RU2725030C1 - Device for measuring shape of arbitrary reflecting surface of antenna system - Google Patents

Device for measuring shape of arbitrary reflecting surface of antenna system Download PDF

Info

Publication number
RU2725030C1
RU2725030C1 RU2020100838A RU2020100838A RU2725030C1 RU 2725030 C1 RU2725030 C1 RU 2725030C1 RU 2020100838 A RU2020100838 A RU 2020100838A RU 2020100838 A RU2020100838 A RU 2020100838A RU 2725030 C1 RU2725030 C1 RU 2725030C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
input
reflector
output
optical beam
antenna
Prior art date
Application number
RU2020100838A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Степан Михайлович Слободян
Дмитрий Анатольевич Барчуков
Роман Викторович Вавилов
Роман Игоревич Якимюк
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тверской государственный технический университет"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тверской государственный технический университет" filed Critical Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тверской государственный технический университет"
Priority to RU2020100838A priority Critical patent/RU2725030C1/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2725030C1 publication Critical patent/RU2725030C1/en

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01Q—ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q3/00—Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system
    • H01Q3/01—Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system varying the shape of the antenna or antenna system

Abstract

FIELD: measurement.SUBSTANCE: invention relates to the field of metrology, namely to devices for obtaining information on the shape, topology and other properties of the surface of the object. A device for controlling the curvilinear shape of the reflecting surface of the mirror-type antenna system includes an antenna reflector and a scanner with a control system connected to the output of the computing device. Device further comprises an optical beam source and an optical receiver mounted on the scanner, first and second signal squarer, an adder, a unit for extracting square root of a value, a divider and a unit for calculating the angle of position of the optical beam on the surface of the reflector, wherein the output of the optical beam source is connected to the input of the first squarer and the first input of the divider, and the second input of the divider is connected to the output of the optical receiver, connected to the input of the second squarer, wherein output of second squarer is connected to second input of adder, first input of which is connected to output of first squarer, and output of adder is connected to input of unit for calculating square root, wherein the output of the computing device connected to the first input, the second input of which is connected to the output of the unit for calculating the angle of position of the optical beam, the input of which is connected to the output of the divider.EFFECT: high accuracy and reliability of measuring the shape type and non-uniformity of an arbitrary curved reflecting surface of the antenna system.1 cl, 2 dwg

Description

Изобретение относится к области антенной техники, а именно, к устройствам получения информации о форме, топологии и других свойствах поверхности объекта и предназначено для использования в системах радиолокации, радио-, оптической и фотонной связи, лазерных радарах от ультрафиолетового до терагерцового диапазона длин волн, а также для измерения криволинейной формы поверхности тел и может быть использовано в средствах радиотехнического и оптического контроля элементов средств обнаружения и пеленгования источников электромагнитного излучения.The invention relates to the field of antenna technology, and in particular, to devices for obtaining information about the shape, topology and other properties of the surface of an object and is intended for use in radar systems, radio, optical and photonic communication, laser radars from ultraviolet to terahertz wavelengths, and also for measuring the curvilinear shape of the surface of bodies and can be used in radio engineering and optical control elements of the means of detection and direction finding of electromagnetic radiation sources.

Устройство контроля формы произвольной отражающей поверхности антенн активных и пассивных радарных систем применяется в автономных системах измерения формы, отражающей электромагнитное излучение, поверхности рефлекторов параболических и другого типа антенн и контроля неравномерности их рельефа путем сканирования по некоторой траектории их поверхности, пространственно ограниченным пучком излучения, в средствах неразрушающего контроля состояния поверхности, включая динамику их изменения, по принципу локации.The device for controlling the shape of an arbitrary reflective surface of antennas of active and passive radar systems is used in autonomous systems for measuring the shape reflecting electromagnetic radiation, the surfaces of reflectors of parabolic and other types of antennas and controlling the unevenness of their terrain by scanning along a certain path of their surface, spatially limited by the radiation beam, in non-destructive control of the state of the surface, including the dynamics of their change, according to the principle of location.

Известно устройство контроля и управления формой отражающей поверхности антенной системы зеркального типа (RU №2576493, кл. H01Q 3/01, опубл. 05.02.2016), включающее рефлектор, оборудованный корпусом, набором устройств деформации, устройством привода, переключающим устройством, системой управления переключающим устройством, гибкой мембраной с отражателем, сформированным нанесением металлических частиц на поверхность гибкой мембраны, с введенным в систему управления переключающим устройством внешнего контура, ограничивающего отражающую поверхность гибкой мембраны рефлектора, который задают в виде выпуклого многогранника.A device for monitoring and controlling the shape of the reflecting surface of a mirror-type antenna system (RU No. 2576493, class H01Q 3/01, publ. 02/05/2016), including a reflector equipped with a housing, a set of deformation devices, a drive device, a switching device, a switching control system a device, a flexible membrane with a reflector formed by the deposition of metal particles on the surface of the flexible membrane, with an external circuit switched into the control system, limiting the reflective surface of the flexible membrane of the reflector, which is defined as a convex polyhedron.

Недостаток устройства - малая точность оценки произвольности формы и степени неравномерности отражающей поверхности гибкой мембраны рефлектора, связанная с малым коэффициентом усиления антенны, особенно в области верхних частот, и искажениями формы главного лепестка диаграммы направленности, обусловленными дискретностью структуры и несинфазным сложением полей, фокусируемых различными фрагментами селективной поверхности гибкого отражателя.The disadvantage of this device is the low accuracy of estimating the randomness of the shape and degree of unevenness of the reflecting surface of the flexible membrane of the reflector, associated with a low gain of the antenna, especially in the high frequencies, and distortions in the shape of the main lobe of the radiation pattern due to the discreteness of the structure and non-phase addition of fields focused by various fragments of selective flexible reflector surfaces.

Наиболее близким к заявляемому техническому решению является устройство контроля формы отражающей поверхности антенной системы зеркального типа, состоящее из установленных на шасси рефлектора антенны и сканера с системой управления. Рефлектор антенны выполнен в виде приемно-передающего зонда и через переключающее устройство связан с генератором и приемником радиоизлучения, выход которого подключен к первому входу вычислительного устройства, первый выход которого соединен с входом системы управления сканером (Фёдоров И.Б., Слукин Г.П., Митрохин В.Н., Крехтунов В.М. Элементная база зеркальных антенн и фазированных антенных решеток радиотехнических систем. Антенны, 2016, №8(228), с. 87-88).Closest to the claimed technical solution is a device for controlling the shape of the reflective surface of an antenna system of a mirror type, consisting of antennas mounted on the chassis of the reflector and a scanner with a control system. The antenna reflector is made in the form of a transmitter-receiver probe and is connected through a switching device to a generator and a radio emission receiver, the output of which is connected to the first input of the computing device, the first output of which is connected to the input of the scanner control system (Fedorov IB, Slukin G.P. , Mitrokhin V.N., Krekhtunov V.M. Elemental base of mirror antennas and phased antenna arrays of radio engineering systems.Antennas, 2016, No. 8 (228), pp. 87-88).

Недостатками прототипа являются низкие точность, надежность и достоверность измерения зондом из-за неравномерности формы поверхности отражателя, внесенной изменением формы диаграммы направленности (ДН) радиоизлучения, обусловленной высоким уровнем ближних боковых лепестков ДН в плоскостях измерения, особенно внутри пучка радиолучей, вызванных неоднородным изменением амплитуды возбуждения апертуры от излучателя, что приводит к погрешности измерения формы ДН и поверхности рефлектора антенной системы. Кроме того, антенна системы имеет большие размеры, что также существенно снижает точность измерения профиля отражателя, удаленного от излучателя на определенное расстояние.The disadvantages of the prototype are low accuracy, reliability and reliability of measurement by the probe due to the uneven shape of the surface of the reflector introduced by a change in the shape of the radiation pattern due to the high level of the near side lobes of the radiation path in the measurement planes, especially inside the beam of the beam, caused by a non-uniform change in the excitation amplitude apertures from the emitter, which leads to an error in measuring the shape of the beam and the surface of the reflector of the antenna system. In addition, the antenna of the system is large, which also significantly reduces the accuracy of measuring the profile of the reflector, a distance from the emitter at a certain distance.

Технической проблемой изобретения является создание устройства контроля формы отражающей поверхности антенной системы зеркального типа, обеспечивающее возможность идентификации реального профиля формы и неравномерности поверхности, а также асимметрии произвольной криволинейной формы поверхности рефлектора антенны для компенсации в реальном времени погрешностей формирования антенной ДН.The technical problem of the invention is the creation of a device for controlling the shape of the reflecting surface of an antenna system of a mirror type, which makes it possible to identify the real profile of the shape and unevenness of the surface, as well as the asymmetry of an arbitrary curved shape of the surface of the antenna reflector to compensate for real-time errors in the formation of the antenna.

Техническим результатом изобретения является повышение точности и достоверности измерения типа формы и неравномерности произвольной криволинейной отражающей поверхности антенной системы.The technical result of the invention is to increase the accuracy and reliability of measuring the type of shape and unevenness of an arbitrary curved reflective surface of the antenna system.

Поставленная проблема и технический результат достигаются тем, что устройство контроля криволинейной формы отражающей поверхности антенной системы зеркального типа включает рефлектор антенны и сканер с системой управления, связанный с выходом вычислительного устройства. Согласно изобретению устройство дополнительно содержит источник оптического пучка и оптический приемник, размещенные на сканере, первый и второй квадраторы сигнала, сумматор, блок извлечения корня квадратного из величины, делитель и блок вычисления угла положения оптического пучка на поверхности рефлектора, причем выход источника оптического пучка соединен с входом первого квадратора и первым входом делителя, а второй вход делителя подключен к выходу оптического приемника, связанного с входом второго квадратора, при этом выход второго квадратора соединен с вторым входом сумматора, первый вход которого подключен к выходу первого квадратора, а выход сумматора соединен с входом блока вычисления корня квадратного, причем выходом связанного с первым входом вычислительного устройства, второй вход которого подключен к выходу блока вычисления угла положения оптического пучка, вход которого соединен с выходом делителя.The problem and technical result are achieved in that the device for controlling the curved shape of the reflecting surface of the mirror-type antenna system includes an antenna reflector and a scanner with a control system associated with the output of the computing device. According to the invention, the device further comprises an optical beam source and an optical receiver located on the scanner, a first and second signal quadrator, an adder, a square root extractor, a divider and a block for calculating the angle of the optical beam position on the reflector surface, the output of the optical beam source being connected to the input of the first quadrator and the first input of the divider, and the second input of the divider is connected to the output of the optical receiver associated with the input of the second quadrator, while the output of the second quadrator is connected to the second input of the adder, the first input of which is connected to the output of the first quadrator, and the output of the adder is connected to the input unit for calculating the square root, with the output connected to the first input of the computing device, the second input of which is connected to the output of the unit for calculating the position angle of the optical beam, the input of which is connected to the output of the divider.

Отражающая излучение поверхность рефлектора антенной системы может быть любой криволинейной формы и, в частном случае, представлять собой поверхность параболоида или другого криволинейного типа поверхности вращения.The reflective surface of the reflector of the antenna system can be of any curved shape and, in the particular case, can be a surface of a paraboloid or other curved type of surface of revolution.

Дополнительное включение в устройство источника оптического пучка и оптического приемника, первого и второго квадраторов сигнала, сумматора, блока извлечения корня квадратного из величины, делителя и блока вычисления угла положения оптического пучка на поверхности рефлектора, позволяет определить форму любого типа криволинейной поверхности рефлектора одновременно с измерением распределения неравномерности отражающей поверхности рефлектора антенной системы с более высокой точностью, сопоставимой с размером оптического пучка, сформированного источником.The additional inclusion of an optical beam source and an optical receiver, a first and second quadrator of the signal, an adder, a unit for extracting the square root of the magnitude, a divider, and a unit for calculating the angle of the optical beam on the reflector surface allows the shape of any type of curved reflector surface to be determined simultaneously with the distribution measurement non-uniformity of the reflecting surface of the reflector of the antenna system with higher accuracy comparable to the size of the optical beam formed by the source.

Размещение на сканере, разнесенных на определенное расстояние, источника оптического пучка и оптического приемника обеспечивает синхронность облучения, сканирования и измерения одних и тех же элементов произвольного профиля криволинейной поверхности рефлектора оптическим пучком и, смещенным на определенное расстояние, оптическим приемником в одни и те же моменты реального времени, что однозначно повышает достоверность и точность измерения предлагаемым устройством.Placing on the scanner, spaced a certain distance, the source of the optical beam and the optical receiver ensures synchronization of irradiation, scanning and measurement of the same elements of an arbitrary profile of the curved surface of the reflector with the optical beam and, shifted by a certain distance, optical receiver at the same moments of real time, which clearly increases the reliability and accuracy of the measurement of the proposed device.

Изобретение иллюстрируется чертежами, где на фиг. 1 представлена схема устройства измерения формы произвольной отражающей поверхности рефлектора антенной системы, а фиг. 2 графически поясняет сущность метода измерения и принципа определения базовых параметров для идентификации формы произвольной отражающей поверхности рефлектора путем синхронного вращения источника и приемника излучения оптического пучка в координатной (х; у) плоскости сканирования ортогональной оси z, являющейся осью симметрии кольцевой траектории сканирования параллельным оси z оптическим пучком поверхности рефлектора антенны.The invention is illustrated by drawings, where in FIG. 1 shows a diagram of a device for measuring the shape of an arbitrary reflective surface of the reflector of an antenna system, and FIG. 2 graphically explains the essence of the measurement method and the principle of determining the basic parameters for identifying the shape of an arbitrary reflecting surface of the reflector by synchronously rotating the source and receiver of radiation of the optical beam in the coordinate (x; y) plane of the scan orthogonal to the z axis, which is the axis of symmetry of the circular scanning path parallel to the z optical axis beam reflector surface of the antenna.

Устройство контроля формы криволинейной отражающей поверхности антенной системы состоит из рефлектора 1 в виде криволинейной произвольной формы отражающей поверхности рефлектора, в частном случае, плоской поверхности или параболоида вращения и сканера 2 с системой управления, входом связанного с выходом вычислительного устройства 3. Источник оптического пучка 4 и оптический приемник 5, размещенные на сканере 2, разнесенных на расстояние rs, выбранное, исходя из требований необходимой точности проведения измерения, с обеспечением синхронности облучения, сканирования и измерения одного и того же элемента произвольного профиля криволинейной поверхности рефлектора 1 оптическим пучком источника 4 и, также расположенном на сканере 2, но смещенным (фиг. 2) относительно положения источника 4 в направлении оси вращения сканера 2, оптическим приемником 5 в одни и те же моменты реального времени сканирования. Выходной электрический сигнал источника 4, характеризующий численное значение расстояния rs источника 4 и оптического приемника 5 на сканере 2, подается на вход первого квадратора 6 и первый вход делителя 7. Второй вход делителя 7 подключен к выходу оптического приемника 5. Выходной сигнал, снимаемый с оптического приемника 5, одновременно с подачей его на второй вход делителя 7, поступает на вход второго квадратора 8, выходом подключенного к второму входу сумматора сигналов 9. Сумматор сигналов 9 осуществляет арифметическую операцию суммирования квадратов выходного сигнала источника 4, подаваемого на первый вход сумматора 9, и квадрата значения выходного сигнала оптического приемника 5, подаваемого на второй вход сумматора 9. Выходной сигнал сумматор 9 подается на вход схемы извлечения корня квадратного 10 из величины этой суммы сигналов. Значение выходного сигнала, формируемого схемой извлечения корня квадратного 10, характеризует расстояние от чувствительной поверхности оптического приемника 5 до изображения оптического пучка источника 4 на поверхности рефлектора 1 антенны. Полученное значение сигнала о расстоянии до места положения изображения оптического пучка источника 4 на поверхности рефлектора 1 антенны поступает на первый вход вычислительного устройства 3, где используется для контроля динамики изменения этого расстояния и идентификации типа и формы произвольной отражающей поверхности рефлектора 1 антенны. Второй вход вычислительного устройства 3 соединен с выходом блока 11 вычисления угла положения изображения оптического пучка источника 4 на поверхности рефлектора 1. Блок 11 вычисления угла положения изображения оптического пучка определяет вторую координату, а именно, угол расположения изображения оптического пучка источника 4, наблюдаемого оптическим приемником 5 на поверхности рефлектора 1. Вторая координата определяется в полярной системе координат кольцевой траектории сканирования оптическим пучком источника 4 поверхности рефлектора 1 определения. Выход вычислительного устройства 3 подключен к входу сканера 2 с системой управления сканером. Таким образом, предложенное устройство контроля формы отражающей поверхности антенной системы формирует основные параметры однозначного определения координат расположения изображения оптического пучка источника 4 в полярной системе координат, движущегося по кольцевой траектории сканирования по криволинейной поверхности рефлектора 1 антенной системы.The device for controlling the shape of the curved reflective surface of the antenna system consists of a reflector 1 in the form of a curved arbitrary shape of the reflective surface of the reflector, in particular, a flat surface or a paraboloid of revolution and a scanner 2 with a control system connected to the output of computing device 3. An optical beam source 4 and an optical receiver 5, placed on the scanner 2, spaced at a distance r s , selected based on the requirements for the necessary accuracy of the measurement, ensuring synchronization of irradiation, scanning and measurement of the same element of an arbitrary profile of the curved surface of the reflector 1 with an optical beam of the source 4 and, also located on the scanner 2, but offset (Fig. 2) relative to the position of the source 4 in the direction of the axis of rotation of the scanner 2, by the optical receiver 5 at the same real-time scanning moments. The output electrical signal of source 4, which characterizes the numerical value of the distance r s of source 4 and optical receiver 5 on the scanner 2, is fed to the input of the first quadrator 6 and the first input of the divider 7. The second input of the divider 7 is connected to the output of the optical receiver 5. The output signal taken from the optical receiver 5, simultaneously feeding it to the second input of the divider 7, is fed to the input of the second quadrator 8, the output of the signal adder connected to the second input of the adder 9. The signal adder 9 performs the arithmetic operation of summing the squares of the source 4 signal supplied to the first input of the adder 9, and the square of the value of the output signal of the optical receiver 5 supplied to the second input of the adder 9. The output signal of the adder 9 is fed to the input of the square root 10 extraction circuit from the value of this sum of signals. The value of the output signal generated by the square root extraction circuit 10 characterizes the distance from the sensitive surface of the optical receiver 5 to the image of the optical beam of the source 4 on the surface of the antenna reflector 1. The obtained value of the signal about the distance to the position of the image of the optical beam of the source 4 on the surface of the antenna reflector 1 is fed to the first input of the computing device 3, where it is used to control the dynamics of this distance and to identify the type and shape of an arbitrary reflective surface of the antenna reflector 1. The second input of the computing device 3 is connected to the output of the block 11 for calculating the angle of the image of the optical beam of the source 4 on the surface of the reflector 1. The block 11 for calculating the angle of the image of the optical beam of the source 4 determines the second coordinate, namely, the angle of the image of the optical beam of the source 4 observed by the optical receiver 5 on the surface of the reflector 1. The second coordinate is determined in the polar coordinate system of the annular scanning path by the optical beam of the source 4 of the surface of the reflector 1 definition. The output of the computing device 3 is connected to the input of the scanner 2 with the scanner control system. Thus, the proposed device for controlling the shape of the reflecting surface of the antenna system forms the basic parameters for uniquely determining the coordinates of the image of the optical beam of the source 4 in the polar coordinate system, moving along the annular scanning path along the curved surface of the reflector 1 of the antenna system.

На фиг. 2 изображен график, поясняющий принцип и сущность метода контроля и идентификации формы криволинейной отражающей поверхности рефлектора антенной системы путем сканирования в плоскости XY оптическим пучком отражающей поверхности рефлектора по кольцевой траектории сканирования с круговой частотой ω "радиус-векторной разверткой" поверхности рефлектора.In FIG. 2 is a graph explaining the principle and essence of the method of identifying and identifying the shape of the curved reflective surface of the reflector of the antenna system by scanning in the XY plane with an optical beam a reflecting surface of the reflector along an annular scanning path with a circular frequency ω “radius-vector scan” of the reflector surface.

На фиг. 2 введены следующие обозначения:In FIG. 2, the following notation is introduced:

0х - ось расположения источника оптического пучка 4 и оптического приемника 5 на сканере 2 с системой управления сканером;0x - the axis of the location of the source of the optical beam 4 and the optical receiver 5 on the scanner 2 with a scanner control system;

rs=rsx=rsy - расстояние разноса по оси 0х координат мест расположения источника 4 и оптического приемника 5 на сканере 2 с системой управления сканером, определяющих расположение осей симметрии оптического пучка, поля его наблюдения оптическим приемником 5 и размер кольцевой траектории сканирования параллельным оси z оптическим пучком поверхности рефлектора 1 антенны;r s = r sx = r sy is the separation distance along the 0x axis of the coordinates of the locations of the source 4 and the optical receiver 5 on the scanner 2 with a scanner control system that determines the location of the symmetry axes of the optical beam, its field of observation by the optical receiver 5, and the size of the circular scan path parallel the z axis with an optical beam of the surface of the antenna reflector 1;

0z - ось симметрии кольцевой траектории сканирования параллельным оси z оптическим пучком поверхности рефлектора 1 антенны;0z — axis of symmetry of the annular scanning path parallel to the z axis by the optical beam of the antenna reflector surface 1;

ω - круговая частота траектории кольцевого сканирования оптическим пучком - "радиус-векторной развертки" поверхности рефлектора 1 антенны;ω is the circular frequency of the circular scan path of the optical beam - the "radius vector scan" of the surface of the reflector 1 antenna;

zs - расстояние между XY плоскостью расположения источника 4 и оптического приемника 5 на сканере 2, осуществляющем вращательное движение источника 4 и поля зрения оптического приемника 5 по траектории кольцевого сканирования оптическим пучком и нижней центральной точкой (x=0;.у=0) поверхности рефлектора 1, проходящей через ось вращения, являющейся осью симметрии XY-плоскости расположения поверхности рефлектора 1 антенны и кольцевой траектории сканирования параллельной оси z оптического пучка источника 4;z s is the distance between the XY plane of the source 4 and the optical receiver 5 on the scanner 2, which rotates the source 4 and the field of view of the optical receiver 5 along the circular scanning path of the optical beam and the lower center point (x = 0; .y = 0) of the surface a reflector 1 passing through the axis of rotation, which is the axis of symmetry of the XY plane of the surface of the antenna reflector 1 and the annular scanning path parallel to the z axis of the optical beam of source 4;

S - точка (х; у; z) координат расположения источника оптического пучка 4 и оси симметрии оптического пучка на сканере 2;S is the point (x; y; z) of the coordinates of the location of the source of the optical beam 4 and the axis of symmetry of the optical beam on the scanner 2;

Р - точка (х; у; z) положения центра оптического пучка источника 4 на поверхности рефлектора 1 антенны с радиусами кривизны: P1(x; у, z) - радиуса R1(x; у; z); Р1+(х; у; z) - радиуса R1+(x; у; z); Р_(х; у; z) - радиуса R_(x; у; z) соответствующего плоской поверхности рефлектора антенны;P is the point (x; y; z) of the position of the center of the optical beam of source 4 on the surface of the antenna reflector 1 with radii of curvature: P 1 (x; y, z) - of radius R 1 (x; y; z); P 1+ (x; y; z) - radius R 1+ (x; y; z); P_ (x; y; z) is the radius R_ (x; y; z) of the corresponding flat surface of the antenna reflector;

R1(х; у; z) - расстояние от оптического приемника 5 до расположения оптического пучка на отражающей поверхности рефлектора некоторого произвольного радиуса кривизны поверхности рефлектора антенны;R 1 (x; y; z) is the distance from the optical receiver 5 to the location of the optical beam on the reflective surface of the reflector of some arbitrary radius of curvature of the surface of the antenna reflector;

R1+(x; y; z)>R1(x; у; z) - расстояние от оптического приемника 5 до расположения оптического пучка на отражающей поверхности рефлектора имеющего больший радиус кривизны отражающей поверхности рефлектора антенны, чем в случае R1(x; у; z);R 1+ (x; y; z)> R 1 (x; y; z) is the distance from the optical receiver 5 to the location of the optical beam on the reflective surface of the reflector having a larger radius of curvature of the reflective surface of the antenna reflector than in the case of R 1 (x ; y; z);

R_(х; у; z) - расстояние от оптического приемника 5 до расположения оптического пучка на отражающей поверхности рефлектора, имеющего значительно больший (стремящийся к →∞) радиус кривизны отражающей поверхности рефлектора антенны, чем в случае R1(x; у; z) и R1+(x; у; z), в пределе соответствующий рефлектору антенны с плоской поверхностью;R_ (x; y; z) is the distance from the optical receiver 5 to the location of the optical beam on the reflective surface of the reflector, which has a significantly larger (tending to → ∞) radius of curvature of the reflective surface of the antenna reflector than in the case of R 1 (x; y; z ) and R 1+ (x; y; z), in the limit corresponding to the reflector of an antenna with a flat surface;

ϕ1(x; у; z) - угол наблюдения оптическим приемником 5 положения оптического пучка на отражающей поверхности рефлектора, находящегося на расстоянии R1(x; у; z) от оптического приемника 5 в плоскости (х; у; z1) на кольцевой траектории сканирования;ϕ 1 (x; y; z) is the angle of observation by the optical receiver 5 of the position of the optical beam on the reflective surface of the reflector located at a distance R 1 (x; y; z) from the optical receiver 5 in the plane (x; y; z 1 ) on annular scanning path;

ϕ1+(x; y; z) - угол наблюдения оптическим приемником 5 положения оптического пучка на отражающей поверхности рефлектора, находящегося на расстоянии R1+(x; у; z)>R1(x; у; z) в плоскости (х; у; z1+) на кольцевой траектории сканирования;ϕ 1+ (x; y; z) is the angle of observation by the optical receiver 5 of the position of the optical beam on the reflective surface of the reflector located at a distance R 1+ (x; y; z)> R 1 (x; y; z) in the plane ( x; y; z 1+ ) on the annular scanning path;

ϕ_(x; у; z) - угол наблюдения оптическим приемником 5 положения оптического пучка на отражающей поверхности плоского рефлектора, находящегося на расстоянии R_(jc; у; z) в плоскости (х; у; zs), соответствующий антенне с плоской поверхностью z=zs на кольцевой траектории сканирования поверхности рефлектора оптическим пучком.ϕ_ (x; y; z) is the angle of observation by the optical receiver 5 of the position of the optical beam on the reflective surface of a flat reflector located at a distance R_ (jc; y; z) in the plane (x; y; z s ) corresponding to an antenna with a flat surface z = z s on the annular path of scanning the surface of the reflector with an optical beam.

Устройство контроля формы криволинейной отражающей поверхности рефлектора антенной системы работает следующим образом.The device for controlling the shape of the curved reflective surface of the reflector of the antenna system operates as follows.

Оптический пучок источника 4 и смещенный от него на выбранное по требованиям измерений расстояние оптический приемник 5, установленные на сканере 2 с системой управления, под действием сигналов, сформированных вычислительным устройством 3 и поступающих в сканер 2 с системой управления, в плоскости (х, у), находящейся на расстоянии zs от нижней опорной точки отражающей поверхности рефлектора, синхронно осуществляют по кольцевой траектории радиус-векторной развертки сканирование оптическим пучком источника 4 и полем зрения оптического приемника 5 отражающей поверхности рефлектора 1 антенной системы. В зависимости от радиуса кривизны отражающей поверхности рефлектора оптический пучок будет освещать поверхность рефлектора на разной высоте относительно уровня 0z исходной XY плоскости расположения источника 4 и оптического приемника 5 на сканере 2. Если отражающая поверхность рефлектора плоская, то ее радиус кривизны как плоской поверхности стремится к →∞) и расстояние от оптического приемника 5 до расположения оптического пучка на отражающей поверхности плоского рефлектора, удаленной на расстояние z_ от уровня 0z исходной XY плоскости положения источника 4 и оптического приемника 5 на сканере 2, составит R_(x; у; z).The optical beam of the source 4 and the optical receiver 5 offset from it by the distance selected according to the measurement requirements, mounted on the scanner 2 with the control system, under the action of signals generated by the computing device 3 and fed into the scanner 2 with the control system, in the (x, y) plane located at a distance z s from the lower reference point of the reflective surface of the reflector, synchronously scan along the circular path of the radius vector scan with the optical beam of the source 4 and the field of view of the optical receiver 5 of the reflective surface of the reflector 1 of the antenna system. Depending on the radius of curvature of the reflecting surface of the reflector, the optical beam will illuminate the surface of the reflector at different heights relative to the level 0z of the original XY plane of the source 4 and the optical receiver 5 on the scanner 2. If the reflecting surface of the reflector is flat, then its radius of curvature as a flat surface tends to → ∞) and the distance from the optical receiver 5 to the location of the optical beam on the reflecting surface of the flat reflector, remote at a distance z_ from the level 0z of the original XY plane of the position plane of the source 4 and the optical receiver 5 on the scanner 2, will be R_ (x; y; z).

Источник оптического пучка 4 и оптический приемник 5, установленные на сканере 2, а вместе с ними оптический пучок и поле наблюдения приемника, перемещаются в (х, у) - плоскости 0z сканирования в пределах кольцевой траектории радиус-векторной развертки сканирования со скоростью ω, установленной вычислительным устройством 3.The source of the optical beam 4 and the optical receiver 5 mounted on the scanner 2, and with them the optical beam and the field of view of the receiver, move in the (x, y) plane 0z of the scan within the circular path of the radius-vector scan scan at a speed ω set computing device 3.

Таким образом, можно записать следующие соотношения для определения основных параметров форм криволинейной отражающей поверхности рефлекторов антенной системы:Thus, the following relationships can be written to determine the main parameters of the forms of the curved reflective surface of the reflectors of the antenna system:

расстояние от оптического приемника 5 до расположения оптического пучка на отражающей поверхности рефлектора некоторого произвольного радиуса кривизны поверхности рефлектора антенны, формируется схемой извлечения корня квадратного 10, из сигнала сумматора 9, на основе выходных сигналов источника оптического пучка 4 и оптического приемника 5, поступающих на входы сумматора 9 с первого квадратора 6 и второго квадратора 8, на основе алгоритма описываемого формулой:the distance from the optical receiver 5 to the location of the optical beam on the reflective surface of the reflector of some arbitrary radius of curvature of the antenna reflector surface is formed by the square root 10 extraction circuit from the signal of the adder 9, based on the output signals of the optical beam 4 and the optical receiver 5 received at the inputs of the adder 9 from the first quadrator 6 and the second quadrator 8, based on the algorithm described by the formula:

Figure 00000001
Figure 00000001

угол наблюдения оптическим приемником 5 положения оптического пучка на отражающей поверхности рефлектора, находящегося на расстоянии Ri(x; у; z) от оптического приемника 5 в плоскости (х; у; zi) на кольцевой траектории сканирования, определяется на основе выходных сигналов источника оптического пучка 4 и оптического приемника 5, поступающих на входы блока 11 вычисления угла положения изображения оптического пучка источника 4 на поверхности рефлектора 1 с делителя 7, на основе алгоритма описываемого формулой:the angle of observation by the optical receiver 5 of the position of the optical beam on the reflective surface of the reflector located at a distance R i (x; y; z) from the optical receiver 5 in the plane (x; y; z i ) on the annular scanning path is determined based on the output signals of the source the optical beam 4 and the optical receiver 5 received at the inputs of the block 11 for calculating the angle of the image of the optical beam of the source 4 on the surface of the reflector 1 from the divider 7, based on the algorithm described by the formula:

Figure 00000002
Figure 00000002

величина отклонения криволинейного профиля отражающей поверхности рефлектора 1 антенны от уровня zs R_(x; у; z) плоскости XY положения отражающей поверхности плоского рефлектора определяется вычислительным устройством 3 по значениям R(x; y; z) и ϕi(x; y; z), подаваемых на его первый и второй входы и получаемых в блоке извлечения корня квадратного 10 и блоке 11 вычисления угла положения оптического пучка источника 4 на отражающей поверхности рефлектора 1 на основе выходных сигналов источника оптического пучка 4 и оптического приемника 5, по формуле:the deviation of the curved profile of the reflecting surface of the antenna reflector 1 from the level z s R_ (x; y; z) of the XY plane of the position of the reflecting surface of the flat reflector is determined by computing device 3 by the values of R (x; y; z) and ϕ i (x; y; z) supplied to its first and second inputs and obtained in the square root extractor 10 and block 11 for calculating the position angle of the optical beam of the source 4 on the reflective surface of the reflector 1 based on the output signals of the optical beam 4 and the optical receiver 5, by the formula:

Figure 00000003
Figure 00000003

На основе полученного в (3) значения ΔR~(x; у; z) определяются βi(x; у; z) - половинное значение центрального угла, охватываемого сектором отражающей поверхности криволинейного рефлектора 1, ограниченного координатой положения оптического пучка источника 4 на отражающей поверхности рефлектора 1 в плоскости (х; у; zi) при сканировании поверхности рефлектора по кольцевой траекторииBased on the values obtained in (3), ΔR ~ (x; y; z) determines β i (x; y; z) - the half-value of the central angle covered by the sector of the reflecting surface of the curved reflector 1, limited by the coordinate of the position of the optical beam of the source 4 on the reflecting the surface of the reflector 1 in the plane (x; y; z i ) when scanning the surface of the reflector along an annular path

Figure 00000004
Figure 00000004

в результате получаем значение R~(x; у; z) - радиуса кривизны отражающей поверхности криволинейного рефлектора 1, ограниченного координатой положения оптического пучка источника 4 на отражающей поверхности рефлектора 1 в плоскости (х; у; z,) при сканировании поверхности рефлектора оптическим пучком по кольцевой траектории

Figure 00000005
as a result, we obtain the value R ~ (x; y; z) - the radius of curvature of the reflecting surface of the curved reflector 1, limited by the coordinate of the position of the optical beam of the source 4 on the reflecting surface of the reflector 1 in the plane (x; y; z,) when scanning the reflector surface with an optical beam along a circular path
Figure 00000005

при большом радиусе кривизны отражающей поверхности рефлектора, близкой по параметрам к плоской поверхности антенн, когда (zs-zi(x; y; z)=Δz(x; y; z) является весьма малой величиной, то используя свойство функции синуса, а именно, «синус малых углов равен значению самого угла», то есть, приwith a large radius of curvature of the reflecting surface of the reflector, close in parameters to the flat surface of the antennas, when (z s -z i (x; y; z) = Δz (x; y; z) is a very small quantity, then using the property of the sine function, namely, “the sine of small angles is equal to the value of the angle itself”, that is, when

Figure 00000006
Figure 00000006

получим формулу для определения параметров рефлектора с малым градиентом кривизны отражающей поверхности или радиуса кривизны поверхности рефлектора большого диаметра с малым градиентом кривизны:we obtain a formula for determining the parameters of a reflector with a small gradient of curvature of the reflecting surface or the radius of curvature of the surface of a reflector of large diameter with a small gradient of curvature:

Figure 00000007
Figure 00000007

Измерения и контроль формы отражающей поверхности рефлектора антенны проводятся в системе координат, начало которой располагается в вершине отражающей поверхности, совмещенной с центром симметрии плоской или криволинейной поверхности исследуемого рефлектора 1. Расстояние удаления поверхности рефлектора 1 до плоскости сканирования 0z выбирают на основе требований работы процедуры измерения оптическим пучком источника 4 профиля отражающей поверхности рефлектора 1 в плоскости (х; у; zi).Measurements and control of the shape of the reflective surface of the antenna reflector are carried out in the coordinate system, the beginning of which is located at the top of the reflective surface, combined with the center of symmetry of the flat or curved surface of the studied reflector 1. The distance of removal of the surface of the reflector 1 to the scanning plane 0z is selected based on the requirements of the optical measurement procedure beam source 4 of the profile of the reflecting surface of the reflector 1 in the plane (x; y; z i ).

Поскольку сканирование оптическим пучком источника 4 и полем зрения оптического приемника 5 поверхности рефлектора 1 ведется в плоскости сканирования (х; у; zi) синхронно по одной и той же кольцевой траектории сканирования с центром симметрии совмещенной с z - осью симметрии (х; у; zi) плоской или криволинейной отражающей поверхности рефлектора 1 трехмерной системы измерения (х, у, z), то области элементов изображения оптического пучка источника 4 и области наблюдения оптического приемника 5 синхронно с одной и той же скоростью в пределах погрешности их совмещения проходят по одним элементам поверхности (х; у; zi) плоской или криволинейной отражающей поверхности рефлектора 1 антенны.Since the scanning by the optical beam of source 4 and the field of view of the optical receiver 5 of the surface of the reflector 1 is carried out in the scanning plane (x; y; z i ) synchronously along the same annular scanning path with a center of symmetry aligned with the z - axis of symmetry (x; y; z i ) of a flat or curved reflective surface of the reflector 1 of the three-dimensional measurement system (x, y, z), then the image element regions of the optical beam of the source 4 and the observation region of the optical receiver 5 synchronously with the same speed within the error of their combination pass through one surface elements (x; y; z i ) of a flat or curved reflective surface of the antenna reflector 1.

Данные о профиле отражающей поверхности рефлектора 1, положении изображения оптического пучка источника 4 на плоской или криволинейной отражающей поверхности рефлектора 1, области наблюдения оптического приемника 5, принятого оптическим приемником 5 сигнала и расстояния разноса положений источника 4 и оптического приемника 5 в плоскости сканирования 0z и плоскости (x; y;zi) передаются в блоки 6-11 устройства (фиг. 1) и в вычислительное устройство 3 (спецпроцессор, персональный компьютер), которое обрабатывает получаемую информацию по установленным в устройстве 3 алгоритмам, изложенным выше в настоящем описании.Data on the profile of the reflecting surface of the reflector 1, the image position of the optical beam of the source 4 on a flat or curved reflective surface of the reflector 1, the observation area of the optical receiver 5, the received signal optical receiver 5 and the separation distance of the positions of the source 4 and the optical receiver 5 in the scanning plane 0z and plane (x; y; z i ) are transmitted to units 6-11 of the device (Fig. 1) and to computing device 3 (special processor, personal computer), which processes the received information according to the algorithms installed in device 3 described above.

Для получения численной оценки выигрыша в точности и чувствительности измерения формы профиля криволинейной поверхности рефлектора 1 антенны от применения предлагаемого устройства контроля формы отражающей поверхности антенной системы и для компенсации в реальном времени погрешностей формирования антенной ДН поверхности рефлектора примем оптический приемник 5 линейным, содержащим Nэ элементов числом от 103 до 104 элементов в строке. Размеры элемента современных приемников лежат в диапазоне от 1 мкм=10-6м до 10 мкм=10-5м. Таким образом, например, принимая масштаб передачи измеряемого параметра zi=zs равным единице, можно утверждать, что в самом простейшем случае координата zs может быть измерена с точностью до размера элемента, то есть с точностью, равной 1 мкм=10-6м, что в угловой мере измерения угла ϕi и βi как тангенса угла, охватываемого одним элементом, размером составит 1 мкм=10-6 м на базе разноса rs(x; y; 0) оптического пучка источника 4 и оптического приемника 5 равного 10 см=10-1 м составит величину примерно равную Δ=10-6м/10-1м=10-5 радиан или Δ=10-5рад=216000⋅10-5=2,16 угл.сек. Применение метода определения координат положения центра тяжести изображения оптического пучка позволяет на порядок повысить точность определения координат изображения пучка, то есть определять угловую меру измерения углов ϕi и βi с погрешностью измерения, равной доли угловой секунды, то есть не хуже Δ=10-6 рад=216000⋅10-6=0,216 угл.сек. Такое значение указанной точности обеспечивает измерение параметров криволинейного профиля отражающей поверхности рефлектора в относительной мере составляющей порядка (0,01…0,001)% от значения измеряемого параметра.To obtain a numerical estimate of the gain in accuracy and sensitivity of measuring the shape of the profile of the curved surface of the antenna reflector 1 from the use of the proposed device for controlling the shape of the reflecting surface of the antenna system and to compensate in real time the errors in the formation of the antenna bottom of the reflector surface, we take an optical receiver 5 with a linear number of N e elements 10 3 to 10 4 elements per line. The element sizes of modern receivers are in the range from 1 μm = 10 -6 m to 10 μm = 10 -5 m. Thus, for example, assuming the transmission scale of the measured parameter z i = z s to be unity, it can be argued that in the simplest case the coordinate z s can be measured accurate to the size of the element, that is, with an accuracy of 1 μm = 10 -6 m, which in the angular measure of the angle ϕ i and β i as the tangent of the angle covered by one element, will be 1 μm = 10 -6 m on the basis of the separation r s (x; y; 0) of the optical beam of source 4 and optical receiver 5 of 10 cm = 10 -1 m will be approximately equal to Δ = 10 -6 m / 10 -1 m = 10 - 5 radians or Δ = 10 -5 rad = 216000⋅10 -5 = 2.16 arcsec. The application of the method for determining the coordinates of the position of the center of gravity of the image of the optical beam makes it possible to increase the accuracy of determining the coordinates of the image of the beam by an order of magnitude, that is, to determine the angular measure of the angles ϕ i and β i with a measurement error equal to a fraction of an arc second, that is, not worse Δ = 10 -6 rad = 216000⋅10 -6 = 0.216 arcsec Such a value of the specified accuracy provides the measurement of the parameters of the curved profile of the reflecting surface of the reflector in a relative measure of the order component (0.01 ... 0.001)% of the value of the measured parameter.

Практическое использование предлагаемого устройства контроля формы отражающей поверхности антенной системы зеркального типа, обеспечивающее возможность идентификации реальной кривизны профиля формы поверхности и асимметрии криволинейной формы произвольной поверхности рефлектора антенны для компенсации в реальном времени погрешностей формирования диаграммы направленности антенной возможно в любом типе антенных полигонов; применение устройства обеспечивает восстановление исходных параметров карт профиля поверхности отражателя рефлекторов практически любого радиодиапазона с повышенной точностью оценки профиля криволинейной поверхности антенн.Practical use of the proposed device for controlling the shape of the reflecting surface of an antenna system of a mirror type, providing the ability to identify the real curvature of the profile of the surface shape and the asymmetry of the curved shape of the arbitrary surface of the antenna reflector for real-time compensation of errors in the formation of the antenna radiation pattern is possible in any type of antenna polygons; the use of the device provides the restoration of the initial parameters of the surface profile maps of the reflector reflectors of almost any radio range with increased accuracy of the profile estimation of the curved surface of the antennas.

Claims (1)

Устройство контроля формы криволинейной отражающей поверхности рефлектора антенной системы, включающее рефлектор антенны и сканер с системой управления, связанный с выходом вычислительного устройства, отличающееся тем, что устройство дополнительно содержит источник оптического пучка и оптический приемник, размещенные на сканере, первый и второй квадраторы сигнала, сумматор, блок извлечения корня квадратного из величины, делитель и блок вычисления угла положения оптического пучка на поверхности рефлектора, причем выход источника оптического пучка соединен с входом первого квадратора и первым входом делителя, а второй вход делителя подключен к выходу оптического приемника, связанного с входом второго квадратора, при этом выход второго квадратора соединен с вторым входом сумматора, первый вход которого подключен к выходу первого квадратора, а выход сумматора соединен с входом блока вычисления корня квадратного, причем выходом связанного с первым входом вычислительного устройства, второй вход которого подключен к выходу блока вычисления угла положения оптического пучка, вход которого соединен с выходом делителя.A device for controlling the shape of the curved reflective surface of the reflector of the antenna system, comprising an antenna reflector and a scanner with a control system associated with the output of a computing device, characterized in that the device further comprises an optical beam source and an optical receiver located on the scanner, first and second signal quadrators, an adder , a unit for extracting the square root of magnitude, a divider and a unit for calculating the angle of the optical beam on the reflector surface, the output of the optical beam source being connected to the input of the first quadrator and the first input of the divider, and the second input of the divider connected to the output of the optical receiver associated with the input of the second quad wherein the output of the second quadrator is connected to the second input of the adder, the first input of which is connected to the output of the first quadrator, and the output of the adder is connected to the input of the square root computation unit, and the output of the computing device connected to the first input, the second the course of which is connected to the output of the block for calculating the angle of the optical beam, the input of which is connected to the output of the divider.
RU2020100838A 2020-01-09 2020-01-09 Device for measuring shape of arbitrary reflecting surface of antenna system RU2725030C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2020100838A RU2725030C1 (en) 2020-01-09 2020-01-09 Device for measuring shape of arbitrary reflecting surface of antenna system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2020100838A RU2725030C1 (en) 2020-01-09 2020-01-09 Device for measuring shape of arbitrary reflecting surface of antenna system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2725030C1 true RU2725030C1 (en) 2020-06-29

Family

ID=71510082

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2020100838A RU2725030C1 (en) 2020-01-09 2020-01-09 Device for measuring shape of arbitrary reflecting surface of antenna system

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2725030C1 (en)

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4225240A (en) * 1978-06-05 1980-09-30 Balasubramanian N Method and system for determining interferometric optical path length difference
US4618261A (en) * 1984-01-16 1986-10-21 Massachusetts Institute Of Technology Optical gap measuring
JPH03251708A (en) * 1990-02-28 1991-11-11 Nec Corp Shape measuring apparatus for parabolic antenna surface
JPH03252513A (en) * 1990-03-02 1991-11-11 Nec Corp Parabolic antenna surface measuring instrument
SU1708053A1 (en) * 1990-03-28 1995-04-10 Научно-исследовательский институт автоматизированных средств производства и контроля Device checking shape of surface
RU1797300C (en) * 1990-02-01 1995-09-27 Олег Александрович Бабич System for determination of coordinates of seaplane position on sea surface
RU2285275C1 (en) * 2005-03-09 2006-10-10 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Военный институт радиоэлектроники Method for determining direction to source of optical radiation on basis of component, dissipated in atmosphere, and device for realization of said method
RU80638U1 (en) * 2008-10-21 2009-02-10 Негосударственное научно-образовательное учреждение "Саранский Дом науки и техники Российского Союза научных и инженерных общественных организаций" (ННОУ Саранский Дом науки и техники РСНИИОО") DEVICE FOR DETERMINING SIGNAL PARAMETERS WITH SQUARE MODULATION
RU2349923C1 (en) * 2007-12-28 2009-03-20 Федеральное Государственное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Южный Федеральный Университет" Adaptive metre of continuous broadband signals parameters
RU82343U1 (en) * 2008-10-20 2009-04-20 Федеральное Государственное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Южный Федеральный Университет" AMPLITUDE DIRECTOR FOR AUTOMOTION OF RADIO EMISSIONS OF SPACE VEHICLES WITH PSEUDO-RANDOM OPERATION OF OPERATING FREQUENCY
US8895911B2 (en) * 2011-01-27 2014-11-25 Mitutoyo Corporation Optical encoder with misalignment detection and adjustment method associated therewith
RU154377U1 (en) * 2015-03-27 2015-08-20 федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Южный федеральный университет" (Южный федеральный университет) EXPRESS ANALYZER OF SHORT-TERM RADIO EMISSIONS
CN106323478A (en) * 2016-10-09 2017-01-11 中国船舶重工集团公司第七〇五研究所 Phase generation and carrier modulation and demodulation system of optical fiber interferometric sensor with polarization fading resistance
SU1841294A1 (en) * 1984-10-22 2018-12-06 Акционерное общество "Всероссийский научно-исследовательский институт радиотехники" (АО "ВНИИРТ") Digital device selection of moving targets

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4225240A (en) * 1978-06-05 1980-09-30 Balasubramanian N Method and system for determining interferometric optical path length difference
US4618261A (en) * 1984-01-16 1986-10-21 Massachusetts Institute Of Technology Optical gap measuring
SU1841294A1 (en) * 1984-10-22 2018-12-06 Акционерное общество "Всероссийский научно-исследовательский институт радиотехники" (АО "ВНИИРТ") Digital device selection of moving targets
RU1797300C (en) * 1990-02-01 1995-09-27 Олег Александрович Бабич System for determination of coordinates of seaplane position on sea surface
JPH03251708A (en) * 1990-02-28 1991-11-11 Nec Corp Shape measuring apparatus for parabolic antenna surface
JPH03252513A (en) * 1990-03-02 1991-11-11 Nec Corp Parabolic antenna surface measuring instrument
SU1708053A1 (en) * 1990-03-28 1995-04-10 Научно-исследовательский институт автоматизированных средств производства и контроля Device checking shape of surface
RU2285275C1 (en) * 2005-03-09 2006-10-10 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Военный институт радиоэлектроники Method for determining direction to source of optical radiation on basis of component, dissipated in atmosphere, and device for realization of said method
RU2349923C1 (en) * 2007-12-28 2009-03-20 Федеральное Государственное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Южный Федеральный Университет" Adaptive metre of continuous broadband signals parameters
RU82343U1 (en) * 2008-10-20 2009-04-20 Федеральное Государственное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Южный Федеральный Университет" AMPLITUDE DIRECTOR FOR AUTOMOTION OF RADIO EMISSIONS OF SPACE VEHICLES WITH PSEUDO-RANDOM OPERATION OF OPERATING FREQUENCY
RU80638U1 (en) * 2008-10-21 2009-02-10 Негосударственное научно-образовательное учреждение "Саранский Дом науки и техники Российского Союза научных и инженерных общественных организаций" (ННОУ Саранский Дом науки и техники РСНИИОО") DEVICE FOR DETERMINING SIGNAL PARAMETERS WITH SQUARE MODULATION
US8895911B2 (en) * 2011-01-27 2014-11-25 Mitutoyo Corporation Optical encoder with misalignment detection and adjustment method associated therewith
RU154377U1 (en) * 2015-03-27 2015-08-20 федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Южный федеральный университет" (Южный федеральный университет) EXPRESS ANALYZER OF SHORT-TERM RADIO EMISSIONS
CN106323478A (en) * 2016-10-09 2017-01-11 中国船舶重工集团公司第七〇五研究所 Phase generation and carrier modulation and demodulation system of optical fiber interferometric sensor with polarization fading resistance

Non-Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
A1. *
B. *
B2. *
C. *
C1. *
U1. *
U1.RU 154377 20.08.2015 U1. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107407723B (en) Method and apparatus for 3D position determination
Holst et al. Improved area-based deformation analysis of a radio telescope’s main reflector based on terrestrial laser scanning
RU2630686C1 (en) Method of measuring angle of location (height) of low-yellow objects under small angles of site in radiological circuits of reviews with presence of interfering reflections from substrate surface
RU2258242C2 (en) Method and device for difference-range finding direction finding of radio emission source
US9268017B2 (en) Near-field millimeter wave imaging
CN109633575A (en) A kind of three axis calibration systems and method of satellite-borne microwave optics composite radar
RU2444750C2 (en) Method of determining elevation coordinate of low-flying target
CN115856898A (en) Area array three-dimensional imaging sonar point position reduction method suitable for full sea depth
RU2725030C1 (en) Device for measuring shape of arbitrary reflecting surface of antenna system
EP1227333B1 (en) Method and device to locate a ground-based emitter from a satellite
CN110208777B (en) Accurate geometric error measuring method for corner reflector
RU2711341C1 (en) Two-dimensional direction finding method
JP3660181B2 (en) Antenna measuring apparatus and antenna measuring method
Sutyagin et al. Absolute robotic GNSS antenna calibrations in open field environment
CN107015065B (en) The far field combined calibrating method of narrow beam antenna electric axis, phase center and time delay
US20210286071A1 (en) Method and apparatus for monitoring surface deformations of a scenario
CN116299227A (en) SAR radar two-dimensional antenna pattern measurement method, system, medium and equipment
RU2296350C1 (en) Location mode
RU2325666C2 (en) Differential-range technique of locating radio-frequency radiation source
Myakinkov et al. Space-time processing in three-dimensional forward scattering radar
RU2725514C1 (en) Beam pattern and reflecting surface antenna system control device
RU2718127C1 (en) Device for controlling shape of reflective surface of mirror-type antenna system
RU2682239C1 (en) Low-flying target accurate tracking method by elevation angle under interference conditions
Kuznietsov et al. Providing the Required Accuracy of Measurements of Spatial Coordinates of Aerial Objects
RU2269795C1 (en) Method for one-positional measurement of laser emission source coordinates and device for realization of said method