FI62420B - FOERFARANDE FOER ATT MAETA BELAEGGNINGSMAENGD - Google Patents

FOERFARANDE FOER ATT MAETA BELAEGGNINGSMAENGD Download PDF

Info

Publication number
FI62420B
FI62420B FI811652A FI811652A FI62420B FI 62420 B FI62420 B FI 62420B FI 811652 A FI811652 A FI 811652A FI 811652 A FI811652 A FI 811652A FI 62420 B FI62420 B FI 62420B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
radiation
detector
base material
coating
measured
Prior art date
Application number
FI811652A
Other languages
Finnish (fi)
Other versions
FI62420C (en
Inventor
Heikki Venaelaeinen
Rauno Rantanen
Original Assignee
Enso Gutzeit Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Enso Gutzeit Oy filed Critical Enso Gutzeit Oy
Priority to FI811652A priority Critical patent/FI62420C/en
Priority to DE19823219962 priority patent/DE3219962A1/en
Priority to CA000403859A priority patent/CA1189638A/en
Priority to GB8215776A priority patent/GB2099994B/en
Priority to NO821806A priority patent/NO154570C/en
Priority to SE8203315A priority patent/SE449137B/en
Priority to FR8209514A priority patent/FR2506929B1/en
Publication of FI62420B publication Critical patent/FI62420B/en
Application granted granted Critical
Publication of FI62420C publication Critical patent/FI62420C/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
    • G01B15/025Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
  • Paper (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

1 62420 Tämän keksinnön kohteena on menetelmä päällystemäärien mittaamiseksi paperin, kartongin tms. perusmateriaalin molemmille puolille tuoduissa päällystekerroksissa, jotka sisältävät samaa karateristista fluoresenssisäteilyä lähettävää komponent-5 tia, jossa menetelmässä säteilylähteestä saatavalla primääri-säteilyllä suoritetaan fluoresenssisäteilyn herättäminen ja säteilyn intensiteetti mitataan detektorilla.The present invention relates to a method for measuring the amount of coatings in coating layers introduced on both sides of a paper, board or similar base material containing the same caraternative fluorescent radiation emitting component, in which method

Ennestään tunnetaan primäärisäteily1lä herätetyn karakteristisen fluoresenssisäteilyn mittaamiseen perustuvia menetelmiä 10 päällystemäärien mittaamiseksi yhdessä tai useammassa kartongille tms. materiaalille levitetyssä päällekkäisessä päällys-tekerroksessa. Näissä menetelmissä on käytetty hyväksi primäärisätei lyn ja mitattavan päällystekerroksen alla olevassa kerroksessa herätetyn fluoresenssisäteilyn absorptiota mitat-15 tavaan kerrokseen.Methods 10 for measuring the amounts of coatings 10 in one or more overlapping coatings applied to paperboard or the like are based on the measurement of the characteristic fluorescence radiation excited by the primary radiation. These methods have taken advantage of the absorption of fluorescence radiation excited in the layer below the primary beam and the coating layer to be measured into the layer to be measured.

Kun perusmateriaali päällystetään molemmilta puoliltaan samaa karakteristista fluoresenssisäteilyä lähettävää kompo-nettia sisältävillä päällystekerroksilla, eivät edellä mainitut tunnetut menetelmät ole enää käyttökelpoisia. Tyypilli-20 senä esimerkkinä tällaisista tapauksista on paperirata, joka on päällystetty molemmilta puoliltaan samalla päällystemassal-la. Tämän keksinnön tarkoituksena on muodostaa näihin tapauksiin soveltuva päällystemäärien mittausmenetelmä, ja keksinnölle on tunnusomaista se, että päällystetty perusmateriaali 25 saatetaan kahden toiminnallisesti toisistaan riippumattoman säteilylähde-detektoriparin väliin ja että näistä säteilylähde-detektoripareista kummallakin erikseen suoritetaan fluoresenssi-säteilyn herättäminen perusmateriaalin molemmilla puolilla olevissa päällystekerroksissa sekä herätetyn säteilyn yhteen-30 lasketun intensiteetin mittaaminen, jolloin päällystemäärät ovat laskettavissa saatujen mittaustulosten sekä perusmateriaalin tunnetun tai erikseen määritettävän neliöpainon perus-teella.When the base material is coated on both sides with coating layers containing a fluorescent emitting component having the same characteristic, the above-mentioned known methods are no longer useful. A typical example of such cases is a paper web coated on both sides with the same coating composition. It is an object of the present invention to provide a method for measuring the amount of coatings suitable for these cases, and the invention is characterized in that the coated base material 25 is interposed between two functionally independent radiation source-detector pairs. measuring the total intensity of the radiation, whereby the amounts of coating can be calculated on the basis of the measurement results obtained and the known or separately determined basis weight of the base material.

Keksintöä selostetaan seuraavassa yksityiskohtaisesti esimer- 2 62420 kin avulla viittaamalla oheiseen piirustukseen, joka esittää molemmilta puoliltaan päällystetyn paperiradan päällysteker-rosten mittaamista.The invention will now be described in detail, by way of example, with reference to Example 262420, with reference to the accompanying drawing, which shows the measurement of the coating layers of a paper web coated on both sides.

Piirustuksen mukainen paperirata käsittää yläpuolisen päällys-5 tekerroksen 1, paperikerroksen 2 sekä alapuolisen päällysteker-roksen 3. Pää 1lystekerrokset 1 ja 3 ovat samaa isotooppi- tai röntgenputkiherätteistä karakteristista fluoresenssisäteilyä lähettävää päällystemassaa ja ne on levitetty paperille 2 samalla päällystysyksiköllä. Päällystemäärien mittaamista var-10 ten on päällystysyksikön edelle sijoitettu primäärisäteilyä 4 lähettävä säteilylähde S ^· Primäärisäteilyn 4 raakapape-rissa herättämä fluoresenssisäteily 5 mitataan detektorilla p0-fThe paper web according to the drawing comprises an upper coating layer 5, a paper layer 2 and a lower coating layer 3. The coating layers 1 and 3 are the same isotope- or X-ray-induced characteristic fluorescence-emitting coating mass and are applied to the paper 2 at the same time. In order to measure the amounts of coatings, a radiation source S 1 emitting primary radiation 4 is placed in front of the coating unit. The fluorescence radiation 5 generated by the primary radiation 4 in the raw paper is measured by a detector p0-f

Dfi Ja raakapaperin läpäissyt primäärisäteily 6 mitataan rpf detektorilla 0^ . Päällystysyksikön jälkeen paperiradan mo-Dfi And the primary radiation 6 transmitted through the raw paper is measured with an rpf detector 0 ^. After the coating unit, the paper web

15 lemmin puolin on sijoitettu säteilylähde-detektoriparit SThe radiation source-detector pairs S are arranged on the lower sides

01 ja S2» O2* jotka on kollimoitu siten, etteivät niillä suoritetut mittaukset häiritse toinen toisiaan. Säteilylähteen S1 lähettämä primäärisäteily 7 herättää päällystekerroksessa I f luoresenssisätei lyn 8, jonka detektori D,j havaitsee. Sa-20 maan aikaan säteilylähteen S lähettämä primäärisätei ly 9 kohdistuu päällystekerrokseen 3, jossa heräävä fluoresenssi - säteily 10 niinikään kulkeutuu detektoriin . Vastaavalla tavalla säteilylähteen S 2 lähettämä primäärisäteily 11, 13 aikaansaa päällystekerroksessa 3 fluoresenssisäteilyn 12 ja 25 päällystekerroksessa 1 fluoresenssisäteilyn 14, ja syntyneet fluoresenssisäteilyt havaitaan detektorilla D2· Päällystetyn paperiradan läpäisevää primäärisäteilyä 15 mitataan lisäksi transmissiodetektori1la D. .01 and S2 »O2 * which are collimated in such a way that the measurements made with them do not interfere with each other. The primary radiation 7 emitted by the radiation source S1 emits a fluorescence beam 8 in the coating layer If, which is detected by the detector D1j. At time Sa-20, the primary radiation 9 emitted by the radiation source S is directed to the coating layer 3, where the excited fluorescence radiation 10 also passes to the detector. Similarly, the primary radiation 11, 13 emitted by the radiation source S 2 produces fluorescence radiation 12 in the coating layer 3 and fluorescence radiation 14 in the coating layer 1, and the generated fluorescence radiation is detected by the detector D2.

trtr

Jos merkitään 30 m^ = yläpuolisen päällystyskerroksen 1 päällystemäärä m2 = paperikerroksen 2 neliöpaino m- = alapuolisen pääl1ystekerroksen 3 päällystemäärä ,ref f = Dr :11a mitatun fluoresenssisäteilyn intensiteetti II - Olilla " " · 35 I2 = D2:lla 3 62420 C1 = yläpuolen mittausanturin tehollinen aktiivisuus Cp = alapuolen " " C* = jollekin täyteainepitoiselle raakapaperilie mitattu 1 ref suhde 11/IJ·! 5 CL = jollekin täyteainepitoiselle raakapaperi11 e mitattu 1 ref suhde yWs = päällysteen "itseabsorptiokerroin" = primääri- ja sekundäärisäteilyjen yhdistetty massa-absorp-tiokerroin päällysteeseen 10^ = primääri- ja sekundäärisäteilyn yhdistetty massa-absorp-tiokerroin paperiin, "Λ,Γη1 on säteilyn Θ intensiteetti · e säteilyn 10 intensiteetti · m^ · e *m1 /4p*m2^ - /V m3 säteilyn 12 intensiteetti Cp * m3 * e , ja 15 säteilyn 14 intensiteetti Cp · m-j · e Päallystemäärät voidaan tällöin käytännössä määrittää helposti kalibroitavista yhtälöistä (1) ja (2).If marked 30 m ^ = overlying the coating layer 1 coating quantity m2 = the paper layer 2 a basis weight m = the lower pääl1ystekerroksen three steering amount, ref f = Dr 11a of the measured fluorescence intensity of the II - ol "" · 35 I 2 = D 2 3 62 420 C 1 = the upper side of the measuring sensor The effective activity of the underside of the Cp = "" C * = measured in any of a highly filled raakapaperilie 1, ref ratio of 11 / HA ·! 5 CL = 1 ref ratio measured for some filler-containing raw paper11 e yWs = "self-absorption coefficient" of the coating = combined mass-absorption coefficient of primary and secondary radiations to the coating 10 ^ = combined mass-absorption coefficient of primary and secondary radiation, Θ intensity · e intensity of radiation 10 · m ^ · e * m1 / 4p * m2 ^ - / V m3 intensity 12 of radiation Cp * m3 * e, and intensity 15 of radiation 15 Cp · mj · e (1) and (2).

_ _ f ~f*e* m, -la*.' m., nv,)l ♦ Ci · CD_ _ f ~ f * e * m, -la *. ' m., nv,) l ♦ Ci · CD

; ‘^Sfm3 + m1 * 8 m3 7^· m25] 4 c2 * ^ (2) C f % * e ' f 1 •2 — u2 i. 3 20 Kun päällystemäärät määrätään edellä esitetyllä tavalla, määritys edellyttää tietokoneelle annettavaa informaatiota päällystettävän paperin neliöpainosta (= m2), joka voidaan saada esim. erilliseltä raakapaperia mittaavalta pistemäiseltä /2-neliöpainomitta-rilta. Helpommalla ja tarkempiin tuloksiin päästään kuitenkin, kun -5 raakakartongin jatkuva seuranta suoritetaan raakakartonkia mittaa-vaan mittapäähän asennetulla Sre^:n primäärisateilyä mittaavalla 4 62420 transmissiodetektorilla. Vm. tapauksessa tosin ei saavuteta absoluuttisesti tarkkoja neliöpainoja, mutta kun sekä laitteen ka- ppf librointi että myöhemmät mittaukset perustetaan I^r :oon, muutokset raakapaperin täyteainepitoisuudessa ja kokoomuksessa eivät pääse 5 vaikuttamaan merkittävästi raakapaperin vastakkaiselta puolelta mitattavaan fluoresenssituottoon (täyteaineena olevan päällysteen määrävaihtelut eivät aiheuta läheskään niin suurta vaihtelua sekundäärisäteilyyn kuin primäärisäteilyyn). Yhtälöissä (1) ja (2) käytettävä m2 kannattaa täten määrittää yhtälöstä 10 (3) ja raakapaperin todellinen paino erikseen jollain muulla menetelmällä , ,Tref /Tref, n . i» _ 1ΠνΙι θ/Ι» 3; '^ Sfm3 + m1 * 8 m3 7 ^ · m25] 4 c2 * ^ (2) C f% * e' f 1 • 2 - u2 i. 3 20 When the coating amounts are determined as described above, the determination requires the information to be provided to the computer on the paper to be coated. square weight (= m2), which can be obtained, for example, from a separate point / 2-square-meter meter for measuring raw paper. However, easier and more accurate results are obtained when the continuous monitoring of -5 raw board is performed with a 4 62420 transmission detector measuring the primary rainfall of Sre® mounted on a measuring board measuring the raw board. Vm. In this case, however, absolutely accurate basis weights are not achieved, but when both the cap calibration of the device and subsequent measurements are based on I ^ r, changes in the filler large variation in secondary radiation than in primary radiation). The m2 used in Equations (1) and (2) should thus be determined from Equation 10 (3) and the actual weight of the raw paper separately by some other method,, Tref / Tref, n. i »_ 1ΠνΙι θ / Ι» 3

Tref ref " Vm2 · m = tr tr (3) = I. o ' 8 P £ ' m2 - tr tr /cTref ref "Vm2 · m = tr tr (3) = I. o '8 P £' m2 - tr tr / c

' P'P

pgp pgp I. = D, :11a mitattu transmissiointensiteetti tr tr ppf pof pofpgp pgp I. = D,: 11a measured transmission intensity tr tr ppf pof pof

Ifcr0= D :11a ilman välissä olevaa paperia mitattu 15 βΐ - paperin massa-absorptiokerroin primäärisäteilylle suunnassa P ref οΓ6Τ trIfcr0 = D: 11a without intermediate paper measured 15 βΐ - paper mass absorption coefficient for primary radiation in direction P ref οΓ6Τ tr

Raakapaperin täyteainepitoisuuden ja -kokoomuksen vaihteluiden merkitys mittaustulokseen voidaan eliminoida myös asentamalla päällystettyä aluetta mittaavaan mittapäähän toinen, joko S^m tai S2:n primäärisäteilyä mittaava transmissiodetektori D^r ja 20 määräämällä aluksi kokonaispäällystemäärä (=m^ + m^) kahden transmissiodetektorilukeman avulla yhtälöstä (4) T ^ c ,,ref. . ^ 1 tr“ C3 Xtr ; mi m3 = - (4) /<c I. = D. :11a mitattu intensiteetti tr tr p0-f C3 = Itr/I > kun mi = m3 = 0 62420 5 ftc= päällysteen massa-absorptiokerroin primäärisäteilylle suunnassa Dj.r ja suhde m^/m^ tämän jälkeen suoraan L:n jaThe significance of variations in the filler content and composition of the raw paper in the measurement result can also be eliminated by installing a second transmission detector D ^ r measuring either the primary radiation of either S ^ m or S2 4) T ^ c ,, ref. . ^ 1 tr “C3 Xtr; mi m3 = - (4) / <c I. = D.: 11a measured intensity tr tr p0-f C3 = Itr / I> when mi = m3 = 0 62420 5 ftc = mass absorption coefficient of the coating for primary radiation in the direction Dj.r and the ratio m ^ / m ^ then directly to L and

I J AI J A

I9:n pelkistetyistä yhtälöistä I- = C- · m. + Ci . I*,, ja ^ » ref _ 1 1 > 1 fl 5 I2 = ^2 * m3 + ^2 * *fl * jolloin ja voidaan laskea yhtälöistä (5) ja (B): C (i -r i«f, mi - cJaihjhi± . m3 (5) I"ic3.i^/Itr) ij*) m3 = - - ___ . m3 (6) /^c C1^I2“C2 * *fl )From the reduced equations of I9, I- = C- · m. + Ci. I * ,, and ^ »ref _ 1 1> 1 fl 5 I2 = ^ 2 * m3 + ^ 2 * * fl * where and can be calculated from equations (5) and (B): C (i -ri« f, mi - cJaihjhi ±. m3 (5) I "ic3.i ^ / Itr) ij *) m3 = - - ___. m3 (6) / ^ c C1 ^ I2" C2 * * fl)

Mikäli paperin z-suunnan täyteainejakauma vaihtelee huomatta-10 vasti, referenssimittapäähän saattaa tarkkoihin tuloksiin pyrittäessä joissakin tapauksissa olla aiheellista asentaa lähde-detektoripari myöskin raakapaperin toiselle puolelle.If the filler distribution in the z-direction of the paper varies considerably by 10, it may in some cases be appropriate to install a source-detector pair on the other side of the raw paper at the reference probe in order to obtain accurate results.

Koska kosteus- ja neliöpainovaihteluiden vaikutus mittaustarkkuuteen on erittäin pieni, kun herättävinä säteilylähteinä 15 käytetään esim./"-isotooppeja, referenssilähteen pistemäisyy-destä aiheutuvat virheet ovat yleensä merkityksettömiä. Raskaita raakapapereita tai kartonkeja päällystettäessä transmissioon perustuva kokonaispäällysmäärän määritys kannattaa kuitenkin jättää pois ja suorittaa mittaukset pelkästään fluo-20 resensseihin perustuen johtuen siitä^että raakapaperin vastakkaisen puolen päällysteen fluorensenssi-tuottotekijä yhtälöissä (1) ja (2) pienenee jyrkästi raakapaperin neliöpainon kasvaessa sekä siitä että kosteusvaihteluiden aiheuttama mittausvirhe kohdistuu lähes yksinomaan tähän tekijään.Since the effect of humidity and basis weight variations on the measurement accuracy is very small when e.g. / isotopes are used as excitation radiation sources. fluo-20 based on the fluorescence due to ^ the opposite side of the raw paper coating fluorensenssi-return factor in equations (1) and (2) decreases sharply raw paper with a basis weight increases, and in that the measurement error caused by variations in humidity almost exclusively directed to this factor.

25 Alan ammattimiehelle on selvää, että keksinnön erilaiset so-vellutusmuodot eivät rajoitu edellä esitettyyn esimerkkiin vaan voivat vaihdella oheisten patenttivaatimusten puitteissa.It will be apparent to those skilled in the art that the various embodiments of the invention are not limited to the example set forth above but may vary within the scope of the appended claims.

Claims (2)

6 624206 62420 1. Menetelmä päällystemäärien mittaamiseksi paperin, kartongin tms. perusmateriaalin (2) molemmille puolille tuoduissa päällystekerroksissa (1,3), jotka sisältävät samaa karakte- 5 rististä fluoresenssisäteilyä lähettävää komponenttia, jossa menetelmässä säteilylähteestä (S^, S2) saatavalla primääri-säteilyllä (7,9,11,13) suoritetaan fluoresenssisäteilyn (8,10, 12,14) herättäminen ja säteilyn intensiteetti mitataan detektorilla (D^, 02)* tunnettu siitä, että päällystetty pe-10 rusmateriaali (2) saatetaan kahden toiminnallisesti toisistaan riippumattoman säteilylähde-detektoriparin (S^ »D^ ja S2, väliin ja että näistä säteilylähde-detektoripareista kummallakin erikseen suoritetaan fluoresenssisäteilyn (8,10,12,14) herättäminen perusmateriaalin molemmilla puolilla olevissa 15 päällystekerroksissa (1,3) sekä herätetyn säteilyn yhteenlasketun intensiteetin mittaaminen, jolloin päällystemäärät ovat laskettavissa saatujen mittaustulosten sekä perusmateriaalin tunnetun tai erikseen määritettävän neliöpainon perusteella.A method for measuring the amounts of coatings in coating layers (1,3) introduced on both sides of a paper, board or similar base material (2) containing the same characteristic fluorescent radiation emitting component, in which method a primary radiation from a radiation source (S1, S2) , 9, 11, 13) excitation of fluorescent radiation (8, 10, 12, 14) is performed and the intensity of the radiation is measured with a detector (D 1, 2) *, characterized in that the coated base material (2) is exposed to two functionally independent radiation sources. between each pair of detector sources (S1, D1 and S2) and that each of these radiation source-detector pairs is separately excited by fluorescence radiation (8,10,12,14) in the 15 coating layers (1,3) on both sides of the base material and the amounts of coating can be calculated from the measurement results obtained and from a known or separately determined attribute of the base material; on the basis of the basis weight. 2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu 20 siitä, että päällystemäärät mitataan perusmateriaalin (2) päällystysprosessin yhteydessä, jossa perusmateriaaliradan neliöpaino mitataan ennen päällystekerrosten (1,3) levittämistä radan toiselle puolelle sijoitetun säteilylähteen (Sr ^.) ja toiselle puolelle sijoitetun transmissiodetektorin (D^r ) 25 avulla. 1 Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnet-t u siitä, että päällystetyn perusmateriaalin (2) läpäisevän primäärisäteilyn (15) intensiteetti mitataan toisen säteilylähde-detektoriparin (S2.D2) yhteyteen sijoitetulla transmissio- 30 detektorilla (D^r), jolloin mittaustuloksesta on laskettavissa päällystekerrosten (1,3) yhteenlaskettu päällystemäärä.Method according to Claim 1, characterized in that the coating amounts are measured in connection with the coating process of the base material (2), in which the basis weight is measured before the coating layers (1,3) are applied to a radiation source (Sr 1) on one side of the track and a transmission detector ^ r) 25. Method according to Claim 1 or 2, characterized in that the intensity of the primary radiation (15) passing through the coated base material (2) is measured by a transmission detector (D1r) arranged in connection with the second radiation source detector pair (S2.D2), whereby the measurement result the total number of coatings of the coating layers (1,3) can be calculated.
FI811652A 1981-05-29 1981-05-29 FOERFARANDE FOER ATT MAETA BELAEGGNINGSMAENGD FI62420C (en)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI811652A FI62420C (en) 1981-05-29 1981-05-29 FOERFARANDE FOER ATT MAETA BELAEGGNINGSMAENGD
DE19823219962 DE3219962A1 (en) 1981-05-29 1982-05-27 METHOD FOR DETERMINING LAYER THICKNESSES
CA000403859A CA1189638A (en) 1981-05-29 1982-05-27 Procedure for determining coating rates
GB8215776A GB2099994B (en) 1981-05-29 1982-05-28 Determining coating thickness
NO821806A NO154570C (en) 1981-05-29 1982-05-28 PROCEDURE FOR MEASURING INVESTMENT QUANTITIES.
SE8203315A SE449137B (en) 1981-05-29 1982-05-28 PROCEDURE FOR SEATING COVERAGE QUANTITIES
FR8209514A FR2506929B1 (en) 1981-05-29 1982-06-01 METHOD FOR DETERMINING COATING RATES

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI811652 1981-05-29
FI811652A FI62420C (en) 1981-05-29 1981-05-29 FOERFARANDE FOER ATT MAETA BELAEGGNINGSMAENGD

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FI62420B true FI62420B (en) 1982-08-31
FI62420C FI62420C (en) 1982-12-10

Family

ID=8514438

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI811652A FI62420C (en) 1981-05-29 1981-05-29 FOERFARANDE FOER ATT MAETA BELAEGGNINGSMAENGD

Country Status (7)

Country Link
CA (1) CA1189638A (en)
DE (1) DE3219962A1 (en)
FI (1) FI62420C (en)
FR (1) FR2506929B1 (en)
GB (1) GB2099994B (en)
NO (1) NO154570C (en)
SE (1) SE449137B (en)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI68321C (en) * 1982-12-01 1985-08-12 Valtion Teknillinen FOERFARANDE Før by means of the ATT STRAOLNING UTSAEND AV ETT ROENTGENROER utan att FOERSTOERA sample was MAETA FOERDELNINGEN FYLL- audio and / or BELAEGGNINGSMEDEL I TJOCKLEKSRIKTNINGEN of paper in Cardboard or the like OCH Halten from these two MEDEL Før TILLAEMPANDE of devices for the AV FOERFARANDET SAMT ANVAENDNINGAR of devices for the AV FOERFARANDET OCH
FI68320C (en) * 1982-12-01 1985-08-12 Valtion Teknillinen FOERFARANDE Før by means of the ATT STRAOLNING FRAON A RADIOISOTOPKAELLA utan att FOERSTOERA sample was MAETA FOERDELNINGEN fyll audio-and / or BELAEGGNINGSMEDEL I TJOCKLEKSRIKTNINGEN audio PAPP ERARTONG or the like OCH Halten from these two MEDEL arranged RGAFOER TILLAEMPANDE audio FOERFARANDET SAMT ANVAENDNINGAR of devices for the AV ERFOARANDET OCH
DE3890059C2 (en) * 1987-02-06 1993-07-01 Dai Nippon Insatsu K.K., Tokio/Tokyo, Jp
DE4106313A1 (en) * 1991-02-28 1992-09-03 Heidelberger Druckmasch Ag METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING THE QUANTITY OR RELATING TO THE LAYER THICKNESS OF A FLUID
SE509846C2 (en) * 1996-12-17 1999-03-15 Toolex Alpha Ab Method for optical thickness measurement of an adhesive layer and optical disk and its manufacture and adhesive and its use
US6508956B1 (en) 2001-07-25 2003-01-21 Lexmark International, Inc Paper coating test method and composition

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE925197C (en) * 1953-11-11 1955-03-14 Exatest Ges Fuer Messtechnik M Method for the non-contact thickness measurement of strip-shaped, preferably hot-rolled material by means of hard electromagnetic radiation
US3405267A (en) * 1964-06-17 1968-10-08 Industrial Nucleonics Corp Inner layer displacement measuring method and apparatus
CH457875A (en) * 1965-09-22 1968-06-15 Atomic Energy Authority Uk Method for measuring the thickness of moving sheet material
FR1495097A (en) * 1966-09-22 1967-09-15 Atomic Energy Authority Uk Feeler gauges operating by transmission
FI40587B (en) * 1967-04-01 1968-11-30 Valmet Oy
US4037104A (en) * 1976-04-29 1977-07-19 Nucleonic Data Systems, Inc. Dual beam X-ray thickness gauge
US4147931A (en) * 1976-12-13 1979-04-03 Pertti Puumalainen Procedure for measuring unit area weights
FI53757C (en) * 1976-12-13 1978-07-10 Pertti Puumalainen FOERFARANDE FOER MAETNING AV YTVIKTERNA
US4081676A (en) * 1976-12-17 1978-03-28 Sentrol Systems Ltd. On-line system for monitoring sheet material additives
FI59489C (en) * 1978-11-21 1981-08-10 Enso Gutzeit Oy FOERFARANDE FOER MAETNING AV BELAEGGNINGSMAENGDER

Also Published As

Publication number Publication date
FR2506929B1 (en) 1986-09-26
SE8203315L (en) 1982-11-30
NO154570C (en) 1986-10-22
NO821806L (en) 1982-11-30
GB2099994B (en) 1985-02-20
GB2099994A (en) 1982-12-15
SE449137B (en) 1987-04-06
NO154570B (en) 1986-07-14
DE3219962A1 (en) 1982-12-16
FR2506929A1 (en) 1982-12-03
FI62420C (en) 1982-12-10
CA1189638A (en) 1985-06-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI59489C (en) FOERFARANDE FOER MAETNING AV BELAEGGNINGSMAENGDER
US3956630A (en) Fluorimetric coat weight measurement
FI59170C (en) JAEMFOERELSEFOERFARANDE OCH ANORDNING FOER MAETNING AV MAENGDEN AV EN SUBSTANS SOM TRANSPORTERAS AV EN LOEPANDE MATERIALBANA
Ferguson et al. Water content measurement in soil columns by gamma ray absorption
AU607081B2 (en) Method and system for transferring calibration data between calibrated measurement instruments
GB2044443A (en) A method of measuring the content of a substance in a film comprising at least one other substance
FI62420B (en) FOERFARANDE FOER ATT MAETA BELAEGGNINGSMAENGD
US3681595A (en) Basis weight gauge standardizing system
US6281498B1 (en) Infrared measuring gauges
AU616979B2 (en) Asphalt content gauge with compensation for sample temperature deviations
US4147931A (en) Procedure for measuring unit area weights
US4350889A (en) X-Ray fluorescent analysis with matrix compensation
US4458360A (en) Procedure for determining coating rates
FI59490C (en) FOERFARANDE FOER ATT MAETA BELAEGGNINGSMAENGDER
US6332351B1 (en) Detection of salt content of water through measurement of radiation attenuation
CA1079414A (en) Procedure for measuring unit area weights
Douglass Volumetric calibration of neutron moisture probes
US4025788A (en) Radiometric analyzer
US4952054A (en) Correction of blood count tube readings
SU749203A1 (en) Radiation method of measuring moisture content of loose materials
CA1154883A (en) Procedure for measuring coating rates
JPH1114336A (en) Thickness and thickness equivalent simplex measuring method
Zakharov et al. Photocolorimeter calibration features
Ziegler et al. Integration of the Wagner moisture meter with the x-ray lumber gauge strength grader
JPH05113322A (en) Measuring method for film thickness by x-ray diffraction method

Legal Events

Date Code Title Description
MA Patent expired

Owner name: ROIBOX OY