SE421832B - Anordning for att registrera topografin hos den chargerade massan i en masugn - Google Patents

Anordning for att registrera topografin hos den chargerade massan i en masugn

Info

Publication number
SE421832B
SE421832B SE7903368A SE7903368A SE421832B SE 421832 B SE421832 B SE 421832B SE 7903368 A SE7903368 A SE 7903368A SE 7903368 A SE7903368 A SE 7903368A SE 421832 B SE421832 B SE 421832B
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
height
distance
measurement
distance meter
charged mass
Prior art date
Application number
SE7903368A
Other languages
English (en)
Other versions
SE7903368L (sv
Inventor
L Nordstrom
R Wiklund
Original Assignee
Pharos Ab
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Pharos Ab filed Critical Pharos Ab
Priority to SE7903368A priority Critical patent/SE421832B/sv
Priority to JP5023580A priority patent/JPS5619402A/ja
Priority to FR8008524A priority patent/FR2454603B1/fr
Priority to DE3015006A priority patent/DE3015006C2/de
Priority to US06/141,733 priority patent/US4339664A/en
Publication of SE7903368L publication Critical patent/SE7903368L/sv
Publication of SE421832B publication Critical patent/SE421832B/sv

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C21METALLURGY OF IRON
    • C21BMANUFACTURE OF IRON OR STEEL
    • C21B7/00Blast furnaces
    • C21B7/24Test rods or other checking devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01FMEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
    • G01F23/00Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm
    • G01F23/22Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm by measuring physical variables, other than linear dimensions, pressure or weight, dependent on the level to be measured, e.g. by difference of heat transfer of steam or water
    • G01F23/28Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm by measuring physical variables, other than linear dimensions, pressure or weight, dependent on the level to be measured, e.g. by difference of heat transfer of steam or water by measuring the variations of parameters of electromagnetic or acoustic waves applied directly to the liquid or fluent solid material
    • G01F23/284Electromagnetic waves
    • G01F23/292Light, e.g. infrared or ultraviolet

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Fluid Mechanics (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Manufacture And Refinement Of Metals (AREA)

Description

7903568-4 2 löpande drift, men det är alldeles omöjligt att med en sådan utrustning direkt efter en chargering kunna utläsa om denna blivit portionerad i de avsedda väl avvägda proportionerna eller ej.
Inte heller gär det med en dylik utrustning att avgöra huruvida den totala nivån hos chargeytan befinner sig över eller under en i förväg bestämd nivå.
Därför har det visat sig nödvändigt att komplettera en undersökning med infraröd kamera med en uppgift beträffande yt- nivåläget och beträffande hur denna nivå varierar. Detta erhålles med anordningen enligt uppfinningen, vilken har erhållit de i patentkraven angivna egenskaperna.
Uppfinningen beskrivs närmare nedan under hänvisning till bifogade ritningar, där fig. l visar en masugn, delvis i snitt, med en avståndsmätare med tillhörande kretsar schematiskt visade, fig. 2 visar schematiskt en perspektivvy över en beskickningsyta i en masugn med en avståndsmätare, fig. 3 visar en planvy av en referensyta med införda projicerade delar av beskickningsytan, fig. 4 visar en principskiss över referensytan med införda projek- tionspunkter och ett principiellt visat utföringsexempel på höjd- profilmarkering utefter en tänkt linje, fig. 5 visar en erhållen höjdprofil, fig. 6 visar en bildskärm med en höjdreliefkarta, fig. 7 visar en principskiss över referensytan med införda projek- tionspunkter och ett principiellt visat utföringsexempel på höjd- kurvemarkering, fig. 8 visar en bildskärm med en höjdkurvekarta, fig. 9 visar en principskiss för att förklara en mätsekvens för en utföringsform av uppfinningen och fig. 10 visar schematiskt en perspektivvy över en beskickningsyta med en avståndsmätare enligt ännu en utföringsform av uppfinningen.
I fig. l visas en masugn l av blästertyP, som i sin härd- del har ett antal formor 2,3 anslutna till en runt ugnen löpande ringtrumma. Till ringtrumman förvärmd blästerluft, som fördelas genom trumman och blâses in i ugnen genom formorna 2,3.
I ugnens övre del, vilken visas delvis genomskuren finns en ränna 5, vilken är tippbar i olika lägen i förhållande till en vertikal och vilken är roterbar omkring ugnens centralaxel. Ovanför rännan centrerat omkring ugnens centralaxel mynnar ett rör 6 genom vilket material för chargering töms från påfyllnadsdelen 7 ner i rännan 5 i i förväg bestämda proportioner, på i förväg bestämda ställen på chargens yta bestämd av rännans 5 vinkellägen i för- hållande till och vridningsläge omkring ugnens centralaxel. I princip finns fyra olika former under vilka chargering kan utföras. 3 7903568-4 Vid ringchargering vrids rännan kontinuerligt omkring central- axeln under chargeringen, så att materialet fördelas över be- skickningsytan i form av en ring. Vid spiralchargering fördelas materialet jämnt över hela beskickningsytan genom att rännan dels vrids omkring och dels vickas mot centralaxeln, så att materialet placeras i form av flera intill varandra befintliga ringar. Vid segmentfördelning väljs en segmentyta ut av en operatör och rännan svänger fram och tillbaka över det valda segmentet till dess att rännan är tom. I somliga fall väljs flera väsentligen jämnt för- delade segment ut. Vid punktfördelning fördelas materialet ut på en eller flera av operatören valda punkter på beskickningsytan. De båda förstnämnda chergeringarna kan ske automatiskt under det att de båda senare måste utföras under överinseende av en operatör.
Denna operatör bör då ha instrumentet till sitt förfogande för att på ett tillförlitligt sätt kunna göra sina bedömningar. Ett sådant instrument är den enligt uppfinningen anordnade avstånds- mätaren 8, vilken är placerad vid ett inspektionsfönster 9 i den översta delen av ugnen ovanför beskickningsytan. I figuren finns en svepanordning 10 av optisk typ placerad mellan avståndsmätaren och inspektionsfönstret. Denna visas i figuren bestå av två kilformiga prismor, som kan vridas och förskjutas i förhållande till varandra och avståndsmätaren, så att strålgången från och till denna kan riktas åt valfritt håll. Vilken annan stegvis inställbar svepan- ordning som helst kan användas, såsom en eller två vickbara speg- lar e.d. Dessutom är det möjligt att i stället för en optisk svep- anordning mellan instrumentet och inspektionsfönstret placera avståndsmätaren på en vrid- och vickbar plattform. Det väsentliga är här att "svepet" av strålgången från och till instrumentet kan ske stegvis, eftersom svepanordningen måste stå stilla just under mätning för att inte förrycka mätresultatet. I enlighet med uppfinningen utföres många mätningar mot beskickningsytan i överensstämmelse med ett valt mönster, så att mätning görs mot utvalda delar av ytan.
Resultatet av mätningarna, dvs de erhållna avstånden matas till en datainsamling ll för att lagras temporärt till- sammans med uppgift om läget hos "svepanordningen" för varje separat mätning. En databearbetningsanordning 12 såsom en mikro- dator eller minidator utför beräkningar på grundval av de erhållna data och lagrar beräkningsresultaten i ett arbetsminnelll. Hur detta utföres kommer att beskrivas närmare längre fram i beskriv- ningen. Resultatet av de gjorda beräkningarna presenteras dels på ivsoszss-4 4 en skrivare 13 och-dels på en bildskärm 14, lämpligen i ugnens koordinatsystem.
I fig. 2 visas schematiskt en vy över beskickningsytan 15 i ugnen och en tänkt referensyta 16, som i figuren - för åskåd- lighets skull - visas ligga under den verkliga ytan. Referensytan kan ha vilken lämplig form som helst. I fig. 2 är den plan, men det är också både tänkbart och lämpligt att välja en referensyta med den form ytan skall ha i det ideala fallet. Det är uppenbart att referensytan ligger fast i rummet och den verkliga ytan kan då ligga ovanför, mitti.eller under referensytan. En avstånds- mätare 17, som i det i figuren visade utförandet är placerad på ett rörligt fundament, mäter avståndet till beskickningsytan i många tätt liggande punkter i överensstämmelse med ett i förväg bestämt mönster. Därvid bör observeras att det givna mönstret är baserat på den tänkta referensytan, så att avstândsmätaren riktas in mot eu; tänkt mönster på denna. I det 1 fig. à visade fallet utgörs mönstret av punkter utmed ett flertal intill varandra liggande cirklar, på den plana referensytan, men det är helt uppen- bart att "svepet" kan ske utmed intill varandra liggande raka linjer eller 1 analogi med TV-avsökning eller på något annat sätt, vilket kommer att beskrivas närmare längre fram. I fig. 2 visas mätning mot en punkt för att illustrera hur inriktning av avstånds- mätaren görs och hur beräkning av önskade resultat med ledning av avstândsmätarens inriktning och erhållna mätresultat går till. I fig. 3 visas i större skala referensplanet och en mot detta med träffpunkten tn på det verkliga planet projicerad i punkten qn mot referensplanet. Mätning mot en referenspunkt Pn har ritats in och får illustrera de beräkningar, som måste göras för varje enskild punkt.
Genom den valda bestämningen av referensytans läge är höjden H för avståndsmätarens läge ovanför ytan bestämd. Ur ugnens konstruktionsritningar erhålles inspektionsfönstrets placering och därmed kan projektionen av detta på referensplanet bestämmas, varigenom avståndet B mellan projektionspunkten och centrum för planet erhålles. I figurerna har antagits, att projektionspunkten ligger på x-axeln genom centrum för ugnen i referensplanet och att mätpunkterna utmed en av mätcirklarna, vilken har visats som exempel, börjar där cirkeln skär positiva x-axeln och ligger jämnt fördelade utmed cirkeln med sektorvinkeln (se fig. 3). I exemplet i fig. 3 mäts mot punkten Pn på svepcirkeln i referensplanet med radien R och sektorvinkeln mot positiva x-axeln lika med nä/.
Inriktningen en i horisontalled och 9% i vertikalled beräknas 7903368-4 geometriskt på grundval av de kända värdena på H, R och nä'.
Dessutom beräknas avståndet från avståndsmätaren till punkten Pn.
Därefter sker avståndsmätning mot den verkliga ytan i riktning mot punkten Pn varvid avståndet Ma till tn på den verkliga ytan in- dikeras. Höjden hn hos normalen till den tänkta ytan och punkten tn på den verkliga utan beräknas med reguladetri. Dessutom beräk- nas läget för normalens träffpunkt qn med den tänkta ytan med kända geometriska metoder. De beräknade koordinaterna för läget qn och höjden hn lagras i ett till beräkningsenhetenlrhændexmxme lll.
Det bör observeras att det efter en genomlöpt mätsekvens erhållna mönstret av mätkoordinater lagrade i minnet inte är jämnt spridda över den tänkta ytan, eftersom vågigheter hos den verkliga ytan ger upphov till förskjutningar i svepmönstret efter det att de angivna beräkningarna har utförts. Detta innebär, att de erhållna mätresultaten inte ligger med jämna avstånd från varandra utmed prydligt ordnade cirklar.
Fig. 4 visar resultatet av en mätserie inprickad inom en kvadrant av den tänkta ytan. Till varje punkt qn hör ett värde hn på höjden till den verkliga ytan. Om nu enligt uppfinningen en höjd profil tvärs över ytan utmed en linje D skall upptecknas, så kommer man att finna att relativt få punkter hamnar på denna linje, färre punkter ju färre mätpunkter som ingår i en mätserie.
Det i fig. 4 visade punktmönstret är dock för glest för att ge en realistisk bedömning av höjdfördelningen över ytan, men principen för beräkningen av höjdfördelningskurvan åskådliggöres bäst med ett glest mönster. Hur tätt mönster man i de speciella fallen väljer är en avvägning mellan hur tätt förväntade buckligheter kan väntas ligga och hur branta de kan tänkas vara och hur snabbt ytan kan förväntas förändra sig. En avständsmätning tar en viss tid i anspråk liksom även varje inställningsändring mellan varje mätning.
Såsom framgår av fig. 4 väljes ett omrâde med ett bestämtf avstånd d från den avsedda linjen D ut och varje punkt qai på den ena sidan om linjen D inom det utvalda området passas ihop med de punkter qbi, som ligger inom det utvalda området på andra sidan om linjen D och som ligger inom ett i förväg bestämt avstånd § från punkten qai. I figuren visas att bara punkten qbl ligger inom avståndet från punkten qal under det att punkterna qbl, qbz, qb3 ligger inom avståndet från punkten qaz osv. Beräkning görs var linjen D skär varje heldragen linje mellan alla par av hop- passade punkter. Höjderna för de hoppassade punkterna hämtas ur is. 't- Gzíf-rfw “W :Inn-n :mfl-am f -n- ....f.-.u...,...,_ . ...li ._ ..._ ...,_ ._ i 7903368-4 respektive minnesställen och under antagandeÉavÃätt'höjdfördélningeh mellan varje par av hoppassade punkter löper linjärt beräknas höj- den för alla skärningspunkterna med linjen D. Höjdkurvan i fig. 5 uppritas på en plotter eller en bildskärm, och rak dragning görs mellan alla intill varandra liggande punkter.
I det fall att ett relativt tätt "svep"-mönster har valts kan i stället för det ovan relaterade hoppassningsförfarandet området på var sin sida om den sökta linjen väljas snävt och alla punkter inom området avsättas normalt mot linjen med sina speciella höjder bibehållna. Detta ger betydligt färre räkneoperationer för datorn att utföra.
Den i fig. 4 visade linjen D är dragen genom origo men det är helt uppenbart att vilken annan linje som helst kan dras, den behöver inte ens vara linjär. Samma princip för höjdberäkning och markering som ovan är tillämpbar. Exempelvis kan höjdkurvor utmed flera tätt liggande parallella linjer beräknas och visas på en bildskärm i form av en höjdreliefkarta. Nivåerna i höjd- relieflinjerna kan dessutom àtagas med olika färger på bildskärmen så att t ex lägsta nivån åtages med rött och högsta med blått och resten av kurvan med en lämplig färgskala däremellan. I fig. 6 visas ett exempel på en höjdreliefkarta upptecknad på en bild- skärm tillsammans med text med beräknade data intressanta för en operatör. I figuren visas en beskickningsyta, som är starkt sned- fördelad och på bildskärmen indikeras att läget är kritiskt genom att ordet FARA blinkar i övre högra hörnet.
I enlighet med uppfinningen skall också höjdnivåkurvor över beskickningsytan också utritas. Om punkterna i "svep- mönstret" har valts mycket tätt, så kan för varje höjdnivå som önskas qfimifiïæ punkter förbindas, för vilka en höjd är indikerad, som ligger inom i förväg bestämda avvikelser från den gällande höjdnivån. Därvid förbinds varje sådan indikerad punkt med de två närmast liggande punkterna med samma indikering. Alternativt kan dataprcgrammet i stället göras så att varje indikerad punkt för-_ binds med alla indikerade punkter som ligger på ett i förväg be- stämt avstånd från den gällande punkten och har samma indikering.
Om ett relativt glest "svep"-mönster har valts förfares i stället på följande sätt. Den punkt, som har högsta höjden in- dikeras. önskad höjdnivå under denna höjd bestämmas och alla punkter med mellan den högsta höjden och den valda översta höjd- nivån indikeras. Därefter söker datorn ut alla punkter på ett i förväg bestämt avstånd från varje vald punkt och undersöker, om 7 7903368-4 höjdmarkeringen för dessa punkter ligger över eller under höjd- nivån för höjdnivåkurvan ifråga. För de punkter där höjdnivân ligger lägre paras dessa ihop med den tillhörande punkten med högre höjd och under antagande att höjdfördelningen mellan de båda punkterna i varje par löper linjärt beräknas den punkt mellan de båda punkterna, där den önskade höjdnivån infaller, dvs punkter- na hla mellan punkten hlö med högre höjd än höjdnivân och punkten hlu, med lägre höjdnivä, hlb mellan hlö och en annan med hlö hop- passad punkt hluz osv. På höjdnivåkurvan på bildskärmen i fig. 8 inprickas de beräknade punkterna för den högsta höjdnivåkurvan och varje punkt förbinds med de tvâ närmast liggande punkterna eller alla punkter, som ligger inom ett'i förväg valt avstånd.
Såsom visas i fig. 8 införs längst ner eller på annat lämpligt ställe på kurvan en siffermarkering för att beteckna höjdnivån.
När den högsta höjdnivån är dragen utföres beräkningen av nästa genom att alla punkter med markerade höjder mellan den översta och den näst översta höjdnivån letas upp av datorn och passas ihop med näraliggande punkter med höjdmarkeringar under den näst översta höjdnivån. Punkterna mellan varje par av hop- passade punkter med den näst högsta höjdnivåkurvans höjd beräknas och markeras på höjdnivåkartan och nästa höjdnivàs kurva ritas in.
Vid uppritningen av denna kurva bör observeras, att om den tidigare inritade översta höjdnivåkurvan ligger mellan två näraliggande punkter med den näst översta höjdnivån, väljs inte dessa punkter ut för förbindning, även om dessa skulle ligga närmast varandra.
De båda punkterna förbinds således med vardera tvâ andra nära- liggande punkter, där sammanbindningslinjen inte skär den översta höjdnivåkurvan.
Beräkning och markering av alla efterföljande höjdnivâ- kurvor sker i analogi med det ovanstående till dess att alla er- forderliga kurvor är uppritade.
I stället för att uppritning av den högsta höjdnivâkurvan sker först kan naturligtvis höjdnivâkurvorna uppritas i följd med början från den lägsta. Alla positioner är beräknade med referens till ugnens koordinater.
I den i fig. 8 visade bildskärmen är bara varannan höjd- nivåkurva försedd med höjdmarkering angivet med siffor eftersom det är uppenbart att det är onödigt att förse varje höjdkurva med en sådan markering. Som alternativ eller komplement till detta kan de olika höjdkurvornaåterges medolika färger, där t ex rött anger lägsta nivå och blått högsta med en lämplig färgskala där- emellan på de övriga kurvorna. Dessutom är bildskärmen bredvid 7903568-4 s höjdnivåkartan försedd med text med upplysningar över ugnens tillstånd. Eftersom i det visade fallet chargen är kraftigt sned- fördelad blinkar texten FARA i övre högra hörnet.
Såsom har nämnts erhålles vid metoden enligt uppfinningen vissa olägenheter på grund av att varje separat avståndsmätning till en punkt på chargens yta måste ta en viss tid i anspråk.
För varje punkt tar inställningen av svepanordningen och själva mätningen en tid av i storleksordningen en sekund i anspråk. Det är därför angeläget att få ner antalet mätpunkter till ett mini- mum men trots detta få ett säkert och tillförlitligt resultat.
Enligt en ytterligare utföringsform av uppfinningen mäts bara mot vissa speciella punkter på chargens yta, vilka har speciell be- tydelse för kontrollen av ugnens funktion. I fig. 9 visas sche- matiskt en chargeyta uppifrån med läget för ugnens formor fl, fz, f3, ...... schematiskt markerade runt ugnen. I det visade fallet är antalet formor 28, men detta antal kan variera inom tämligen vida gränser och är beroende av ugnens storlek. Antalet 28 tyder på en mycket stor ugn, och det är också för stora ugnar som metoden enligt uppfinningen har sin allra största betydelse.
För att genomföra en mätning med så få mätpunkter som möjligt är det lämpligt att rikta in mätningarna på punkter med speciellt stor betydelse för helhetsresultatet. I figuren visas med kryss (x) en typ av mätserie med relativt få mätningar. Först görs en mätning till mitten eo på chargeytan. Det värde på höjden, som man därigenom får fram med samma beräkningar som de, som an- givits ovan, får utgöra grundnivån för referensytan. Referensytan är dessutom i detta fall en yta med ideal topografi. Detta inne- bär att alla övriga mätningar, som görs mot referensytan, bör anta värden inom ett i förväg bestämt tillåtet variationsområde.
Datorn beräknar inställningen av dk och Gi (se fig. 2 och 3) för varje mätpunkt med ledning av resultatet av mätningen till be- skickningsytans mitt och den i datorn lagrade ideala topografien för ytan. Den beräknar dessutom vilket avstånd mätningen till varje mätpunkt till den ideala referensytan bör ge. Om det verk- liga mätvärdet för en aktuell punkt ligger utanför det beräknade avståndet med en i förväg bestämd avvikelse, så föreligger med stor sannolikhet ett fel.
Mätningar företas mot den tänkta referensytan i ring på ett bestämt avstånd från ugnens vägg. Avståndet till punkterna el, ez, e3, ...... mäts, där varannan punkt befinner sig rakt ovanför en forma och varannan punkt mittemellan två formor. Med 7963568-4 tjugoåtta formor ger denna mätsekvens en mätšeríe bestående av totalt femtiosju mätpunkter.
Om en speciell avvikelse, t ex längre avstånd än de beräknade, skulle uppträda för ett speciellt område såsom för punkterna ea, eb, ec i kvadrant II, undersöks området omkring dessa punkter närmare. Avvikelsen kan t ex bero på att forman fa har för stor eller för liten matning av blästerluft e.d.
Om så inte är fallet behöver kanske en extra chargering ske i detta område.
I fig. 9 visas med markerade ringar (o) en annan typ av mätpunktsekvens, vilken sker diagonalt över beskickningsytan utmed tvâ linjer, vilka är vinkelräta mot varandra och skär varandra i beskickningsytans mitt. Denna mätpunktsekvens kan användas an- tingen i stället för den med kryss markerade mätsekvensen eller som komplement till denna. Det är också möjligt att varannan mätserie företas utmed den kryssmarkerade ringen och varannan utmed det ringmarkerade korset. I båda fallen görs den första mätningen i mätserien mot beskickningsytans mitt.
För att resultatet av mätningarna skall kunna ske på ett för operatören lätt uppfattbart sätt på bildskärmen visas varje mätpunkt på en bildskärm med det i fig. 9 visade mönstret, varvid de punkter, där det av datorn beräknade avståndet inom det till- låtna variansområdet överensstämmer med det vid mätningen erhållna, återges med vitt; de punkter, där det uppmätta avståndet är längre än det beräknade, återges med gult, orange och rött beroende på hur kraftig avvikelsen är; och de punkter, där det uppmätta av- ståndet är kortare än det beräknade återges med grönt, turkos och blått i beroende av hur kraftig avvikelsen är. En färgindi- kering av detta slag ger en mycket lätt avläst bild för operatören.
Naturligtvis är det den framräknade avvikelsen i höjdled, som indikeras med olika färger. Datorn beräknar denna avvikelse och är programmerad att färgsätta punkterna på bildskärmen i över- ensstämmelse med det aktuella avvikelseområdet för de ifråga- varande punkterna pâ i och för sig konventionellt sätt. Det är givet att andra avsökningsmönster än det i fig. 9 visade kan vara lämpliga.
Fig. l0 visar ytterligare en utföringsform av en av- ståndsmätare placerad vid ett (icke inritat) inspektionsfönster ovanför beskickningsytan. Denna avståndsmätare är försedd med fyra separata optikenheter 20, 21, 22, 23, 24 placerade på ett gemensamt stativ 25. Stativet är vridbart placerat på ett vrid- 7903368-4 10 organ 26, som i valda steg vrider stativet runt'en vridnings- axel E, vilken är så inställd, att den går igenom eller mycket nära centrum för det tänkta planet. Vridorganet 26 vrider stativet 25 under styrning av en styrenhet 27. Vridorgänet kan t ex vara en resolver, varvid styrenheten till de båda sekundärlindningarna ger växelspänning med amplituder motsvarande beräknade sinus- och cosinusvärden för den vridningsvinkel, till vilken stativet önskas inställt. Resolverns primärlindning erhåller drivning med växelspänning med konstant amplitud.
Framför avstândsmätaren finns en vridbar skiva 28 placerad, som är försedd med ett antal i ring placerade kil- prismor 29 med sinsemellan olika brytande vinklar. Antalet prismor är jämnt delbart med antalet optikenheter, dvs i det visade ut- förandet fyra. I figuren visas en skiva med åtta prismor men en skiva med tolv eller 16 prismor är också tänkbar. Skivan 28 är vridbar i anpassade steg för att placera olika av prismorna 29 i strålgângen för de separata optikenheterna 20-24 medelst en stegmotor 30 under styrning av en styrenhet 31. Skivans centrum är placerad så, att avståndsmätarstativets axel E löper igenom detta, men skivans egen vridningsaxel har en viss vinkel i för- hållande till axeln E för att kompensera för att avståndsmätaren måste vara placerad snett i förhållande till det tänkta planet.
Alternativt kan optikenheterna vara individuellt justerade i samma ändamål.
Vid mätning vrids stativet fram och åter över en 90°- vinkel, varigenom mätningarna från de separata optikenheterna representerar mätning mot var sin kvadrant av den tänkta ytan.
Lutningen hos skivans 28 vridningsaxel mot axeln E och inställningen av de olika optikenheterna är sådan att med de olika prismorna 29 inplacerade i strålgången en avvinkling av denna kan ske ända inifrån centrum till ända ut i periferien i varje kvadrant.
Mätresultaten behandlas av tillhörande databehandlings- enhet och presenteras på skrivare och/eller bildskärm helt i analogi med det sätt, som beskrivits ovan.
Förfarandet enligt uppfinningen avser speciellt avstånds- mätning mot beskickningsytan i en masugn och detta ställer speci- ella krav på den använda apparaturen. För det första går det inte att placera någon reflektor på beskickningsytan. Därigenom måste avståndsmätaren kunna arbeta utan reflektor. Detta innebär att en elektrooptisk avståndsmätare med smalbandig informationsbärare, t ex laserljus, och med optisk filtrering för störundertryckning \1 VD C) O! (N OR Q) I .b ~ ll bör användas. En dylik avståndsmätare beskrivs'i det tyska patentet P 25 51 965. För det andra är atmosfären ovanför ytan sådan, att den bara under vissa relativt korta tidsintervall är genomsläpplig för det ljus, som avståndsmätaren emitterar. Dessa tidsintervall måste utnyttjas för avståndsmätningen och avstånds- mätaren är naturligtvis så anordnad, att den gör om en avstånds- mätning till en avsedd punkt, i fall dess mottagare inte mottar en reflekterad signal från ytan. För det tredje är miljön ovanför ytan sådan, att partiklar av olika slag kan kastas omkring i utrymmet ovanför ytan. Vid avståndsmätning kan det då hända att mätning kommer att ske mot en sådan partikel. Därför är det ibland lämpligt att låta varje avståndsmätning mot varje mätpunkt inne- fatta en serie efter varandra gjorda separata mätningar. Alla mätresultat som avviker med ett i förväg bestämt värde från mät- ningen med det erhållna längsta avståndet förkastas och medel- värdet av de kvarvarande mätresultaten beräknas och får utgöra underlag för de ovan beskrivna beräkningarna baserade på mätresul- tatet för den ifrågavarande punkten.
Eftersom avståndet till mätpunkterna på beskickningsytan är känt inom 10 m behöver avståndsmätaren bara göra mätningar med en modulationsfrekvens, vilket minskar tiden för en avstånds- mätning betydligt. Avståndsmätaren är då av s.k. fasjämförande typ. Det går visserligen för uppfinningens genomförande att an- vända en avståndsmätare, där ljusets gångtid fram till och till- baka från beskickningsytan mäts, men avstândsmätare av fasjäm- förande typ är att föredraga på grund av deras större noggrann- het. u Många olika modifieringar är möjliga inom ramen för uppfinningen.

Claims (9)

7903568-4 M 10 15 20 25 30 35 ggíentkrav
1. Anordning för att registrera topografien hos den chargerade massan i en masugn, k ä n n e t e c k n a d a v att en avståndsmätare (8) med smalbandig informa- tionsbärare, vilken avståndsmätare arbetar med modulerat ljus inom eller nära det synliga eller infraröda området och som arbetar med direktreflcx i i huvudsak samma rikt- ning som en utsänd signal, är monterad vid sidan om chargeringsenheten på en bestämd plats i toppen av mas- ugnen, från vilken åtminstone nästan hela ytan på den chargerade massan är synlig, t.ex. på utsidan av ett tättslutande fönster (9), och är försedd med en inrikt- ningsanordning (10) med rörlighet i rymdvinkel, vilken är anordnad att inom en rymdvinkel, som ligger inom en i förväg begränsande profil, som utgör masugnens inner- yta, inrikta avståndsmätarens mätriktning mot valda delar av den chargerade massans yta enligt ett i förväg bestämt mönster; samt av en beräkningsenhet (ll,l2,lll) som med ledning av resultatet av gjorda avståndmätningar och in- ställda vinklar för mätriktningen beräknar de olika mät- punkternas lägen i ett ugnsorienterat koordinatsystem.
2. Anordning enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a d a v att mätningar är anordnade att företas mot en tänkt referensyta (16) i ugnen, enligt ett i förväg be- stämt mönster samt att avvikelser för mätresultatet i en vald referensriktning (t ex vertikalt) beräknas av beräkningsonheten.
3. Anordning enligt krav l eller 2, k ä n n e t e c k- n a d a v att en i steg inställbar strålavböjare, såsom en vickbar spegel, ett dubbelt kilprisma med sinse- mellan vridbara kilprismor e d, är placerad i strålgången från avståndsmätaren.
4. Anordning enligt något av föregående krav, k ä n - n e t e c k n a d a v att avståndsmätaren är en av elektrooptisk typ med laser som informationsbärare och med optisk filtrering för störundertryckning.
5. Anordning enligt något av föregående krav, k ä n - n e t e c k n a d a v en bildskärm på vilken höjdkurvor och/eller höjdprofiler över ytan på den chargerade massan är-prsenterbara. 10 15 20 13
6. Anordning enligt krav 5, k ä n n e t e c k n a d av att bildskärmen är en skärm för färgpresentation, och att topografien hos ytan hos den chargerade massan presenteras i olika färger för olika höjder.
7. Anordning enligt krav 5, k ä n n e t e c k n a d av att bildskärmen är en skärm för färgpresentation, och att avvikelse i höjd från en i förväg bestämd normtopo- grafi hos ytan hos den chargerade massan presenteras i olika färger för olika avvikelser i höjd från normtopografiytan för varje separat mätpunkt.
8. Anordning enligt något av föregående krav, k ä n - n e t e c k n a d av att efter en första avståndsmätning mot centrum på ytan av den chargerade massan beräkningsen- heten med ledning av inriktningsanordningens inställning och avståndsmätningens mätresultat för den första mätningen och med ledning av en i beräkningsenheten lagrad önskvärd topografi beräknar inställningar för inriktningsanordningen för att genomföra en mätsekvens i överensstämmelse med ett i förväg givet mönster för mätningar mot ytan på den chargerade massan.
9. Anordning enligt något av föregående krav, Ik ä n - n e t e c k n a d av att avståndsmätaren är utrustad med flera samtidigt manövrerbara optikenheter, varvid in- ställningsenheten och elektronik för avståndsmätaren är gemensam för optikenheterna. 7903368-4
SE7903368A 1979-04-18 1979-04-18 Anordning for att registrera topografin hos den chargerade massan i en masugn SE421832B (sv)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE7903368A SE421832B (sv) 1979-04-18 1979-04-18 Anordning for att registrera topografin hos den chargerade massan i en masugn
JP5023580A JPS5619402A (en) 1979-04-18 1980-04-15 Registration method of and apparatus for geographical map
FR8008524A FR2454603B1 (fr) 1979-04-18 1980-04-16 Procede et dispositif pour enregistrer une topographie
DE3015006A DE3015006C2 (de) 1979-04-18 1980-04-18 Vorrichtung zum Ermitteln der Topographie der Charge in einem Hochofen
US06/141,733 US4339664A (en) 1979-04-18 1980-04-18 Method and apparatus for registration of topography

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE7903368A SE421832B (sv) 1979-04-18 1979-04-18 Anordning for att registrera topografin hos den chargerade massan i en masugn

Publications (2)

Publication Number Publication Date
SE7903368L SE7903368L (sv) 1980-10-19
SE421832B true SE421832B (sv) 1982-02-01

Family

ID=20337821

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE7903368A SE421832B (sv) 1979-04-18 1979-04-18 Anordning for att registrera topografin hos den chargerade massan i en masugn

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4339664A (sv)
JP (1) JPS5619402A (sv)
DE (1) DE3015006C2 (sv)
FR (1) FR2454603B1 (sv)
SE (1) SE421832B (sv)

Families Citing this family (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE71426T1 (de) * 1981-07-27 1983-09-15 Kawasaki Steel Corp., Kobe, Hyogo Verfahren und anordnung zum bestimmen eines umrisses in einer ebene, der in einer atmosphaere zerstaeubenden materials bestimmt werden soll.
US4650333A (en) * 1984-04-12 1987-03-17 International Business Machines Corporation System for measuring and detecting printed circuit wiring defects
EP0159187A3 (en) * 1984-04-17 1987-07-15 Simon-Carves Limited A surface topography measuring system
JPS62121194A (ja) * 1985-11-20 1987-06-02 株式会社 タクマ 廃棄物供給クレ−ンの自動運転制御のための廃棄物ピツト内堆積分布状態計測方法
FR2593599B1 (fr) * 1986-01-29 1991-06-21 France Etat Ponts Chaussees Procede et dispositif de determination sans contact du relief d'une surface
US4818107A (en) * 1986-05-21 1989-04-04 Kabushiki Kaisha Komatsu S Eisakusho System for measuring the position of a moving body
US4849643A (en) * 1987-09-18 1989-07-18 Eaton Leonard Technologies Optical probe with overlapping detection fields
WO1989003022A1 (en) * 1987-10-02 1989-04-06 Amberg Messtechnik Ag Level indicator
US5008555A (en) * 1988-04-08 1991-04-16 Eaton Leonard Technologies, Inc. Optical probe with overlapping detection fields
EP0404608B1 (en) * 1989-05-19 1995-02-22 Fujitsu Limited Blanking aperture array, method of producing blanking aperture array, charged particle beam exposure apparatus and charged particle beam exposure method
US5262341A (en) * 1989-05-19 1993-11-16 Fujitsu Limited Blanking aperture array and charged particle beam exposure method
JPH035502A (ja) * 1989-05-31 1991-01-11 Toshimasa Nakano 軌道の防音方法及びその装置
LU87578A1 (fr) * 1989-09-07 1991-05-07 Wurth Paul Sa Dispositif de determination de la carte topographique de la surface de chargement d'un four a cuve
JP2837743B2 (ja) * 1990-06-27 1998-12-16 富士通株式会社 荷電粒子ビーム露光方法およびそれに用いるステンシルマスク
IT248890Y1 (it) * 1999-10-07 2003-02-20 Parmacontrols S R L Dispositivo automatico per il controllo del grado di riempimento dei contenitori aperti per prodotti vari, in particolare cibi inscatolati o
WO2001060718A2 (en) * 2000-02-17 2001-08-23 Bintech. Lllp Bulk materials management apparatus and method
JP4947842B2 (ja) 2000-03-31 2012-06-06 キヤノン株式会社 荷電粒子線露光装置
JP2001283756A (ja) 2000-03-31 2001-10-12 Canon Inc 電子光学系アレイ、これを用いた荷電粒子線露光装置ならびにデバイス製造方法
JP2001284230A (ja) 2000-03-31 2001-10-12 Canon Inc 電子光学系アレイ、これを用いた荷電粒子線露光装置ならびにデバイス製造方法
JP4947841B2 (ja) 2000-03-31 2012-06-06 キヤノン株式会社 荷電粒子線露光装置
JP4585661B2 (ja) 2000-03-31 2010-11-24 キヤノン株式会社 電子光学系アレイ、荷電粒子線露光装置およびデバイス製造方法
JP4647820B2 (ja) 2001-04-23 2011-03-09 キヤノン株式会社 荷電粒子線描画装置、および、デバイスの製造方法
US6818911B2 (en) 2002-04-10 2004-11-16 Canon Kabushiki Kaisha Array structure and method of manufacturing the same, charged particle beam exposure apparatus, and device manufacturing method
FR2907546B1 (fr) 2006-10-19 2009-01-23 Crealyst Sarl Systeme de determination du relief d'une surface de remplissage de granules dans un reacteur petrochimique
DE102007010532B3 (de) * 2007-02-26 2008-04-30 Technische Universität Bergakademie Freiberg Verfahren und Einrichtung zur Ermittlung der Dichte der Bodensubstanz von Prüfgruben
DE102007043741A1 (de) * 2007-09-10 2009-03-12 Eppendorf Ag Optisches Sensorsystem an einer Vorrichtung zur Behandlung von Flüssigkeiten
FR2923816B1 (fr) * 2007-11-15 2010-04-23 Total France Dispositif et procede pour le chargement de particules solides dans une enceinte
DE102008024731B4 (de) * 2008-05-19 2020-08-20 BAM Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Verfahren und Vorrichtung zur Sinterung eines Objektes unter Bestimmung des geometrischen Oberflächenprofils des Objekts
HUE031382T2 (en) * 2008-05-27 2017-07-28 Grieshaber Vega Kg Echoel shape evaluation for charge level sensors
DE102008064142A1 (de) 2008-12-19 2010-07-01 Z & J Technologies Gmbh Messvorrichtung und Messverfahren für einen Hochofen, Hochofen mit einer derartigen Vorrichtung und Schwenkvorrichtung für wenigstens eine Messsonde
CN103844731A (zh) * 2012-12-03 2014-06-11 隆达兴企业有限公司 瓶体的制造方法
FI20135159L (sv) * 2013-02-22 2014-08-23 Andritz Oy Optiskt fjärravkänningssystem för processkontroll
EP2837950B1 (de) 2013-08-14 2016-05-04 VEGA Grieshaber KG Radar-Strahlablenkungseinheit für ein Füllstandradar
GB2538539A (en) * 2015-05-20 2016-11-23 Airbus Operations Ltd Measuring surface of a liquid
KR102480647B1 (ko) * 2018-03-28 2022-12-22 제이에프이 스틸 가부시키가이샤 고로의 조업 방법
CN111886348A (zh) 2018-03-28 2020-11-03 杰富意钢铁株式会社 高炉设备及高炉的作业方法
US11230400B2 (en) * 2018-05-07 2022-01-25 V Anrx Pharmasystems Inc. Method, device and system for filling pharmaceutical containers
US10816405B2 (en) * 2018-06-22 2020-10-27 Rosemount Inc. Level and surface temperature gauge
CN110823319A (zh) * 2018-08-10 2020-02-21 佛山市爱米吧科技有限公司 谷物量检测装置及谷物放置容器
CN110174053B (zh) * 2019-05-31 2021-04-09 天津铁厂有限公司 转炉炉口开口度小于炉膛半径时炉膛尺寸的测量方法
CN110186374B (zh) * 2019-05-31 2021-04-09 天津铁厂有限公司 转炉炉口开口度大于炉膛半径时炉膛尺寸的测量方法
DE102020133545A1 (de) * 2020-12-15 2022-06-15 TMT - Tapping Measuring Technology GmbH Vorrichtung und Verfahren zur Entnahme von Gasproben aus einem Hochofen

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE646066A (sv) *
US3099744A (en) * 1959-12-21 1963-07-30 Koppers Co Inc Apparatus for measuring the height and contour of material
LU48960A1 (sv) * 1965-07-01 1967-01-03
LU51941A1 (sv) * 1966-09-12 1968-03-21
FR1537314A (fr) * 1967-09-11 1968-08-23 Centre Nat Rech Metall Procédé pour contrôler le fonctionnement d'un four à cuve
JPS4823762B1 (sv) * 1968-08-08 1973-07-16
DE2405195A1 (de) * 1974-02-04 1975-08-14 Honeywell Gmbh Vorrichtung zur abtastung eines dreidimensionalen gebildes
JPS5824724B2 (ja) * 1976-04-14 1983-05-23 石川島播磨重工業株式会社 竪型炉における装入物レベル分布測定法
JPS5952762B2 (ja) * 1976-07-07 1984-12-21 日本電信電話株式会社 等高モアレ縞計測法
BE872578A (fr) * 1978-12-06 1979-03-30 Centre Rech Metallurgique Dispositif pour controler la surface de la charge d'un four a cuve

Also Published As

Publication number Publication date
DE3015006C2 (de) 1984-12-20
JPS5619402A (en) 1981-02-24
SE7903368L (sv) 1980-10-19
FR2454603B1 (fr) 1986-07-25
FR2454603A1 (fr) 1980-11-14
US4339664A (en) 1982-07-13
DE3015006A1 (de) 1980-10-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SE421832B (sv) Anordning for att registrera topografin hos den chargerade massan i en masugn
EP0047243B1 (en) Method and apparatus for determining position
US9453729B2 (en) Layout equipment and layout method
US6731329B1 (en) Method and an arrangement for determining the spatial coordinates of at least one object point
CA1150839A (en) Method of measuring firing misses and firing missmeasuring installation for the performance of the method
CN103328926A (zh) 具有自动表征改变功能的测量装置
CN102252637B (zh) 一种大型法兰平面度检测方法
CN1719196B (zh) 测量仪
CN1673682A (zh) 激光测定方法及激光测定系统
SE442916B (sv) Anordning for uppmetning av hjulinstellning och styrgeometri hos en bil
SE509209C2 (sv) Anordning och förfarande för att bestämma läget för bearbetande del
CN101932906A (zh) 相对于地面标志来定位勘测仪器
SE508951C2 (sv) Anordning och förfarande för att bestämma läget för en bearbetande del
US4175285A (en) Navigational system of high-speed aircraft
SE420353B (sv) Anordning for att kontrollera mattriktighet
KR101580871B1 (ko) 동적 시준 기능을 포함하는 측정 기기 및 관련 방법
CN111044990A (zh) 机载激光雷达光束指向标定方法、系统及激光光斑探测器
CN105424191A (zh) 一种光柱镭射纸张的颜色质量评分方法
US4315771A (en) Process to continuously determine the profile of a charge fed into a blast furnace
GB2090096A (en) Method and Apparatus for Determining Position
CN205879126U (zh) 一种测量铁轨与站台距离的激光测量仪
US4556322A (en) Arrangement for checking dimensional accuracy
SE502850C2 (sv) Mätsystem för att på fordon mäta hjulvinklar och positionsbestämma lägen för i fordon ingående chassienheter
CN111998805B (zh) 一种半导体设备的载具及平行度检测方法
US4377946A (en) Electronic balancing system for balancing road vehicle wheels

Legal Events

Date Code Title Description
NUG Patent has lapsed

Ref document number: 7903368-4

Effective date: 19911108

Format of ref document f/p: F