SI22820A - Postopek natančnega merjenja amplitudne in fazne odvisnosti večjega števila visokofrekvenčnih signalov in naprava za izvedbo postopka - Google Patents
Postopek natančnega merjenja amplitudne in fazne odvisnosti večjega števila visokofrekvenčnih signalov in naprava za izvedbo postopka Download PDFInfo
- Publication number
- SI22820A SI22820A SI200800138A SI200800138A SI22820A SI 22820 A SI22820 A SI 22820A SI 200800138 A SI200800138 A SI 200800138A SI 200800138 A SI200800138 A SI 200800138A SI 22820 A SI22820 A SI 22820A
- Authority
- SI
- Slovenia
- Prior art keywords
- digital
- signals
- switch
- corrector
- series
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 41
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 25
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 21
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims abstract description 6
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 9
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 9
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 3
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 claims description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 3
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 claims description 3
- 125000002015 acyclic group Chemical group 0.000 claims description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims 1
- 230000009897 systematic effect Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 15
- 239000002245 particle Substances 0.000 abstract description 9
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 abstract 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 4
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 3
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 3
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 3
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000013707 sensory perception of sound Effects 0.000 description 2
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 230000011987 methylation Effects 0.000 description 1
- 238000007069 methylation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 1
- 230000009885 systemic effect Effects 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/0046—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof characterised by a specific application or detail not covered by any other subgroup of G01R19/00
- G01R19/0061—Measuring currents of particle-beams, currents from electron multipliers, photocurrents, ion currents; Measuring in plasmas
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05H—PLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
- H05H7/00—Details of devices of the types covered by groups H05H9/00, H05H11/00, H05H13/00
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Particle Accelerators (AREA)
Abstract
Predloženi izum se nanaša na postopek natančnega merjenja amplitudne in fazne odvisnosti večjega števila visokofrekvenčnih signalov, ki je zlasti uporaben pri sinhrotronskem pospeševalniku osnovnih delcev. Bistvo predlagane rešitve leži v tem, da se z eno merilno napravo doseže 0,2 mikronsko ločljivost in 1 mikronsko ponovljivost meritev do spodnje frekvenčne meje nekaj kHz in to brez prekrivnega popačenja. Sočasno pa je pri za razred slabši ločljivosti mogoče opazovati pojave v frekvenčnem področju donekaj MHz. Postopek po izumu obsega izmenično vodenje s pomočjo radiofrekvenčnega (RF) preklopnika vsakega iz niza analognih vhodnih signalov na vsako iz niza RF procesnih enot; ojačanje omenjenih analognih vhodnih signalov v RF procesnih enotah z namenom prilagoditve signalov merilnemu dosegu niza analogno digitalnih pretvornikov; vodenje ojačanih analognih vhodnih signalov v niz analogno digitalnih (A/D) pretvornikov in pretvorba analognih v digitalne signale; vodenje digitalnih signalov v digitalnikorektor ojačanja; korigiranje digitalnih signalov s korekcijskimi signali iz inverznih modelov ovrednotenih sistemskih napak; zbiranje iz digitalnega korektorja izhajajočih digitalnih signalov v digitalnem preklopniku in pošiljanje urejene, rekombinirane množice digitalnih signalov v niz digitalnih sprejemnikov; in filtriranje rekombinirane množice digitalnih signalov v nizu nizkopasovnih sit.
Description
POSTOPEK NATANČNEGA MERJENJA AMPLITUDNE IN FAZNE ODVISNOSTI VEČJEGA ŠTEVILA VISOKOFREKVENČNIH SIGNALOV IN NAPRAVA ZA IZVEDBO POSTOPKA
Predloženi izum se nanaša na postopek natančnega merjenja amplitudne in fazne odvisnosti večjega števila visokofrekvenčnih signalov, prednostno pri sinhrotronskem pospeševalniku osnovnih delcev, in na napravo za izvedbo omenjenega postopka.
Modemi sinhrotronski pospeševalniki osnovnih delcev, zlasti izvori sinhrotronske svetlobe, postavljajo stroge zahteve glede natančnosti, ponovljivosti in ločljivosti pri merjenju položaja pospešenih delcev prečno na smer gibanja le-teh. Te meritve morajo zlasti zadostiti zahtevam podmikronske ločljivosti, od jakosti toka pospešenih delcev neodvisne visoke natančnosti, ponovljivosti meritev tekom daljšega časovnega obdobja, neprekinjenega posredovanja meritev v realnem času med normalnim delovanjem pospeševalnika in posredovanja množice zaporednih širokopasovnih meritev z vzorčno frekvenco, ki običajno presega milijon vzorcev na sekundo. Te meritve so ključnega pomena pri zagonu pospeševalnika in nepogrešljiva diagnostika pri optimizaciji in študiju delovanja pospeševalnika.
Večkanalne merilne naprave večinoma uspešno opravljajo svojo nalogo, imajo pa skupno pomanjkljivost, ki se odraža v neenakosti in časovni spremenljivosti prenosnih funkcij posameznih kanalov, kar posledično omejuje ponovljivost merjenja. V patentnem spisu US 5,001,416 je opisana rešitev, ki zahtevano ponovljivost položaja tirnice rešuje s postopkom časovnega multipleksiranja. Pomanjkljivost te rešitve leži v majhni frekvenčni pasovni širini merilne naprave, s čimer je omogočena le počasna korekcija tirnice. Poleg tega je merilna naprava, opisana v US 5,001,416, zaradi narave časovnega multipleksiranja občutljiva na neželeno preslikavanje frekvenčnega pasu. Vsi periodični pojavi sinhrotronskega pospeševalnika v frekvenčnem območju nad periodo časovnega multipleksa lahko sovpadejo, s čimer pokvarijo informacijo o resničnem položaju tirnice. Nadalje je v patentu U.S. 6.972.552 opisan nemultipleksirani štirikanalni merilni postopek primerjanja amplitud visokofrekvenčnih signalov, z odpravljeno pomanjkljivostjo preslikave frekvenčnega pasu. Zgrajen je iz visokofrekvenčnega štirikanalnega analognega ojačevalnika, analogno-digitalnega (A/D) pretvornika in digitalnega računskega vezja za obdelavo signalov. Zahtevano točnost in simetrijo analognega vhodnega dela merilnik pridobi s postopki menjav štirih ojačevalnih kanalov za vse štiri merjene signale. Z menjavo kanalov naprava ugotovi neenakosti njihovih ojačanj in jih upošteva v izračunu pozicije. Patent U.S. 6.972.552 v nadaljevanju opisuje dodatno zmanjšanje preostale napake s filtriranjem signalov v neposredni bližini frekvence preklapljanja kanalov in neperiodično menjavo kanalov. Postopek filtriranja napako sicer dodatno zmanjša, a hkrati v istem frekvenčnem področju napravi merilnik neobčutljiv. Obratno postopek frekvenčne porazdelitve napak z neperiodično menjavo kanalov merilniku ohranja občutljivost, ne odpravlja pa preostale napake. Idealno bi ta rešitev narekovala zelo pogosto menjavo kanalov, kar pa je v nasprotju s pomanjkljivostjo opisane rešitve, ki ob vsakem preklopu stikal sproži prehodni pojav. Pri tem nastala napaka je sorazmerna s pogostostjo preklopov.
Naloga predloženega izuma je ustvariti postopek natančnega merjenja amplitudne in fazne odvisnosti večjega števila visokofrekvenčnih signalov, prednostno pri sinhrotronskem pospeševalniku osnovnih delcev, ki bo odpravil pomanjkljivosti znanih rešitev.
Nadaljnja naloga izuma je tudi ustvariti napravo za izvedbo omenjenega postopka.
Bistvo predlagane rešitve leži v tem, da v merilni napravi zmanjšamo napako, ki je posledica prehodnih pojavov zaradi preklapljanja kanalov. Posledično rešitev dopušča dvig preklopne frekvence in s tem večjo pasovno širino merilnika. Po izumu se na podlagi identifikacije za izračun pozicije žarka relevantnih popačenj in neenakosti posameznih radiofrekvenčnih (RF) enot s pripadajočimi analogno digitalnimi (A/D) pretvorniki določi korekcijski inverzni model, s katerim se digitalno korigira vzorčene vrednosti.
Postopek natančnega merjenja amplitudne in fazne odvisnosti večjega števila visokofrekvenčnih signalov obsega s pomočjo RF preklopnika ciklično povezovanje vsakega iz niza vhodnih signalov, izhajajočih iz npr. v vakuumski cevi sinhrotronskega pospeševalnika osnovnih delcev simetrično razporejenih elektrodnih plošč, z vsako iz niza RF procesnih enot. Ciklično povezovanje je pri tem neodvisno od sekvence vse dotlej, dokler je vsakokratni RF vhod priključen na vsako iz niza RF procesnih enot v enako dolgih časovnih intervalih. Pri tem je vsakokratni analogni vhodni signal časovno enakomerno zastopan v posamezni RF procesni enoti. Vhodne analogne signale se v RF preklopniku obdela na način, da so omenjeni vhodni analogni signali lahko sočasno paroma prisotni v poljubni kombinaciji različnih parov signalov na izhodu iz RF preklopnika.
Sekvence stanj RF preklopnika so po izumu ciklične, pri čemer je hitrost rotiranja preklopov tolikšna, da se komponente asimetričnosti ojačanja v izhodnih digitalnih signalih izloči s filtriranjem z nizkopasovnim sitom. Sekvence stanj RF preklopnika pa so po izumu lahko tudi aciklične v širokem frekvenčnem področju, s čimer se zmanjša prekrivno popačenje.
Iz vsakokratne RF enote se signale vodi dalje v niz analogno digitalnih pretvornikov. Vsaka iz niza RF procesnih enot ima nastavljivo ojačanje oz. slabljenje, zaradi česar se z nastavitvijo enakega ojačanja vseh RF procesnih enot prilagodi vrednost amplitude največjega signala merilnemu dosegu vsakokratnega A/D pretvornika.
Izhodni signal iz posameznega A/D pretvornika se vodi v digitalni korektor, ki vrednost digitaliziranega vhodnega signala korigira po navodilih sistema za identifikacijo pomembnih popačenj in neenakosti posameznih RF enot s pripadajočimi A/D pretvorniki. V to skupino izvora sistemskih napak sodijo neenakosti ojačanj RF enot, neenakosti faznih zasukov vhodnih signalov, neenakosti faznih zasukov RF enot, presluhi med posameznimi RF enotami in nelineamosti posameznih A/D pretvornikov, ki znatno kvarijo merilno točnost. Iz vsakokratnega digitalnega korektorja izhajajoči signal se vodi v digitalni preklopnik, s katerim se izvrši rekombinacijo signalov. Omenjeni digitalni preklopnik je sinhroniziran z RF preklopnikom, tako da se prvi vhodni signal vedno obdela v prvem digitalnem sprejemniku, da se drugi vhodni signal vedno obdela v drugem digitalnem sprejemniku, in da se N-ti vhodni signal vedno obdela v N-tem digitalnem sprejemniku. Zaradi nepopolne korekcije za merilno točnost relevantnih sistemskih napak pri preklapljanju preklopnikov nastane valovitost v signalih na izhodu digitalnega preklopnika. Vsakokratni signal se nadalje iz niza digitalnih sprejemnikov filtrira v nizu nizkopasovnih sit, katerih pasovna širina je izbrana tako, da je bistveno nižja od frekvence preklapljanja preklopnikov in da sočasno izseje valovitost zaradi nepopolne korekcije. S tem se v digitalnem delu doseže vektorsko povprečenje signalov iz analognega dela, kar zagotavlja preslikavo amplitudnega in faznega razmerja med vhodnimi signali na izhodne signale na način:
O,/I, = O2/I2 = ... = On/In = G, kjer je
G = (G, + G2 + ... + Gn)/N in kjer pomeni:
I, ... IN vhodni signal,
O i... ON izhodni signal,
N število posameznih merjenih signalov,
G, Gi... Gn prenosna funkcija RF procesne enote in A/D pretvornika
Digitalne signale na izhodu iz digitalnih korektorjev se korigira s korekcijskimi signali iz vezja za identifikacijo izvorov sistemskih napak in modeliranje inverznih modelov. Pri tem se korekcijske signale iz inverznega modela pridobi tako, da se digitalizirane signale neposredno za digitalnim korektorjem vodi skozi digitalni sprejemnik v nizkopasovno sito, nakar se jih obdela z vezjem, ki te signale medsebojno primerja in zato, da medsebojno uskladit iz A/D pretvornika v digitalni korektor vstopajoče signale, ustvarja korekcijske signale, ki se jih vodi nazaj v digitalni korektor. Naprava za identifikacijo sistemskih napak na ta način v vsakem nadaljnjem koraku ugotovi preostanek sistemske napake od predhodne korekcije. Naprava za modeliranje združi predhodni model korekcije s preostankom napake in na ta način ponudi izpopolnjen inverzni model sistemske napake za naslednjo korekcijo. Vezji za identifikacijo sistemskih napak in za izvedbo inverznega modela sta enako kot digitalni preklopnik sinhronizirani z RF preklopnikom, tako da za vsako stanje RF preklopnika zgradi samostojni inverzni korekcijski model posameznega stanja RF preklopnika.
V sklopu mnogoterih omenjenih korekcij je korekcija neenakih faznih zasukov posameznih vhodnih signalov, kot tudi neenakosti faznih zasukov posameznih RF enot posebnega pomena za zmanjšanje naključne merilne napake. Digitalni korektor v prispevku fazne korekcije zagotavlja ves čas nespremenljivo fazo signalov na izhodu digitalnega preklopnika po rekombinaciji posameznih digitalnih signalov neodvisno od stanja RF preklopnika. Nespremenljivost faze digitalnih signalov na vhodu digitalnih sprejemnikov omogoča demodulacijo brez prehodnih pojavov, ki vnašajo v metilni postopek naključno merilno napako. Omenjena napaka je tako posledica delovanja RF preklopnika in je sorazmerna pogostosti preklopov RF preklopnika. Fazna korekcija odpravi naključno napako prehodnega pojava v nizkopasovnih sitih priključenih na izhode digitalnih sprejemnikov, pri tem pa ne odpravi posledic prehodnih pojavov v posameznih RF enotah zaradi preklopov RF preklopnika. Ta delež izločijo nizkopasovna sita vezana na izhode digitalnih sprejemnikov. Dodatno zmanjšanje naključne napake zaradi iz RF enote izhajajočih prehodnih pojavov izum odpravi z nadomestitvijo merilnih vrednosti na izhodu digitalnega korektorja v času trajanja prehodnega pojava z izračunanimi vrednosti na osnovi vrednosti signalov pred prehodnim pojavom.
Značilnosti predloženega izuma so v večdimenzionalni korekciji sistemskih napak. Pri tem se vse digitalne signale ojača za povprečno ojačanje vseh RF procesnih enot, medtem ko se vsem digitalnim signalom ohranja fazni zasuk ne glede na izbor RF procesne enote za posamezni signal, in fazni zasuk posameznega vhodnega signala. Nadalje se vse digitalne signale pred vstopom v digitalni korektor za vsak izbor RF procesne enote ponudi v novi linearni kombinaciji na izstopu iz korektorja, ki predstavlja kompenzacijo presluhov med RF procesnimi enotami. S frekvenčno analizo vzorčenih signalov v področju višjih harmonskih komponent nosilne frekvence vhodnega signala se kompenzira nelineamosti A/D pretvornikov. Postopek po izumu se nadalje odlikuje po odpravljanju naključne napake prehodnega pojava v RF enoti zaradi preklopa RF preklopnika, tako da en del te napake izloči z nizkopasovnim sitom, preostali del pa v časovnem prostoru z izločanjem netočnih vrednosti takoj po preklopu RF preklopnika. Predlagani izum pri uporabi togo sinhroniziranega vzorčenja pri stalnosti faznega razmika med vzorčevalnim signalom in vhodnim signalom za nekaj kotnih stopinj, oziroma nekaj lOps zagotavlja ponovljivo napako zaradi prehodnega pojava v RF enoti, tako da jo z vezjem za identifikacijo posname in z digitalnim korektorjem odšteje.
Naprava za izvedbo postopka po izumu je v nadaljevanju podrobneje predstavljena s sklicevanjem na priloženo skico, kjer je shematsko prikazana zgradba merilne naprave.
V vakuumski cevi 1 sinhrotronskega pospeševalnika je simetrično postavljen niz elektrodnih plošč 2b 22,... 2n, ki so v cevi 1 razporejene tako, da v prečni ravnini cevi 1 oz. tirnice pospešenih delcev merijo potencialno razliko električnega polja vsled električnega naboja pospešenih osnovnih delcev. V elektrodnih ploščah 2b 22, ... 2N se inducirajo električni signali Ib I2, ... In, ki se jih vodi v radiofrekvenčni (RF) preklopnik 3, ki je detajlneje opisan v nadaljevanju. RF preklopniku 3 je priključen niz RF procesnih enote 4b 42,... 4N z nastavljivim ojačanjem oz. slabljenjem, katerih vsaki sledi analogno digitalni (A/ D) pretvornik 5b 52, ... 5N. Z nastavitvijo enakega ojačanja vseh RF procesnih enot prilagodi merilna naprava po izumu vrednost amplitude največjega signala Ib I2, ... In merilnemu dosegu vsakega A/D pretvornika 5b 52,... 5N. Iz vsakokratnega A/D pretvornika 5i, 52, ... 5n izhajajoči digitalni signali so vodeni v digitalni korektor 6, v katerem se vrednost vsakokratnega digitaliziranega vhodnega signala korigira po napotkih sistema 7 za identifikacijo in izračun korekcijskih signalov za merilno točnost relevantnih sistemskih napak posamezne RF enote 4b 42,... 4N s pripadajočim A/D pretvornikom 5b 52,... 5N.
Iz vsakokratnega digitalnega korektorja 6 se signale Ib I2, ... In vodi v digitalni preklopnik 8, v katerem poteka rekombinacija omenjenih signalov, nakar se signale vodi v niz digitalnih sprejemnikov 9b 92,... 9N, ki so priključeni omenjenemu preklopniku 8. Digitalni preklopnik 8 je sinhroniziran s RF preklopnikom 3 na način, da se ne glede na stanje RF preklopnika 3 vhodni signal h vedno procesira v digitalnem sprejemniku 9b da se vhodni signal I2 vedno procesira v digitalnem sprejemniku 92, in da se vhodni signal IN vedno procesira v digitalnem sprejemniku 9n.
Sistem 7 za identifikacijo sistemskih napak posamezne RF procesne enote 4b 42, ... 4N s pripadajočim A/D pretvornikom 5b 52, ... 5n sestoji iz niza vzporednih digitalnih sprejemnikov llb 112, ... 11N, katerih vsakokratni vhod je povezan z mestom vsakokratnega prehoda iz digitalnega sprejemnika 9b 92,... 9N v nizkopasovno sito 10b 102, ... 10N. Omenjeni digitalni sprejemniki llb 112, ... 11N so zaporedno priključeni nizu nizkopasovnih sit 12b 122, ... 12N, pri čemer so izhodi iz omenjenih nizkopasovnih sit vzporedno priključeni vezju 13 za identifikacijo neenakosti, kot npr. neenakosti ojačanj, neenakosti faznih zasukov vhodnih signalov, neenakosti faznih zasukov v posamezni RF procesni enoti, presluha med posameznimi RF procesnimi enotami in nelineamosti A/D pretvornikov. Izhodi vezja 13 za identifikacijo sistemskih napak so priključeni na vezje 14 za sintezo inverznega modela sistemskih napak, le-to pa nazaj na digitalni korektor 6.
Claims (4)
- PATENTNI ZAHTEVKIPostopek natančnega merjenja amplitudne in fazne odvisnosti večjega števila visokofrekvenčnih signalov, pridobljenih iz merilnih elektrod, značilen po tem, da obsega naslednje korake:a) izmenično vodenje s pomočjo radiofrekvenčnega (RF) preklopnika vsakega iz niza analognih vhodnih signalov na vsako iz niza RF procesnih enot;b) ojačanje omenjenih analognih vhodnih signalov v RF procesnih enotah z namenom prilagoditve signalov merilnemu dosegu niza analogno digitalnih (A/ D) pretvornikov;c) vodenje ojačanih analognih vhodnih signalov v niz analogno digitalnih pretvornikov in pretvorba analognih v digitalne signale;d) vodenje digitalnih signalov v digitalni korektor;e) korigiranje digitalnih signalov s korekcijskimi signali vezja za sintezo inverznega modela sistemskih napak;f) zbiranje iz digitalnega korektorja izhajajočih digitalnih signalov v digitalnem preklopniku in pošiljanje urejene, rekombinirane množice digitalnih signalov v niz digitalnih sprejemnikov; ing) filtriranje rekombinirane množice digitalnih signalov v nizu nizkopasovnih sit.Postopek po zahtevku 1, značilen po tem, da je vsakokratni analogni vhodni signal časovno enakomerno zastopan v posamezni RF procesni enoti, in da se vhodne analogne signale v RF preklopniku obdela na način, da so omenjeni vhodni analogni signali lahko sočasno paroma prisotni v poljubni kombinaciji različnih parov signalov na izhodu iz RF preklopnika.Postopek po zahtevku 1, značilen po tem, da se korekcijske signale iz vezja za sintezo inverznega modela sistemskih napak pridobi tako, da se digitalizirane signale neposredno za digitalnim korektorjem vodi skozi digitalni sprejemnik v nizkopasovno sito, kjer se jih obdela z vezjem, ki te signale medsebojno primerja in z namenom identifikacije sistemskih napak signalov iz A/D pretvornika v digitalni korektor vstopajočih signalov ustvarja korekcijske signale, ki se jih vodi nazaj v digitalni korektor.Postopek po kateremkoli od zahtevkov 1 do 3, značilen po tem, da se na podlagi primerjav signalov na izhodih nizkopasovnih sit pri različnih položajih RF preklopnika identificira sistemsko napako zaradi neenakosti ojačanj RF procesnih enot.5. Postopek po kateremkoli od zahtevkov 1 do 3, značilen po tem, da se na podlagi primerjav signalov na izhodih nizkopasovnih sit pri različnih položajih RF preklopnika identificira fazne zasuke vhodnih signalov.6. Postopek po kateremkoli od zahtevkov 1 do 3, značilen po tem, da se na podlagi primerjav signalov na izhodih nizkopasovnih si pri različnih položajih RF preklopnika identificira fazne zasuke posamezne RF procesne enote.7. Postopek po kateremkoli od zahtevkov 1 do 3, značilen po tem, da se na podlagi primerjav signalov na izhodih nizkopasovnih pri različnih položajih RF preklopnika pri znanih vhodnih signalih identificira presluhe med posameznimi RF procesnimi enotami.8. Postopek po kateremkoli od zahtevkov 1 do 3, značilen po tem, da se s frekvenčno analizo signalov na izhodih nizkopasovnih sit identificira nelineamost posameznega A/D pretvornika.9. Postopek po kateremkoli od zahtevkov 1 do 3, značilen po tem, da se identificirane sistemske napake združi v korekcijske inverzne modele za vsako stanje RF preklopnika ločeno.10. Postopek po kateremkoli od zahtevkov 1 do 3, značilen po tem, da se korekcijske inverzne modele posameznih stanj RF preklopnika uporabi za ustvarjanje korekcijskih signalov v pripadajočih stanjih RF preklopnika.11. Postopek po kateremkoli od zahtevkov 1 do 3, značilen po tem, da se ob vsakokratnem preklopu RF preklopnika vrednosti na digitalnem korektorju nadomesti z izračunanimi vrednostmi pred preklopom.12. Postopek po kateremkoli od zahtevkov 1 do 3, značilen po tem, da se vzorčevalno frekvenco sklopi s frekvenco vhodnega signala, tako da so neciklični fazni odmiki sklopljenih frekvenc manjši od deset kotnih stopinj.13. Postopek po kateremkoli od zahtevkov 1 do 3, značilen po tem, da se v vezju za identifikacijo sistematskih napak ovrednoti stalno napako zaradi prehodnih pojavov v RF enoti, pri čemer se jo kompenzira z digitalnim korektorjem.14. Postopek po zahtevkih 1 do 3, značilen po tem, da so sekvence stanj RF preklopnika ciklične, pri čemer je hitrost rotiranja preklopov tolikšna, da se komponente asimetričnosti ojačanja v izhodnih digitalnih signalih izloči s filtriranjem z nizkopasovnim sitom.15. Postopek po zahtevkih 1 do 3, značilen po tem, da so sekvence stanj RF preklopnika aciklične v širokem frekvenčnem področju, s čimer se zmanjša prekrivno popačenje.16. Postopek po zahtevkih 1 do 4, značilen po tem, da se posamezne digitalne signale ojača za povprečno ojačanje vseh RF procesnih enot.17. Naprava za natančno merjenje amplitudne in fazne odvisnosti večjega števila visokofrekvenčnih signalov, značilna po tem, da obsegaa) radiofrekvenčni (RF) preklopnik (3), na katerega vhod je pripeljan niz vhodnih signalov (Ib I2, ... In), izhajajočih iz v vakuumski cevi (1) simetrično razporejenih merilnih elektrodnih plošč (
- 2b 22,... 2N);b) niz RF preklopniku (
- 3) vzporedno priključenih radiofrekvenčnih (RF) procesnih enot (4b 42,... 4N);c) vsakokratni RF procesni enoti (4b 42, ... 4N) zaporedno priključen analogno digitalni (A/D) pretvornik (5b 52,... 5N);d) vsakokratnemu A/D pretvorniku (5b 52, ... 5n) zaporedno priključen digitalni korektor (6);e) digitalni preklopnik (8), ki mu je na vhodni strani vzporedno priključen omenjeni digitalni korektor (6) in ki mu je na izhodni strani vzporedno priključen niz digitalnih sprejemnikov (9b 92,... 9N);f) vsakokratnemu digitalnemu sprejemniku (9b 92, ... 9n) zaporedno priključeno nizkopasovno sito (10b 102, ... 10n), iz katerega izhaja ustrezen niz izhodnih signalov (Ob O2,... ON) za nadaljnje ovrednotenje; ing) sistem (7) za identifikacijo sistemskih napak posamezne RF procesne enote (4b
- 42, ... 4n) s pripadajočim A/D pretvornikom (5b 52, ... 5N), pri čemer je niz vhodov sistema (7) povezan z mestom vsakokratnega prehoda iz digitalnega korektorja (6) v digitalni preklopnik (8) in pri čemer je niz izhodov sistema (7) priključen na digitalni korektor (6).Naprava po zahtevku 7, značilna po tem, sistem (7) za identifikacijo sistemskih napak in njihovo korekcijo za posamezne RF procesne enote (4b 42, ... 4N) s pripadajočim A/D pretvornikom (5b 52, ... 5N) sestoji iz niza vzporednih digitalnih sprejemnikov (llb 112, ... 11N), katerih vsakokratni vhod je povezan z mestom vsakokratnega prehoda iz digitalnega sprejemnika (9b 92, ... 9N) v nizkopasovno sito (10b 102, ... 10N), in ki so zaporedno priključeni nizu nizkopasovnih sit (12b 122, ... 12N), pri čemer so izhodi iz omenjenih nizkopasovnih sit vzporedno priključeni na inverzni model ovrednotenih sistemskih napak (14), katerega izhodi so priključeni vsakokratnemu korektorju ojačanja (6).
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SI200800138A SI22820A (sl) | 2008-05-30 | 2008-05-30 | Postopek natančnega merjenja amplitudne in fazne odvisnosti večjega števila visokofrekvenčnih signalov in naprava za izvedbo postopka |
EP08468003.2A EP2131203A3 (en) | 2008-05-30 | 2008-06-02 | Method for the precise measurement of dependency on amplitude and phase of a plurality of high frequency signals and device for carrying out said method |
US12/465,873 US8063626B2 (en) | 2008-05-30 | 2009-05-14 | Method for the precise measurement of dependency on amplitude and phase of plurality of high frequency signals and device for carrying out said method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SI200800138A SI22820A (sl) | 2008-05-30 | 2008-05-30 | Postopek natančnega merjenja amplitudne in fazne odvisnosti večjega števila visokofrekvenčnih signalov in naprava za izvedbo postopka |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SI22820A true SI22820A (sl) | 2009-12-31 |
Family
ID=41139030
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SI200800138A SI22820A (sl) | 2008-05-30 | 2008-05-30 | Postopek natančnega merjenja amplitudne in fazne odvisnosti večjega števila visokofrekvenčnih signalov in naprava za izvedbo postopka |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8063626B2 (sl) |
EP (1) | EP2131203A3 (sl) |
SI (1) | SI22820A (sl) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SI23045A (sl) * | 2009-04-29 | 2010-10-29 | Instrumentation Technologies D.D. | Optični sistem za prenos signala časovne reference |
CN102331535B (zh) * | 2011-06-09 | 2014-06-04 | 郝玉山 | 交流电物理量测量和数据采集装置和方法 |
US9535100B2 (en) | 2012-05-14 | 2017-01-03 | Bwxt Nuclear Operations Group, Inc. | Beam imaging sensor and method for using same |
US9383460B2 (en) | 2012-05-14 | 2016-07-05 | Bwxt Nuclear Operations Group, Inc. | Beam imaging sensor |
IT201800003379A1 (it) * | 2018-03-08 | 2019-09-08 | Enea Agenzia Naz Per Le Nuove Tecnologie Lenergia E Lo Sviluppo Economico Sostenibile | Dispositivo e metodo per determinare il centro di massa di un fascio di cariche elettriche |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5057766A (en) * | 1989-06-06 | 1991-10-15 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Apparatus for detecting position of charged particle |
US5001416A (en) | 1990-03-05 | 1991-03-19 | Associated Universities, Inc. | Apparatus and method for detecting and measuring changes in linear relationships between a number of high frequency signals |
US8311673B2 (en) * | 1996-05-06 | 2012-11-13 | Rockwell Automation Technologies, Inc. | Method and apparatus for minimizing error in dynamic and steady-state processes for prediction, control, and optimization |
US20020171485A1 (en) * | 2001-05-18 | 2002-11-21 | Spectrian Corporation | Digitally implemented predistorter control mechanism for linearizing high efficiency RF power amplifiers |
SI21524B (sl) | 2003-05-05 | 2010-11-30 | Instrumentation@Technologies@d@d | Postopek natančnega merjenja amplitudne in fazneodvisnosti večjega števila visokofrekvenčnih signalov in naprava za izvedbo postopka |
-
2008
- 2008-05-30 SI SI200800138A patent/SI22820A/sl not_active IP Right Cessation
- 2008-06-02 EP EP08468003.2A patent/EP2131203A3/en not_active Withdrawn
-
2009
- 2009-05-14 US US12/465,873 patent/US8063626B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20090295365A1 (en) | 2009-12-03 |
EP2131203A3 (en) | 2017-04-19 |
US8063626B2 (en) | 2011-11-22 |
EP2131203A2 (en) | 2009-12-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Seo et al. | Comprehensive digital correction of mismatch errors for a 400-Msamples/s 80-dB SFDR time-interleaved analog-to-digital converter | |
US8125361B2 (en) | Digital-to-analog converter (DAC) calibration system | |
US6900750B1 (en) | Signal conditioning system with adjustable gain and offset mismatches | |
SI22820A (sl) | Postopek natančnega merjenja amplitudne in fazne odvisnosti večjega števila visokofrekvenčnih signalov in naprava za izvedbo postopka | |
US6639413B2 (en) | System and method for calibration of data in an electric power monitoring system | |
JPH07501399A (ja) | 光電検出器の非線形補正技術 | |
Azarov et al. | AD systems for processing of low frequency signals based on self calibrate ADC and DAC with weight redundancy | |
KR101446669B1 (ko) | 회로 전 입력 범위의 연속적 전압/전류 샘플링을 통한 계측 값 왜곡 보정 방법 | |
CN114460510A (zh) | 霍尔传感器模拟前端 | |
US6972552B2 (en) | Method for the precise measurement of dependency on amplitude and phase of a plurality of high frequency signals and a device for carrying out said method | |
CN101188058A (zh) | 基于多个数字路径和交叉校准的数据采集系统及方法 | |
US11283458B1 (en) | Determining and compensating respective harmonic distortions of digital to analog and analog to digital conversions | |
CN101079600B (zh) | 用于高频放大器的调节器 | |
KR20090085283A (ko) | 아날로그 디지털 변환기의 오차 보정 장치 및 방법 | |
CN108387834B (zh) | 一种广域adc误差修正测试方法及装置 | |
US8754382B2 (en) | Charged particle beam drawing apparatus and method of manufacturing article | |
CN110646756A (zh) | 一种核磁共振梯度功率放大器的静态电流消除电路及方法 | |
JP4769583B2 (ja) | 歪補償増幅装置 | |
CN106885929B (zh) | 一种具有双环alc电路的测量装置 | |
US20140048692A1 (en) | Multichannel detector having a reduced number of output channels | |
EP2637312B1 (en) | Algorithm for fine rf transceiver dc offset calibration | |
Dehler et al. | Digital BPM system for the Swiss Light Source—First operational results | |
US20120185208A1 (en) | Method for detecting position and arrival time of accelerated particles and apparatus for carrying out said method | |
CN112865870B (zh) | 补偿方法 | |
JP7244403B2 (ja) | 校正方法及び導出システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OO00 | Grant of patent |
Effective date: 20100119 |
|
KO00 | Lapse of patent |
Effective date: 20140226 |