SU100065A1

SU100065A1 - Photoelectric device to control the quality of the surface of parts

Info

Publication number: SU100065A1
Application number: SU449361A
Authority: SU
Inventors: И.К. Нурищенко; А.В. Папировский; А.И. Постнов
Original assignee: И.К. Нурищенко; А.В. Папировский; А.И. Постнов
Priority date: 1951-07-03
Filing date: 1951-07-03
Publication date: 1954-11-30

Description

Предметом изобретени вл етс фотоэлектрическое устройство дл ко1про;1 качества поверхности деталей , например, заготовок пле)ючиых электричгеких сопротивлений, иутем сравнени контролируемой Детали с эталоном.The subject of the invention is a photovoltaic device for coping with the quality of the surface of parts, for example, blanks of electric resistances, and comparing the controlled Part with a reference.

Предлагаемое устройство позвол ет устранить вли ние изменений средней отражательной способности детали (например, вследствие изменений ее окраски) на результаты измерений путем использовани исследуемой детали одновременно и в качестве эталона. Дл этого в устройстве применены две фотоэлектрические головки, включенные по диффе| )е)1ииа.1ьной схеме и контролируюП1ИС раз.;п1чные части поверхности детали , освеп.аемые разными световыми лучами одинаковой интепсивности , но разных -поперечных сечений, а именно; одна - лучом, который распреде.1 етс по всей поверхности детали is пределах ее полного телесного угла, а друга - лучом, площадь поперечного сечепи которого соизмерима с величиной наименьшего дефекта.The proposed device makes it possible to eliminate the effect of changes in the average reflectivity of a part (for example, due to changes in its color) on the measurement results by using the test part simultaneously and as a reference. To do this, the device uses two photoelectric heads, connected by differential | ) e) 1ii.1noy scheme and controlled by1Is times; p1chnye parts of the surface of the part, osep.aemye different light rays of the same intepsivnosti, but different -transverse sections, namely; one is a beam that is distributed over the entire surface of a part is within its full solid angle, and the other is a beam whose cross-sectional area is commensurate with the size of the smallest defect.

С целью исключени вли ни нсстаГш .11ЬНости световых лучсй на действие дифференциальной измерцтельной схем1 г в устройстве Применен один oGnuni источпик света дл обеих фотоэлектрических головок.In order to eliminate the influence of the radiation of the light beam on the effect of the differential measuring circuit of 1 g in the device, one oGnuni light source was used for both photoelectric heads.

Па чертеже представлена при1П1Итшальна схема устройства.The drawing is shown in FIG. 1 a schematic diagram of the device.

Заготовка 1 зажимаетс между двум роликами 2 и ведуп1пм барабаном 3. При повороте последнего на угол заготовка делает один оборот вокруг своей оси. Во врем вращени заготовки на нее падают два Направленных луча / II //. Луч / имеет площадь поперечного сечени , соизмеримую с плоиипдью всей заготовки, и отражеина его часть (луч /) практически не будет измен тьс при наличии дефектов. меньи1их его по плои1ади. При наличии же дефектов, соизмеримых с поверхностью заготовки , иитеисивиость луча / будет измен тьс сравнительно медленно.The workpiece 1 is clamped between the two rollers 2 and the vedup1pm drum 3. When the latter is rotated at an angle, the workpiece makes one revolution around its axis. During the rotation of the workpiece, two Directed beams fall on it / II //. The beam / has a cross-sectional area commensurate with the depth of the entire workpiece, and its part (beam /) is practically unchanged in the presence of defects. its smallest on ploi1adi. If there are defects commensurate with the surface of the workpiece, then the brightness of the beam / will change relatively slowly.

,1уч // имеет плоп1адь поперечного сечени того же пор дка, что и наименыиий обнаруживаемый дефект поверхиостп. Мри Bpaniennn заготовки луч // непрерывно двигаетс вдоль ее образуюпюй, прочерчива по поверхности заготовки соприкасающиес полосы при перемещении диафрагмы 4, установленноГс на пути, Lead // has a cross section of the same order as the name of the detected defect on the surface. Mri Bpaniennn of the workpiece beam // continuously moves along its formation, tracing along the surface of the workpiece contacting strips as you move the diaphragm 4 installed on the way

.lyiji //. Отрлженил члеть луча // (луч //) будет |)() 11:)М(М1 тГ)(; и ,;пи1оимск:тп от гпгто ии iioiiLiixiH)crn затот и,ки. С.лсдоиатслыю, площадь луча // опрсдсл от paapoiiiauv щук) способиость системы..lyiji //. Reflected the beam ray // (beam //) will be |) () 11:) M (M1 tG) (; and,; p1oimsk: tp from gpgto i iioiiLiixiH) crn zatot u, ki. C. LSD, ray area // opdsdsl from paapoiiiauv pike) system capability.

,Пуч / .задает средний у 1овень от )а/кателыюГ способности, а луч If как бы ocMaTjiHRacT поксрхиость заготокки . Отраженные лучи / и //поступают на соответстиующис фотоэлементы 5 W. 6, включенные по дифференциальной схеме., Puig /. Sets the average abilities of an abundance of abilities, and the If ray is like an ocMaTjiHRacT for ingestion. The reflected rays / and // are transmitted to the corresponding 5 W. 6 photocells, connected in a differential circuit.

Световой поток, исход итнй л одтюго источника 7, раздел етс оптической спстемой 8 на две прнблизите .чьно равные части (лучн / п //). Это исключает возможные погрегнностн из-за нестабильности работы источника ciuna, так как и.П1ене1Тие интеисивн (1ети излучени оГ)Н1его источника света НС даст нзмснени напр жени па выходе фото-элементов.The luminous flux, the outcome of a light source 7, is divided by the optical system 8 into two and very similar parts (radial / n //). This eliminates possible saturation due to the instability of the ciuna source, as well. As a result, the internal light source of the NS light source will give an indication of the voltage on the photo output elements.

Период пост}нленп импульсов определ етс скоростью движени диафрагмы 4. Одна часть этото периода соответствует времени нахожде 1и . // на заготовке, друта - времени от схода до новото поступлени луча // на заготовку. Среднее значение напр жени имиульсов равно половине напр жени питани фотоэлементов (при равенстве разделени световых потоков источника между лучами / и //). Отдельные выбросы на импульсах соответствуют неоднородност м поверхности заготовок . Упрапл ющнй прибор автомата должен отправл ть заготовку в брак, если длительность выброса и его амплитуда (независимо от пол рностп ) превосход т заданные значени .The period post} of pulses is determined by the speed of movement of the diaphragm 4. One part of this period corresponds to the time it finds 1i. // on the workpiece, the time from the descent to the arrival of the beam // on the workpiece. The average value of the imiuls voltage is equal to half the voltage of the photocell power supply (with equal separation of the light fluxes of the source between the rays / and //). Separate emissions from pulses correspond to surface irregularities of the workpieces. The machine control device must send the workpiece to a marriage if the duration of the ejection and its amplitude (regardless of sex) exceed the specified values.

Заготовки из дози)ую1цего бункера 9 через центробежный питатель 10 и электромагнитный укладыватель // подаютс на барабан 3 через раздвижные ролики 2. При повороте барабана 5 на угол а происходит Контро .ть ), а ирн дальнеГпием lipairieHiiH ПарлПаиа она попадает и ))1езд|) /J, II котором и транспортируетс да.-|ыпе. luvni заготовка бракованна , 1) ко lipeMCHH ее подхода к люку 13 носледний открываетс управл ющим прибором, и заготовка отводитс в тару дл брака. При отсутствии дефектов люк 13 остаетс закрытым, заготс)вка транспортируетс до открытого люка /4 п по рукаву 15 огводтттс в тару дл годных изделий.The billets from the doze of the bunker 9 through the centrifugal feeder 10 and the electromagnetic stacker // are fed to the drum 3 via the sliding rollers 2. When the drum 5 rotates at an angle a, Counterturn occurs) and Irn farispai lipairieHiiH it hits and)) 1 away | ) / J, II of which is transported and yes. | | Epe. The luvni billet is defective, 1) to the lipeMCHH of its approach to the hatch 13, the northeast opens with a control device, and the billet is taken to the reject container. In the absence of defects, the hatch 13 remains closed, the waste is transported to the open hatch / 4 n along the sleeve 15 into the container for suitable products.

П р е д м е т и з о б р е т е и н PRIOR TESTS AND ISSUES

1.Фотоэлектрическое устройство дл коит)ол качества поверхности деталей, например, заготовок пленочных , электрических соиротивлеiniii , ио методу сравнени контролируемой дета.чи с эталоном, отл-н ч аю ш е е с тем, что, с целью устранени вли ни изменений средней отражательной способности детали (например, вследствие изменений ее окраски) на результаты измерений иутем использовани исследуемой детали одновременно и в качестве эталона , применены две фотоэлектрические головки, включенные по дифференциальной схеме и контролирующие различные части поверхности детали, освещаемые разными световыми лучами одинаковой интенсивности , но разных понеречнь1х сечений , а именно: одна лучом, который распредел етс по всей поверхности детали в пределах ее полного телесного угла, а друга лучом, площадь которого соизмерима с величиной нанменьшего дефекта.1. A photoelectric device for coitol the quality of the surface of parts, for example, film blanks, electrical components, and the method of comparing a controlled part with a standard, is excellent because in order to eliminate the effect of changes in the average the reflectivity of the part (for example, due to changes in its color) on the results of measurements and by using the part under study at the same time and as a reference, two photoelectric heads are used, connected in a differential circuit and controlling Various parts of the surface of the part, illuminated by different light rays of the same intensity, but different cross-sections, namely: one beam that is distributed over the entire surface of the part within its full solid angle, and the other beam, the area of which is commensurate with the magnitude of the smallest defect.

2.В устройстве по тт. 1 применение одного общего дл обеих фотоэлектрических головок источника света с целью исключени вли ни нестабильности световых лучей На действие дифференциальной измерительной схемы.2.In the device on tt. 1 the use of one common for both photoelectric heads of a light source in order to eliminate the influence of the instability of light rays on the action of the differential measuring circuit.