RU2712784C1 - Способ измерения добротности резонатора - Google Patents

Способ измерения добротности резонатора Download PDF

Info

Publication number
RU2712784C1
RU2712784C1 RU2019102977A RU2019102977A RU2712784C1 RU 2712784 C1 RU2712784 C1 RU 2712784C1 RU 2019102977 A RU2019102977 A RU 2019102977A RU 2019102977 A RU2019102977 A RU 2019102977A RU 2712784 C1 RU2712784 C1 RU 2712784C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
circuit
frequency
measuring
train
factor
Prior art date
Application number
RU2019102977A
Other languages
English (en)
Inventor
Евгений Николаевич Мищенко
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ростовский государственный университет путей сообщения" (ФГБОУ ВО РГУПС)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ростовский государственный университет путей сообщения" (ФГБОУ ВО РГУПС) filed Critical Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ростовский государственный университет путей сообщения" (ФГБОУ ВО РГУПС)
Priority to RU2019102977A priority Critical patent/RU2712784C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2712784C1 publication Critical patent/RU2712784C1/ru

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

Использование: для высокоточного измерения добротности резонаторов, применяемых в различных областях техники и научных исследованиях. Сущность изобретения: способ измерения добротности резонатора заключается в том, что при измерении добротности контура методом расстройки частоты на частоте измерения контур настраивают в резонанс путем изменения емкости настройки, при этом точная настройка контура в резонанс не требуется, затем производят регистрацию цуга синусоидального колебания на контуре за некоторый промежуток времени, после чего регистрируют цуги синусоидальных колебаний на двух частотах в пределах верхней части резонансной кривой ниже и выше резонансной частоты за аналогичные промежутки времени, каждый из трех зарегистрированных цугов синусоидальных колебаний сглаживают с помощью регрессии в виде синусоиды и определяют амплитуды колебаний каждого из цугов, после чего по трем значениям частоты и рассчитанным соответствующим им амплитудам напряжений на контуре расчетным путем определяют величину добротности. Технический результат: обеспечение возможности повышения точности измерения добротности контура. 2 н.п. ф-лы, 2 ил., 1 табл.

Description

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для высокоточного измерения добротности резонаторов, применяемых в различных областях техники и научных исследованиях.
Для измерения добротности контуров и реактивных двухполюсников, как наиболее точные, широко используются резонансные методы: метод отношения напряжений, метод самовозбуждения, метод ударного возбуждения, метод расстройки частоты [1] и метод измерения по ГОСТ 18986.19-76 [2].
Условно методы измерения добротности можно разделить на динамические и статические методы. К категории динамических следует отнести методы, предполагающие непрерывное изменение частоты сигнала, подаваемого на вход резонансного звена, и непрерывный контроль амплитуды сигнала на выходе с этого звена.
При относительной оперативности измерений, точность измерений таких систем не может быть высокой в силу ошибок вносимых следящими устройствами и ошибок, обусловленных конечным временем измерения динамически изменяющихся частот.
Например, в работе [3 - Пат. №2312368] описан способ измерения добротности резонатора, основанный на возбуждении в нем в полосе частот пропускания колебаний с линейно изменяющейся частотой и последующим определением добротности. При этом контролируют моменты равенства амплитуды колебаний в резонаторе заданному пороговому значению. В эти моменты времени меняют направление изменения частоты сигнала возбуждения на противоположное и измеряют среднюю частоту сигнала возбуждения и частоту модуляции этого сигнала.
Недостаток данного способа - неизбежность ошибок динамических измерений.
Более высокой потенциальной точностью должны обладать методы, где измерения проводятся в статике. К ним можно отнести метод отношения напряжений, используемый в Q-метрах и метод, рекомендуемый в ГОСТ 18986.19-76 [2]. Общий недостаток этих методов - не высокая точность. Например, в последнем случае заявляемая точность не превышает 10%-15%. Это связанно с ошибками, допускаемыми в процессе съема измерений человеком, и ошибками, объясняемыми конечной точностью используемых измерительных приборов.
Наиболее близким по технической сущности к заявляемому является способ (прототип) [4 - Пат. №1709240] в котором для измерение добротности контура методом расстройки частоты контур настраивают в резонанс на частоте измерения путем изменения емкости настройки и производят отсчет уровня напряжения на контуре в момент резонанса. Точная настройка контура в резонанс при этом не требуется. После чего измеряют уровни напряжения на контуре на частотах ниже и выше резонансной, а затем по трем значения частоты и соответствующим им отсчетам напряжения на контуре определяют величину добротности. Причем уровни напряжения на контуре измеряют на фиксированных частотах, вблизи пика резонансной кривой.
Аналитическая связь между фиксированными частотами и уровнями напряжений, являющаяся основой метода, описывается известным уравнением резонансной кривой:
Figure 00000001
где у - текущее значение ординаты кривой;
у0 - значение ординаты кривой соответствующее состоянию резонанса;
Q - добротность контура;
ƒ - текущее значение частоты;
ƒ0 - частота резонанса.
Заявлено, что способ эффективен при выполнении нескольких условий.
Первое условие состоит в том, что частоты измерения ƒ1, ƒ2, ƒ3 должны незначительно отличаются друг от друга. Частота ƒ3 наиболее близка к резонансной частоте ƒ0, но в общем случае может быть ей не равна.
Второе условие - измерительные частоты должны располагаться на оси частот следующим образом: ƒ1<ƒ3<ƒ2.
Обозначив уровни напряжения на контуре соответствующие этим частотам как у1, у2, y3 и используя соотношение (1), записывают отношение:
Figure 00000002
Вводя обозначения
Figure 00000003
,
Figure 00000004
и преобразуя выражение (2) получают:
Figure 00000005
Третье условие - полагают, что исследуемая система является системой с высокой добротностью, т.е. 2Q2>>1 и, разрешая (3) относительно
Figure 00000006
, получают:
Figure 00000007
Для вычисления искомой добротности соотносят уровни напряжений
Figure 00000008
. Обозначив
Figure 00000009
и действуя также как предыдущем случае, приходят к аналогичному выражению:
Figure 00000010
Решая (5) относительно Q получают:
Figure 00000011
где
Figure 00000012
,
Figure 00000013
, a
Figure 00000014
вычисляют, используя соотношение (4).
Не достаточно высокая точность вычисления по методу [4 - Пат. №1709240] (прототип) обусловлена следующими факторами:
- методической ошибкой, являющейся результатом наложения третьего условия (2Q2>>1);
- нечеткостью первого и второго условий (ƒ1≈ƒ3≈ƒ0≈ƒ2, ƒ1<ƒ3<ƒ2). Нетрудно показать, что ослабление требований к выполнению этих условий ведет к росту методической ошибки, вызванной допущением о заведомо высокой добротности системы.
Устройство для осуществления способа (прототип) содержит генератор дискретных частот, элемент развязки (усилитель), детектор, первый и второй пороговый элемент, первый трехвходовой блок совпадения и инвертор, два генератора тактовых импульсов, второй трехвходовой и первый двухвходового блоки совпадения, два счетчика, два цифроаналоговых преобразователей (ЦАП), RS-триггер, блока задержки, D-триггер, два двухвходовых блоков ИЛИ, трехвходовой блок ИЛИ, аналогоцифровой преобразователь (АЦП), распределитель импульсов, блок сопряжения, компьютер (блок вычислений и управления), блок индикации, конденсатор связи, измерительный конур, состоящий из индуктивности, конденсатора и емкости настройки (варикап).
Большое количество элементов цифроаналогового и аналого-цифрового преобразования и наличие пороговых элементов в устройстве, реализующем способ (прототип), приводит к росту ошибок связанных с конечной потенциальной точностью приборов преобразования, обусловленной ошибками дискретизации, сравнения и т.п. Кроме того, измеряемые напряжения на выходе детектора могут отличаться от амплитудных значений, в то время как в аналитическом выражении (1) под уровнями напряжений у предполагают именно амплитудные значения, что также может стать источником ошибки.
Таким образом, недостатками прототипа являются низкая точность измерения добротности резонатора, обусловленная ошибками, носящими методический и аппаратный характер.
Техническая проблема, на решение которой направлено изобретение, состоит в повышении точности измерения добротности резонатора.
Это достигается тем, что при осуществлении способа измерения добротности контура методом расстройки частоты на частоте измерения контур настраивают в резонанс путем изменения емкости настройки и производят регистрацию цуга синусоидального колебания на контуре за некоторый промежуток времени у* 3,j при этом точная настройка контура в резонанс не требуется, после чего регистрируют цуги синусоидальных колебаний на двух частотах в пределах верхней части резонансной кривой ниже у* 1,j и выше у* 2,j резонансной частоты за аналогичные промежутки времени, затем каждый из трех зарегистрированных цугов синусоидальных колебаний сглаживают с помощью регрессии
Figure 00000015
где i=1…4 - номер цуга соответствующего синусоидального колебания;
j - номер отсчета;
y* i,j - j-й отсчет i-го регистрируемого цуга;
у* i,j - j-й отсчет i-го цуга регрессии;
Δt - шаг дискретизации;
ƒi - i-я измерительная частота;
Ai, Bi - параметры регрессии i-го цуга
и вычисляют амплитуды колебаний каждого из цугов:
Figure 00000016
после чего по трем значениям частоты и рассчитанным соответствующим им амплитудам напряжений на контуре определяют величину добротности как:
Figure 00000017
где
Figure 00000018
- резонансная частота контура;
Figure 00000019
- амплитуда колебаний на частоте резонанса;
С0, С1, С2 - коэффициенты уравнения
Figure 00000020
Figure 00000021
Figure 00000022
Figure 00000023
Заявленный способ реализуется устройством измерения добротности, состоящим из последовательно соединенных: генератора дискретных частот, первого элемента развязки, конденсатора связи, измерительного контура, второго элемента развязки, цифрового осциллографа, компьютера, который согласно изобретению, в свою очередь, соединен с генератором дискретных частот и осциллографом, а контур, состоит из индуктивности и последовательно соединенных конденсатора и емкости настройки.
Проведенный сравнительный анализ признаков заявленного способа и способа - прототипа показывает, что заявленный способ отличается тем, что изменена совокупность существенных признаков:
- введены новые действия. Вместо измерений уровней напряжений по способу прототипа проводится измерение амплитуд синусоидальных колебаний;
- изменен порядок действий в процессе измерения амплитуд синусоидальных колебаний. Выполняется регистрация цуга колебаний за некоторый промежуток времени, сглаживание данных регрессией и вычисление значения амплитуд вместо единичных измерений уровней напряжений на фиксированных частотах по способу прототипа;
- изменено расчетное соотношение искомой добротности и, следовательно, связанный с ним порядок расчетных действий. Причем в отличии от прототипа порядок действий независим от положения частот ƒ1 и ƒ2 относительно частоты ƒ3.
Проведенный сравнительный анализ устройства, реализующего способ-прототип, и устройства, реализующего заявленный способ, показывает, что изменена совокупность существенных признаков. Изменено конструктивное выполнение устройства измерения добротности:
- из состава устройства исключены детектор, первый и второй пороговый элемент, первый трехвходовой блок совпадения и инвертор, два генератора тактовых импульсов, второй трехвходовой и первый двухвходового блоки совпадения, два счетчика, два цифроаналоговых преобразователей (ЦАП), RS-триггер, блока задержки, D-триггер, два двухвходовых блока ИЛИ, трехвходовой блок ИЛИ, аналогоцифровой преобразователь (АЦП), распределитель импульсов, блок сопряжения, блок индикации;
- дополнительно введены первый элемент развязки и цифровой осциллограф.
Изобретение поясняется графически (фиг. 1, фиг. 2). На фиг. 1 показана схема устройства, реализующего предлагаемый способ.
На фиг. 2 приведен график резонансной кривой с примерной расстановкой измерительных частот на оси частот.
Устройство, реализующее предложенный способ (фиг. 1), содержит последовательно соединенные генератор дискретных частот 1, первый элемент развязки 2, конденсатор связи 3, измерительный контур 4, второй элемент развязки 5, цифровой осциллограф 6, компьютер 7, который согласно изобретению, в свою очередь, соединен с генератором дискретных частот 1 и осциллографом 6, а контур, состоит из индуктивности 8, конденсатора 9 и емкости настройки 10.
При реализации заявляемого способа на генераторе дискретных частот 1 выставляют частоту, на которой необходимо измерить добротность. С помощью емкости настройки 10 контур 4 настраивают в резонанс по максимуму амплитуды, которую контролируют по осциллографу 6. Осуществляют запись цуга колебаний у* 3,j в память осциллографа 6 и последующую перезапись в память компьютера 7 в файл с заранее заданным уникальным именем. Поочередно на генераторе дискретных частот 1 выставляют две частоты расстройки отличные от резонансной и осуществляют запись цугов у* 1,j, y* 2,j колебаний в память осциллографа 6 на каждой из частот с последующей перезаписью в память компьютера 7 в файлы с заранее заданным уникальными именами. Затем с помощью компьютера 7 каждый из трех зарегистрированных цугов синусоидальных колебаний сглаживают с помощью регрессии вида:
Figure 00000024
где i=1…4 - номер цуга соответствующего синусоидального колебания;
j - номер отсчета;
у* i,j - j-й отсчет i-го регистрируемого цуга;
yi,j - j-й отсчет i-го цуга регрессии;
Δt - шаг дискретизации;
ƒi - i-я измерительная частота;
Ai, Bi - параметры регрессии i-го цуга
и вычисляют амплитуды колебаний каждого из цугов:
Figure 00000025
После чего по трем значениям частоты и соответствующим им рассчитанным амплитудам напряжений на контуре определяют величину добротности как:
Figure 00000026
где
Figure 00000027
- резонансная частота контура;
Figure 00000028
- амплитуда колебаний на частоте резонанса;
С0, С1, С2 - коэффициенты уравнения
Figure 00000029
Figure 00000030
Figure 00000031
Figure 00000032
С целью контроля над процессом измерения перечисленные операции могут осуществляться под управлением человека или, с целью ускорения процесса, программным путем под управлением компьютера.
Как следует из изложенного, за счет использования регрессивного сглаживания данных при реализации данного способа достигается уменьшение в N раз по сравнению с прототипом величин ошибок амплитудных измерений, носящих случайный характер и обусловленных процессами дискретизации, где N количество отсчетом в каждом цуге, сохраняемых в памяти компьютера. Так как в процессе вычисления добротности используются точные аналитические выражения, то исключаются методические ошибки, имеющие место в способе прототипе. Таким образом, цель изобретения - повышение точности измерения добротности резонатора достигается за счет исключения методических ошибок и уменьшения ошибок, носящие случайный характер и ошибок дискретизации.
В качестве генератора дискретных частот может быть использован любой программно управляемый функциональный генератор сигналов (синтезатор частот). Например, AWG4105.
В качестве первого элемента развязки может быть использован любой достаточно мощный широкополосный усилитель. Например, AVA-1745 - амплитудный усилитель.
В качестве второго элемента развязки может быть использован широкополосный линейный усилитель с достаточно большим входным сопротивлением и маленькой входной емкостью (как в прототипе).
В качестве электронного осциллографа может использоваться любой программно-управляемый цифровой осциллограф (например, типа АКИП 4115/7А) с достаточно большой внутренней памятью. Производителями разных фирм выпускаются осциллографы с возможностью одноразовой регистрации до двух и более миллионов отсчетов, что вполне достаточно.
В качестве компьютера может использоваться любой современный персональный компьютер, имеющих достаточное количество разъемов управляющих интерфейсов.
Проведем теоретическое обоснование предлагаемого способа и его реализующего устройства.
Стандартная процедура регрессивного сглаживания данных у* i,j построена на основе соотношения:
Figure 00000033
где i=1…3 - номер цуга соответствующего синусоидального колебания;
j - номер отсчета;
у* i,j - j-й отсчет i-го регистрируемого цуга;
yi,j - j-й отсчет i-го цуга регрессии;
Δt - шаг дискретизации;
ƒi - i-я измерительная частота;
Ai, Bi - параметры регрессии i-го цуга.
В результате сглаживания должно выполняться условие:
Figure 00000034
Обозначим a i,j=cos(2πƒiΔt⋅j), bi,j=sin (2πƒiΔt⋅j). Тогда выражение (11) примет вид:
Figure 00000035
Взяв производные по неизвестным параметрам Ai, Bi и прировняв их к нулю, получим систему уравнений:
Figure 00000036
Решая систему относительно искомых параметров Ai, Bi в результате получим:
Figure 00000037
Отсюда амплитуды колебаний каждого из цугов:
Figure 00000038
При больших значениях N благодаря проведенной операции сглаживания влияние случайных ошибок и ошибок дискретизации в найденных значениях амплитуд yi будет пренебрежимо мало.
Найденные точные значения амплитуд и известные точные значения измерительных частот позволяют определить точное значение добротности.
Как и в прототипе в основу заявляемого способа положено аналитическое выражения для резонансной кривой:
Figure 00000039
Приведем выражения (16) к виду удобному для поиска Q, y0, ƒ0:
Figure 00000040
Figure 00000041
Обозначим:
Figure 00000042
С учетом введенных обозначений приведем уравнение (17) к виду:
Figure 00000043
На основании выражения (19) и совокупности данных yi, ƒi, i=1, 2, 3 нетрудно составить систему уравнений:
Figure 00000044
Искомые коэффициенты С0, С1, С2 легко находятся путем решения системы уравнений (19) методом Крамера:
Figure 00000045
где Δ - определитель системы равный:
Figure 00000046
Δ0, Δ1, Δ2 - частные определители равные:
Figure 00000047
Figure 00000048
Figure 00000049
Зная коэффициенты С0, С1, С2 и основываясь на их связи с искомыми параметрами (18) нетрудно записать:
Figure 00000050
где
Figure 00000051
Figure 00000052
Figure 00000053
Произведем оценку точности расчетных формул предлагаемого способа в сравнении с расчетными формулами способа прототипа. Предположим, что все основные измерения выполнены точно, поэтому в качестве исходных данных возьмем точки на резонансной кривой заданной аналитическим соотношением (16). График резонансной кривой с примерной расстановкой контрольных частот на оси частот приведен на фиг. 2. Результаты расчетов, выполненные в среде Mathcad, приведены в таблице 1. Как нетрудно заметить в случае способа прототипа методическая ошибка проявляется уже на стадии расчета резонансной частоты (в исходных данных: ƒ0=113178 Гц; рассчитанная частота: ƒ0r=113112 Гц). Эта ошибка влечет за собой ошибки в расчетах добротности (заданная добротность: Q=30; рассчитанное значение добротности: Qr=32,58). С увеличением разноса частот ƒ1, ƒ3, ƒ2 ошибки нарастают. При нарушения условия ƒ1<ƒ3<ƒ2 расчетные соотношения дают неадекватный результат. Причисленные недостатки полностью исключены в заявленном способе. Как видно из таблицы расчетные значения полностью соответствуют заданным значения параметров.
Figure 00000054
Figure 00000055
Figure 00000056
Технический результат от использования заявляемых технических решений по сравнению с прототипом заключается в повышении точности измерения добротности контура.
Список использованных источников
1 Кушнир, Ф.В. Электрорадиоизмерения / Ф.В. Кушнир. - Л.: Энерго-атомиздат, 1983. - 320 с.;
2 ГОСТ 18986.19-76. Варикапы. Методы измерения добротности. - М.: ИПК Издательство стандартов. - 2004. - 10 с.;
3 Пат. №2312368, RU, М. Кл. МПК G01R 27/26. Способ измерения добротности резонатора / В.Я. Фатеев. - 2006100545/28; заявл. 10.01.2006; опубл. 10.12.2007. - Бюл. №34.;
4 Пат. №1709240. RU М. Кл. G01R 27/26. Способ измерения добротности контура методом расстройки частоты и устройство для его осуществления / В.З. Лубянский, С.С. Голощапов. - 4729181/21; заявл. 19.06.1989; опубл. 30.01.92. - Бюл. №4.

Claims (16)

1. Способ измерения добротности резонатора, заключающийся в том, что при измерении добротности контура методом расстройки частоты на частоте измерения контур настраивают в резонанс путем изменения емкости настройки, отличающийся тем, что затем производят регистрацию цуга синусоидального колебания на контуре за некоторый промежуток времени
Figure 00000057
, после чего регистрируют цуги синусоидальных колебаний на двух частотах в пределах верхней части резонансной кривой ниже
Figure 00000058
и выше
Figure 00000059
резонансной частоты за аналогичные промежутки времени, затем каждый из трех зарегистрированных цугов синусоидальных колебаний сглаживают с помощью регрессии
Figure 00000060
где i=1…3 - номер цуга соответствующего синусоидального колебания; j - номер отсчета;
yi,j - j-й отсчет i-го цуга регрессии;
Δt - шаг дискретизации;
fi - i -я измерительная частота;
Ai, Bi - параметры регрессии i-го цуга и вычисляют амплитуды колебаний каждого из цугов:
Figure 00000061
после чего по трем значениям частоты и рассчитанным соответствующим им амплитудам напряжений на контуре определяют величину добротности как:
Figure 00000062
где
Figure 00000063
Figure 00000064
Figure 00000065
Figure 00000066
Figure 00000067
2. Устройство измерения добротности резонатора, содержащее генератор дискретных частот, последовательно соединенные конденсатор связи, измерительный контур, второй элемент развязки, а также компьютер, отличающееся тем, что введены первый элемент развязки и осциллограф, вход которого соединен с выходом второго элемента развязки, а выход соединен с компьютером, первый выход которого в свою очередь соединен с управляющим входом осциллографа, а второй выход - с управляющим входом генератора дискретных частот, выход которого соединен через первый элемент развязки с контуром, состоящим из индуктивности и последовательно соединенных конденсатора и емкости настройки.
RU2019102977A 2019-02-04 2019-02-04 Способ измерения добротности резонатора RU2712784C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2019102977A RU2712784C1 (ru) 2019-02-04 2019-02-04 Способ измерения добротности резонатора

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2019102977A RU2712784C1 (ru) 2019-02-04 2019-02-04 Способ измерения добротности резонатора

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2712784C1 true RU2712784C1 (ru) 2020-01-31

Family

ID=69625511

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2019102977A RU2712784C1 (ru) 2019-02-04 2019-02-04 Способ измерения добротности резонатора

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2712784C1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2765836C2 (ru) * 2020-07-03 2022-02-03 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова Российской академии наук Способ измерения резонансной частоты и добротности

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1406524A1 (ru) * 1986-06-18 1988-06-30 Сибирский государственный научно-исследовательский институт метрологии Способ измерени добротности контура
SU1709240A1 (ru) * 1989-06-19 1992-01-30 Организация П/Я А-3977 Способ измерени добротности контура методом расстройки частоты и устройство дл его осуществлени
US20050275490A1 (en) * 2004-06-09 2005-12-15 Louis Luh Q enhancement circuit and method
RU2312368C2 (ru) * 2006-01-10 2007-12-10 Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова РАН Способ измерения добротности резонатора
WO2016164543A1 (en) * 2015-04-07 2016-10-13 Analog Devices, Inc. Quality factor estimation for resonators

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1406524A1 (ru) * 1986-06-18 1988-06-30 Сибирский государственный научно-исследовательский институт метрологии Способ измерени добротности контура
SU1709240A1 (ru) * 1989-06-19 1992-01-30 Организация П/Я А-3977 Способ измерени добротности контура методом расстройки частоты и устройство дл его осуществлени
US20050275490A1 (en) * 2004-06-09 2005-12-15 Louis Luh Q enhancement circuit and method
RU2312368C2 (ru) * 2006-01-10 2007-12-10 Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова РАН Способ измерения добротности резонатора
WO2016164543A1 (en) * 2015-04-07 2016-10-13 Analog Devices, Inc. Quality factor estimation for resonators

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2765836C2 (ru) * 2020-07-03 2022-02-03 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова Российской академии наук Способ измерения резонансной частоты и добротности

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Tan et al. A frequency measurement method based on optimal multi-average for increasing proton magnetometer measurement precision
Radil et al. Impedance measurement with sine-fitting algorithms implemented in a DSP portable device
Augustyn et al. Application of ellipse fitting algorithm in incoherent sampling measurements of complex ratio of AC voltages
RU2712784C1 (ru) Способ измерения добротности резонатора
CN111044963B (zh) 采用同轴分流器的高频电流传感器校准方法及装置
US4860227A (en) Circuit for measuring characteristics of a device under test
JPH03176678A (ja) Ｉｃテスタのａｃ評価方法
RU2614191C1 (ru) Способ измерения нелинейных искажений чм сигнала, сформированного методом прямого цифрового синтеза
US2769957A (en) Comparator
Ihlenfeld et al. Classical Nonquantum AC Power Measurements With Uncertainties Approaching 1${\rm\mu}\hbox {W/VA} $
Rolain et al. Why are nonlinear microwave systems measurements so involved?
US4719408A (en) Apparatus for indicating proper compensation of an adjustable frequency compensation network
Meisner et al. Generation and measurement of AC ripple at high direct voltage
US7545155B2 (en) Parallel AC measurement method
Zhang et al. Design of analog and mixed circuits for resonator's Q-factor measurement
US2614153A (en) Method of and device for measuring and controlling the quality factor and damping factor of electric circuits and components thereof
JPH0454198B2 (ru)
US3652931A (en) Innate oscillator noise determination
SU1709240A1 (ru) Способ измерени добротности контура методом расстройки частоты и устройство дл его осуществлени
Slomovitz et al. Evaluation of low-frequency voltage dividers, using the step response
Licht et al. ISO 16063-11: primary vibration calibration by laser interferometry. Evaluation of sine approximation realized by FFT
Ihlenfeld Impedance Measurements at NRC
Hlupic et al. Improved frequency measurement by means of DMM and verification of its specifications
Tan et al. Frequency estimation method for increasing accuracy of PM by combining multipoint software zero-crossing recognition and least square regression
SU871111A1 (ru) Способ проверки и градуировки высокочастотных вольтметров