SA516371056B1 - جهاز لفحص تيار مادة - Google Patents
جهاز لفحص تيار مادة Download PDFInfo
- Publication number
- SA516371056B1 SA516371056B1 SA516371056A SA516371056A SA516371056B1 SA 516371056 B1 SA516371056 B1 SA 516371056B1 SA 516371056 A SA516371056 A SA 516371056A SA 516371056 A SA516371056 A SA 516371056A SA 516371056 B1 SA516371056 B1 SA 516371056B1
- Authority
- SA
- Saudi Arabia
- Prior art keywords
- mentioned
- detector
- light
- stream
- aforementioned
- Prior art date
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 34
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 42
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 21
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 16
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 12
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 claims description 7
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 claims description 7
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 4
- 230000004224 protection Effects 0.000 claims 13
- 240000000662 Anethum graveolens Species 0.000 claims 1
- 101100080643 Caenorhabditis elegans ran-4 gene Proteins 0.000 claims 1
- 101001003151 Caretta caretta Chelonianin Proteins 0.000 claims 1
- 244000260524 Chrysanthemum balsamita Species 0.000 claims 1
- 235000005633 Chrysanthemum balsamita Nutrition 0.000 claims 1
- 206010011878 Deafness Diseases 0.000 claims 1
- 241000196324 Embryophyta Species 0.000 claims 1
- 239000004783 Serene Substances 0.000 claims 1
- 235000019994 cava Nutrition 0.000 claims 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 claims 1
- 238000012053 enzymatic serum creatinine assay Methods 0.000 claims 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 claims 1
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- MTCFGRXMJLQNBG-UHFFFAOYSA-N serine Chemical compound OCC(N)C(O)=O MTCFGRXMJLQNBG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 4
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 241000518579 Carea Species 0.000 description 1
- 241000581364 Clinitrachus argentatus Species 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 229910019990 cerium-doped yttrium aluminum garnet Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 230000001143 conditioned effect Effects 0.000 description 1
- 238000002329 infrared spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- VYQNWZOUAUKGHI-UHFFFAOYSA-N monobenzone Chemical compound C1=CC(O)=CC=C1OCC1=CC=CC=C1 VYQNWZOUAUKGHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/85—Investigating moving fluids or granular solids
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/34—Sorting according to other particular properties
- B07C5/342—Sorting according to other particular properties according to optical properties, e.g. colour
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/2247—Sampling from a flowing stream of gas
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/061—Sources
- G01N2201/06113—Coherent sources; lasers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/061—Sources
- G01N2201/06193—Secundary in-situ sources, e.g. fluorescent particles
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/062—LED's
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/063—Illuminating optical parts
- G01N2201/0636—Reflectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/068—Optics, miscellaneous
Abstract
يتعلق الاختراع الحالي بجهاز (100) لفحص تيار مادة (10) يشتمل على: مصدر ضوء أول ومصدر ضوء ثاني (101؛ 102) لبعث شعاع ضوئي light beam أول وشعاع ضوئي ثاني (111؛ 112)؛ كاشف detector أول وكاشف ثاني (131؛ 132)؛ عنصر مسح scanning element أول (151) مهيأ لإعادة توجيه منطقة الكشف detection area (137) للكاشف الثاني من جانب إلى جانب عبر التيار المذكور، وشعاع يقسم العنصر (140) الموضوع لاستقبال الأشعة الضوئية الأولى والثانية المذكورة (111)، بعد أن يتم انعكاسها مقابل المادة المذكورة، حيث تتم تهيئة الشعاع المذكور الذي يقسم العنصر (140) لتوجيه الشعاع الضوئي الأول المنعكس المذكور (111) نحو الكاشف الأول المذكور (131) ولتوجيه الشعاع الضوئي الثاني المنعكس المذكور (112) نحو الكاشف الثاني المذكور (132). شكل 1أ
Description
—y— sale جهاز لفحص تيار
Apparatus for inspecting a stream of matter الوصف الكامل خلفية الاختراع إلى جانب نظام يشتمل على estream of matter يتعلق الاختراع الحالي بجهاز لفحص تيار مادة هذا الجهاز. تتضمن detection station عن محطة كشف ١ VAS 854 تكشف براءة الاختراع الأوروبية رقم sale وهي محطة بها تيار من cdetection unit كاميرا فيديو موجهة رأسيا إلى أسفل ووحدة كشف 0 أفقي إلى حد كبير إلى conveyor belt متقدمة من خلاله على سير ناقل waste matter مهدرة تمتد مساحة Lair jet nozzes من فوهات نفث الهواء transverse array مصفوفة مستعرضةٌ stream الصورة مستطيلة الشكل للكاميرا بالعرض الكامل للسير وبالتالي من تيار المخلفات عه عامة». يتم استخدام البيانات من الكاميرا لتحديد مواضع الأجسام الفردية في تيار المخلفات (تقريبا في نطاق المنطقة التي يشغلها الجسم في تيار المخلفات). تقوم الوحدة بمسح تيار المخلفات Ve مستقيم يمتد أيضا بالعرض الكامل للسير وبالتالي لتيار المخلفات؛ يكون © path مسار Jal للسيرء أي إلى اتجاه التغذية D longitudinal direction المسار © متعامد على الاتجاه الطولي تكشف 1060160 spectrum analysis لتيار المخلفات. بواسطة تحليل طيف الأشعة تحت الحمراء الوحدة عن تركيبة بعض على الأقل من الأجسام في تيار المخلفات. يتم استخدام البيانات من solenoid valves في صمامات ملف لولبي controller الكاميرا والوحدة للتحكم في وسيلة تحكم Vo الهواء المضغوط إلى الفوهات المناظرة. في هذا النظام؛ يتم الكشف عن dad والتي تتحكم في تركيبة و/أو لون كل جسم بواسطة الوحدة؛ بينما يتم استخدام كاميرا الفيديو لرصد المنطقة التي تم الكشف عنها وخرج بياناتها المستخدمة تلقائيا للكشف عن مواضع الأجسام ولتصحيح البيانات في الوحدة. detectors المتعلقة بتلك الأجسام على النحو المستقبل من الكواشف تتمثل مشكلة واحدة متعلقة بالنظام المذكور أعلاه في أن الأجسام الصغيرة على سبيل المثال يمكن Yo أن تغير الموضع على السير ناقل بين أن يتم قياسها بواسطة وحدة الكشف ولكاميرا. بالتالي يمكن أن يكون من الصعب تحديد أي القراءات تنتمي إلى أي بند. oviy
ا الوصف العام للاختراع يتمثل هدف الاختراع الحالي في تقديم جهاز محسن لفحص تيار مادة. تيم تحديد الاختراع الحالي في عناصر الحماية المستقلة؛ ويتم ذكر النماذج في عناصر الحماية الملحقة. وفقا لجانب واحد من الاختراع الحالي؛ يتم تقديم جهاز لفحص تيار مادة؛ والذي يشتمل على © مصدر ضوء أول ومصدر ضوء (SB كاشف detector أول وكاشف SB إلى جانب عنصر مسح Js scanning element ووسيلة تقسيم شعاع beam splitter أولى . تتم تهيئة مصدر الضوء الأول المذكور لبعث شعاع ضوئي أول يشتمل على أطوال موجية ضمن نطاق طول موجي أول (Alba) لإضاءة تيار المادة المذكور من جانب إلى جانب؛ ويتم وضع الكاشف الأول لاستقبال الشعاع الضوئي light beam الأول المذكور بعد أن يتم انعكاسه مقابل تيار المادة ٠ المذكور عند منطقة كشف detection area أولى. تتم تهيئة مصدر الضوء الثاني لبعث شعاع ضوئي ثاني يشتمل على أطوال موجية ضمن نطاق طول ase ثاني (220-728)؛ لإضاءة تيار المادة المذكور عند منطقة مضاءة fluminated carea حيث يكون أي طول موجي (3.1) في نطاق الطول الموجي الأول المذكور مختلف عن أي طول (AY) ase في نطاق الطول الموجي الثاني المذكور (إما Alb > 128 أو 226 < (Ma VO يتم وضع الكاشف الثاني لاستقبال الشعاع الضوئي الثاني المذكور بعد أن يتم انعكاسه مقابل تيار المادة المذكور عند منطقة كشف ثانية. علاوة على ذلك؛ يتم وضع عنصر المسح الأول بين تيار المادة المذكور والكاشف الثاني المذكور وتتم تهيئته لإعادة توجيه منطقة الكشف الثانية المذكورة من جانب إلى جانب عبر تيار المادة المذكور. في النهاية؛ يتم وضع الشعاع الذي يقسم العنصر لاستقبال الشعاع الضوئي الأول ٠ المذكور؛ بعد أن يتم انعكاس الشعاع الضوئي الأول المذكور مقابل المادة المذكورة بامتداد محور ضوئي optical axis أول؛ ويتم وضع لاستقبال الشعاع الضوئي الثاني المذكورء بعد أن يتم انعكاس الشعاع الضوئي الثاني المذكور مقابل المادة المذكورة أيضا بامتداد المحور الضوئي الأول المذكور. تتم تهيئة الشعاع المذكور الذي يقسم العنصر كذلك لتوجيه الشعاع الضوئي الأول المنعكس المذكور نحو الكاشف الأول المذكور ولتوجيه الشعاع الضوئي الثاني المنعكس المذكور Yo نحو الكاشف الثاني المذكور؛ء بواسطة إعادة توجيه واحد على الأقل من الشعاع الضوئي الأول المنعكس المذكور والشعاع الضوئي الثاني المنعكس المذكور بامتداد محور ضوئي ثاني يكون oviay
يه
عبارة عن المحور الضوئي الأول المذكور غير المتوازي. بشكل أكثر تحديدا يتم وضع عنصر
المسح الثاني بين الشعاع المذكور الذي يقسم العنصر والكاشف الثاني المذكور لاستقبال الشعاع
الضوئي الثاني المنعكس المذكور فقط من الأشعة الضوئية الأولى والثانية المنعكسة المذكورة.
Led يتعلق بهذا الاختراع يمكن أن يتكون تيار المادة الذي يتم فحصه بواسطة الجهاز من أية
0 أجسام تكون مناسبة للفحص البصري inspection عنامه؛ مثل؛ بدون حصرء خامات (lees
طعام وأجسام إلى جانب المخلفات المجمعة والفضلات.
وفقا لمثال واحد يمكن اختيار مصدر الضوء الأول المذكور من مجموعة تشتمل على Seal ليزر
565 أجهزة ليزر متصلة علوية lasers مسمتتدمعت وى مصابيح هالوجين <halogen lamps
دايودات تبعث الضوء light emitting diodes أنابيب فلورية fluorescent tubes وتوليفات من ٠ ذلك.
وفقا لمثال واحد يمكن اختيار مصدر الضوء الثاني المذكور من مجموعة تشتمل على مصابيح
هالوجين؛ دايودات تبعث الضوء؛ أجهزة ليزر وأجهزة ليزر متصلة علوية وتوليفات من ذلك.
وفقا لمثال واحد يكون الشعاع المذكور الذي يقسم العنصر عبارة عن وسيلة تقسيم شعاع ثنائي
dichroic beamsplitter (ys) مثل بدون حصر 3 ثنائية اللون dichroic mirror عاكس ثنائي Yo اللون «dichroic reflector أو وسيلة تقسيم شعاع مكعب .cube beam splitter
يتم اختيار مصادر الضوء الأولى والثانية المذكورة بناء على الخواص الضوئية للأجسام في تيار
المادة المذكور؛ء وبمزيد من التفاصيل بناء على أي من الخواص الضوئية للأجسام في تيار المادة
تكون محل اهتمام.
وفقا لمثال واحد؛ يكون كل من مصدر الضوء الأول المذكور ومصدر الضوء الثاني المذكور عبارة ٠ عن إضاءات خطية؛ تضيء بشكل متزامن تيار المادة من جانب إلى جانب. أمثلة على هذه
الإضاءات تتضمن مصابيح هالوجين» ألواح دايود يبعث الضوء «(LED) light emitting diode
أو ليزر Sead) ليزر) مزودة بالبصريات المناسبة.
وفقا لمثال AT يكون كل من مصدر الضوء الأول المذكور ومصدر الضوء الثاني المذكور عبارة
عن إضاءات بقعة؛ باكتساح إضاءة تيار المادة المذكور من جانب إلى جانب. أمثلة على هذه Yo الإضاءات تتضمن دايودات تبعث الضوء أو ليزر(أجهزة ليزر) مزودة بالبصريات المناسبة. في
أي
Co بصورة point illumination هذا الطلب؛ يتم استخدام المصطلحات إضاءة بقعة ونقطة إضاءة متبادلة. يكون واحد من مصادر الضوء الأولى والثانية المذكورة عبارة عن إضاءة AT لا يزال وفقا لمثال ويكون المصدر الآخر من مصادر الضوء الأولى والثانية المذكورة cline illumination خطية عبارة عن نقطةٌ إضاءة. © وفقا لمثال محدد أول » تكون الإضاءة الخطية المذكورة عبارة عن لوح- دايود يبعث الضوء يشتمل على سبيل المثال على ثلاثة صفوف من دايودات تبعث الضوء. يتكون الصفين الخارجيين على سبيل المثال من دايودات تبعث الضوء بلون أخضر موضوعة جنبا إلى جنب. يتكون الصف (018؛ و دايود infrared الأوسط على سبيل المثال من مجموعات من اثنين الأشعة تحت الحمراء وبين كل مجموعة توجد فجوة. علاوة على ذلك؛ بين كل زوج من eal تبعث الضوء واحد بلون ٠ دايودات تبعث الضوء باللون الأحمر يوجد اثنين الأشعة تحت الحمراء من دايودات تبعث الضوء. يتم تزويد كل دايود يبعث الضوء بالبصريات التي تركز الضوء على تيار المادة. الإضاءة المذكورة عبارة عن توليفة من أجهزة ليزر لها أطوال dali وفقا لمثال ثاني محدد؛ تكون موجية مختلفة؛ مثل طول بلون أحمرء بلون أخضر و الأشعة تحت الحمراء؛ حيث يتم دمج الأشعة من أجل محاذاة استقطاب cbeam splitters .من أجهزة الليزر بواسطة استقطاب وسيلة تقسيم أشعة Vo قبل أن تضيء أشعة الليزر تيار المادة. بمزيد من التفاصيل؛ يتم دمج 108» beams أشعة الليزر الأول والثاني (على سبيل المثال بلون أحمر وبلون أخضر) بواسطة Taser beam شعاع الليزر (بلون أحمر/بلون intermediate beam وسيلة تقسيم شعاع مستقطبة أولى إلى شعاع وسيط أخضر)؛ ويتم دمج الشعاع الوسيط (بلون أحمر/بلون أخضر) مع شعاع الليزر الثالث (الأشعة تحت الحمراء) بواسطة وسيلة تقسيم شعاع مستقطبة ثانية في شعاع ناتج (بلون أحمر/بلون ٠ الليزر على سبيل المثال بالتزامن» أو واحد تلو Seal أخضر/ الأشعة تحت الحمراء). يمكن اشعال الآخرء أو في صورة أزواج. علاوة على ذلك؛ وفقا لمثال واحد يتم وضع مصدر الضوء الأول المذكور وفقا للمثال المحدد الأول المذكور ويتم وضع مصدر الضوء الثاني المذكور وفقا للمثال الثاني المحدد المذكور. فيما يتعلق بهذا الاختراع المصطلح نطاق طول موجي لمصدر ضوء يمكن أن يكون إما عبارة عن Yo أو نطاق طول موجي أول» يتراوح بين tHeNe— طول موجي فردي؛ يبلغ 177,4 نانومتر من ليزر oviay
+ 0-٠ _نانومتر من دايود تبعث الضوء أزرق من 7لة1:0؛ أو نطاق طول موجي أوسع؛ يتراوح بين حوالي +45 - 150 نانومتر من دايود Gay الضوء ضوء أبيض حيث مضخات مصدر زرقاء من GaN أو YAG:Ce InGaN فوسفور ¢phosphor أو حتى نطاق طول موجي أوسع؛ يتراوح بين حوالي 550 - ١٠5060 نانومتر من مصباح تنجيتسن -هالوجين Tungsten-
Halogen lamp | © عند 7٠٠١ كلفن.
فيما يتعلق بهذا الاختراع لمصدر ضوء أول مهياً لبعث طيف إجمالي يتراوح على سبيل المثال من ١00 - 6 نانومتر؛ يتناظر نطاق الطول الموجي الأول لمصدر الضوء الأول مع جزء من إجمالي هذا الطيف الذي تم استقباله بواسطة الكاشف الأول على سبيل المثال 5030 = Tov نانومتر. بالتناظرء لمصدر ضوء ثاني مهياً لبعث طيف إجمالي يتراوح على سبيل المثال من 500 ١560-٠ تانومترء يتناظر نطاق الطول الموجي الثاني لمصدر الضوء الثاني مع جزء من إجمالي هذا الطيف الذي تم استقباله بواسطة الكاشف الثاني على سبيل المثال ١5080 - ١١٠١ تانومتر. فيما يتعلق بهذا الاختراع؛ التعبير بأن أي طول موجي (M) في نطاق طول موجي أول يكون مختلف عن أي طول موجي (M2) في نطاق طول موجي ثاني يعني إما أن الطول asd) بأكمله في نطاق الطول الموجي الأول المذكور يكون أقصر من أي طول ase (12) في نطاق طول VO موجي ثاني أو أن الطول الموجي بأكمله في نطاق الطول الموجي الأول المذكور يكون أطول من
أي طول موجي (22) في نطاق طول ase ثاني. فيما يتعلق بهذا الاختراع تتم إضاءة تيار مادة بواسطة على الأقل مصدر ضوء أول ومصدر ضوء ثاني. يحتوي تيار المادة على اتجاه حركة صافي؛ ويتم قياس عرض التيار في اتجاه متعامد على اتجاه الحركة الصافي المذكور. يمكن أن تضيء كل من مصادر الضوء الأولى والثانية هذه ٠ العرض الكامل للتيار؛ أو يمكن أن تضيء جزء منها. من أجل الحصول على درجة وضوح أعلى؛ يمكن استخدام جهازين جنبا إلى جنب؛ يحتوي كل منهما على مصدر ضوء أول ومصدر ضوء ثاني؛ يتم وضعهما بحيث تكون المنطقة المضاءة بواسطة الجهاز المناظر متراكبة cha بحيث تتم إضاءة العرض الكامل للتيار فقط عندما يتم استخدام كل من الأجهزة. يتم وضع مصادر الضوء جميعها لإضاءة نفس الجانب؛ أو نفس الوجه؛ للتيار. وفقا لمثال آخر يتم وضع ثلاثة أو Yo أكثر من الأجهزة جنبا إلى جنب؛ بحيث تتم إضاءة التيار بأكمله بواسطة مصادر ضوء متراكبة من الأجهزة المختلفة. وفقا لمثال آخرء يتم فحص جزء فقط من التيار؛ على سبيل المثال حيث يكون
oviay
—y- أخذ العينة كافي. في هذه الحالة يمكن استخدام جهاز واحد حيث تضيء مصادر الضوء فقط جزء 7و 80 7 من عرض التيار. 7٠١ يتراوح بين JE على سبيل بعبارة أخرى؛ في جميع الحالات يوجد تيار مادة يشتمل على أجسام يتم فحصها وتتم إضاءة هذا عبر التيار. OAV التيار الذي تم فحصه من جانب إلى جانب؛ أي من جانب واحد من التيار إلى تيار المادة أو جزء منه؛ وتتم إضاءة بالتالي ea) الذي تم فحصه مع all يمكن أن يتناظر © إجمالي التيار أو جزء منه من جانب إلى جانب بواسطة الجهاز المذكور. تيار المادة هذا الذي يضيء من جانب إلى جانب يتضمن تيار المادة الذي تتم إضاءته على نحو مستعرض لاتجاه تيار تغذيته. علاوة على ذلك؛ يمكن وضع مصادر الضوء بحيث تكون المنطقة المضاءة بواسطة مصادر الضوء متعامدة على اتجاه الحركة الصافي لتيار المادة (تسمى إضاءة وضعها بحيث تكون المنطقة المضاءة بواسطة Sa أو ٠» (orthogonal illumination متعامدة ٠ مصادر الضوء مزاحة بنحو +/- 080 من الإضاءة المتعامدة. يمكن أن تكون الإضاءة من مصدر ضوء متزامنة أو كاسحة؛ يمكن إضاءة أي جزءٍ من التيار ("inspected stream الذي تم فحصه بواسطة جهاز مناظر (يسمى أدناه "التيار الذي تم فحصة بالتزامن من جانب إلى جانب عبر التيارء أي تتم إضاءة العرض الكامل للتيار الذي تم فحصه على الفور؛ أو يمكن إضاءته باكتساح من جانب إلى جانب عبر التيارء أي يتم تحريك الجزء Ne من جانب (illuminated area المضاء من التيار الذي تم فحصه (تسمى أيضا المنطقة المضاءة مثل «redirecting element واحد للتيار الذي تم فحصه إلى الآخر بواسطة عنصر إعادة توجيه أو ما شابه. يمكن أن تتمتع المنطقة المضاءة بأي شكل؛ مثل (بدون moving mirror متحركة ye مستطيل؛ مربع أو توليفة منها. بعبارة أخرى؛ عندما تتم إضاءة chad ily حصر) نقطة؛ بقعة؛ التيار الذي تم فحصه باكتساح من جانب إلى جانب؛ تتم جزء إضاءة فقط من عرض التيار عند - ٠ كل حالة في الوقت المناسب؛ وعندما تتم إضاءة التيار الذي تم فحصه بالتزامن من جانب إلى جانب؛ تتم إضاءة العرض الكامل للتيار الذي تم فحصه في حالة واحدة على الأقل في الوقت المناسب. وفقا لمثال واحدء يتم تقديم نظام يشتمل على جهاز أول وجهاز ثاني؛ يتم وضع كل منهما على أول من التيار edn النحو الموصوف أعلاه؛ حيث تتم تهيئة الجهاز الأول المذكور لفحص Yo من التيار المذكور؛ تكون الأجزاء SB eda المذكور؛ وتتم تهيئة الجهاز الثاني المذكور لفحص لاحلاه
A= الأولى والثانية المذكورة متراكبة جزئيا فقط. يمكن وضع الجهاز الأول والثاني المذكورين جنبا إلى موضوع لاستقبال الشعاع J وفقا لمثال واحد؛ الجهاز المذكور يشتمل على عنصر إعادة توجيه الضوئي الثاني المذكور من مصدر الضوء الثاني المذكور وتتم تهيئته لإعادة توجيه الشعاع الضوئي الثاني المذكور من أجل إضاءة باكتساح تيار المادة المذكور من جانب إلى جانب. 0 التوجيه المذكور sale) الثاني وعنصر scanning element المسح ale «SX وفقا لمثال واحد أول يكونان واحد ويكون هو نفسه. وفقا لمثال واحد كذلك؛ يشتمل الجهاز المذكور كذلك على عنصر مسح ثاني موضوع بين تيار المذكور والكاشف الأول المذكور؛ تتم تهيئة عنصر المسح الثاني المذكور لإعادة توجيه sald) منطقة الكشف الأولى المذكورة من جانب إلى جانب عبر تيار المادة المذكور. ٠ يشتمل الجهاز المذكور كذلك على عنصر إعادة توجيه ثاني؛ الموضوع بين (SUX وفقا لمثال واحد المذكور؛ وتتم تهيئته لاستقبال الشعاع الضوئي الأول sald) مصدر الضوء الأول المذكور وتيار المذكور من مصدر الضوء الأول المذكور ولإعادة توجيه الشعاع الضوئي الأول المذكور من أجل إضاءة باكتساح التيار المذكور من جانب إلى جانب. أو طول ccutting wavelength فيما يتعلق بهذا الاختراع يتم استخدام المصطلح طول موجي قاطع Vo الذي يقسم العنصرء لوصف عند أي طول موجي beam splitting element موجي قاطع للشعاع طول موجي أطول. بعبارة أخرى؛ الشعاع Blais يتم إجراء التقسيم في نطاق طول موجي أقصر الذي يقسم العنصر سوف يقسم الضوء المنعكس من تيار المادة المذكور إلى جزئين. جزء واحد يشتمل على أطوال موجية أقل من الطول الموجي القاطع؛ وجزء آخر يشتمل على أطوال موجية أطول من ومساوية للطول الموجي القاطع. يتم توجيه واحد من هذه الأجزاء بعد ذلك إلى الكاشف ٠ الأول ويتم توجيه الآخر إلى الكاشف الثاني. بعبارة أخرى؛ يمكن وضع عنصر المسح الأول المذكورء بين الشعاع المذكور الذي يقسم العنصر والكاشف الثاني المذكورء في أي من جزء الضوء المنعكس من تيار المادة المذكور. أي يمكن وضعه في الجزء الذي يشتمل على أطوال موجية أقصر من الطول الموجي القاطع أو في الجزء الذي يشتمل على أطوال موجية أطول من القاطع. بالتالي؛ من الأشعة الضوئية الأولى والثانية Yo المنعكسة المذكورة؛ يستقبل عنصر المسح الأول فقط الشعاع الضوئي الثاني المنعكس المذكور. oviy
عملياء في الجزء المذكور الذي يشتمل على طول موجي الذي يكون أقصر من الطول الموجي القاطع؛» عادة يوجد أيضا طول موجي يكون أطول من الطول الموجي القاطع المذكور؛ وفي الجزء المذكور الذي يشتمل على طول موجي يكون أطول من الطول الموجي القاطع عادة توجد أيضا أطوال موجية تكون أقصر من الطول الموجي القاطع المذكور؛ نتيجة على سبيل المثال لخصائص © الشعاع الذي يقسم العنصر. مع ذلك؛ عند البحث في محتوى طاقة hall المذكور الذي يشتمل على طول موجي يكون أقصر من الطول الموجي القاطع؛ يتم تشكيل جزء رئيسي من محتوى الطاقة بواسطة أطوال موجية تكون أقصر من الطول الموجي القاطع؛ ويتم تشكيل جزء ثانوي من محتوى BU بواسطة أطوال موجية تكون أطول من الطول الموجي القاطع. يتم حساب محتوى الطاقة باستخدام الصيغة E = .16/1 ؛ Vo حيث E تمثل طاقة فوتون h energy of photon تمثل cy Planck <ul تمثل doy الضوء. وفقا لمثال واحد يتم تشكيل أكثر من AY أكثر من TA أكثر من 95 eZ من محتوى الطاقة بواسطة أطوال موجية تكون أقصر من الطول الموجي القاطع. علاوة على ذلك؛ عند البحث في محتوى طاقة الجزء المذكور الذي يشتمل على طول موجي يكون أطول من الطول الموجي القاطع؛ يتم تشكيل جزء رئيسي من محتوى BU بواسطة أطوال موجية ١ تكون أطول من الطول الموجي القاطع؛ ويتم تشكيل جزء ثانوي من محتوى الطاقة بواسطة أطوال موجية تكون أقصر من الطول الموجي القاطع. وفقا لمثال واحد يتم تشكيل أكثر من SA أكثر من 90 #؛ أو أكثر من 95 of من محتوى الطاقة بواسطة أطوال موجية تكون أطول من الطول الموجي القاطع. وفقا لمثال cay تتم تهيئة الشعاع المذكور الذي يقسم العنصر لتوجيه الشعاع الضوئي الثاني المنعكس المذكور نحو الكاشف الثاني المذكور بامتداد محور ضوئي Sb ٠ ولتوجيه الشعاع الضوئي الأول المنعكس المذكور نحو الكاشف الأول المذكور بامتداد محور ضوئي تالث؛ وحيث تتراوح الزاوية بين المحور الضوئي الثاني المذكور والمحور الضوئي الثالث المذكور بين ١6١ oY ©؛ أو بين ١7١ eT ”؛ أو بين "8٠0 إلى CV ee يمكن تهيئة مصدر الضوء الأول لبعث طيف oJ على سبيل المثال 177,8 نانومتر أو 486 - 1٠ نانومتر؛ ويمكن تهيئة مصدر الضوء الثاني لبعث طيف ثاني؛ على سبيل المثال 9656 - ١500 YO نانومتر؛ حيث تكون الأطياف متراكبة جزئيا. عندما تكون الأطياف متراكبة جزئيا يمكن أن يكون من المفيد وضع عنصر ترشيح element ع(« بين واحد من plas الضوء والمادة oviay
-١.- المذكورة المطلوب فرزها؛ حيث تتم تهيئة عنصر ترشيح لإرسال أو إعادة توجيه أطوال موجية فقط ضمن نطاق الطول الموجي لمصدر الضوء هذا. بعبارة أخرى؛ عندما يتم وضع عنصر ترشيح بين مصدر الضوء الأول والمادة المطلوب فرزهاء يرسل أو يعيد توجيه بصورة مفضلة أطوال موجية إضافية؛ عند وضع Haar ضمن نطاق الطول الموجي الأول المذكور. على نحو بديل؛ أو عنصر الترشيح بين مصدر الضوء الثاني المذكور وتيار المادة المذكور؛ تتم تهيئته لتقييد طول © ضمن نطاق الطول الموجي الأول المذكور. على نحو بديل؛ أو بصورة إضافية عندما يتم ase وضع عنصر ترشيح بين مصدر الضوء الأول المذكور وتيار المادة المذكور؛ تتم تهيئته لتقييد طول موجي ضمن نطاق الطول الموجي الثاني المذكور. charge يشتمل الكاشف الأول المذكور على جهاز قابل للشحن مزدوج cals Jia la, ؛ وبصورة إضافية أو على نحو بديل يكون الكاشف الأول المذكور (CCD)coupled device ٠ يمكن توفير مرشحات .area detector أو كاشف مساحة Tine detector عبارة عن كاشف خطي أمام الكاشف الأول المذكور. إذا تم cad ثابتة أو قابلة للضبط؛ لترشيح نطاق طول موجي مرغوب مختلفة age يمكن ترشيح نطاقات طول adjustable filters استخدام المرشحات القابلة للضبط بشكل متتابع. بصورة إضافية أو على نحو بديل؛ يمكن توفير المرشحات المختلفة أمام أجزاء مختلفة من الكاشف؛ بحيث تستقبل مساحات مختلفة من الكاشف أطوال موجية مختلفة. ١ يشتمل الكاشف الثاني المذكور على جهاز قابل للشحن مزدوج ؛ بصورة إضافية coals وفقا لمثال أو على نحو بديل يكون الكاشف الثاني المذكور عبارة عن كاشف خطي أو كاشف مساحة. بصورة
Cub إضافية أو على نحو بديل؛ يمكن أن يكون الكاشف الثاني المذكور عبارة عن مقياس يمكن توفير .hyperspectral system نظام نطاقي متشعب sensor أو مستشعر spectrometer مرغوب فيه؛ أمام الكاشف الثاني ase للضبط؛ لترشيح نطاق طول ALE أو ALE مرشحات Ye المذكور. إذا تم استخدام المرشحات القابلة للضبط؛ يمكن ترشيح نطاقات طول موجي مختلفة بشكل متتابع. بصورة إضافية أو على نحو بديل؛ يمكن توفير المرشحات المختلفة أمام أجزاء مختلفة من الكاشف؛ بحيث تكون مساحات مختلفة من الكاشف حساسة لأطوال موجية مختلفة. فيما يتعلق بهذا الاختراع يشير المصطلح منطقة الكشف الأولى إلى جزء من تيار المادة الذي تتم واحدة في الوقت المناسب؛ ويشير المصطلح منطقة Alla رؤيته بواسطة الكاشف الأول المذكور في YO من تيار المادة الذي تتم رؤيته بالتزامن بواسطة الكاشف الثاني المذكور في eda الكشف الثانية إلى oviay
-١١- حالة واحدة في الوقت المناسب. يمكن أن تغطي منطقة كشف العرض الكامل للتيار الذي تم فحصه؛ أو يمكن أن تغطي جزء فقط منه. عندما تغطي منطقة الكشف المذكورة جزء فقط من التيار الذي تم فحصه؛ يتم تحريك منطقة الكشف أو كسحها من جانب إلى جانب للتيار الذي تم المتحركة على shall مرآة متحركة أو ما شابه. تكون Jie فحصه بواسطة عنصر إعادة توجيه؛ tilting mirror أو مرآة مائلة polygon mirror سبيل المثال عبارة عن مرآة مضلعة © وفقا لمثال واحد؛ تضيء كل من مصادر الضوء الأولى والثانية المذكورة بالتزامن التيار الذي تم فحصه من جانب إلى جانب عبر التيارء أو العرض الكامل للتيار الذي تم فحصه؛ تغطي منطقة الكشف الأولى بالتزامن التيار الذي تم فحصه من جانب إلى جانب؛ بينما تغطي منطقة الكشف الثانية فقط جزء من العرض الكامل للتيار الذي تم فحصه وبالتالي تغطي باكتساح التيار الذي تم فحصه من جانب إلى جانب. ٠ يضيء مصدر الضوء الأول المذكور بالتزامن التيار الذي تم فحصه من جانب AT وفقا لمثال إلى جانب؛ يضيء مصدر الضوء الثاني باكتساح التيار الذي تم فحصه من جانب إلى جانب؛ تغطي منطقة الكشف الأولى بالتزامن التيار الذي تم فحصه من جانب إلى جانب؛ بينما تغطي منطقة الكشف الثانية جزء صغير فقط من التيار الذي تم فحصه وتغطي باكتساح التيار الذي تم توجيه مختلفين» أحدهما sale) فحصه من جانب إلى جانب. هناء يمكن استخدام أي من عنصري ١ «ay على نحو detection area يعيد توجيه المنطقة المضاءة وواحد يعيد توجيه منطقة الكشف يتم استخدام نفس عنصر إعادة التوجيه لإعادة توجيه كل من المنطقة المضاءة ومنطقة الكشف. وفقا لمثال واحد الإضاءة من مصدر ضوء مضاء تكون واحدة وتكون هي نفسها مع مرور الوقت؛ والتي تتضمن تغيرات طبيعية نتيجة للتقادم؛ التغيرات في الإمداد بالقدرة إلخ. وفقا لمثال آخر تتنوع على سبيل المثال مكن أن (Base الإضاءة من مصدر ضوء مع مرور الوقت وفقا لنموذج محدد Yo يوجد تغيير في توزيع اللون أو الكثافة. على سبيل المثال يمكن إعادة تدوير ثلاثة ألوان. يمكن تحقيق التغير في اللون بواسطة استخدام مصادر ضوء مختلفة؛ أو بواسطة استخدام مرشح دوار أمام مصدر ضوء له طيف واسع. rotating filter علاوة على ذلك؛ يمكن أن تكون مصادر الضوء المذكورة ذات نبضات أو متصلة. free fall بدون حصر كونه في مسار سقوط طليق ie _يمكن نقل تيار المادة بواسطة أية وسيلة؛ Yo .conveyor belt أو على سير ناقل chute كونه منقول في مجرى ¢path oviy yy وفقا لمثال واحد؛ يتم تقديم نظام يشتمل على جهاز موضوع على النحو الموصوف أعلاه؛ ووسيلة (JB تتضمن وسيلة النقل المذكورة بصورة مفضلة واحد على الأقل من سير sald) نقل لنقل تيار مجرى ومسار سقوط طليق. وفقا لمثال واحدء يتم تقديم نظام يشتمل على جهاز أول وجهاز ثاني؛ يتم وضع كل منهما على النحو الموصوف أعلاه؛ حيث تتم تهيئة الجهاز الأول المذكور لفحص وجه أول من التيار 5 المذكور؛ تكون الأوجه lal من (SB المذكور؛ وتتم تهيئة الجهاز الثاني المذكور لفحص وجه الأولى والثانية أوجه مقابلة للتيار المذكور. بعبارة أخرى؛ يتم وضع تيار المادة للمرور بين الأجهزة الأولى والثانية المذكورة؛ على سبيل المثال في سقوط طليق أو على سير ناقل. يمكن وضع مع ذلك من جانبين متقابلين. يمكن فصل هذه lal الأجهزة لفحص إلى حد كبير نفس الجزء من الأجزاء من بعضها البعض؛ يمكن أن تكون متراكبة أو متطابقة. بعبارة أخرى؛ يمكن أن تكون ٠ المنطقة التي تم فحصها بواسطة الجهاز الأول والثاني المذكورين مجاورة لبعضها البعض. يقيس الخواص المختلفة cinspecting apparatus يمكن أن يكون الجهاز عبارة عن جهاز فحص والذي sorting apparatus عبارة عن جهاز فرز Lad يمكن أن يكون ll) للأجسام التي تمر في بناء على الخواص المقاسة؛ باتخاذ قرار بشأن ما إذا تم الحفاظ على جسم محدد في تيار cas المادة أو فرزه. Vo sill وفقا لمثال واحد؛ يتم تقديم نظام يشتمل على واحد أو أكثر من الأجهزة الموضوعة على الموصوف أعلاه. بالإضافة إلى ذلك؛ يشتمل تيار المادة المطلوب فحصه على أجسام؛ ويشتمل النظام المذكور كذلك على وسيلة معالجة مهيأة لاستقبال بيانات الكشف من الكاشف الأول المذكور والكاشف الثاني المذكورء ولتحويل بيانات الكشف المذكورة إلى بيانات الفرز؛ ووسيلة إزالة تتم تهيئتها لاستقبال بيانات الفرز من وسيلة المعالجة المذكورة ولإزالة الأجسام من تيار المادة Ye المذكور بناء على بيانات الفرز المذكورة. يمكن توجيه الأجسام التي تتم إزالتها إلى بقعة مشتركة؛ أو إذا كانت هناك رغبة في ذلك إلى عدة بقع مختلفة بناء على بيانات الكشف. أمثلة على وسيلة .ejectors أو وسيلة لفرز الأجسام « تكون الفوهات ووسائل الطرد removing means إزالة تفاصيل بشأن كيف يمكن معالجة بيانات الكشف لتحديد إذا كان يجب إزالة أحد الأجسام أو لا كيف يمكن معالجة بيانات الكشف لينتج عنها بيانات الفرز إلى جانب كيفي تشكيل وسيلة الإزالة YO والتحكم فيها تكون معروفة جيدا في المجال وبناء عليه لا يتم وصفها بشكل إضافي في هذا oviay
Claims (2)
- اللا عناصر الحمابة ١ جهاز )٠٠١( لفحص تيار مادة (١٠)؛ الجهاز يشتمل على: - مصدر ضوء أول )٠١٠١( تتم تهيئته لبعث شعاع ضوئي Tight beam أول daisy )١١١( على أطوال موجية ضمن نطاق طول موجي أول (ra) لإضاءة تيار المادة المذكور من جانب إلى جانب و؛ © - كاشف detector أول )١"١( موضوع لاستقبال الشعاع الضوئي light beam الأول المذكور detection area عند منطقة كشف )٠١( بعد أن يتم انعكاسه مقابل تيار المادة المذكور (YW) (VY) أولى يشتمل على )١١"( ثاني fight beam مهيا لبعث شعاع ضوئي )٠١١( مصدر ضوء ثاني - أطوال موجية ضمن نطاق طول موجي ثاني( «7.2-.72)؛ لإضاءة تيار المادة المذكور عند منطقة٠ مضاءة (VY) illuminated area حيث يكون أي طول موجي (A) في نطاق الطول الموجي الأول المذكور مختلف عن أي طول موجي ((72.20)) في نطاق الطول الموجي الثاني المذكور - كاشف detector ثاني (7؟١) يتم وضعه لاستقبال الشعاع الضوئي Tight beam الثاني المذكور )١١١( بعد أن يتم انعكاسه مقابل تيار المادة المذكور )٠١( عند منطقة كشف detection area ثانية (YY)(Ve) يتم وضعه بين تيار المادة المذكور )١5١( Js scanning element مسح pale - NO detection وتتم تهيئته لإعادة توجيه منطقة الكشف )١7( الثاني المذكور detector والكاشف من جانب إلى جانب عبر تيار المادة المذكورء (TY) المذكورة AE area يشتمل كذلك على light موضوع لاستقبال الشعاع الضوئي )٠0١( beam splitting element شعاع يقسم العنصر -beam ٠٠ الأول المذكور (١١١)؛ بعد أن يتم انعكاس الشعاع Tight beam pall الأول المذكور مقابل المادة المذكورة بامتداد محور ضوئي optical axis أول «(VY)) وموضوع لاستقبال الشعاع الضوئي Tight beam الثاني المذكور ("١١)؛ بعد أن يتم انعكاس الشعاع الضوئي light beam الثاني المذكور مقابل المادة المذكورة أيضا بامتداد المحور الضوئي optical axis الأول المذكور ARR ) لYO حيث تتم تهيئة الشعاع المذكور الذي يقسم العتصر (V€+) beam splitting clement لتوجيه الشعاع الضوثي light beam الأول المنعكس المذكور )١١١( نحو الكاشف detector الأول المذكور (FY) ولتوجيه الشعاع الضوئي light beam الثاني المنعكس المذكور (VY) نحو الكاشف detector الثاني المذكور (VT) بواسطة sale) توجيه aly من الشعاع الضوئي light beam الأول المنعكس المذكور والشعاع الضوئي Tight beam الثاني المنعكس المذكور بامتدادovayمحور ضوئي (VYY) JG optical axis المحور الضوئي optical axis الأول المذكور غير المتوازي )١"١( و حيث يتم وضع pale المسح (V0) (SEN scanning element بين الشعاع المذكور الذي يقسم العنصر (VE) والكاشف SBI detector المذكور )١١7( لاستقبال الشعاع الضوئي light beam 0 الثاني المنعكس المذكور فقط من الأشعة الضوئية light beams الأولى والثانية المنعكسة المذكورة.". جهاز وفقا لعنصر الحماية dua ١1 تتم ug مصدر الضوء الثاني المذكور ) ٠١ ( لإضا 5s تيار المادة المذكور )٠١( بالتزامن من جانب إلى جانب. redirecting element توجيه sale) ؟. جهاز وفقا لعنصر الحماية ) يشتمل كذلك على عنصر ٠ من مصدر الضوء )١١"( الثاني المذكور fight beam أول موضوع لاستقبال الشعاع الضوئي الثاني المذكور من Tight beam توجيه الشعاع الضوئي Sale وتتم تهيئته )٠٠١١( الثاني المذكور أجل إضاءة باكتساح التيار المذكور من جانب إلى جانب. VO 4. جهاز وفقا لعنصر الحماية oF حيث Sale) pate التوجيه redirecting element المذكور وعنصر المسح JY) scanning element المذكور يكون واحد ويكون هو نفسه.5. جهاز By لأي من عناصر الحماية dil يشتمل كذلك على عنصر مسح scanning element ثاني موضوع بين تيار المادة المذكور ) ٠١ ( والكاشف detector الأول المذكور ) ١١ ل Yo تتم تهيئة عنصر المسح scanning element الثاني المذكور لإعادة توجيه منطقة الكشف detection area الأولى المذكورة (V1) من جانب إلى جانب عبر تيار المادة المذكور.7. جهاز وفقا لعنصر الحماية 0 يشتمل SIX على عنصر redirecting element 43a gi sale) ثاني مهيا لاستقبال الشعاع الضوئي light beam الأول المذكور )١١١( من مصدر الضوء الأول Yo المذكور )٠١٠١( ولإعادة ang الشعاع الضوئي Tight beam الأول المذكور من أجل إضاءة باكتساح التيار المذكور من جانب إلى جانب. (V+) جهاز وفقا لأحد عناصر الحماية ١-0؛ حيث تتم تهيئة مصدر الضوء الأول المذكور LV لإضاءة تيار المادة المذكور )٠١( بالتزامن من جانب إلى جانب. 79١ جهاز وفقا لأي من عناصر الحماية السابقة؛ حيث تتم تهيئة الشعاع المذكور الذي يقسم LA الثاني المنعكس Tight beam لتوجيه الشعاع الضوئي )٠١( beam splitting clement العنصر ovayالضوئي light beam الأول المنعكس المذكور )١١١( نحو الكاشف detector الأول المذكور ١ 7 ١ ) ( بامتداد محور ضوئي optical axis ثالث ¢ وحيث تتراوح الزاوية بين المحور الضوئي optical axis الثاني المذكور (VYY) والمحور الضوثي optical axis الثالث المذكور (YY) بين °Y » 5 إلى أ أو بين Te إلى 0٠ أو بين ٠ 8" إلى RAN4. جهاز وفقا لأي من عناصر الحماية ALL حيث يكون عتصر المسح scanning element الثاني Ble عن واحد من She مضلعة ومرآة مائلة..٠١ ٠ جهاز Ey لأي من عناصر الحماية dll) حيث يتم اختيار مصدر الضوء الأول المذكور من مجموعة تشتمل على أجهزة ليزر chasers أجهزة ليزر متصلة علوية lasers متتسمتادمع عوسي مصابيح هالوجين chalogen lamps دايودات تبعث الضوء light emitting diodes أنابيب فلورية fluorescent tubes وتوليفات من ذلك. ١١ 5 . جهاز وفقا لأي من عناصر الحماية السابقة؛ حيث يتم اختيار مصدر الضوء الثاني المذكور من مجموعة تشتمل على مصابيح هالوجين chalogen lamps دايودات تبعث الضوء light lasers jl Seal emitting diodes وأجهزة ليزر متصلة علوية supercontinuum lasers وتوليفات من ذلك.YY. جهاز وفقا لأي من عناصر الحماية dill) حيث تتم تهيئة مصدر الضوء الأول لبعث طيف أول وتتم تهيئة مصدر الضوء الثاني المذكور لبعث طيف ثاني؛ حيث تكون الأطياف الأولى والثانية المذكورة متراكبة جزئيا. NY جهاز وفقا لعنصر الحماية OY حيث يشتمل الجهاز المذكور كذلك على عنصر ترشيح (VE) filtering element YO موضوع بين مصدر الضوء الثاني المذكور (YoY) والمادة المذكورة المطلوب فرزها of Vv) حيث تتم تهيئة عنصر ترشيح filtering element لتقييد طول موجي ضمن نطاق الطول الموجي الأول المذكور( 7.1 (Mra NE جهاز وفقا لأي من عناصر الحماية All) حيث تكون وسيلة تقسيم الشعاع المذكورة عبارة © عن مرأة ثنائية اللون. ovayاج \ _ Vo جهاز وفقا لأي من عناصر الحماية AGL حيث يكون الكاشف detector الأول المذكور عبارة عن واحد من كاشف خطي Tine detector وكاشف مساحة .area detector 1 جهاز وفقا لأي من عناصر الحماية السابقة. حيث يعكس نطاق الطول الموجي الأول (Ma= Ag) © الشعاع المذكور الذي يقسم العنصر beam splitting clement (١0٠٠)؛ وتم بث الطول الموجي الثاني (7,2-و70) عبر الشعاع المذكور الذي يقسم العتصر beam splitting clement.)٠( VY جهاز وفقا لأي من عناصر الحماية السابقة؛ حيث تكون أطوال الموجة في نطاق الطول ٠ الموجي الأول أقصر من طول الموجة في نطاق طول الموجة الثانية المذكورة (Mab > Aap) VA نظام يشتمل على جهاز أول وجهاز ثاني؛ كل Wy لعنصر الحماية ٠ حيث تتم تهيئة الجهاز الأول المذكور لفحص جزء أول من التيار OA وتتم تهيئة الجهاز الثاني المذكور لفحص جزء ثاني من التيار Quad تكون الأجزاء الأولى والثانية المذكورة متراكبة جزئيا فقط. Vo V9 نظام يشتمل على جهاز وفقا لأي من عناصر الحماية السابقة ووسيلة نقل لنقل تيار المادة؛ تتضمن وسيلة النقل transportation means المذكورة بصورة مفضلة aly على الأقل من سير ناقل conveyor belt مجرى ومسار سقوط طليق free fall path YL 70. نظام يشتمل على جهاز أول وجهاز ثاني؛ كل وفقا لعنصر الحماية ٠ حيث تتم تهيئة الجهاز الأول المذكور لفحص وجه أول من التيار Quad وتتم تهيئة الجهاز الثاني المذكور لفحص وجه (SB من التيار المذكور؛ تكون الأوجه الأولى والثانية أوجه مقابلة للتيار المذكور. LY) نظام وفقا لعنصر الحماية + oY حيث المنطقة التي تم فحصها بواسطة الجهاز الأول Sls YO المذكورين تكون مجاورة لبعضها البعض. YY نظام يشتمل على جهاز وفقا لعنصر الحماية ١ حيث يشتمل تيار المادة المذكور على أجسام (١٠)؛ ويشتمل النظام المذكور كذلك على - وسيلة معالجة sles )4٠( processing means لاستقبال بيانات الكشف من الكاشف detector © الأول المذكور والكاشف detector الثاني المذكور )١7 FY) ولتحويل بيانات الكشف المذكورة إلى بيانات الفرز؛ و ل_ أ \ _ - وسيلة إزالة EY « ) removing means ( مهيأة لاستقبال بيانات الفرز من وسيلة المعالجة processing means المذكورة ولإزالة الأجسام من تيار المادة المذكور بناء على بيانات الفرز المذكورة. oviayI. ال k | LY 185 i 0 § 1 Ne iN J أ 8 ل اتات لأ ساسا و ا ا ا ا م الما : ب Vg i k د يسم ْ Lom | EEE Na AN 4 3 شكل ٠١ و oviy—YA— ie 0 Yona AR م مس ب ام ¥ EN ب ides t AY EE 8 6 0 i A iy . AR a RP gr ve 5, petit | ستل الم 2 سراق IL الم 1 H 0 3 ¥ ki امسا ل ّ احم ! ba برا هيه ا 2 ذا الل السب اب عي FY = Se WL BAR ASA PENCIL. Note الحا اد ال 4 لس لس الا 0 Pa اص REY gy 41 NT Le R ١ ¢ VN 1 § fi ; Ne + ا . EY ودبي المي لز SN اناا ا لد سيور 2 دي اال 5 ب جح خا 7, تي مخ لقا ال لبخ AORN CSE َم CREE ا oo اخ م لان _ الس SEE SE hp امد 4 9 3 2 ox PLL & "١١م Ji oe SS امسا — ea yg Te ال ® LI Te + شكل YO oviy١ ١ A} * PO 2 م : تمر << 0 i A] Ll) ¥ 8 i Fa 1 م EN i TTT H HER لا 4 Re iy § ¥ Lv dy ! لت SA A IR RTPI ny ot ا t 2 § * lees, 6 م و ا السب 1 | 1 1 ry RE SEE AY 0 ْ صم ا - ! i % pa oud A * الست ات لي ال ل متي أ . PARA NS ert AT ny. ©) fe ٠ م ال ل 7 0 14 row reve FES SN LPS EEN > 8 ل oC ات ال : Cat AY Te ay Let الح اقااضة Vrs 1 Sor ey : ب Ld” وسو“ a "715 بخ i faa SA | ts اص رخ : A <8 ب ف Le Voth PAE A 0 مضل NRE ا ١ ١ م الا 2 * i hi JEN Li A ب و ١١ شكل "ب سين حا ضير 2و ١ i (= اليب 2 ب Nn * ا Li . hy ب Te SE م ET Sa ee Ra aN k; Te es pS.AR 4 3 INES «© iY شكل oviy_ Ad «= Ji كابأ IAI RY i 0 \ + \¢ nt REE } ل \ 5 مسد سس آم : pry HIV =] الم Yr Nf \/ v * 3 A ¥ شكل { ١ R AA ¥ \ ١ AR aA Sy 3 or’ Dh | i Nf ISA & oF ١ 3 TRE \ ب ب EN , Wal Me, A 719. ل co aD 1: : 0 : id TTT a - Lot ya 3 خا مر 2 L . : P 2 0 فب AA لد هارا 1 0 3 بح بهV- J i
- 2 . STNG SN Pl rm ey ام > م ! \N Py H # fl : 7 \ الس ا / 4 لبا 9 7 01 * / حا اح ال “ON A 0 i م م i Ne NA fig EEE. ANN {4 7 با 3 Te Ng, NN, 3 { 7 7 a i لح ا ب Y { 0 الى الم H Ta Sh IN 7 5 7 6 0 لمر A Se i Fi Fh 5 pe > ست تالش لي امسن vo ال ا احص 1 وب رم H TRE ny FS oo HH I nn م0 تحت تسسا ص را وأ .ب VE Youn Yo. ! 1! d o شكل «44 : : ا : CIE 00 NUR SON OUR 00. 5 WOES CU UN SE SYNRISI SS SU SOV SUN J CAVES ل مما 0 اللي ؟! 07 I IEE EE EE TE حال م حا ره ل 8 {i A ا اط و ا له 3 A JOS TOT EO iat 06 (oh Ota et SUE JR SES Sie SA SR tt St (CAUSE PENNS Nee fa PRIN FT FRO ATAR 0 1 i ce bt AOE AP NC Sh Wan RE HON NIE I EO LR م i = al SRE NONE = NEE ORNS SEE TE a eg id FIN SEI § i. ا SU NEON SNS INE Sh يو اتات oi 5 ُ nn ان ل ا لأا م ار مر ا ات Fh ALE ١م إ: لنت اخرلا وخا & SUS JUNIE 3 PUN LUNES 3 بلاق بكب I d أ" JL £3 بح به٠ EE SB EE SN A Een مس SINR UENO OO تت %l ٠ G0 OF 8 A 2 ل EO UN OE وج أن و EUR JOUR VOUS SO NON SUN SUI USO: GO SO PEIN OVATE SERENE et «3 1.8 1.4 4 §t A ٠ شكل الفمدة سريان هذه البراءة عشرون سنة من تاريخ إيداع الطلب وذلك بشرط تسديد المقابل المالي السنوي للبراءة وعدم بطلانها أو سقوطها لمخالفتها لأي من أحكام نظام براءات الاختراع والتصميمات التخطيطية للدارات المتكاملة والأصناف النباتية والنماذج الصناعية أو لائحته التنفيذية صادرة عن مدينة الملك عبدالعزيز للعلوم والتقنية ؛ مكتب البراءات السعودي ص ب TAT الرياض 57؟؟١١ ¢ المملكة العربية السعودية بريد الكتروني: patents @kacst.edu.sa
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP13191395 | 2013-11-04 | ||
| PCT/EP2014/073578 WO2015063300A1 (en) | 2013-11-04 | 2014-11-03 | Inspection apparatus |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SA516371056B1 true SA516371056B1 (ar) | 2018-02-25 |
Family
ID=49546270
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SA516371056A SA516371056B1 (ar) | 2013-11-04 | 2016-05-04 | جهاز لفحص تيار مادة |
Country Status (16)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US9575005B2 (ar) |
| EP (1) | EP3066456B1 (ar) |
| JP (1) | JP6668249B2 (ar) |
| CN (1) | CN105874321B (ar) |
| AU (1) | AU2014343597B2 (ar) |
| BR (1) | BR112016009951B1 (ar) |
| CA (1) | CA2928878C (ar) |
| CL (1) | CL2016001058A1 (ar) |
| ES (1) | ES2811601T3 (ar) |
| MX (1) | MX360408B (ar) |
| PE (1) | PE20160964A1 (ar) |
| PL (1) | PL3066456T3 (ar) |
| RU (1) | RU2664793C2 (ar) |
| SA (1) | SA516371056B1 (ar) |
| UA (1) | UA121305C2 (ar) |
| WO (1) | WO2015063300A1 (ar) |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9266148B2 (en) | 2014-06-27 | 2016-02-23 | Key Technology, Inc. | Method and apparatus for sorting |
| US10363582B2 (en) | 2016-01-15 | 2019-07-30 | Key Technology, Inc. | Method and apparatus for sorting |
| US10195647B2 (en) | 2016-01-15 | 2019-02-05 | Key Technology, Inc | Method and apparatus for sorting |
| EP3196634A1 (en) | 2016-01-22 | 2017-07-26 | Buhler Sortex Ltd. | Inspection apparatus |
| FR3048369B1 (fr) * | 2016-03-01 | 2018-03-02 | Pellenc Selective Technologies | Machine et procede d'inspection d'objets defilant en flux |
| EP3263233A1 (en) * | 2016-06-28 | 2018-01-03 | Buhler Sortex Ltd. | Illumination devices |
| AT15723U1 (de) * | 2016-08-30 | 2018-04-15 | Binder Co Ag | Vorrichtung zum Detektieren von Objekten in einem Materialstrom |
| US10197504B2 (en) | 2016-10-10 | 2019-02-05 | Altria Client Services Llc | Method and system of detecting foreign materials within an agricultural product stream |
| FI3529593T3 (fi) * | 2016-10-24 | 2023-09-04 | Tomra Sorting Gmbh | Menetelmä ja järjestelmä timanttisignatuurin havaitsemiseksi |
| EP3315216A1 (en) | 2016-10-28 | 2018-05-02 | Metso Sweden Ab | Detection system |
| WO2018205026A1 (en) | 2017-05-11 | 2018-11-15 | 6511660 Canada Inc. | Systems and methods for spectral identification and optical sorting of materials |
| TWI662261B (zh) * | 2018-01-17 | 2019-06-11 | 國立交通大學 | 同軸異質整合高光譜系統 |
| CN108548786B (zh) * | 2018-03-08 | 2023-09-05 | 青岛农业大学 | 一种使用多面转镜光谱检测花生黄曲霉毒素的装置与方法 |
| DE102018210015B4 (de) * | 2018-06-20 | 2020-04-02 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung und Verfahren zur Sortierung von pulverförmigem, partikelförmigem, granulatförmigem oder stückförmigem Material |
| CN112740111A (zh) | 2018-09-21 | 2021-04-30 | Asml荷兰有限公司 | 辐射系统 |
| EP3887069A1 (fr) * | 2018-11-27 | 2021-10-06 | SUEZ Groupe | Procede de tri et de caracterisation de dechets, en particulier des emballages |
| NL2023271B1 (en) * | 2019-06-06 | 2020-12-22 | Aweta G&P B V | Apparatus and method for determining a property of products |
| JP7376380B2 (ja) * | 2020-02-13 | 2023-11-08 | 大王製紙株式会社 | 廃プラスチックの選別装置 |
| JP2022098183A (ja) * | 2020-12-21 | 2022-07-01 | 株式会社クボタ | 色彩選別機 |
| US20230138374A1 (en) * | 2021-11-01 | 2023-05-04 | Tianjin University Of Commerce | Sorting-based garbage classification method and device |
| JP2023167533A (ja) * | 2022-05-12 | 2023-11-24 | キヤノン株式会社 | 識別装置 |
Family Cites Families (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4723659A (en) * | 1985-06-28 | 1988-02-09 | Supernova Systems, Inc. | Apparatus for detecting impurities in translucent bodies |
| US5462176A (en) * | 1994-06-03 | 1995-10-31 | Brown & Williamson Tobacco Corporation | Latex detection system |
| JP3454575B2 (ja) * | 1994-07-14 | 2003-10-06 | オリンパス光学工業株式会社 | 走査型光学測定装置 |
| US6060677A (en) * | 1994-08-19 | 2000-05-09 | Tiedemanns-Jon H. Andresen Ans | Determination of characteristics of material |
| BE1011076A3 (nl) | 1997-03-28 | 1999-04-06 | Ruymen Marc | Werkwijze en inrichting voor het detecteren van onregelmatigheden in een produkt. |
| DE19717488C2 (de) * | 1997-04-25 | 2003-05-15 | Baumer Optronic Gmbh | Vorrichtung zur Inspektion der Oberfläche von Objekten |
| JPH11337504A (ja) * | 1998-05-26 | 1999-12-10 | Central Glass Co Ltd | ガラス板の欠陥識別検査方法および装置 |
| CA2367815C (en) * | 1999-03-19 | 2010-04-27 | Borre Bengt Ulrichsen | Inspection of matter |
| US6633338B1 (en) * | 1999-04-27 | 2003-10-14 | Gsi Lumonics, Inc. | Programmable illuminator for vision system |
| US6437168B1 (en) * | 2000-09-05 | 2002-08-20 | Nippon Shokubai Co., Ltd. | Method for production of aromatic fluorine compound |
| JP2003232624A (ja) * | 2002-02-12 | 2003-08-22 | Olympus Optical Co Ltd | 欠陥検査装置 |
| EP2062017A4 (en) * | 2006-08-28 | 2013-05-22 | Thermo Electron Scient Instr | SPECTROSCOPE WITH REDUCING FISHING FUNCTION |
| JP2008302314A (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-18 | Satake Corp | 光学式米粒選別機 |
| ES2456315T3 (es) * | 2007-09-03 | 2014-04-22 | Tomra Sorting Nv | Dispositivo de clasificación con una fuente de radiación supercontinua y un método asociado |
| JP2009168747A (ja) * | 2008-01-18 | 2009-07-30 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 食品検査方法及び食品検査装置 |
| DE202011003570U1 (de) * | 2010-03-06 | 2012-01-30 | Illumina, Inc. | Systeme und Vorrichtungen zum Detektieren optischer Signale aus einer Probe |
| US9128036B2 (en) * | 2011-03-21 | 2015-09-08 | Federal-Mogul Corporation | Multi-spectral imaging system and method of surface inspection therewith |
| NO336441B1 (no) * | 2012-01-24 | 2015-08-17 | Tomra Sorting As | Anordning, system og fremgangsmåte for optisk detektering av materie |
-
2014
- 2014-11-03 AU AU2014343597A patent/AU2014343597B2/en active Active
- 2014-11-03 JP JP2016551010A patent/JP6668249B2/ja active Active
- 2014-11-03 US US15/033,367 patent/US9575005B2/en active Active
- 2014-11-03 ES ES14792832T patent/ES2811601T3/es active Active
- 2014-11-03 CA CA2928878A patent/CA2928878C/en active Active
- 2014-11-03 MX MX2016005836A patent/MX360408B/es active IP Right Grant
- 2014-11-03 PE PE2016000594A patent/PE20160964A1/es unknown
- 2014-11-03 CN CN201480068050.1A patent/CN105874321B/zh active Active
- 2014-11-03 EP EP14792832.9A patent/EP3066456B1/en active Active
- 2014-11-03 PL PL14792832T patent/PL3066456T3/pl unknown
- 2014-11-03 WO PCT/EP2014/073578 patent/WO2015063300A1/en active Application Filing
- 2014-11-03 RU RU2016119494A patent/RU2664793C2/ru active
- 2014-11-03 UA UAA201604913A patent/UA121305C2/uk unknown
- 2014-11-03 BR BR112016009951-6A patent/BR112016009951B1/pt active IP Right Grant
-
2016
- 2016-05-03 CL CL2016001058A patent/CL2016001058A1/es unknown
- 2016-05-04 SA SA516371056A patent/SA516371056B1/ar unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| RU2664793C2 (ru) | 2018-08-22 |
| CA2928878A1 (en) | 2015-05-07 |
| EP3066456A1 (en) | 2016-09-14 |
| BR112016009951B1 (pt) | 2020-12-01 |
| JP2016540996A (ja) | 2016-12-28 |
| PE20160964A1 (es) | 2016-10-16 |
| AU2014343597A1 (en) | 2016-05-19 |
| US20160252461A1 (en) | 2016-09-01 |
| AU2014343597B2 (en) | 2019-09-12 |
| CA2928878C (en) | 2020-06-23 |
| CN105874321B (zh) | 2019-06-28 |
| RU2016119494A3 (ar) | 2018-05-15 |
| CN105874321A (zh) | 2016-08-17 |
| ES2811601T3 (es) | 2021-03-12 |
| US9575005B2 (en) | 2017-02-21 |
| CL2016001058A1 (es) | 2016-12-02 |
| JP6668249B2 (ja) | 2020-03-18 |
| WO2015063300A1 (en) | 2015-05-07 |
| MX360408B (es) | 2018-10-29 |
| MX2016005836A (es) | 2016-12-02 |
| EP3066456B1 (en) | 2020-06-03 |
| UA121305C2 (uk) | 2020-05-12 |
| PL3066456T3 (pl) | 2020-11-16 |
| RU2016119494A (ru) | 2017-12-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| SA516371056B1 (ar) | جهاز لفحص تيار مادة | |
| US7339660B1 (en) | Illumination device for product examination | |
| ES2952965T3 (es) | Método y aparato de clasificación | |
| US10427190B2 (en) | Sorting out mineral-containing objects or plastic objects | |
| US20110317001A1 (en) | Multisensor array for the optical inspection and sorting of bulk materials | |
| US20130215261A1 (en) | Method For Detecting Defects In Glassware Articles, And Installation For Implementing Said Method | |
| JP2009115613A (ja) | 異物検査装置 | |
| US10186025B2 (en) | Inspection system and method for defect analysis of wire connections | |
| WO2016196886A1 (en) | System and method for inspecting containers using multiple radiation sources | |
| JP5683996B2 (ja) | 瓶の欠陥検査装置、及び、瓶の欠陥検査方法 | |
| EP2041552A1 (en) | Method for measuring the volume or the end face diameter of a tree trunk and for quality control | |
| TWI497059B (zh) | Multi - surface detection system and method | |
| KR20230021119A (ko) | 물질 감지 장치 | |
| JP2022132878A (ja) | 卵検査装置および卵検査方法 | |
| US9347892B2 (en) | Optical inspection apparatus and optical sorting apparatus | |
| KR102403639B1 (ko) | 수평 이송 후 낙하하는 곡물의 영상을 이용한 곡물 품질 판정장치 | |
| JPS6342411A (ja) | 物体の三方向計測検査方法と装置 | |
| JPH10128246A (ja) | 青果物の選別方法 | |
| JP2021146247A (ja) | 農産物の選別装置 | |
| CA3220259A1 (en) | Method and apparatus for inspecting full containers | |
| WO2013117769A1 (en) | Illumination and detection system | |
| KR20190081469A (ko) | 머신 비전 기반한 작물 선별 장치 | |
| JP2015059862A (ja) | 色差検査装置 | |
| TH66900B (th) | เครื่องตรวจความบกพร่องและวิธีการตรวจความบกพร่อง | |
| CN104463189A (zh) | 标签图案检测方法及检测设备 |