Claims (7)
1. Способ измерения пропускания, кругового дихроизма и оптического вращения оптически активных веществ, в котором для определенной длины волны после предварительной калибровки измерительной системы и определения градуировочных значений, устанавливают с помощью анализа гармоник состояние поляризации измеряемого пучка с модулированной эллиптичностью после прохождения через оптически активное вещество и анализатор, где изменения амплитуды измеряемого пучка превращаются в изменения электрических сигналов, отличающийся тем, что разделяют компоненты нулевой гармоники, первой гармоники и второй гармоники, которые соответствуют пропусканию, круговому дихроизму и оптическому вращению исследуемого оптически активного вещества, причем частота компоненты первой гармонической компоненты соответствует частоте модуляции, а амплитуды определенных таким образом гармонических компонент сравнивают с отдельными градуировочными величинами, полученными при калибровке.1. A method for measuring transmittance, circular dichroism and optical rotation of optically active substances, in which for a certain wavelength after preliminary calibration of the measuring system and determination of calibration values, the polarization state of the measured beam with modulated ellipticity after passing through the optically active substance is established using harmonics analysis analyzer, where changes in the amplitude of the measured beam are converted into changes in electrical signals, characterized in that components of zero harmonic, first harmonic, and second harmonic, which correspond to the transmission, circular dichroism, and optical rotation of the studied optically active substance, the frequency of the component of the first harmonic component corresponds to the modulation frequency, and the amplitudes of the harmonic components thus determined are compared with individual calibration values obtained with calibration.
2. Способ измерения по п. 1, в котором используют второй пучок в качестве эталонного пучка, отличающийся тем, что этот эталонный пучок калибруют и модулируют идентично с измеряемым пучком и изменения амплитуды эталонного пучка превращают в изменения электрического сигнала поочередно в соответствии с изменением амплитуд измеряемого пучка, причем частота чередования обоих пучков, измеряемого пучка и эталонного пучка, по меньшей мере в 10 раз меньше частоты модуляции. 2. The measurement method according to claim 1, wherein a second beam is used as a reference beam, characterized in that this reference beam is calibrated and modulated identically with the measured beam and changes in the amplitude of the reference beam are converted into changes in the electrical signal in turn in accordance with the change in the amplitudes of the measured beam, and the alternation frequency of both beams, the measured beam and the reference beam, at least 10 times less than the modulation frequency.
3. Дихрограф для измерения пропускания, кругового дихроизма и оптического вращения, содержащий источник излучения известной длины волны, линейный поляризатор, модулятор эллиптичности, соединенный с генератором модулирующего напряжения, анализатор и детектор электромагнитного излучения, выход которого соединен с по меньшей мере двумя узкополосными усилителями, отличающийся тем, что после линейного поляризатора (2) на пути входящего пучка (100) расположен переключатель направления (3), предназначенный для образования двух пучков, измеряемого пучка (4) и эталонного пучка (5), при этом на пути измеряемого пучка (4) расположен модулятор эллиптичности (64) измеряемого пучка (4), соединенный с генератором (17) модулирующего напряжения, и измерительный анализатор (8), оптическая ось (80) которого по отношению к оптической оси (20) линейного поляризатора (2) ориентирована под углом 45o, а пространство между ними предназначено для расположения исследуемого образца, например, кюветы, а на пути эталонного пучка (5) расположен далее модулятор эллиптичности (65) эталонного пучка (5), оптическая ось которого (60) по отношению к оптической оси (20) линейного поляризатора (2) ориентирована под углом 45o, а на пути указанного эталонного пучка (5) расположен далее по меньшей мере сравнительный анализатор (10), оптическая ось которого (101) по отношению к оптической оси (20) линейного поляризатора (2) ориентирована под углом 45o ± градуировочный угол (α), и на путях измеряемого пучка (4) и эталонного пучка (5) далее расположены оптические элементы, предпочтительно зеркала (11, 12), для направления этих пучков на общий детектор (13) электромагнитного излучения, к выходу которого присоединена триада узкополосных усилителей: усилитель постоянного тока (14), первый узкополосный усилитель (15), рабочая частота которого соответствует частоте модуляторов эллиптичности (64, 65) и второй узкополосный усилитель (16), рабочая частота которого соответствует удвоенной частоте модуляторов эллиптичности (64, 65), и на пути измеряемого пучка (4) и эталонного пучка (5) расположен прерыватель пучка (30).3. A dichrograph for measuring transmission, circular dichroism and optical rotation, comprising a radiation source of known wavelength, a linear polarizer, an ellipticity modulator connected to a modulating voltage generator, an electromagnetic radiation analyzer and detector, the output of which is connected to at least two narrow-band amplifiers, characterized the fact that after the linear polarizer (2) on the path of the incoming beam (100) is the direction switch (3), designed to form two beams, we measure beam (4) and reference beam (5), while on the path of the measured beam (4) there is an ellipticity modulator (64) of the measured beam (4) connected to the modulating voltage generator (17), and a measuring analyzer (8), optical the axis (80) of which with respect to the optical axis (20) of the linear polarizer (2) is oriented at an angle of 45 o , and the space between them is intended for the location of the test sample, for example, a cuvette, and an ellipticity modulator is further located on the path of the reference beam (5) (65) reference beam (5), whose optical axis (60) relative to the optical axis (20) of the linear polarizer (2) is oriented at an angle of 45 o , and at least a comparative analyzer (10) is located on the path of the specified reference beam (5), the optical axis of which (101) relative to the optical axis (20) of the linear polarizer (2), a calibration angle (α) is oriented at an angle of 45 ° ±, and optical elements, preferably mirrors (11, 12), are further located on the paths of the measured beam (4) and the reference beam (5) , to direct these beams to a common electromagnetic radiation detector (13), to the output which has a triad of narrow-band amplifiers connected: a direct current amplifier (14), the first narrow-band amplifier (15), the working frequency of which corresponds to the frequency of ellipticity modulators (64, 65), and the second narrow-band amplifier (16), whose working frequency corresponds to the doubled frequency of ellipticity modulators ( 64, 65), and a beam chopper (30) is located in the path of the measured beam (4) and the reference beam (5).
4. Дихрограф по п. 3, отличающийся тем, что градуировочный угол α находится в пределах ± 0,1 - ± 40o.4. The dichrograph according to claim 3, characterized in that the calibration angle α is within ± 0.1 - ± 40 o .
5. Дихрограф по п. 3 или 4, отличающийся тем, что прерыватель пучка (30) составляет часть переключателя (3) входящего пучка (100). 5. A dichrograph according to claim 3 or 4, characterized in that the beam chopper (30) forms part of the input beam switch (3) (100).
6. Дихрограф по любому из пп. 3 - 5, отличающийся тем, что модулятор эллиптичности (64) измеряемого пучка (4) и модулятор эллиптичности (65) эталонного пучка (5) сконструированы в виде единого модулятора эллиптичности (6). 6. Dichrograph according to any one of paragraphs. 3 - 5, characterized in that the ellipticity modulator (64) of the measured beam (4) and the ellipticity modulator (65) of the reference beam (5) are designed as a single ellipticity modulator (6).
7. Дихрограф по любому из пп. 3 - 6, отличающийся тем, что источником (1) входящего пучка (100) является монохроматор. 7. Dichrograph according to any one of paragraphs. 3 - 6, characterized in that the source (1) of the incoming beam (100) is a monochromator.