SE449137B - PROCEDURE FOR SEATING COVERAGE QUANTITIES - Google Patents

PROCEDURE FOR SEATING COVERAGE QUANTITIES

Info

Publication number
SE449137B
SE449137B SE8203315A SE8203315A SE449137B SE 449137 B SE449137 B SE 449137B SE 8203315 A SE8203315 A SE 8203315A SE 8203315 A SE8203315 A SE 8203315A SE 449137 B SE449137 B SE 449137B
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
radiation
coating
base material
measured
intensity
Prior art date
Application number
SE8203315A
Other languages
Swedish (sv)
Other versions
SE8203315L (en
Inventor
H Veneleinen
R Rantanen
Original Assignee
Enso Gutzeit Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Enso Gutzeit Oy filed Critical Enso Gutzeit Oy
Publication of SE8203315L publication Critical patent/SE8203315L/en
Publication of SE449137B publication Critical patent/SE449137B/en

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
    • G01B15/025—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
  • Paper (AREA)

Description

vv-u-u-v wa .nn-un u. 449 137 2 - z ning av den exciterade strålningena sammanlagda intensitet, varmed beläggningsmängderna kan uträknas på basis av de erhållna mätresultaten och basmaterialets ytvikt som är känt eller bör skilt bestämmas. vv-u-u-v wa .nn-un u. 449 137 2 - z of the total intensity of the excited radiation, whereby the coating quantities can be calculated on the basis of the measurement results obtained and the basis weight of the base material which is known or should be determined separately.

Uppfinningen beskrivs 1 det följande i detalj med hjälp av ett exempel med hänvisning till vidliggande ritning, som föreställer mätningen av beläggningsskikten hos en på båda sidor belagd pappersbana.The invention is described in the following in detail by means of an example with reference to the accompanying drawing, which shows the measurement of the coating layers of a paper web coated on both sides.

Pappersbanan enligt ritningen omfattar ett beläggningsskikt 1 på över- sidan, ett pappersskikt 2 samt ett beläggningsskikt 3 på undersidan.The paper web according to the drawing comprises a coating layer 1 on the side, a paper layer 2 and a coating layer 3 on the underside.

Beläggningssklkten l och 3 består av samma isotop- eller röntgenrör- exciterad fluorescensstrålning emitterande beläggningsmassa och de har applicerats på papperet 2 med en och samma belëggningsenhet. I och för mätning av beläggningsmängderna har före beläggningsenheten placerats en primäratrålning 4 utsändande strålningskälla Sref_ Fluorescens- strålningen 5 som primärstrâlningen 4 har exciterst i råpapperet mäts med detektorn Dšïf och primärstrålningen 6 som har gått genom P3PPefeC mäts me¿ dflflßkfi°ïfl Üïëf. Efter beläggningsenheten på papperets båda sidor har placerats strålningskälla-detektorparen 81,91 och 82,02, vilka har kollamerats på sådant sätt att de med desamma utförda mätningarna inte stör varandra. Den av strâlningskällan S1 emitterade prlmärstrålningen 7 exciterar i beläggningsskiktet l fluo- rescensstrålningen 8, som iakttas av detektorn DI, samtidig; faller fien av 8trâ1“i“3Skä11a“ 51 utsända primärstrålningen 9 på beläggnings- skiktet 3, och den häri exciterade fluorescensstrålningen 10 går likaså lll d R D ~ . t ete t°r“ 1- Pa motsvarande sätt framkallar den från strålninge- 449 137 kïllfifl 52 utgående primärstrâiningen'11,13 i beläggningsskiktet 3 fluorescenssttålningen 12 och i beläggningsskiktet L fluorescensstrål- ningen 14, och de uppkomna fluorescensstrålningarna observeras med deC°kt°f“ D2. Primärstrålningen 15 som passerar genom pappersbanan observeras ytterligare med transmissionsdetektorn Dnr.Coating type 1 and 3 consist of the same isotope or X-ray tube excited fluorescence radiation emitting coating mass and they have applied to the paper 2 with one and the same coating unit. In and for measurement of the coating quantities has been placed before the coating unit a primary radiation 4 emitting radiation source Sref_ Fluorescence the radiation 5 that the primary radiation 4 has excited in the raw paper is measured with the detector Dšïf and the primary radiation 6 that has passed through P3PPefeC measures with flfl ßk fi ° ï fl Üïëf. After the coating unit on both sides of the paper have been placed the radiation source-detector pair 81.91 and 82.02, which have been collamated in such a way that those with the same performed measurements do not interfere with each other. That of the radiation source S1 emitted polymer radiation 7 excites in the coating layer 1 the fluid the residual radiation 8, which is observed by the detector DI, simultaneously; falls fi one of 8trâ1 “in“ 3Skä11a “51 emitted the primary radiation 9 on the coating layer 3, and the fluorescence radiation 10 excited therein also passes lll d R D ~. t ete t ° r “1- Correspondingly, it emits radiation 449 137 kïll fifl 52 outgoing primary training '11,13 in the coating layer 3 the fluorescence radiation 12 and in the coating layer L the fluorescence radiation 14, and the resulting fluorescence radiation is observed with deC ° kt ° f “D2. The primary radiation 15 passing through the paper web further observed with the transmission detector Dnr.

Om vi skriver ø~ beläggningsmängden i beläggningsskiktet 1 på övetsidan pappersskiktets 2 ytvikt beläggningsmängden i beläggningsskiktet 3 på undersidan Dffif I intensiteten av fluorescensstråiningen uppmätt med fl intensiteten av fluoreseensstrålningen uppmätt med D1 intensiteten av fluorescensatrålningen uppmätt med D2 effektiva aktiviteten hos mätgivaren på översidan effektiva aktiviteten hos mätgivaren på undersidan ref fafhåiianaen Il/:fl för någon råpapper innehållande fillermateriai fa;hå11¿nde= 12/Iëïf för nåsøt råvavver innehållande fillermaterial beläggningens "självabsorptionskøefficient' primär- och sekundärstrålningarnas kombinerade mass- absorptionskoeffieient i beläggningen primär- och sekundärstrâlningarnas kombinerade mass- absorptionskoefficient i papperet, 449 137 _/%'"H e är stråiningens 8 intensitet _ -( f .m + 2,m J strålningens 10 intensitet 51 m3 ' e ßc qßp 2 _ - ~ m3 strålningens 12 intensitet: 'Ez _ m3 _ e /uS I ja . . e -VÉIm3QxÉImZJ strâlningens 14 intensitet G2 Beläggningsmängderna kan då i praktiken bestämmas ur de lättkalibrerade ekvationerna (l) och (2). 'ß I - " i: I 1 11: [21 [m1 i e 5m1 »m3 . e lun- m1 mZÜ I' Cl Fl t J Fl . 'm e ïusfmïi * m1 ' e mät/ä. m* 62' ' Irëf (2) C 2 I . , När beläggningsmängderna mäts på ovan beskrivet sätt, förutsätter be- stämningen information för ingivning i datorn angående ytvikten (= mz) av papperet som skall beläggas, som kan erhållas t ex från en råpap- peret mätande [S-ytviktsmätare. Det blir emellertid lättare och ger noggrannare resultat om råkartongens kontinuerliga observering utförs med en transmissionsdetektor som mäter primïrstrålningen från Staf och som har monterats i mäthuvudet som mäter råkartongen. I det sistnämnda fallet uppnår man visserligen inga absolut exakta ytvikter, men då både anordningens kalibrering och de senare mätningarna baseras på Iëâf, kan ändringarna 1 råpapperets Eillerhalt och sammansättning inte märk- ligt påverka fluorescensutbytet som man får på råpapperets motsatta sida (kvantitetsvariationerna av beläggningen som är närvarande såsom fill k " . e' “sa ar inte “amelsêvis lika stor variation i sekundärstral- 449 137 ningen som i primärstrålningen). Det är därför lönsamt att bestämma det i ekvationerna (1) och (2) behövliga m2 ut ekvation (3) och råpapperets verkliga vikt separat enligt något annat förfarande. ref Paf re? rap Q 3up-m2 = lnçltr 0/It? I (3) 5 m2 tr _ tr ¿ ~ . I! p Iëëf I trasnmissionsintensiteten uppmätt med Dëfif (z§ Imf “E mätt utan melianlagt papper meÅ .DH- CI° S Itr [PP - papperets massabsorptionskoefficient för primärstråiningen 1 ref riktningen Dtr Betydelsen av variationerna i råpapperets fillerhalt och -sammansätt- ning för mätresultatet kan även elimineras i och med att man i mät- huvudet som mäter det belagda området mønterar en andra transmissions- dêCGkI0f DC: som mäter primärstrålningen antingen från S1 eller S2 och att man till en början bestämmer totalbeläggningsmängden (I ml + ma) med hjälp av två transmissionsdetektoravläsningar ur ekvation (4) ref ~ . ref, 'ßämfmal _ _ “wait /I in, 03 It? 2 , . m3 _ P m1 Fc 1 t” (4) It; = intensiteten uppmätt med Dtr :I f .. g 3 Cs :r/IÉÉ ßaffnl “a ° 449 137 . 6 LL . beläggntngens massabsorptionskoefficient för primärstrålnlngen 1 I c riktningen D tr och förhållandet 1111/1113 härefter direkt ur de reducerade ekvationerna .. , f for Il och I2 : Il I Cl v ml + Cl - IE: respektive I IC n m +C'=Iref 2 2 3 2 fl ' varmed ml och m3 kan uträknas ur ekvatlonerna (5) och (6): _ ' ref _ __ m1 '~' CZII1 c1 .Ifl ) . m3 , ref C1(I2-C2 .lfl ) - ref _ , re? = - , 5 /lo C1(I2-C2 - fl) Ifall papperets fillerfördelning 1 z-riktningen varierar avsevärt, kan det när man eftersträvar noggranna resultat i vissa fall vara påkallat att 1 referensmäthuvudet montera ett strålnlngskälla-detektorpar också på råpapperets andra elda.If we write ø ~ the amount of coating in the coating layer 1 on the upper side the basis weight of the paper layer 2 the amount of coating in the coating layer 3 on the underside Df fi f In the intensity of the fluorescence radiation measured with fl the intensity of the fluorescence radiation measured with D1 the intensity of the fluorescence radiation measured with D2 effective activity of the measuring sensor on the upper side effective activity of the measuring sensor on the underside ref fafhåiianaen Il /: fl for any raw paper containing fillermateriai fa; hå11¿nde = 12 / Iëïf för nåsøt råvavver containing filler material the "self-absorption coefficient" of the coating the combined mass of primary and secondary radiation absorption coefficient in the coating the combined mass of primary and secondary radiation absorption coefficient in the paper, 449 137 _/%'"HRS e is the intensity of the straw unit 8 _ - (f .m + 2, m J radiation 10 intensity 51 m3 'e ßc qßp 2 _ - ~ m3 the intensity of the radiation 12: 'Ez _ m3 _ e / uS I ja . . e -VÉIm3QxÉImZJ radiation 14 intensity G2 The coating quantities can then in practice be determined from the easily calibrated ones equations (1) and (2). 'ß I - "i: I 1 11: [21 [m1 i e 5m1 »m3. e lun- m1 mZÜ I 'Cl Fl t J Fl . 'm e ïusfmïi * m1' e mät / ä. m * 62 '' Call (2) C 2 I. , When the coating quantities are measured in the manner described above, mood information for input into the computer regarding the basis weight (= mz) of the paper to be coated, which can be obtained, for example, from a peret measuring [S surface weight meter. However, it gets easier and gives more accurate results if the continuous observation of the raw box is performed with a transmission detector that measures the primary radiation from Staff and which has been mounted in the measuring head that measures the raw box. In the latter In this case, it is true that no absolutely exact basis weights are achieved, but then both the calibration of the device and the subsequent measurements are based on Iëâf, the changes in the Eiller content and composition of the raw paper cannot be affect the fluorescence yield obtained on the opposite of the raw paper side (the quantity variations of the coating present such as fill k ". There is not as much variation in the secondary radiation. 449 137 as in the primary radiation). It is therefore profitable to decide in equations (1) and (2) the required m2 out equation (3) and the raw paper actual weight separately according to any other procedure. ref Paf RE? rap Q 3up-m2 = lnçltr 0 / It? IN (3) 5 m2 tr _ tr ¿ ~. IN! p Iëëf I the transmission intensity measured with Dë fi f (z§ Imf “E measured without melian paper with .DH- CI ° S Itr [PP paper mass absorption coefficient for primary irradiation 1 ref direction Dtr The significance of the variations in the filler content and composition of the raw paper measurement of the measurement result can also be eliminated by the head measuring the coated area mounts a second transmission dêCGkI0f DC: which measures the primary radiation from either S1 or S2 and that the total amount of coating is initially determined (I ml + ma) using two transmission detector readings from equation (4) ref ~. ref, 'ßämfmal _ _ “wait / I in, 03 It? 2,. m3 _ P m1 Fc 1 t ”(4) It; = intensity measured with Dtr : I f .. g 3 Cs: r / IÉÉ ßaffnl “a ° 449 137 . 6 LL. the mass absorption coefficient of the coating for the primary radiation 1 I c direction D tr and the ratio 1111/1113 hereafter directly from the reduced equations .., f for I1 and I2: II I Cl v ml + Cl - IE: respectively I IC n m + C '= Iref 2 2 3 2 fl ' whereby ml and m3 can be calculated from equations (5) and (6): _ 'ref _ __ m1 '~' CZII1 c1 .Ifl). m3 , ref C1 (I2-C2 .lfl) - ref _, re? = -, 5 / lo C1 (I2-C2 - fl) If the filler distribution of the paper in the 1 z direction varies considerably, that when striving for accurate results in some cases be called for mounting a radiation source-detector pair also in the reference measuring head on the second fire of the raw paper.

Enär fukt- och ytviktvarlationernaa inflytande på mätnoggrannheten är ytterst ringa, när man såsom exciterande strålniugskällor använder t ex f*-isotoper, är de ur referenskällans punktformighet framväxande felen i allmänhet betydelselösa. Vid beläggning av tunga râpapper eller kar- tonger lönar det sig dock att bortlämna bestämningen av totalbelägg- ningsmängden och att utföra mätningarna enbart på basis av fluores- censerna, därför att fluorescens-utbytesfaktorn för beläggningen på w 449 137 råpapperets motsatta sida 1 ekvationerna (1) och (2) går kraftigt ned med tilltagande ytvikt av râpapperet samt därför ett det av fuktvaria- tioner orsakade mätfelet har effekt nästan uteslutande på denna fâkfan a Det är klart för en fackman 1 branschen att uppfinningens olika utfö- ringsformer inte är inskränkta till det ovan Eramlagda exemplet, utan att de kan variera inom ramen för de efterstående patentkraven. a..Because the moisture and basis weight variations influence the measurement accuracy extremely small, when using as exciting radiation sources e.g. f * -isotopes, are the errors emerging from the punctuality of the reference source generally insignificant. When coating heavy raw paper or cardboard However, it is worthwhile to leave the determination of the total amount and to perform the measurements solely on the basis of fluorescence the fluorescence exchange factor of the coating on w 449 137 the opposite side of the raw paper 1 equations (1) and (2) decrease sharply with increasing basis weight of the raw paper and therefore one of the tion caused by the measurement error has an effect almost exclusively on this faqfan a It will be apparent to one skilled in the art that the various embodiments of the invention forms are not limited to the example given above, but that they may vary within the scope of the following claims. a ..

Claims (3)

449 137 Patentkrav449,137 Patent claims l. Förfarande för mätning av beläggningsmängder 1 beläggningsskikt som applicerats på bägge sidor av papper, kartong l dyl basmaterial (2) och som innehåller samma karakteristiska flnorescensstrålning emitterande komponent, i vilket förfarande medelst från en strålningskälla (Sl,52) erhållen primärstrålning (7,9,ll,l3) utförs excitering av fluorescens- strålning (8,l0,l2,l4) och strålningens intensitet mäts med en detektor (D1,D2), k ä n n e t e c k n a t av att det belagda basmaterialet (2) förs in mellan två funktionellt inbördes oberoende strålningskälla- 'dfiïekC°fPaf (51,D1 och S2,D2) och att skilt med vart och ett av dessa strâlningskälla-detektorpar utförs excitering av fluorescensstrâlning (8,l0,l2,l4) i beläggningsskikten (1,3) på basmaterialets båda sidor samt mätning av den exciterade strålningens sammanlagda intensitet, varmed beläggningsmängderna kan uträknas på basis av de erhållna mätresultaten och basmaterialets ytvikt som är känt eller bör skilt bestämmas.A method for measuring coating amounts in a coating layer applied to both sides of paper, cardboard and the like base material (2) and containing the same characteristic fluorescence radiation emitting component, in which method by primary radiation (7, 52) obtained from a radiation source (S1, 52) 9, 11, 13) excitation of fluorescence radiation (8, 10, 12, 14) is performed and the intensity of the radiation is measured with a detector (D1, D2), characterized in that the coated base material (2) is inserted between two functional mutually independent radiation source- 'd ï ïekC ° fPaf (51, D1 and S2, D2) and that separately with each of these radiation source-detector pairs, excitation of fluorescence radiation (8, 10, 12, 14) in the coating layers (1,3) is performed on both sides of the base material as well as measuring the total intensity of the excited radiation, whereby the coating amounts can be calculated on the basis of the obtained measurement results and the basis weight of the base material which is known or should be determined separately. 2. Förfarande enligt patentkravet 1, k ä n n e t e c k n a t av att beläggningsmängderna mäts i samband med basmaterialets (2) beläggnis- process, vari basmaterialbanans ytvikt mäts före beläggningsskiktens (1,3) applicerlng med hjälp av en på banans ena sida placerad strål- Uínßskälla (stef) och en på andra sidan placerad transmissionsdetektor cng§f>.Method according to claim 1, characterized in that the coating amounts are measured in connection with the coating process of the base material (2), wherein the basis weight of the base material web is measured before the application of the coating layers (1,3) by means of a radiation source (one side of the web). stef) and a transmission detector located on the other side cng§f>. 3. Förfarande enligt patentkravet 1 eller 2, k ä n n e t e c k n 3 ; V M 449 137 av att intensiteten av den genom det belagda basmaterialet (2) passe- rande primärstrålningen (15) mäns med en 1 samband med det andra 9tfå1“1n35kä11a'detekt°fP3fet (52,D2) anbragd transmissiousdecektor (Dtr), varvid ur mättesultatet kan beräknas beläggningsskiktens (1,3) sammanräknade beläggningsmïngd.A method according to claim 1 or 2, characterized by 3; VM 449 137 in that the intensity of the primary radiation (15) passing through the coated base material (2) is measured by a transmissive detector (Dtr) arranged in connection with the second transducer (Dtr) applied to the transducer (52, D2). the measurement result can be calculated from the total coating amount of the coating layers (1,3).
SE8203315A 1981-05-29 1982-05-28 PROCEDURE FOR SEATING COVERAGE QUANTITIES SE449137B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI811652A FI62420C (en) 1981-05-29 1981-05-29 FOERFARANDE FOER ATT MAETA BELAEGGNINGSMAENGD

Publications (2)

Publication Number Publication Date
SE8203315L SE8203315L (en) 1982-11-30
SE449137B true SE449137B (en) 1987-04-06

Family

ID=8514438

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE8203315A SE449137B (en) 1981-05-29 1982-05-28 PROCEDURE FOR SEATING COVERAGE QUANTITIES

Country Status (7)

Country Link
CA (1) CA1189638A (en)
DE (1) DE3219962A1 (en)
FI (1) FI62420C (en)
FR (1) FR2506929B1 (en)
GB (1) GB2099994B (en)
NO (1) NO154570C (en)
SE (1) SE449137B (en)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI68320C (en) * 1982-12-01 1985-08-12 Valtion Teknillinen FOERFARANDE Før by means of the ATT STRAOLNING FRAON A RADIOISOTOPKAELLA utan att FOERSTOERA sample was MAETA FOERDELNINGEN fyll audio-and / or BELAEGGNINGSMEDEL I TJOCKLEKSRIKTNINGEN audio PAPP ERARTONG or the like OCH Halten from these two MEDEL arranged RGAFOER TILLAEMPANDE audio FOERFARANDET SAMT ANVAENDNINGAR of devices for the AV ERFOARANDET OCH
FI68321C (en) * 1982-12-01 1985-08-12 Valtion Teknillinen FOERFARANDE Før by means of the ATT STRAOLNING UTSAEND AV ETT ROENTGENROER utan att FOERSTOERA sample was MAETA FOERDELNINGEN FYLL- audio and / or BELAEGGNINGSMEDEL I TJOCKLEKSRIKTNINGEN of paper in Cardboard or the like OCH Halten from these two MEDEL Før TILLAEMPANDE of devices for the AV FOERFARANDET SAMT ANVAENDNINGAR of devices for the AV FOERFARANDET OCH
DE3890059T (en) * 1987-02-06 1989-01-19
DE4106313A1 (en) * 1991-02-28 1992-09-03 Heidelberger Druckmasch Ag METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING THE QUANTITY OR RELATING TO THE LAYER THICKNESS OF A FLUID
SE509846C2 (en) * 1996-12-17 1999-03-15 Toolex Alpha Ab Method for optical thickness measurement of an adhesive layer and optical disk and its manufacture and adhesive and its use
US6508956B1 (en) 2001-07-25 2003-01-21 Lexmark International, Inc Paper coating test method and composition

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE925197C (en) * 1953-11-11 1955-03-14 Exatest Ges Fuer Messtechnik M Method for the non-contact thickness measurement of strip-shaped, preferably hot-rolled material by means of hard electromagnetic radiation
US3405267A (en) * 1964-06-17 1968-10-08 Industrial Nucleonics Corp Inner layer displacement measuring method and apparatus
DE1548333A1 (en) * 1965-09-22 1969-08-21 Atomic Energy Authority Uk Layer thickness meter
FR1495097A (en) * 1966-09-22 1967-09-15 Atomic Energy Authority Uk Feeler gauges operating by transmission
FI40587B (en) * 1967-04-01 1968-11-30 Valmet Oy
US4037104A (en) * 1976-04-29 1977-07-19 Nucleonic Data Systems, Inc. Dual beam X-ray thickness gauge
US4147931A (en) * 1976-12-13 1979-04-03 Pertti Puumalainen Procedure for measuring unit area weights
FI53757C (en) * 1976-12-13 1978-07-10 Pertti Puumalainen FOERFARANDE FOER MAETNING AV YTVIKTERNA
US4081676A (en) * 1976-12-17 1978-03-28 Sentrol Systems Ltd. On-line system for monitoring sheet material additives
FI59489C (en) * 1978-11-21 1981-08-10 Enso Gutzeit Oy FOERFARANDE FOER MAETNING AV BELAEGGNINGSMAENGDER

Also Published As

Publication number Publication date
GB2099994B (en) 1985-02-20
FR2506929B1 (en) 1986-09-26
FI62420B (en) 1982-08-31
NO154570C (en) 1986-10-22
DE3219962A1 (en) 1982-12-16
NO821806L (en) 1982-11-30
FR2506929A1 (en) 1982-12-03
FI62420C (en) 1982-12-10
SE8203315L (en) 1982-11-30
GB2099994A (en) 1982-12-15
NO154570B (en) 1986-07-14
CA1189638A (en) 1985-06-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI59489C (en) FOERFARANDE FOER MAETNING AV BELAEGGNINGSMAENGDER
FI89105C (en) FOERFARANDE OCH SYSTEM FOER STANDARDISERING AV YTVIKTSMAETARE
JPS62184339A (en) Method and device for measuring various component ratio in crude oil mixture flowing, passing through piping
NO338594B1 (en) Method and associated apparatus for monitoring flow in a flow tube, and use of the apparatus and method for monitoring flow in a mixed flow pipeline.
US3681595A (en) Basis weight gauge standardizing system
Liu et al. High intensity X‐ray and tensiometer measurements in rapidly changing preferential flow fields
SE449137B (en) PROCEDURE FOR SEATING COVERAGE QUANTITIES
Van Bavel et al. Transmission of gamma radiation by soils and soil densitometry
CA1223676A (en) Measuring method and apparatus therefore
US3082323A (en) Radiation analysis
US4147931A (en) Procedure for measuring unit area weights
US4458360A (en) Procedure for determining coating rates
DK3136083T3 (en) METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING A SUBSTANCE CONCENTRATION OR SUBSTANCE IN A LIQUID MEDIUM
US1511604A (en) Specific-gravity apparatus
US5579362A (en) Method of and apparatus for the quantitative measurement of paint coating
JPH10318737A (en) Measuring method for film thickness
US4350889A (en) X-Ray fluorescent analysis with matrix compensation
CA1079414A (en) Procedure for measuring unit area weights
US10836182B2 (en) Calibration of a sensor
JP2927654B2 (en) Method and apparatus for correcting bias in X-ray fluorescence analysis
MG New calibration technique for X-ray absorption studies in single and multiphase flows in packed bed
JP2007183104A (en) Liquid amount inspection method of dispenser or the like
FI59490C (en) FOERFARANDE FOER ATT MAETA BELAEGGNINGSMAENGDER
Gupta et al. Single-Pan Mechanical Balances
Aleksandrov et al. Device for Control of Phase Interfaces Based on Plastic Scintillator and Silicon Photomultipliers

Legal Events

Date Code Title Description
NAL Patent in force

Ref document number: 8203315-0

Format of ref document f/p: F

NUG Patent has lapsed

Ref document number: 8203315-0

Format of ref document f/p: F