SE461935B - Foerfarande foer differentiell sampling - Google Patents

Foerfarande foer differentiell sampling

Info

Publication number
SE461935B
SE461935B SE8802974A SE8802974A SE461935B SE 461935 B SE461935 B SE 461935B SE 8802974 A SE8802974 A SE 8802974A SE 8802974 A SE8802974 A SE 8802974A SE 461935 B SE461935 B SE 461935B
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
signal
value
amplified
difference
sampling
Prior art date
Application number
SE8802974A
Other languages
English (en)
Other versions
SE8802974D0 (sv
SE8802974L (sv
Inventor
Henrik Almstroem
Original Assignee
Henrik Almstroem
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Henrik Almstroem filed Critical Henrik Almstroem
Priority to SE8802974A priority Critical patent/SE461935B/sv
Publication of SE8802974D0 publication Critical patent/SE8802974D0/sv
Priority to PCT/SE1990/000079 priority patent/WO1991012533A1/en
Publication of SE8802974L publication Critical patent/SE8802974L/sv
Publication of SE461935B publication Critical patent/SE461935B/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/20Cathode-ray oscilloscopes
    • G01R13/22Circuits therefor
    • G01R13/34Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies
    • G01R13/345Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies for displaying sampled signals by using digital processors by intermediate A.D. and D.A. convertors (control circuits for CRT indicators)

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

461 955 fig 3 visar ett diagram över ett mätförlopp, fig 4 visar ett diagram över ett annat mätförlopp och fig Sa-5c visar olika delar av en annan utföringsform av den dynamikökande anordningen.
Förfarandet innebär att man analogt avkänner ett mätförlopp med en sensor 1. Signalen förstärkas på gängse sätt i en mätförstärkare 2 och får lämp- ligen passera ett lâgpassfilter 3. Lågpassfiltret sätter en övre gräns- frekvens i sådant lämpligt förhållande till samplingsfrekvensen fo vid en efterföljande sampling att samplingsteoremet är uppfyllt. Därefter leds signalen in på en dynamikökande anordning 4. I denna sker en återkoppling från AD-omvandlaren till en fördröjningskrets i anordningen som tillser T, neia uden är iike ned l/fo. 1 den dynenikökende anordningen bildas sedan differensen, Vdiff, mellan signalen vid ett samplingstillfälle och signalen vid det närmast föregående. Signaldiffe- att fördröjningen, rensen Vdiff förstärks sedan lämpligt mycket. Detta kan ske i en differen- tialförstärkare 8. Utsignaler från den dynamikökande anordningen 4 är dels den i ett givet ögonblick samplade direktsignalen 5, dels nämda förstärkta signaldifferens Udíff, 6. Dessa signaler leds till en dator 7 där analog- /digital-omvandlingen fullföljs genom att det momentana värdet skapas ur ett begynnelsevärde för direktsignalen 5 och summan av de därefter till aktuell tid kommande signaldifferenserna Udiff, 6, dividerade med deras förstärkning.
Det nya med anordningen är således att man förutom att mäta signalen direkt, V, (n bitar) mäter successiva delar av signalen, Vdíff, enligt figur s. I figuren är vdiff (t) = vu) - vl: - T), T = llfo fo = samplingsfrekvensen.
När signalen har registrerats i datorn kan signalen rekonstrueras ur ut- trycket v(nT) = v (e) + švdiff HT), n = 1, 2, 1 För att undvika samplingsfel vid AD-omvandlingen lâgpassfiltreras signalen vid t ex fo/4 Hz före AD-omvandlingen. Om signalen filtreras något hårda- re approximerar Vdíff väl signalens tidsderivata. 3 461 935 vum - uziï) a'- vdifflmïi/T, m = 1, 2, Fördelen med detta uttryck jämfört med det tidigare är att den absoluta noggrannheten är konstant medan för det tidigare uttrycket den absoluta noggrannheten avtar med ökande m.
Den differentiella signalen Vdiff förstärks före AD-omvandlingen med en faktor K,där K avpassas så att Iuaiffl <1 ”max * dä" ”diff = K'Va1ff' Vdíff erhålles sedan ur “diff = K ”diff- Härvid gäller att dynamiken ökar till n + %åå-å bitar.
Om förstärkningen K är för stor i ett visst ögonblick dvs erhållet värde på Udiff bottnar (t ex 12 st nollor eller 12 st ettor) kan den direkt- registrerade signalen användas för att erhålla en ny startpunkt för den differentiella registreringen enligt figur 4. m vlniïl = vlo) + gâjvdiff (i?'), m = 1, 2, ..., 1 vom = v+ zm: vdíff (fi), m = j+z, J+2 Anordningen har egenskapen att ju högre samplingsfrekvens fo som används desto större kan förstärkningen K av den differentiella signalen väljas vilket leder till högre dynamik vid mätningen. T ex erhålles med K = 128 en upplösning med 19 bitar med en 12-bitars AD-omvandlare.
I en utföringsform av uppfinningen förstärks således signaldifferensen Vdiff med ett konstant värde K i en differentialförstärkare 8. När man väljer värdet pâ K så finns två motstridiga intressen. Dels önskar man så hög förstärkning som möjligt, dels vill man inte att utrustningen skall bottna, dvs ge t ex 12 stycken ettor eller nollor ut. Man får göra en 461 935 avvägning av förstärkningen K så att sannolikheten för sådan bottning är acceptabelt liten. Om en sådan bottning sker använder man det vid nästa samplingstillfälle erhållna direktvärdet som nytt begynnelsevärde, varpå följande värden beräknas utgående från detta begynnelsevärde och de föl- jande förstärkta signaldifferenserna Udiff, 6, på samma sätt som vid den tidigare beräkningen.
I en annan utföringsform av uppfinningen förstärker man signaldifferenser~ na Vdíff i ett antal (här exemplifierat med tre stycken) parallella för- stärkare 10, ll, 12 med olika förstärkningar Kl, Kzoch K3 där Kl= 1. Dessa signaler jämförs sedan i komparatorer 13, 14, 15, 16 med utrustningens givna maximala värde fvmax. Man väljer sedan i en logisk krets 17 den största förstärkta signalen 18 som till beloppet är mindre än Vmax och leder den liksom uppgift pâ dess förstärkning 19 till datorn 7. Vid fort- satt analog/digital-omvandling skapas i detta fall det momenta värdet ur ett ursprungligt begynnelsevärde 5 och summan av de därefter till aktuell tid uppmätta förstärkta signaldifferenserna Udíff, 6, dividerade med deras respektive förstärkningar Kl, K2 och K3. Här blir det ju normalt aldrig fråga om att använda ett nytt begynnelsevärde eftersom man utväljer ett värde mindre än Vmax; I exemplet har endast använts :re olika signal- differensvärden U1= -Kl-Vdiff, U2= -K2-Vdiff och U3= -K3-Vdiff, där 1 = K1«< K2-< K3. I exemplet âstadkoms tidsfördröjningen med hjälp av tvâ sample-and-holdkretsar 20, 21, vilket leder till alternerande tecken för Uí. För att minska belastningen på sample-and-holdkretsarna 20, 21 används en isolerande krets 22, 23 före varje sample-and-holdkrets.
Signalen erhålles ur V( T) = V(U) + å! Pllí-L [Fifi-K -V HU] m í=1 k¿_ 51 diff = 1 Ffi där Kji.Vd1.ff(iT)|< Vmax, lKjïil-Vdifffil )| > Vmax eller ji= 3, i= l,..., m I ett praktiskt fall kan naturligtvis beroende på omständigheterna vilket annat antal, med olika förstärkning, förstärkta signaldifferenser Udiff som helst användas. i

Claims (3)

5 461 955 Patentkrav:
1. Förfarande för differentieïï sampïing med samp1ingsfrekvensen fo, k ä n n e t e c k n a t a v att man analogt avkänner ett mätförïopp, att man vid varje samp1ingsti11fä11e de1s sampïar signaïen V direkt, deïs bildar differensen, Vdiff, meïïan signaïen vid detta samp1ingsti11fä11e och det föregående, att man förstärker differensen för att öka dynamiken i den efterfö1jande sampïingen, och att man biidar det aktueïia signaïvärdet ur signaiens direktvärde V vid en begynneïsepunkt, begynneisevärdet, och summan av de tili aktue11 tid föïjande differensvärdena Udíff, (6), dividerade med deras förstärkning.
2. Förfarande enïigt patentkravet l, k ä n n e t e c k n a t a v att signaïdifferensen Vdiff förstärks med ett konstant värde som väljs så att det är så stort som möjïigt utan att den förstärkta signaïdifferensens Udiff beïopp överstiger använd utrustnings maximaia signaispänning Vmax mer än ett begränsat antaï gånger per tidsenhet och att man efter varje gång den förstärkta signaïdifferensens Udiff beïopp överskridit detta värde använder signaiens nästa direktvärde V som nytt begynneïsevärde.
3. Förfarande enïigt patentkravet 1, k ä n n e t e c k n a t a v att signaïdifferensen Vdiff para11e11t förstärks med ett antaï fasta förstärk- ningar, varefter man för varje förstärkt signaïdifferens Udíff väïjer det ti11 beïoppet högsta förstärkta värde som är mindre än använd utrustnings . . U . V _ maximaïa s1gna1spann1ng max
SE8802974A 1988-08-25 1988-08-25 Foerfarande foer differentiell sampling SE461935B (sv)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE8802974A SE461935B (sv) 1988-08-25 1988-08-25 Foerfarande foer differentiell sampling
PCT/SE1990/000079 WO1991012533A1 (en) 1988-08-25 1990-02-07 A method for differential sampling

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE8802974A SE461935B (sv) 1988-08-25 1988-08-25 Foerfarande foer differentiell sampling

Publications (3)

Publication Number Publication Date
SE8802974D0 SE8802974D0 (sv) 1988-08-25
SE8802974L SE8802974L (sv) 1990-02-26
SE461935B true SE461935B (sv) 1990-04-09

Family

ID=20373123

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE8802974A SE461935B (sv) 1988-08-25 1988-08-25 Foerfarande foer differentiell sampling

Country Status (2)

Country Link
SE (1) SE461935B (sv)
WO (1) WO1991012533A1 (sv)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1073909B1 (de) * 1998-03-31 2004-08-25 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren und anordnung zur verarbeitung mindestens eines analogen, mehrere frequenzbereiche umfassenden signals

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1284107B (de) * 1966-10-18 1968-11-28 Daimler Benz Ag Fuer einen Amplituden-Analysator vorschaltbarer Wandler

Also Published As

Publication number Publication date
WO1991012533A1 (en) 1991-08-22
SE8802974D0 (sv) 1988-08-25
SE8802974L (sv) 1990-02-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6637934B1 (en) Constant offset buffer for reducing sampling time in a semiconductor temperature sensor
CN102495275A (zh) 基于cpu的高精度电流检测电路
CN106291079A (zh) 电流检测装置及方法
SE461935B (sv) Foerfarande foer differentiell sampling
CN113489466A (zh) 一种用于消除电荷放大器信号偏移量的电路
CN106571824A (zh) 信号处理电路
US3205347A (en) Root mean square converter
CN104682785B (zh) 具有校正功能的驱动芯片及其应用的马达驱动系统
US2951211A (en) Differential chopper-amplifier
CN114019404A (zh) 一种三相交流电源相序检测方法以及系统
JPH1010163A (ja) 実効値電圧測定装置
JPS5868615A (ja) 磁気式ロ−タリ・エンコ−ダの出力回路
DE1233442B (de) Transistor-Chopperverstaerker
CN114019222B (zh) 一种剩余电流高精度测量的半波检测方法
US20160172998A1 (en) Power converter
JPH01254823A (ja) ディジタル温度検知装置
SU725043A1 (ru) Преобразователь активного сопротивлени в частоту
SU1695330A1 (ru) Устройство дл интегрировани аналогового сигнала
JPS63133069A (ja) 直流差電圧の測定装置
SU742807A1 (ru) Масштабный измерительный преобразователь
KR0172803B1 (ko) 아날로그 입력신호의 단선검출회로
SU999155A1 (ru) Устройство дл измерени амплитуды высокочастотных сигналов
SU1250966A1 (ru) Пребразователь действующего значени переменного напр жени в посто нное напр жение
SU907621A2 (ru) Реле разности частот
SU832701A1 (ru) Преобразователь переменногоНАпР жЕНи B пОСТО ННОЕ

Legal Events

Date Code Title Description
NAL Patent in force

Ref document number: 8802974-9

Format of ref document f/p: F

NUG Patent has lapsed

Ref document number: 8802974-9

Format of ref document f/p: F