SU100771A1 - Model wedge for thickness measurement devices - Google Patents

Model wedge for thickness measurement devices

Info

Publication number
SU100771A1
SU100771A1 SU450002A SU450002A SU100771A1 SU 100771 A1 SU100771 A1 SU 100771A1 SU 450002 A SU450002 A SU 450002A SU 450002 A SU450002 A SU 450002A SU 100771 A1 SU100771 A1 SU 100771A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
wedge
thickness
length
plates
rays
Prior art date
Application number
SU450002A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
И.А. Городинский
Original Assignee
И.А. Городинский
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by И.А. Городинский filed Critical И.А. Городинский
Priority to SU450002A priority Critical patent/SU100771A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU100771A1 publication Critical patent/SU100771A1/en

Links

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)

Description

Известны устройства дл  измерени  то;11ци1ны раз.шчных материалов ( в частности, металлов), оснОВанНые на просвечивании их рентгеновскими или радиактивиымн лучами (3, ;/). Толи1ииа измер емого материала определ етс  по степени поглощени  им лучей, иными словами, по интенсивности прошед:иего через материа.-i остаточного из.чучеии , которое измер етс  каким-либо ирибором, реагирующим на рентгеновские или радиоактивные лучи.Devices are known for measuring that; 11 centimeters of various hard materials (in particular, metals), based on their x-ray or x-ray radiation exposure (3,; /). The amount of measured material is determined by the degree of absorption of the rays by it, in other words, by the intensity of the pass through the material. The i of the residual of the results, which is measured by an instrument that reacts to x-rays or radioactive rays.

Одним из наиболее целесообразных способов измерени  то/пиины материалов  вл етс  способ сравнени , при котором сравнивают интенсивности Излучений (от одного и того же источника), прошедших через измер емый материа.т и через эталонный образец того же материала известной ТОЛП1ИНЫ. Если эталонный образец вз т той толишиы, котора  до.тжиа быть иолучена в процессе производства, то прибор будет непосредстзсиио указывать отклонение измер емой толш.ины в ту или другую CTopO.iy от номинала.One of the most appropriate methods for measuring materials / pienes is the comparison method, in which the intensities of the Radiations (from the same source), transmitted through the measured material and compared to a reference sample of the same material of the known TOL1INY, are compared. If the reference sample is taken from the volume that was obtained during the production process, the device will directly indicate the deviation of the measured thickness of the tire into one or another CTopO.iy from the nominal value.

Если выполнить эталонный образец не 13 виде илоской пластинки, а в виде клнна, то, перемеща  носле/tний ио пути лучей, можио уравн ть их интенсивность с интенсивностью лучей, ироигедгинх через измер емыйIf one performs a reference sample not in the form of an elliptic plate, but in the form of a plate, then, by moving the main path of the rays, one can equalize their intensity with the intensity of the rays, iroiheads, through the measured

материал. TaKoii ком пенса цио.чпый способ измерени  толниты изделий дает иаиболее точные результаты.material. TaKoii Compensation Cyo. The method of measuring the tolnits of products gives the most accurate results.

В устройствах дл  осуп1,ествлени  подобного способа основной трудностью  вл етс  создание клина, который с большой точностью воснроизводи .1 бы абсо.потио плавное изменение толщины материа.ча.In devices for suspending such a method, the main difficulty is to create a wedge that would reproduce with great precision. 1 would be an absolute means of smoothly changing the thickness of the material.

Как показала практика, изготовление такого клина путем механической обработки  вл етс  весьма трудной задачей и не обесиечнвает получени  требуе мых метрологических точностей.As practice has shown, the manufacture of such a wedge by mechanical treatment is a very difficult task and does not obscure the obtaining of the required metrological accuracy.

В р де с.тучаев требуетс  также создание клина с неременным углом наклона, например, в тех случа х, когда шкала прибора должна быть раСт нута в опреде.теиных участках.In a row of sotuchaev, it is also required to create a wedge with an irregular angle of inclination, for example, in those cases where the scale of the instrument must be open in certain areas of the site.

Предметом иасто и,его изобретени   вл етс  конструктивное выполнение образцово1-о клнна (эталона), допускающее значительное упрсще )1ие технолог 1и его изготовлени .The subject matter of his invention, his invention is the constructive execution of an exemplary first (standard), allowing for a considerable amount of effort in the manufacture and manufacture of it.

Согласно изобретению, образцовый клин выполнен в виде )-ia6opa калиброванных пластин, сложенных в пакет со сдвигом по длине одна относите .тьно другой дл  ступенчатого изменени  то, клнна.According to the invention, an exemplary wedge is made in the form of a) -ia6opa calibrated plates folded in a package with a shift along the length of one relative to the other for a step change, that is, a clamp.

С целью получени  требуемого закона изменени  толщины клина поIn order to obtain the required law for changing the thickness of the wedge

его длуне гтакет может оыть сооран из пластин неодинаковой толщины.His glouquet can be made from a plate of unequal thickness.

На фиг. 1-5 показано несколько вариантов, вЬшолнени  предложенного образцового клина.FIG. 1-5 shows several options for implementing the proposed exemplary wedge.

На фиг. 1 и 2 показан в двух проекци х клин, состо щий из калиброванных пластнН, сложенных -в пакет. Нластнны сдвинуты по длине одна относительно другой и их торцы расположены перпендикул рно длине клина.FIG. 1 and 2 are shown in two projections a wedge consisting of calibrated plastic sheets folded into a bag. The layers are shifted in length one relative to another and their ends are located perpendicular to the length of the wedge.

Хот  толщииа такого клина мен етс  по длине ступенчатоо.бразно, Однако, и-меетс  В031можность получить при его движении н направлении , нерпендикул рном к направлению лучей, абсолютно плавное измене|; ие интенсивности луча и степени его поглощени  в материале клина.Although the thickness of such a wedge varies in length in steps. However, even the B031 is able to obtain an absolutely smooth change, when it moves in a direction that is perpendicular to the direction of the rays; the intensity of the beam and the degree of its absorption in the wedge material.

Дл  этой пели длины отдельных пластин ДО.-1ЖНЫ быть подобраны таким образом, чтобы длина а каждой ступени /, 2, 3... бы.ла во всех случа х меньше ширины б освещаемой лучол плои 1адки при его пересечении с новерхностью клина. Нри соблюдении этого ус.юви  церемещение клина в направлении стрелки вызывает плавное увеличение -в зоне луча участка ступени / (меньшей толп1,ины) и одновременно уменьшение участка ступени 3 (бо.льшей толщины). Участки ступени / и 3. наход щиес  к зоне луча в положении, изображенном на фиг. 1, заштрихованы.For this one, the lengths of the individual plates Sang-1 are LASTED to be chosen in such a way that the length of each step /, 2, 3 ... would be in all cases less than the width b of the illuminated beam of the drop when it crosses the wedge. The observance of this condition. The movement of the wedge in the direction of the arrow causes a gradual increase in the zone of the beam of the section of the step / (smaller crowd, ins) and at the same time the reduction of the section of the step 3 (thicker). Stages of stage / and 3. located to the zone of the beam in the position shown in FIG. 1, shaded.

Таким образом, средн   толщина участка клина, нронизываемого лучом , плавно уменьшаетс  по мере перемещени  клина вправо и увеличиваетс  при его перемещении влево (по чертежу).Thus, the average thickness of the section of the wedge that is worn by the beam gradually decreases as the wedge moves to the right and increases as it moves to the left (according to the drawing).

Образцовый клин может быть выполнен с любым средним углом наклона . Возможно также получить клин переменной по длине толщины, измен ющейс  по любому закону. Дл  этой цели можно измен ть длину ступеней в нужном участке клина, как это изображсно на фиг. 1 н 2 (размеры ступеней клина уменьн1аютс  по направлению к концам клнна ). Увеличива  длину ступеней, можно раст нуть шкалу на нужном участке. Тот же эффект может быть достигнут нутем изменени  толщины пластин на нужном участке клина, как это показано на фиг. 2, где буквой К обозначены пластинь меньшей ТОЛП1ИНЫ, чем остальные.The model wedge can be made with any average angle of inclination. It is also possible to obtain a wedge of variable lengthwise thickness, varying by any law. For this purpose, it is possible to change the length of the steps in the desired area of the wedge, as shown in FIG. 1 n 2 (the dimensions of the steps of the wedge are reduced towards the ends of the wedge). By increasing the length of the steps, you can stretch the scale in the desired area. The same effect can be achieved by changing the thickness of the plates in the desired area of the wedge, as shown in FIG. 2, where the letter K designates plates of a lower COLOR than the others.

Нримен   дл  «абора клина тонкие калиброванные пластины, можно создавать клин, проницаемость которого просвечивающим лучом будет мен тьс  по любой заданной характеристике .Although a thin calibrated plate is used to create a wedge, it is possible to create a wedge whose permeability by a transmission beam will vary according to any given characteristic.

Нодгонку собранного клина и его калибровку по заданной шкале можно легко осуществл ть также путем удлинени  нли укорачивани  отдельных пластин клина.Trimming the assembled wedge and calibrating it on a given scale can also be easily accomplished by lengthening the shortening of the individual wedge plates.

Нредложенный клнн может быть выполнен пр молинейным, как это иоказано на фиг. 1 и 2, или же в виде цилиндра, дл  чего необходимо только изогнуть весь пакет п;гастнн вокруг цилиндрической оправки.The proposed profile can be made linear, as shown in FIG. 1 and 2, or in the form of a cylinder, for which it is only necessary to bend the entire package n; gastnn around a cylindrical mandrel.

Кро.ме того, клин может быть выполнен к форме диска, сложенного из секторов различной Агловой величины , образуюгцих р д ступеней (фиг. 3). Неремен1,енне такого клина осу1цеств.1 етс  вращениеМ его вокруг оси. Дл  по снени  способа изготовлени  дискового клина на фиг. 4 представлена его втора  проекци , из которой видно расположение отдс .льных пластин. Кроме того, на фиг. 5 приведены с)ормы отдельных пластин клИНа (/ 2 и 8}, соответствующие н; астина1М, обозначенным теми же номерамн на собранном клине, нзображенном на фиг. 3.In addition, the wedge can be made to the shape of a disk made up of sectors of different Aglow values, forming a number of steps (Fig. 3). It is nonmention1, enne of such a wedge of events. 1 rotation of its axis around an axis. To clarify the method for manufacturing the disk wedge in FIG. Figure 4 shows its second projection, from which the location of the separate plates is visible. In addition, in FIG. 5 shows c) the forms of the individual plates of the cLN (/ 2 and 8}, corresponding to n; astina1M, indicated by the same numbers on the assembled wedge shown in Fig. 3.

Дл  по,1учепи  п.павного изменени  интенсивности излучений, проход щих через клин при его Bpanxeinui, нсобходн.мо как и в случае ир молиПейного клина, чтобы ширина б пучка лучей была больше наибол1)П1ей ширпны а ступени клина.For each other, the intensity of the radiation passing through the wedge at its Bpanxeinui is different, as in the case of the minge wedge, so that the width of the beam of rays is greater than the most wedge steps.

Нредмет изобретени Nredmet of the invention

Claims (3)

1. Образцовый клин к устройствам дл  измерени  толщины изделий путем просвечивани  их рентгеновски .ми или радиоактивными лучами и определени  степени поглощени  этих лучей по методу сравнени  ннтенсивностн лучей, прошедщих через контролируемое изделие и через образцовый клин, о т л н ч а ю HI. и и с   тем, что, с целью упрощени  технологии изготовлени  клина, он выполнен в виде набора калиброванных пластин, сложенных в пакет со сдвиroM по длине одна относительно кет собран 1. Model wedge to devices for measuring the thickness of products by x-ray or radioactive radiation and determining the degree of absorption of these rays by comparing the intensity of the rays passing through the controlled product and through the model wedge, about l l HI. and in order to simplify the manufacturing technology of the wedge, it is made in the form of a set of calibrated plates folded in a package with a slip along the length of one relative to the ket assembled гой дл  ступенчатого изменени  толщины клина.Go to stepwise change wedge thickness. 2. Образцовый клин по п. 1, о т л ичающийс  тем, что, с целью получени  требуемого закона изменени  толщины клина по его длине, патолщины .2. An exemplary wedge according to claim 1, which is based on the fact that, in order to obtain the desired law of variation of the thickness of the wedge along its length, the thickness of the patch. 3. Образцовый клин по п. 1, от л ичающийс  тем, что рассто ни  между концами соседних пластин (длины ступеней) в -пакете выполнеиз пластин неодипаковой3. The exemplary wedge of claim 1, which is based on the fact that the distances between the ends of the adjacent plates (length of the steps) in the package are performed from the neodipak plates Фиг. 3FIG. 3
SU450002A 1952-10-01 1952-10-01 Model wedge for thickness measurement devices SU100771A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU450002A SU100771A1 (en) 1952-10-01 1952-10-01 Model wedge for thickness measurement devices

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU450002A SU100771A1 (en) 1952-10-01 1952-10-01 Model wedge for thickness measurement devices

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU100771A1 true SU100771A1 (en) 1954-11-30

Family

ID=48374755

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU450002A SU100771A1 (en) 1952-10-01 1952-10-01 Model wedge for thickness measurement devices

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU100771A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE68902773T2 (en) SPECTROMETER.
SU100771A1 (en) Model wedge for thickness measurement devices
Fabry et al. Measures of absolute wave-lengths in the solar spectrum and in the spectrum of iron
US2999931A (en) X-ray interferometer
Thomsen et al. Effect of statistical counting errors on wavelength criteria for X-ray spectra
US3059466A (en) Thickness gauges
Jaffe et al. Refraction spectrum of gases in the infrared intensities and widths of lines in the 2–0 band of HCl
US2532892A (en) Aperture meter
US1456061A (en) Calculating machine
JP2002243415A (en) Film thickness measuring method and sheet manufacturing method
JP2791447B2 (en) Measured value processing method
US336181A (en) Thermometer
JP3018043B2 (en) Calibration curve creation method for film thickness measurement
Bengough Theory and application of the non-stationary state method. Chain reactions involving simultaneous first-and second-order termination
SU391452A1 (en) METHOD OF MEASURING THE RADIUS OF A CURVATURE OF UNIFORMLY-CURVED CRYSTALLINE SAMPLES
JP2896904B2 (en) Calibration curve creation method for fluorescent X-ray film thickness measurement
SU575482A1 (en) Scale device
US1579918A (en) Apparatus for gauging associated elements
US933605A (en) Apparatus for determining relative times of development of photographic plates or films for different temperatures.
US1936683A (en) Frequency measurement
US2316864A (en) Micrometer gauge
US1032260A (en) Time-exposure meter.
SU1413493A1 (en) Method of determining thin structural changes extended polymers
SU1177791A1 (en) Cassette for x-ray diffraction measurements
SU84115A1 (en) Small deformation indicator