RU2724247C1 - Способ диагностирования цепей измерения температур - Google Patents
Способ диагностирования цепей измерения температур Download PDFInfo
- Publication number
- RU2724247C1 RU2724247C1 RU2019131980A RU2019131980A RU2724247C1 RU 2724247 C1 RU2724247 C1 RU 2724247C1 RU 2019131980 A RU2019131980 A RU 2019131980A RU 2019131980 A RU2019131980 A RU 2019131980A RU 2724247 C1 RU2724247 C1 RU 2724247C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- temperature
- temperature measurement
- temperatures
- heating
- measurement
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K15/00—Testing or calibrating of thermometers
- G01K15/007—Testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/02—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using thermoelectric elements, e.g. thermocouples
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2607—Circuits therefor
- G01R31/2608—Circuits therefor for testing bipolar transistors
- G01R31/2619—Circuits therefor for testing bipolar transistors for measuring thermal properties thereof
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2607—Circuits therefor
- G01R31/2637—Circuits therefor for testing other individual devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2803—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP] by means of functional tests, e.g. logic-circuit-simulation or algorithms therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в системах автоматического измерения, управления и аварийной защиты, в состав которых входят измерители температуры на основе термопар. Предложен способ диагностирования цепей измерения температур включает нагрев термопар с последующим измерением температур и анализом результатов измерения температур. При этом проводят нагрев холодных спаев термопар, а анализ проводят путем сравнения температур холодного спая и температур измеряемой среды до и после нагрева, причем исправность цепей измерения температуры выявляют по величине приращения температуры холодного спая ΔТи стабильности температуры измеряемой среды. Технический результат - упрощение схемы диагностирования и обеспечение непрерывного контроля температуры во время проведения диагностирования. 1 ил.
Description
Предлагаемое изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в системах автоматического измерения, управления и аварийной защиты, в состав которых входят измерители температуры на основе термопар (ТП).
Известные способы диагностирования цепей измерения температур с помощью ТП основаны на отслеживании изменения результатов последовательности измерений температуры тестируемой ТП, измерении сопротивления ТП, закорачивании цепей ТП. Ни один из указанных методов не обеспечивает быстрый, простой, надежный контроль всего тракта измерения температуры.
Так, анализ последовательности измерений температуры не пригоден в применениях к объектам контроля, для которых характерны высокие градиенты изменения температуры, и имеет длительное время готовности к работе.
Известны способы диагностирования цепей измерения температур а.с. 669224 G01K 15/00, 960763 G05D 23/22, 2598703 G01R 31/02, основанные на измерении сопротивления рабочего спая ТП и термокомпенсационных проводов. Общими недостатками этих способов являются достаточная сложность дополнительной аппаратуры контроля, невозможность диагностирования всей совокупности преобразовательных элементов тракта измерения температуры и перерывы в измерении температуры на время проведения диагностирования.
Известен способ диагностирования цепей измерения температуры а.с. 2196307 МПК G01K 15/00, G01R 31/28, основанный на замыкании цепей ТП, проверяющие с высокой точностью исправность всей совокупности преобразовательных элементов тракта измерения температуры. Однако для проведения проверки требуется дополнительная аппаратура, включающая многоканальный коммутатор, прецизионный источник напряжения, прецизионный резистор. Кроме этого, во время проведения диагностирования не производятся измерения температуры.
Наиболее близким, принятым за прототип, является способ диагностирования цепей измерения температуры, основанный на подогреве горячего сплава ТП с последующим измерением термоЭДС и реализованный в устройстве а.с. 302622 МПК G01K 7/02. Известный способ не обеспечивает диагностирование исправности схемы компенсации температуры холодного спая и имеет недостаточную точность измерения температуры во время проведения диагностирования.
Целью заявляемого способа является обеспечение возможности диагностирования цепей измерения температуры и упрощение схемы диагностирования.
Поставленная цель достигается тем, что в способе диагностирования цепей измерения температур, включающем нагрев термопар с последующим измерением температур и анализом результатов измерения температур, согласно изобретению проводят нагрев холодных спаев термопар, а анализ проводят путем сравнения температур холодного спая и температур измеряемой среды до и после нагрева, причем исправность цепей измерения температуры выявляют по величине приращения температуры холодного спая ΔТХС и стабильности температуры измеряемой среды.
Нагрев ХС увеличивает температуру ХС на величину ΔТХС и на такую же величину уменьшает разность температур между горячим и холодным спаями ТП, что вызывает снижение термоЭДС термопары. При исправности вычисленная по термоЭДС разность температур термопары ТТП снижается также на величину ΔТХС, а температура измеряемой среды, как сумма ТХС (температуры ХС) и ТТП, не изменяется.
Таким образом, предлагаемый способ обеспечивает возможность диагностирования цепей измерения температуры, упрощает схему элементов диагностики.
На фиг. 1 представлен вариант устройства измерителя температуры на основе ТП, позволяющего реализовать предлагаемый способ диагностирования цепей измерения температуры. Устройство содержит ТП, состоящую из горячего спая (ГС) 1 и ХС 2, усилитель термоЭДС (УТ) 3, термосопротивление (ТС) 4, преобразователь сопротивления в напряжение (ПСН) 5, аналого-цифровой преобразователь (АЦП) 6, центральный процессор (ЦП)7, термо-электронагревательный элемент (ТЭН) 8 и силовой ключ (СК) 9.
Устройство функционирует в двух режимах: обычном режиме измерения температуры и режиме самодиагностики. В обоих режимах ТП генерирует термоЭДС, зависящую от разности температур ГС 1 и ХС 2, величина термоЭДС усиливается УТ 3, преобразуется в код КТП с помощью АЦП бив цифровом виде поступает в ЦП 7. Температура ХС 2 определяет величину сопротивления ТС 4, которое преобразуется в напряжение посредством ПСН 5, оцифровывается с помощью АЦП 6 в код КХс и в цифровом виде поступает в ЦП 7, который вычисляет измеряемую температуру объекта и передает ее потребителю.
Отличия между режимами состоят в том, что при обычном измерении температуры СК 9 разомкнут, ТЭН 8 не выделяет тепло и не нагревает ХС 2, а в режиме самодиагностики по команде ЦП 7 замыкается СК 9, ТЭН 8 начинает выделять тепло и нагревать одновременно и ХС 2 и ТС 4 до одинаковой температуры. Нагрев ТС 4 увеличивает код КХС, а нагрев ХС 2 уменьшает термоЭДС термопары и соответственно код КТП, однако при исправно функционирующей аппаратуре измерителя результирующая температура объекта не будет изменяться. Неисправность любого из элементов цепей измерения температуры приведет к отклонению приращения температуры холодного спая от типового значения или к изменению вычисленной температуры объекта. Результат самодиагностики центральный процессор передает потребителю.
Таким образом, представленное техническое решение обеспечивает возможность диагностирования цепей измерения температур, упрощает схему диагностирования и обеспечивает непрерывный контроль температуры во время проведения диагностирования.
Claims (1)
- Способ диагностирования цепей измерения температур, включающий нагрев термопар с последующим измерением температур и анализом результатов измерения температур, отличающийся тем, что проводят нагрев холодных спаев термопар, а анализ проводят путем сравнения температур холодного спая и температур измеряемой среды до и после нагрева, причем исправность цепей измерения температуры выявляют по величине приращения температуры холодного спая ΔТХС и стабильности температуры измеряемой среды.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2019131980A RU2724247C1 (ru) | 2019-10-09 | 2019-10-09 | Способ диагностирования цепей измерения температур |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2019131980A RU2724247C1 (ru) | 2019-10-09 | 2019-10-09 | Способ диагностирования цепей измерения температур |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2724247C1 true RU2724247C1 (ru) | 2020-06-22 |
Family
ID=71135689
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2019131980A RU2724247C1 (ru) | 2019-10-09 | 2019-10-09 | Способ диагностирования цепей измерения температур |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2724247C1 (ru) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU302622A1 (ru) * | Способ контроля исправности термопары | |||
SU669224A1 (ru) * | 1977-04-19 | 1979-06-25 | Специальное Опытное Проектно-Конструкторско-Технологическое Бюро Сибирского Отделения Всесоюзной Ордена Ленина Академии Сельскохозяйственных Наук Им.В.И.Ленина | Устройство дл контрол исправности электрической цепи термопары |
US6344747B1 (en) * | 1999-03-11 | 2002-02-05 | Accutru International | Device and method for monitoring the condition of a thermocouple |
RU2196307C2 (ru) * | 1999-08-02 | 2003-01-10 | Предприятие "Астраханьгазпром" ОАО "Газпром" | Способ диагностирования цепей измерения температур |
WO2018118392A1 (en) * | 2016-12-22 | 2018-06-28 | Rosemount Inc. | Shorted thermocouple diagnostic |
-
2019
- 2019-10-09 RU RU2019131980A patent/RU2724247C1/ru active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU302622A1 (ru) * | Способ контроля исправности термопары | |||
SU669224A1 (ru) * | 1977-04-19 | 1979-06-25 | Специальное Опытное Проектно-Конструкторско-Технологическое Бюро Сибирского Отделения Всесоюзной Ордена Ленина Академии Сельскохозяйственных Наук Им.В.И.Ленина | Устройство дл контрол исправности электрической цепи термопары |
US6344747B1 (en) * | 1999-03-11 | 2002-02-05 | Accutru International | Device and method for monitoring the condition of a thermocouple |
RU2196307C2 (ru) * | 1999-08-02 | 2003-01-10 | Предприятие "Астраханьгазпром" ОАО "Газпром" | Способ диагностирования цепей измерения температур |
WO2018118392A1 (en) * | 2016-12-22 | 2018-06-28 | Rosemount Inc. | Shorted thermocouple diagnostic |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR20220027090A (ko) | 비-침습적 열 조사를 위한 장치, 시스템들 및 방법들 | |
US7841771B2 (en) | Self-validating thermocouple | |
CN105987774B (zh) | 热电偶线测试电路 | |
KR101704222B1 (ko) | 열전대를 이용한 온도 측정 장치의 온도 드리프트 보정 방법 | |
JP6058945B2 (ja) | 放射線分析装置及び方法 | |
US10935507B2 (en) | Thermal conductivity detector for gas mixtures having at least three components | |
US20230164885A1 (en) | Control system for controlling a heater | |
US6763711B1 (en) | Air flow sensor using measurement of rate of heat loss | |
RU2724247C1 (ru) | Способ диагностирования цепей измерения температур | |
KR100942130B1 (ko) | 열전대 센서를 이용한 온도계측장치 | |
Hantos et al. | K-factor calibration issues of high power LEDs | |
CN113678004A (zh) | 用于估计电子部件的老化的方法和装置 | |
US7031861B2 (en) | Apparatus and method for calibrating a resistance thermometer and gas analyzer employing same | |
JP2016133411A (ja) | 放射線分析装置 | |
JP2016133412A (ja) | 放射線分析装置 | |
RU2732341C1 (ru) | Способ бездемонтажной проверки термопары и значения ее термоэлектрической способности | |
US1617416A (en) | Means for measuring and controlling temperatures | |
RU2760923C1 (ru) | Устройство для измерения малых разностей температур | |
RU2727564C1 (ru) | Самокалибрующийся датчик температуры | |
CN113125032A (zh) | 一种电机温度监测系统的响应测量系统及测量方法 | |
WO2018087915A1 (ja) | 温度測定器、温度調節計及び短絡判別プログラム | |
RU2789611C1 (ru) | Способ определения достоверности результатов измерения термоэлектрического преобразователя | |
CN108645530B (zh) | 测温系统及利用测温系统测量测温区温度的方法 | |
RU2262087C1 (ru) | Способ бездемонтажной оценки достоверности показаний термоэлектрического преобразователя | |
JP2501892B2 (ja) | 熱電対入力計測器 |