cutting diaphragm, the shape of the modulation characteristic of the tube can be changed accordingly.

Предмет изобретени Отклон юща система дл модул ции интенсивности электронного пучка электронно-лучевых трубок с малой частичной емкостью между модулирующей системой и катодом , отличающа с тем, что модул ци интенсивности происходит за счет срезани вырезывающей диафрагмой части пучка, отклон емого парой отклон ющих пластин, расположенных в электронном прожекторе между ускор ющим электродом и вырезывающей диафрагмой, а компенсаци возникающего при этом смещени мнимого изображени кроссовера осуществл етс второй парой пластин , отклон ющей пучок в той же плоскости в обратном направлении и расположенной между вырезывающей диафрагмой и главной линзой электронного прожектора.Subject of the Invention A deflecting system for modulating the intensity of an electron beam of an electron beam tube with a small partial capacitance between the modulating system and the cathode, characterized in that the intensity is modulated by cutting a portion of the beam deflected by a pair of deflecting plates arranged in the electron projector between the accelerating electrode and the cutting diaphragm, and the displacement of the imaginary image of the crossover arising from this is accomplished by the second pair plates deflecting the beam in the same plane in the opposite direction and located between the cutting diaphragm and the main lens of the electronic searchlight.