RU2751803C1 - Стенд измерения параметров многоэлементных фотоприемных устройств - Google Patents

Стенд измерения параметров многоэлементных фотоприемных устройств Download PDF

Info

Publication number
RU2751803C1
RU2751803C1 RU2020135426A RU2020135426A RU2751803C1 RU 2751803 C1 RU2751803 C1 RU 2751803C1 RU 2020135426 A RU2020135426 A RU 2020135426A RU 2020135426 A RU2020135426 A RU 2020135426A RU 2751803 C1 RU2751803 C1 RU 2751803C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
radiation sources
mfp
radiation
stand
interface module
Prior art date
Application number
RU2020135426A
Other languages
English (en)
Inventor
Михаил Николаевич Батавин
Дмитрий Юрьевич Буркин
Ильдар Масхутович Габдуллин
Александр Владимирович Мингалев
Андрей Викторович Николаев
Дмитрий Евгеньевич Савин
Александр Яковлевич Чернов
Сергей Николаевич Шушарин
Original Assignee
Акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (АО "НПО ГИПО")
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (АО "НПО ГИПО") filed Critical Акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (АО "НПО ГИПО")
Priority to RU2020135426A priority Critical patent/RU2751803C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2751803C1 publication Critical patent/RU2751803C1/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/04Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и касается стенда измерения параметров многоэлементных фотоприемных устройств (МФПУ). Стенд содержит два источника излучения, подключенные к блоку управления температурным режимом, посадочное место для установки контролируемого МФПУ, блок регистрации и обработки сигналов с персональным компьютером и соединенными между собой блоком подключения и модулем сопряжения, а также формирователь рабочих напряжений. Первый и второй источники излучения механически соединены с устройством перемещения для обеспечения возможности поочередной установки излучающих поверхностей первого и второго источников излучения соосно с входным окном контролируемого МФПУ. Технический результат заключается в повышении точности и повторяемости результатов измерений. 3 з.п. ф-лы, 2 ил.

Description

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике в оптико-электронном приборостроении и предназначено для выполнения измерения в автоматическом режиме основных параметров многоэлементных фотоприемных устройств (МФПУ) второго и третьего поколений, работающих в диапазонах длин волн 3-5 мкм и 8-12 мкм, отечественных и зарубежных производителей.
Аналогом является устройство для измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения, содержащее блок регистрации и обработки сигналов, источник излучения с плоской излучающей поверхностью, соосный с расположенным в непрозрачном корпусе посадочным местом измеряемого приемника излучения, при этом окно корпуса снабжено заслонкой, а радиус входного окна корпуса вычисляется из определенного соотношения (Патент RU 2123173, МПК G01J 1/04, опубликован 10.12.1998).
Прототипом является автоматизированный стенд для измерения основных параметров МФПУ на основе InGaAs спектрального диапазона 0.9-2.5 мкм (Прикладная физика, 2014, №6, с. 93-98, рис. 1), содержащий излучатель (АЧТ - абсолютно черное тело), соединенный с блоком управления АЧТ (блоком управления температурным режимом), заслонку, посадочное место для установки контролируемого МФПУ, блок регистрации и обработки сигналов с персональным компьютером и соединенными между собой блоком подключения (сопряжения) и модулем сопряжения, а также формирователь рабочих напряжений (блок питания МФПУ и блока сопряжения), при этом персональный компьютер соединен с контролируемым МФПУ через блок подключения и модуль сопряжения.
Основным общим недостатком аналога и прототипа является невысокая точность и низкая повторяемость результатов измерений фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения, из-за применения заслонки с нерегулируемой температурой излучения, равной температуре окружающей среды, что в свою очередь ведет к невозможности поддержания стабильного значения температуры заслонки.
Техническим результатом изобретения является повышение точности и повторяемости результатов измерений фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения за счет обеспечения возможности установления и поддержания требуемых значений температуры двух источников излучения с заданной стабильностью.
Технический результат достигается тем, что в стенд измерения параметров многоэлементных фотоприемных устройств (МФПУ), содержащем первый источник излучения, подключенный к блоку управления температурным режимом, посадочное место для установки контролируемого МФПУ, блок регистрации и обработки сигналов с персональным компьютером и соединенными между собой блоком подключения и модулем сопряжения, а также формирователь рабочих напряжений, при этом первый и второй порты персонального компьютера предназначены для подключения, соответственно, к первому и второму портам контролируемого МФПУ через блок подключения и модуль сопряжения, первый и второй порты формирователя рабочих напряжений предназначены для подключения, соответственно, к первому порту блока подключения и третьему порту контролируемого МФПУ, согласно настоящему изобретению, дополнительно введен второй источник излучения, подключенный к блоку управления температурным режимом, при этом первый и второй источники излучения механически соединены с дополнительно введенным устройством перемещения для обеспечения возможности поочередной установки излучающих поверхностей первого и второго источника излучения соосно с входным окном контролируемого МФПУ, третий, четвертый и пятый порты ПК подключены, соответственно, к блоку управления температурным режимом источников излучения, устройству перемещения и к третьему порту формирователя рабочих напряжений.
А также тем, что первый и второй источники излучения выполнены в виде источников излучения с плоской излучающей поверхностью.
А также тем, что блок регистрации и обработки сигналов с персональным компьютером, блоком подключения и модулем сопряжения, устройство перемещения с первым и вторым источниками излучения, блок управления температурным режимом, формирователь рабочих напряжений, а также посадочное место для установки контролируемого МФПУ расположены на посадочной платформе.
А также тем, что модуль сопряжения и посадочное место для установки МФПУ выполнены сменными для обеспечения возможности измерения параметров различных типов МФПУ.
На фиг. 1 представлена функциональная схема предлагаемого стенда измерения параметров многоэлементных фотоприемных устройств, на которой первый и второй источники излучения показаны в исходном положении.
На фиг. 2 представлена функциональная схема предлагаемого стенда измерения параметров многоэлементных фотоприемных устройств в момент расположения плоской излучающей поверхности первого источника излучения соосно с входным окном контролируемого МФПУ.
На фиг. 1 и фиг. 2 функциональной схемы предлагаемого стенда устройства и блоки обозначены следующими позициями:
1 - первый источник излучения (ИИ);
2 - блок управления температурным режимом (БУТР);
3 - посадочное место для установки контролируемого МФПУ (ПМ);
4 - многоэлементное фотоприемное устройство (МФПУ);
5 - блок регистрации и обработки сигналов (БРИОС);
6 - персональный компьютер (ПК);
7 - блок подключения (БП);
8 - модуль сопряжения (МС);
9 - формирователь рабочих напряжений (ФРН);
10 - второй источник излучения;
11 - устройство перемещения (УП);
12 - плоская излучающая поверхность первого источника излучения;
13 - плоская излучающая поверхность второго источника излучения;
14 - входное окно МФПУ (ВО);
15 - посадочная платформа.
Стенд измерения параметров многоэлементных фотоприемных устройств (МФПУ) содержит первый источник излучения 1, подключенный к блоку 2 управления температурным режимом, посадочное место 3 для установки контролируемого МФПУ 4, блок 5 регистрации и обработки сигналов с персональным компьютером 6 и соединенными между собой блоком 7 подключения и модулем 8 сопряжения, а также формирователь 9 рабочих напряжений. Первый и второй порты персонального компьютера 6 предназначены для подключения, соответственно, к первому и второму портам контролируемого МФПУ 4 через блок 7 подключения и модуль 8 сопряжения. Первый и второй порты формирователя 9 рабочих напряжений предназначены для подключения, соответственно, к первому порту блока 7 подключения и третьему порту контролируемого МФПУ 4.
Отличием предлагаемого стенда является то, что дополнительно введен второй источник излучения 10, подключенный к блоку 2 управления температурным режимом, при этом первый 1 и второй источники излучения 10, механически соединены с дополнительно введенным устройством 11 перемещения для обеспечения возможности поочередной установки излучающих поверхностей 12 и 13 первого 1 и второго 10 источников излучения соосно с входным окном 14 контролируемого МФПУ 4.
Третий, четвертый и пятый порты персонального компьютера 4 подключены, соответственно, к блоку 2 управления температурным режимом источников излучения, устройству 11 перемещения и к третьему порту формирователя 9 рабочих напряжений.
При этом первый 1 и второй 10 источники излучения выполнены в виде источников излучения с плоской излучающей поверхностью.
Кроме того, блок 5 регистрации и обработки сигналов с персональным компьютером 6, блоком подключения 7 и модулем сопряжения 8, устройство 11 перемещения с первым 1 и вторым 10 источниками излучения, блок 2 управления температурным режимом, формирователь 9 рабочих напряжений, а также посадочное место 3 для установки контролируемого МФПУ 4 расположены на посадочной платформе 15.
Причем модуль сопряжения 8 и посадочное место 3 для установки контролируемого МФПУ 4 выполнены сменными для обеспечения возможности измерения параметров различных типов МФПУ.
Предлагаемый стенд позволяет производить измерение фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения второго (субматричные МФПУ) и третьего (матричные МФПУ) поколений с возможностью добавления в перечень МФПУ новых типов (к имеющемуся в БП 7 перечню настроек различных типов МФПУ) за счет использования сменных ПМ 3 и сменных МС 8 для установки МФПУ 4, а также благодаря возможности обновления микропрограммного обеспечения БП 7, что расширяет функциональные возможности стенда.
Стенд используется при разработке и серийном производстве образцов тепловизионной техники и предназначен для выполнения входного контроля МФПУ, работающих с регистрацией излучения в диапазонах длин волн 3-5 мкм и 8-12 мкм, а именно, для проверки работоспособности и параметров МФПУ таких, как: уровень выходного сигнала (DC Level), неоднородность выходного сигнала, вольтовая чувствительность (Responsivity), разность температур, эквивалентная шуму (РТЭШ, NETD), обнаружительная способность (Detectiviy), количество и расположение дефектных пикселей (Bad Pixel), количество и размеры кластеров дефектных пикселей, что делает возможным проводить оценку полного перечня заявляемых отечественными и зарубежными производителями параметров, указываемых в паспортах на МФПУ.
При измерении фотоэлектрических параметров МФПУ, указанных в паспортах, зарубежные и отечественные производители используют методы с последовательной регистрацией излучения протяженного источника излучения при двух различных температурах излучения t1 и t2, как правило, равных значениям t1=20°С и t2=35°С. В предлагаемом стенде, по-умолчанию, также используется метод с последовательной регистрацией излучения при температурах излучения t1=20°С и t2=35°С.
В случае необходимости проведения измерений с настройками МФПУ и стенда, отличными от рекомендуемых, например, при температурах излучения, отличных от значений 20°С и 35°С, программное обеспечение (ПО), установленное в ПК 6, позволяет изменять настройки блоков и модулей стенда, включая значения температур первого 1 и второго 10 источников излучения, перечень значений формируемых ФРН 9 напряжений, количество кадров, записываемых для расчета фотоэлектрических параметров, а также такие настройки МФПУ, как: время накопления, напряжение смещения и т.д.
Стенд измерения параметров многоэлементных фотоприемных устройств работает следующим образом.
В процессе выполнения входного контроля контролируемое МФПУ 4 устанавливают на ПМ 3 и соответствующий типу МФПУ МС8 подключают к контролируемому МФПУ 4 и БП 7. Включают ПК 6 блока 5 регистрации и обработки сигналов, БУТР 2, УП 11 и ФРН 9.
В интерфейсных графических окнах ПО, установленного на ПК 6, вводят паспортные данные и данные о режиме работы контролируемого МФПУ 4. Затем запускают процесс измерения параметров МФПУ 4.
ПК 6, в соответствии с введенными в ПО паспортными данными контролируемого МФПУ 4, задает режим работы ФРН 9, формирующего питающие напряжения для БП 7 и контролируемого МФПУ 4.
ПК 6 также контролирует текущий режим работы контролируемого МФПУ 4 за счет приема данных и выдачи управляющих команд в БП 7, в соответствии с которыми БП 7 через МС 8 передает сигналы управления в МФПУ 4.
Одновременно с этим ПК 6 задает режим работы, ожидает выхода на заданный температурный режим первого 1 и второго 10 источников излучения, принимая данные и выдавая управляющие команды в БУТР 2, который в параллельном режиме передает управляющие напряжения исполнительным механизмам (на фиг. не показаны) первого 1 и второго 10 источников излучения.
В момент выхода контролируемого МФПУ 4 на рабочий режим, МФПУ 4 отправляет сигнал о его готовности к проведению измерений параметров через МС 8 и БП 7 в ПК 6.
Затем ПК 6, после выхода на заданный температурный режим одного из источников излучения, например, первого источника излучения 1, передает управляющие команды в УП 11 на перемещение ИИ 1, и расположение его плоской излучающей поверхности 12 соосно с ВО 14 контролируемого МФПУ 4 (см. фиг. 2).
После этого ПК 6 выполняет запись последовательности кадров с изображением излучения вышедшего на заданный температурный режим первого ИИ 1 в виде цифровых сигналов, поступающих от контролируемого МФПУ 4 через МС 8 и БП 7 в ПК 6.
Далее, после выхода на заданный температурный режим второго источника излучения 10, ПК 6 передает управляющие команды в УП 11 на перемещение и расположение плоской излучающей поверхности 13, вышедшего на заданный температурный режим второго ИИ 10, соосно с ВО 14 контролируемого МФПУ 4.
Затем ПК 6 выполняет запись последовательности кадров с изображением излучения вышедшего на заданный температурный режим второго ИИ 10 в виде цифровых сигналов, поступающих от контролируемого МФПУ 4 через МС 8 и БП 7 в ПК 6.
По окончании записи последовательности кадров ПК 6 выполняет вычисление фотоэлектрических параметров контролируемого МФПУ 4 посредством обработки последовательностей кадров, записанных при температурах излучения t1 и t2, и формирует в электронном виде отчет с результатами измерения таких фотоэлектрических параметров контролируемого МФПУ, как уровень выходного сигнала (DC Level), вольтовая чувствительность (Responsivity), разность температур эквивалентная шуму (РТЭШ) (NETD), обнаружительная способность (Detectiviy), количество и расположение дефектных пикселей (Bad Pixel).
При этом повышается точность и повторяемость результатов измерений фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения за счет введения второго источника излучения 10 и обеспечения возможности установления и поддержания требуемых значений температур двух источников излучения с заданной стабильностью. Выполнение первого 1 и второго 10 источников излучения в виде источников излучения с плоской излучающей поверхностью позволяет обеспечить равномерную однородную засветку фоточувствительных элементов контролируемого МФПУ 4.
Кроме того, выполнение сменными посадочного места 3 и модуля сопряжения 8 позволяет расширить функциональные возможности стенда за счет обеспечения контроля параметров многоэлементных приемников излучения второго (субматричные МФПУ) и третьего поколений (матричные МФПУ).

Claims (4)

1. Стенд измерения параметров многоэлементных фотоприемных устройств (МФПУ), содержащий первый источник излучения, подключенный к блоку управления температурным режимом, посадочное место для установки контролируемого МФПУ, блок регистрации и обработки сигналов с персональным компьютером и соединенными между собой блоком подключения и модулем сопряжения, а также формирователь рабочих напряжений, при этом первый и второй порты персонального компьютера предназначены для подключения соответственно к первому и второму портам контролируемого МФПУ через блок подключения и модуль сопряжения, первый и второй порты формирователя рабочих напряжений предназначены для подключения соответственно к первому порту блока подключения и третьему порту контролируемого МФПУ, отличающийся тем, что дополнительно введен второй источник излучения, подключенный к блоку управления температурным режимом, при этом первый и второй источники излучения механически соединены с дополнительно введенным устройством перемещения для обеспечения возможности поочередной установки излучающих поверхностей первого и второго источника излучения соосно с входным окном контролируемого МФПУ, третий, четвертый и пятый порты ПК подключены соответственно к блоку управления температурным режимом источников излучения, устройству перемещения и третьему порту формирователя рабочих напряжений.
2. Стенд по п. 1, отличающийся тем, что первый и второй источники излучения выполнены в виде источников излучения с плоской излучающей поверхностью.
3. Стенд по п. 1, отличающийся тем, что блок регистрации и обработки сигналов с персональным компьютером, блоком подключения и модулем сопряжения, устройство перемещения с первым и вторым источниками излучения, блок управления температурным режимом, формирователь рабочих напряжений, а также посадочное место для установки контролируемого МФПУ расположены на посадочной платформе.
4. Стенд по п. 1, отличающийся тем, что модуль сопряжения и посадочное место для установки МФПУ выполнены сменными для обеспечения возможности измерения параметров различных типов МФПУ.
RU2020135426A 2020-10-27 2020-10-27 Стенд измерения параметров многоэлементных фотоприемных устройств RU2751803C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2020135426A RU2751803C1 (ru) 2020-10-27 2020-10-27 Стенд измерения параметров многоэлементных фотоприемных устройств

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2020135426A RU2751803C1 (ru) 2020-10-27 2020-10-27 Стенд измерения параметров многоэлементных фотоприемных устройств

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2751803C1 true RU2751803C1 (ru) 2021-07-19

Family

ID=77019821

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2020135426A RU2751803C1 (ru) 2020-10-27 2020-10-27 Стенд измерения параметров многоэлементных фотоприемных устройств

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2751803C1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2783220C1 (ru) * 2022-01-18 2022-11-10 Акционерное общество "НПО "Орион" Способ получения распределения чувствительности по площади пикселя матричного фотоприёмника

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5471055A (en) * 1993-05-28 1995-11-28 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Focal plane array test facility
CN207717222U (zh) * 2017-12-11 2018-08-10 中国人民解放军63908部队 光学辐射标定装置
RU2689457C1 (ru) * 2018-07-16 2019-05-29 Акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (АО "НПО ГИПО") Стенд измерения параметров тепловизионных каналов

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5471055A (en) * 1993-05-28 1995-11-28 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Focal plane array test facility
CN207717222U (zh) * 2017-12-11 2018-08-10 中国人民解放军63908部队 光学辐射标定装置
RU2689457C1 (ru) * 2018-07-16 2019-05-29 Акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (АО "НПО ГИПО") Стенд измерения параметров тепловизионных каналов

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Д. Л. Балиев и др. "Автоматизированный стенд для измерения основных параметров МФПУ на основе InGaAs", ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА, No 6, 2014 г., стр. 93-98. *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2783220C1 (ru) * 2022-01-18 2022-11-10 Акционерное общество "НПО "Орион" Способ получения распределения чувствительности по площади пикселя матричного фотоприёмника
RU2803971C1 (ru) * 2022-11-03 2023-09-25 Публичное акционерное общество "Красногорский завод им. С.А. Зверева", ПАО КМЗ Установка для проверки фотоприемных устройств

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6448547B1 (en) Method for determining photodiode performance parameters
CN109243268B (zh) 一种宇航用可见光图像探测器测试与演示验证平台及方法
CN111157225A (zh) 一种基于Labview的EMCCD芯片全性能参数测试方法
US8796604B2 (en) Apparatus having a controllable filter matrix to selectively acquire different components of solar irradiance
CN104344899B (zh) 热辐射检测阵列的缺陷状态的诊断方法和设备
CN111707382B (zh) 一种温度变形同步测量的动态光学补偿方法及装置
Adams et al. Non-stationary outdoor EL-measurements with a fast and highly sensitive InGaAs camera
CN102494764B (zh) 一种覆盖可见光宽波段的微光探测方法
RU2751803C1 (ru) Стенд измерения параметров многоэлементных фотоприемных устройств
CN207556551U (zh) 一种光感器件暗电流温漂修正系统
Ciocia et al. Realization and Use of an IR Camera for Laboratory and On-field Electroluminescence Inspections of Silicon Photovoltaic Modules
CN113038121B (zh) 中子辐照后电荷耦合器件暗信号的原位测量系统及方法
US7435961B2 (en) Imaging sensor
Mertens et al. Low-cost-outdoor-EL: Cost-efficient extensive on-site quality analysis of solar modules
JP2017108586A (ja) 太陽電池モジュール特性試験装置
CN110470404B (zh) 一种红外热像仪netd与mrtd快速测试装置及方法
CN103558558A (zh) 一种硅太阳能电池转换效率检测装置及检测方法
CN209310921U (zh) 一种微弱平行光照度的测量装置
Gooding et al. Large format array NIR detectors for future ESA astronomy missions: characterization and comparison
CN113465737A (zh) 宽波段光电探测器测试装置
RU2696364C1 (ru) Способ измерения абсолютной спектральной чувствительности ИК МФПУ
RU2643695C1 (ru) Способ измерения пороговой разности температур ИК МФПУ
JPH03115816A (ja) 放射計の軌道上校正装置
Eckardt et al. sCMOS detector for imaging VNIR spectrometry
RU2489772C1 (ru) Способ измерения квантовой эффективности и темнового тока фоточувствительных элементов матричных инфракрасных фотоприемных устройств