Claims (14)
1. Устройство для измерения биологических, биохимических, химических или физических параметров среды, содержащее источник электромагнитного излучения, твердотельную структуру, состоящую из нанесенной на подложку металлической пленки для возбуждения в последней поверхностной электромагнитной волны, а также блок обработки информации, отличающееся тем, что подложка выполнена из полупроводникового материала, а входы блока обработки информации связаны с металлической пленкой и подложкой.1. A device for measuring biological, biochemical, chemical or physical parameters of the medium, containing a source of electromagnetic radiation, a solid-state structure consisting of a metal film deposited on a substrate for excitation in the last surface electromagnetic wave, as well as an information processing unit, characterized in that the substrate is made from a semiconductor material, and the inputs of the information processing unit are connected with a metal film and a substrate.
2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что поверхность раздела металлической пленки и полупроводникового материала выполнена частично или полностью пространственно модулированной. 2. The device according to p. 1, characterized in that the interface between the metal film and the semiconductor material is partially or fully spatially modulated.
3. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что между металлической пленкой и полупроводниковым материалом расположен промежуточный слой, удельное сопротивление которого превышает удельное сопротивление упомянутой металлической пленки. 3. The device according to p. 1, characterized in that between the metal film and the semiconductor material is an intermediate layer, the resistivity of which exceeds the resistivity of the aforementioned metal film.
4. Устройство по пп. 1 и 3, отличающееся тем, что по крайней мере одна из поверхностей упомянутого промежуточного слоя является частично или полностью пространственно модулированной. 4. The device according to paragraphs. 1 and 3, characterized in that at least one of the surfaces of said intermediate layer is partially or fully spatially modulated.
5. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что источник электромагнитного излучения выполнен с возможностью перестройки по частоте излучения. 5. The device according to p. 1, characterized in that the source of electromagnetic radiation is configured to be tuned according to the frequency of radiation.
6. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что оно выполнено с возможностью изменения положения упомянутой твердотельной структуры относительно направления распространения электромагнитной волны от источника электромагнитного излучения. 6. The device according to p. 1, characterized in that it is made with the possibility of changing the position of the said solid state structure relative to the direction of propagation of the electromagnetic wave from the source of electromagnetic radiation.
7. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что поверхность металлической пленки со стороны, противоположной расположению слоя полупроводника, пространственно модулирована. 7. The device according to claim 1, characterized in that the surface of the metal film from the side opposite to the location of the semiconductor layer is spatially modulated.
8. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что оно снабжено средством для обеспечения полного внутреннего отражения излучения от его выходной грани. 8. The device according to p. 1, characterized in that it is equipped with a means for ensuring complete internal reflection of radiation from its output face.
9. Устройство по пп. 1 и 8, отличающееся тем, что выходная грань упомянутого средства образует зазор с поверхностью металлической пленки, в котором расположен слой вещества, чей показатель преломления меньше показателя преломления среды упомянутого средства. 9. The device according to paragraphs. 1 and 8, characterized in that the output face of the said means forms a gap with the surface of the metal film in which the layer of the substance is located, whose refractive index is less than the refractive index of the medium of the said means.
10. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что на или над поверхностью металлической пленки со стороны, противоположной расположению слоя полупроводника, расположен слой вещества с заданными зависимостями его параметров от величины и типа внешнего воздействия. 10. The device according to p. 1, characterized in that on or above the surface of the metal film from the side opposite to the location of the semiconductor layer, there is a substance layer with predetermined dependences of its parameters on the magnitude and type of external influence.
11. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что оно снабжено по крайней мере одним слоем для связывания по крайней мере одного компонента среды, причем данный слой расположен на или над поверхностью металлической пленки. 11. The device according to p. 1, characterized in that it is provided with at least one layer for bonding at least one component of the medium, and this layer is located on or above the surface of the metal film.
12. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что оно снабжено объемом для тестируемой среды, часть которого, расположенная в зоне прохождения потока электромагнитного излучения, выполнена в виде клина. 12. The device according to claim 1, characterized in that it is provided with a volume for the test medium, part of which, located in the zone of passage of the electromagnetic radiation flux, is made in the form of a wedge.
13. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что оно снабжено средством для поляризации потока электромагнитного излучения. 13. The device according to p. 1, characterized in that it is equipped with a means for polarizing the flow of electromagnetic radiation.
14. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что оно снабжено оптическим волокном для подачи потока электромагнитного излучения. 14. The device according to p. 1, characterized in that it is equipped with an optical fiber for supplying a stream of electromagnetic radiation.