SU1013828A1 - Фотометрический клин - Google Patents

Фотометрический клин Download PDF

Info

Publication number
SU1013828A1
SU1013828A1 SU813384994A SU3384994A SU1013828A1 SU 1013828 A1 SU1013828 A1 SU 1013828A1 SU 813384994 A SU813384994 A SU 813384994A SU 3384994 A SU3384994 A SU 3384994A SU 1013828 A1 SU1013828 A1 SU 1013828A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
crystal plate
wedge
photometric
photometric wedge
frame
Prior art date
Application number
SU813384994A
Other languages
English (en)
Inventor
Константин Иванович Дудкин
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6681
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6681 filed Critical Предприятие П/Я Р-6681
Priority to SU813384994A priority Critical patent/SU1013828A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1013828A1 publication Critical patent/SU1013828A1/ru

Links

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Polarising Elements (AREA)

Description

Изобретение относитс  к области оптики, прежде всего к фотометрии, и может быть применено дл  анализа и синтеза цветных изображений и определени  цветовых (спектральных ) характеристик световых полей. Известно устройство ( фотометрический клин-; дл  ослаблени  световых полей, измен ющее пропускание света в рабочем поле по заданному закону, основанное на пол ризационных свойствах света. Устройство содержит установленные последовательно пол ризатор, анализатор и анизотропные кристаллы, взаимные развороты которых относительно их общей оптической оси привод т к калиброванному изменению светового потока Ij . Недостатком этого устройства  в л етс  экранирование прошедшего че рез него света при наклоне элементов . Наиболее близким по технической сущности к изобретению  вл етс  фотометрический клин, содержащий последовательно установленные пол ризатор , кристаллическую пластину из анизотропного материала, зак репленную в оправе,, и анализатор. Кристаллическа  пластина имеет переменную толщину рабочей области. При вращении анализатора цвет отде ных областей кристаллической пластины мен етс  вследствие выделени  только тех пол ризованных лучей, дл  которых в каждом KcrHKpeTHONr случае выполн ютс  соответствующие услрви  дл  их фаз и пол ризаций Г Недостатком известного устройст ва  вл етс  трудоемкость его из чэтовлени  вследствие сложности формировани  профил  кристаллической пластинки, что, в свою очередь, не позвол ет обеспечить метрологические свойства клина. Целью изобретени   вл етс  упро щение изготовлени  и повышение точ ности фотометрического клина. Указанна  цель достигаетс  тем, что в фотометрическом клине, содер жащем последовательно расположенны пол ризатор, кристаллическую пластину из анизотропного материала, з репленную в оправе, и анализатор, опра снабжена фиксирующими упорами, установленными с возможностью обеспе чени  наклона и изгиба кристаллической пластины. Ца чертеже изображен предлагаемый фото.метрический клин. Фотометрический клин включает пол ризатор 1, кристаллическую пластину 2 из анизотропного матери ала, анализатор 3, оправу 4 с упорами 5. Устройство работает следук цим образом. . Пол ризатор 1 выдел ет линейно пол ризованную составл ющую света, котора  в кристаллической пластине 2 раздел етс  на две ортогональные. Толщина h и дву.преломление кристаллической пластины 2 определ ют поворот вектора пол ризации, в зависимости от длины волны Д, света . Анализатор 3 позвол ет выделить заданную линейную пол ризацию из смешанного пол ризационного состо ни . Наклон кристаллической пластины 2 относительно исходного положени , когда она расположена нормально к оптической оси устройства, приводит к увеличению ее эффективной толщины h +сГЬ, а также к изменению положени  оптических осей кристаллической пластины 2 относительно вектора электрического пол  падающей на нее световой волны. -В свою очередь это приводит к изменению фазы (5lf между двум  ортогональными пол ризованными компонентами так, что: f() (1) Таким образом, выбира  заданную толщину h + (fh наклоном кристаллической п/Гастины 2 при tp 0,45° или 90°, можно выделить определенную спектральную составл ющую исходного светового потока с длиной волны Д.. Однако дл  получени  клиновидного пропускани - по поверхности кристаллической пластины 2 необз одимо плавно измен ть ее толщину в небольших пределах. При этом если поверхность пластины деформировать с ростом деформации н.а изгиб от одного ее кра  к другому, хроматизм практически отсутствует. Толщина дл  падающего на нее светового потока будет расти с увеличением изгиба , а изменение ф пропорционально изменению fc, и мен етс  только пропускание составл ющей светового потока с длиной волны JL по полю деформации кристаллической пластины, но на ее цветовой состав. Экспериментально установлено, что при фиксации пластины в оправе 4, в которой установлены фиксирующие упоры 5 дл  линейного изгиба кристаллической пластины 2, с линейным изгибом можно получить в рабочем поле 10-20 мм линейное изменение оптической плотности более Д .1,2 единицы . В качестве кристаллической пластины 2 можно использовать слюд ную пластину, обладающую высоким двупреломлением и позвол ющую ее изгибать до 50-60. Практически ис .следованн  показали,что наклон слюд ной пластины позвол ет проводить
310138284.
плавную перестройку фотометрическо-0,06 единиц оптической плотности
го клина на заданную длину волны во(мм, что недостижимо другими пут ми, всём оптическом диапазоне, а дефор- Таким образом, изобретение позмаци  пластины на изгиб - плавно иэ-волйет упростить изготовление и повымен ть посто нную клина от 0,003 досить точность фотометрического клина.

Claims (1)

  1. ; ФОТОМЕТРИЧЕСКИЙ КЛИН, содержащий последовательно располо женные поляризатор, кристаллическую пластину из анизотропного материала, закрепленную в оправе, и анализатор, отличающийся тем, что, с целью улучшения изготовления и повышения точности фотометрического клина, оправа снабжена фиксирующими упорами, установленными с возможностью обеспече‘ния наклона и изгиба кристаллической пластины.
SU813384994A 1981-11-30 1981-11-30 Фотометрический клин SU1013828A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813384994A SU1013828A1 (ru) 1981-11-30 1981-11-30 Фотометрический клин

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813384994A SU1013828A1 (ru) 1981-11-30 1981-11-30 Фотометрический клин

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1013828A1 true SU1013828A1 (ru) 1983-04-23

Family

ID=20993442

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU813384994A SU1013828A1 (ru) 1981-11-30 1981-11-30 Фотометрический клин

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1013828A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4394069A (en) Liquid crystal tuned birefringent filter
US4909626A (en) Electrically-controllable thin film Fresnel zone device
DE60202841T2 (de) Displayvorrichtung mit rasterpolarisationsstrahlenteiler und kompensator
KR100944141B1 (ko) 액정 프로젝터, 액정 소자 및 액정 소자용 기판
US8736777B2 (en) VIS-SNIR multi-conjugate liquid crystal tunable filter
US5410421A (en) Optical separator of polarizations and application to a display system
EP0181872A1 (en) OPTICAL SPATIAL FREQUENCY FILTER.
JPH04230733A (ja) 像の投影のための装置
EP0059706B1 (en) Dispersive optical device
US7583340B2 (en) Phase difference compensating device and liquid crystal apparatus using the same
Miller et al. Multispectral imaging with a liquid crystal tunable filter
US6433847B1 (en) Reflection liquid crystal display which includes a pair of substrates
EP0520369B1 (en) Projector
EP0459554B1 (en) Liquid crystal display device
EP0354029A2 (en) Electronically variable MTF filter for image sensor arrays
US20060038929A1 (en) Tunable spectral imaging filter configured for UV spectral ranges
EP1298484B1 (en) Liquid crystal display
US5329387A (en) Liquid crystal display device with display and compensation cells separated by distance larger than depth of focus of optical enlarger
SU1013828A1 (ru) Фотометрический клин
WO1992021046A1 (en) Light scattering device
KR100474918B1 (ko) 편광 변환 장치
GB2272277A (en) An optical display backlight
KR20050003425A (ko) 조광 장치 및 촬상 장치
US6256122B1 (en) Device for the elimination of the zero order beam emerging from a hologram illuminated in polarized light
EP1012640B1 (en) Device for the elimination of the zero order beam emerging from a hologram illuminated in polarized light