RU2724247C1 - Способ диагностирования цепей измерения температур - Google Patents

Способ диагностирования цепей измерения температур Download PDF

Info

Publication number
RU2724247C1
RU2724247C1 RU2019131980A RU2019131980A RU2724247C1 RU 2724247 C1 RU2724247 C1 RU 2724247C1 RU 2019131980 A RU2019131980 A RU 2019131980A RU 2019131980 A RU2019131980 A RU 2019131980A RU 2724247 C1 RU2724247 C1 RU 2724247C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
temperature
temperature measurement
temperatures
heating
measurement
Prior art date
Application number
RU2019131980A
Other languages
English (en)
Inventor
Николай Афанасьевич Мухатаев
Original Assignee
Акционерное общество "Научно-исследовательский институт физических измерений"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Акционерное общество "Научно-исследовательский институт физических измерений" filed Critical Акционерное общество "Научно-исследовательский институт физических измерений"
Priority to RU2019131980A priority Critical patent/RU2724247C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2724247C1 publication Critical patent/RU2724247C1/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K15/00Testing or calibrating of thermometers
    • G01K15/007Testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/02Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using thermoelectric elements, e.g. thermocouples
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607Circuits therefor
    • G01R31/2608Circuits therefor for testing bipolar transistors
    • G01R31/2619Circuits therefor for testing bipolar transistors for measuring thermal properties thereof
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607Circuits therefor
    • G01R31/2637Circuits therefor for testing other individual devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2803Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP] by means of functional tests, e.g. logic-circuit-simulation or algorithms therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/281Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Abstract

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в системах автоматического измерения, управления и аварийной защиты, в состав которых входят измерители температуры на основе термопар. Предложен способ диагностирования цепей измерения температур включает нагрев термопар с последующим измерением температур и анализом результатов измерения температур. При этом проводят нагрев холодных спаев термопар, а анализ проводят путем сравнения температур холодного спая и температур измеряемой среды до и после нагрева, причем исправность цепей измерения температуры выявляют по величине приращения температуры холодного спая ΔТи стабильности температуры измеряемой среды. Технический результат - упрощение схемы диагностирования и обеспечение непрерывного контроля температуры во время проведения диагностирования. 1 ил.

Description

Предлагаемое изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в системах автоматического измерения, управления и аварийной защиты, в состав которых входят измерители температуры на основе термопар (ТП).
Известные способы диагностирования цепей измерения температур с помощью ТП основаны на отслеживании изменения результатов последовательности измерений температуры тестируемой ТП, измерении сопротивления ТП, закорачивании цепей ТП. Ни один из указанных методов не обеспечивает быстрый, простой, надежный контроль всего тракта измерения температуры.
Так, анализ последовательности измерений температуры не пригоден в применениях к объектам контроля, для которых характерны высокие градиенты изменения температуры, и имеет длительное время готовности к работе.
Известны способы диагностирования цепей измерения температур а.с. 669224 G01K 15/00, 960763 G05D 23/22, 2598703 G01R 31/02, основанные на измерении сопротивления рабочего спая ТП и термокомпенсационных проводов. Общими недостатками этих способов являются достаточная сложность дополнительной аппаратуры контроля, невозможность диагностирования всей совокупности преобразовательных элементов тракта измерения температуры и перерывы в измерении температуры на время проведения диагностирования.
Известен способ диагностирования цепей измерения температуры а.с. 2196307 МПК G01K 15/00, G01R 31/28, основанный на замыкании цепей ТП, проверяющие с высокой точностью исправность всей совокупности преобразовательных элементов тракта измерения температуры. Однако для проведения проверки требуется дополнительная аппаратура, включающая многоканальный коммутатор, прецизионный источник напряжения, прецизионный резистор. Кроме этого, во время проведения диагностирования не производятся измерения температуры.
Наиболее близким, принятым за прототип, является способ диагностирования цепей измерения температуры, основанный на подогреве горячего сплава ТП с последующим измерением термоЭДС и реализованный в устройстве а.с. 302622 МПК G01K 7/02. Известный способ не обеспечивает диагностирование исправности схемы компенсации температуры холодного спая и имеет недостаточную точность измерения температуры во время проведения диагностирования.
Целью заявляемого способа является обеспечение возможности диагностирования цепей измерения температуры и упрощение схемы диагностирования.
Поставленная цель достигается тем, что в способе диагностирования цепей измерения температур, включающем нагрев термопар с последующим измерением температур и анализом результатов измерения температур, согласно изобретению проводят нагрев холодных спаев термопар, а анализ проводят путем сравнения температур холодного спая и температур измеряемой среды до и после нагрева, причем исправность цепей измерения температуры выявляют по величине приращения температуры холодного спая ΔТХС и стабильности температуры измеряемой среды.
Нагрев ХС увеличивает температуру ХС на величину ΔТХС и на такую же величину уменьшает разность температур между горячим и холодным спаями ТП, что вызывает снижение термоЭДС термопары. При исправности вычисленная по термоЭДС разность температур термопары ТТП снижается также на величину ΔТХС, а температура измеряемой среды, как сумма ТХС (температуры ХС) и ТТП, не изменяется.
Таким образом, предлагаемый способ обеспечивает возможность диагностирования цепей измерения температуры, упрощает схему элементов диагностики.
На фиг. 1 представлен вариант устройства измерителя температуры на основе ТП, позволяющего реализовать предлагаемый способ диагностирования цепей измерения температуры. Устройство содержит ТП, состоящую из горячего спая (ГС) 1 и ХС 2, усилитель термоЭДС (УТ) 3, термосопротивление (ТС) 4, преобразователь сопротивления в напряжение (ПСН) 5, аналого-цифровой преобразователь (АЦП) 6, центральный процессор (ЦП)7, термо-электронагревательный элемент (ТЭН) 8 и силовой ключ (СК) 9.
Устройство функционирует в двух режимах: обычном режиме измерения температуры и режиме самодиагностики. В обоих режимах ТП генерирует термоЭДС, зависящую от разности температур ГС 1 и ХС 2, величина термоЭДС усиливается УТ 3, преобразуется в код КТП с помощью АЦП бив цифровом виде поступает в ЦП 7. Температура ХС 2 определяет величину сопротивления ТС 4, которое преобразуется в напряжение посредством ПСН 5, оцифровывается с помощью АЦП 6 в код КХс и в цифровом виде поступает в ЦП 7, который вычисляет измеряемую температуру объекта и передает ее потребителю.
Отличия между режимами состоят в том, что при обычном измерении температуры СК 9 разомкнут, ТЭН 8 не выделяет тепло и не нагревает ХС 2, а в режиме самодиагностики по команде ЦП 7 замыкается СК 9, ТЭН 8 начинает выделять тепло и нагревать одновременно и ХС 2 и ТС 4 до одинаковой температуры. Нагрев ТС 4 увеличивает код КХС, а нагрев ХС 2 уменьшает термоЭДС термопары и соответственно код КТП, однако при исправно функционирующей аппаратуре измерителя результирующая температура объекта не будет изменяться. Неисправность любого из элементов цепей измерения температуры приведет к отклонению приращения температуры холодного спая от типового значения или к изменению вычисленной температуры объекта. Результат самодиагностики центральный процессор передает потребителю.
Таким образом, представленное техническое решение обеспечивает возможность диагностирования цепей измерения температур, упрощает схему диагностирования и обеспечивает непрерывный контроль температуры во время проведения диагностирования.

Claims (1)

  1. Способ диагностирования цепей измерения температур, включающий нагрев термопар с последующим измерением температур и анализом результатов измерения температур, отличающийся тем, что проводят нагрев холодных спаев термопар, а анализ проводят путем сравнения температур холодного спая и температур измеряемой среды до и после нагрева, причем исправность цепей измерения температуры выявляют по величине приращения температуры холодного спая ΔТХС и стабильности температуры измеряемой среды.
RU2019131980A 2019-10-09 2019-10-09 Способ диагностирования цепей измерения температур RU2724247C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2019131980A RU2724247C1 (ru) 2019-10-09 2019-10-09 Способ диагностирования цепей измерения температур

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2019131980A RU2724247C1 (ru) 2019-10-09 2019-10-09 Способ диагностирования цепей измерения температур

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2724247C1 true RU2724247C1 (ru) 2020-06-22

Family

ID=71135689

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2019131980A RU2724247C1 (ru) 2019-10-09 2019-10-09 Способ диагностирования цепей измерения температур

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2724247C1 (ru)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU302622A1 (ru) * Способ контроля исправности термопары
SU669224A1 (ru) * 1977-04-19 1979-06-25 Специальное Опытное Проектно-Конструкторско-Технологическое Бюро Сибирского Отделения Всесоюзной Ордена Ленина Академии Сельскохозяйственных Наук Им.В.И.Ленина Устройство дл контрол исправности электрической цепи термопары
US6344747B1 (en) * 1999-03-11 2002-02-05 Accutru International Device and method for monitoring the condition of a thermocouple
RU2196307C2 (ru) * 1999-08-02 2003-01-10 Предприятие "Астраханьгазпром" ОАО "Газпром" Способ диагностирования цепей измерения температур
WO2018118392A1 (en) * 2016-12-22 2018-06-28 Rosemount Inc. Shorted thermocouple diagnostic

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU302622A1 (ru) * Способ контроля исправности термопары
SU669224A1 (ru) * 1977-04-19 1979-06-25 Специальное Опытное Проектно-Конструкторско-Технологическое Бюро Сибирского Отделения Всесоюзной Ордена Ленина Академии Сельскохозяйственных Наук Им.В.И.Ленина Устройство дл контрол исправности электрической цепи термопары
US6344747B1 (en) * 1999-03-11 2002-02-05 Accutru International Device and method for monitoring the condition of a thermocouple
RU2196307C2 (ru) * 1999-08-02 2003-01-10 Предприятие "Астраханьгазпром" ОАО "Газпром" Способ диагностирования цепей измерения температур
WO2018118392A1 (en) * 2016-12-22 2018-06-28 Rosemount Inc. Shorted thermocouple diagnostic

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20220027090A (ko) 비-침습적 열 조사를 위한 장치, 시스템들 및 방법들
US7841771B2 (en) Self-validating thermocouple
CN105987774B (zh) 热电偶线测试电路
KR101704222B1 (ko) 열전대를 이용한 온도 측정 장치의 온도 드리프트 보정 방법
JP6058945B2 (ja) 放射線分析装置及び方法
US10935507B2 (en) Thermal conductivity detector for gas mixtures having at least three components
US20230164885A1 (en) Control system for controlling a heater
US6763711B1 (en) Air flow sensor using measurement of rate of heat loss
RU2724247C1 (ru) Способ диагностирования цепей измерения температур
KR100942130B1 (ko) 열전대 센서를 이용한 온도계측장치
Hantos et al. K-factor calibration issues of high power LEDs
CN113678004A (zh) 用于估计电子部件的老化的方法和装置
US7031861B2 (en) Apparatus and method for calibrating a resistance thermometer and gas analyzer employing same
JP2016133411A (ja) 放射線分析装置
JP2016133412A (ja) 放射線分析装置
RU2732341C1 (ru) Способ бездемонтажной проверки термопары и значения ее термоэлектрической способности
US1617416A (en) Means for measuring and controlling temperatures
RU2760923C1 (ru) Устройство для измерения малых разностей температур
RU2727564C1 (ru) Самокалибрующийся датчик температуры
CN113125032A (zh) 一种电机温度监测系统的响应测量系统及测量方法
WO2018087915A1 (ja) 温度測定器、温度調節計及び短絡判別プログラム
RU2789611C1 (ru) Способ определения достоверности результатов измерения термоэлектрического преобразователя
CN108645530B (zh) 测温系统及利用测温系统测量测温区温度的方法
RU2262087C1 (ru) Способ бездемонтажной оценки достоверности показаний термоэлектрического преобразователя
JP2501892B2 (ja) 熱電対入力計測器